一種amt系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于機(jī)動車AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域，具體提供了一種AMT系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)主要是檢測那些要求在整個溫度環(huán)境下都要通電運(yùn)行的設(shè)備。溫度環(huán)境試驗(yàn)要達(dá)到以下主要試驗(yàn)?zāi)康?
a)試驗(yàn)結(jié)果指導(dǎo)AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)；
b)僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)行、運(yùn)輸或貯存的能力。
[0003]低溫工作試驗(yàn)?zāi)康?
本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行AMT系統(tǒng)產(chǎn)品、組件或元器件試驗(yàn)樣品的低溫工作試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種AMT系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法。
[0005]為此，本發(fā)明提供了一種AMT系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法，本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行AMT系統(tǒng)產(chǎn)品、組件或元器件試驗(yàn)樣品的低溫工作試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電，所述試驗(yàn)方法為:
本試驗(yàn)采用低氣流速度循環(huán)，如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求口將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求口試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。然后將溫度調(diào)節(jié)到_20±2°C保溫I小時(shí)后，開啟電源，使產(chǎn)品在此溫度下工作72±2小時(shí)，產(chǎn)品分別在各種模式狀態(tài)下工作，試驗(yàn)結(jié)束后置室溫下2小時(shí)后再對該產(chǎn)品進(jìn)行性能和功能的檢測，并進(jìn)行記錄。
[0006]所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br>[0007]上述試驗(yàn)條件具體為:
a)環(huán)境溫度25°C ；
b)交流電源電壓220V50Hz；
c)交流電源電壓380V50HZ；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br>[0008]上述試驗(yàn)箱型號為:GDW/LX-010L，其性能指標(biāo)如下:
a)溫度范圍:-40°C?+150°C；
b)溫度波動度:±0.5°C ；
c)溫度均勾度:土2 C ;
d)降溫速率:0.7V?I。。；
e)升溫速率:2°C?3°C ;
f)噪音:Db< 65 ；
g)電源:AC380V/50Hz；
h)工作尺寸:1000X1000X 1000。
[0009]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的這種AMT系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法，本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行AMT系統(tǒng)產(chǎn)品、組件或元器件試驗(yàn)樣品的低溫工作試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電，所述試驗(yàn)方法為:
本試驗(yàn)采用低氣流速度循環(huán)，如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求口將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求口試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。然后將溫度調(diào)節(jié)到_20±2°C保溫I小時(shí)后，開啟電源，使產(chǎn)品在此溫度下工作72±2小時(shí)，產(chǎn)品分別在各種模式狀態(tài)下工作，試驗(yàn)結(jié)束后置室溫下2小時(shí)后再對該產(chǎn)品進(jìn)行性能和功能的檢測，并進(jìn)行記錄。
[0010]所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br>[0011]本試驗(yàn)采用低氣流速度循環(huán)，本實(shí)驗(yàn)以溫度作為一個主要的考量點(diǎn)，對被檢對象AMT系統(tǒng)進(jìn)行測試，實(shí)驗(yàn)條件為環(huán)境溫度25±5°C;交流電源電壓220±2V50Hz ;交流電源電壓380±2V50Hz ;氣壓環(huán)境為當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮?。?shí)驗(yàn)要求為本AMT系統(tǒng)在檢測溫度要求下正常工作。本測試主要針對當(dāng)本測試對象在環(huán)境溫度較低的情況下進(jìn)行工作時(shí)，其功能不會受影響，主要針對其硬件和機(jī)械機(jī)構(gòu)方面。AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)主要是檢測那些要求在整個溫度環(huán)境下都要通電運(yùn)行的設(shè)備。溫度環(huán)境試驗(yàn)要達(dá)到了以下主要試驗(yàn)?zāi)康?試驗(yàn)結(jié)果指導(dǎo)AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)；用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)行、運(yùn)輸或貯存的能力。
[0012]
【具體實(shí)施方式】
[0013]實(shí)施例1:
一種AMT系統(tǒng)低溫工作試驗(yàn)方法,本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行AMT系統(tǒng)產(chǎn)品、組件或兀器件試驗(yàn)樣品的低溫工作試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程中通電，所述試驗(yàn)方法為:
本試驗(yàn)采用低氣流速度循環(huán)，如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求口將試驗(yàn)樣品放人溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求口試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。然后將溫度調(diào)節(jié)到_20±2°C保溫I小時(shí)后，開啟電源，使產(chǎn)品在此溫度下工作72±2小時(shí)，產(chǎn)品分別在各種模式狀態(tài)下工作，試驗(yàn)結(jié)束后置室溫下2小時(shí)后再對該產(chǎn)品進(jìn)行性能和功能的檢測，并進(jìn)行記錄。
[0014]所述試驗(yàn)條件為:
a)環(huán)境溫度25±5°C；
b)交流電源電壓220±2V50Hz；
c)交流電源電壓380±2V50Hz；
d)標(biāo)準(zhǔn)大氣壓當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?br>[0015]本試驗(yàn)采用低氣流速度循環(huán)，本實(shí)驗(yàn)以溫度作為一個主要的考量點(diǎn)，對被檢對象AMT系統(tǒng)進(jìn)行測試，實(shí)驗(yàn)條件為環(huán)境溫度25±5°C;交流電源電壓220±2V50Hz ;交流電源電壓380±2V50Hz ;氣壓環(huán)境為當(dāng)?shù)毓ぷ鞔髿鈮骸?shí)驗(yàn)要求為本AMT系統(tǒng)在檢測溫度要求下正常工作。本測試主要針對當(dāng)本測試對象在環(huán)境溫度較低的情況下進(jìn)行工作時(shí)，其功能不會受影響，主要針對其硬件和機(jī)械機(jī)構(gòu)方面。AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境試驗(yàn)主要是檢測那些要求在整個溫度環(huán)境下都要通電運(yùn)行的設(shè)備。溫度環(huán)境試驗(yàn)要達(dá)到了以下主要試驗(yàn)?zāi)康?試驗(yàn)結(jié)果指導(dǎo)AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)；用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)行、運(yùn)輸或貯存的能力。
[0016]本試驗(yàn)適用范圍
本試驗(yàn)大綱適用于陜西國力信息技術(shù)有限公司設(shè)計(jì)開發(fā)的AMT系統(tǒng)產(chǎn)品的溫度環(huán)境試驗(yàn)，它規(guī)定了試驗(yàn)要求和必要的試驗(yàn)程序。
[0017]本試驗(yàn)大綱的目的是AMT系統(tǒng)溫度環(huán)境應(yīng)力失效的依據(jù)。
[0018]引用標(biāo)準(zhǔn)和文件
GB2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)