檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置，以及一種檢測(cè)顯示面板表面平坦度的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]顯示面板包括陣列基板和與其對(duì)盒的對(duì)盒基板。在一般的顯示基板的制備過程中，需要首先在陣列基板上制備薄膜晶體管、像素電極、信號(hào)線等結(jié)構(gòu)，以及，在對(duì)盒基板上制備彩膜、黑矩陣等結(jié)構(gòu)；而后，在陣列基板(或?qū)谢?上設(shè)置隔墊物，并在邊緣處涂布封框膠，將陣列基板與對(duì)盒基板對(duì)盒，并注入液晶，從而完成顯示面板的制備。
[0003]在上述制備過程中，由于各個(gè)隔墊物高度不一致、邊緣的各區(qū)域所涂布的封框膠的厚度不一致，以及陣列基板與對(duì)盒基板的對(duì)盒過程存在偏差等因素，對(duì)盒完成后的顯示面板容易出現(xiàn)平坦度較差的情況，因此，在上述顯示面板制備完成后，需要檢測(cè)顯示面板表面的平坦度。
[0004]特別是對(duì)于On-Cell型的觸控顯示面板而言，在其制備過程中，在將陣列基板與對(duì)盒基板對(duì)盒后，還需要依次進(jìn)行沉積一涂膠一曝光一顯影一刻蝕等工藝，在對(duì)盒基板的一側(cè)制備觸控電極，以實(shí)現(xiàn)觸控操作；其中，在曝光過程中，顯示面板表面的平坦度較差容易造成曝光無法對(duì)準(zhǔn)的情況，從而會(huì)影響觸控電極的形狀和精度。因此，對(duì)于On-Cell型觸控顯示面板，就更需要在制備觸控電極前的成盒過程中，檢測(cè)陣列基板與對(duì)盒基板對(duì)盒后的顯示面板的表面的平坦度，并反饋到成盒工序中。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中，一般使用探針劃過顯示面板的表面，來檢測(cè)顯示面板的表面的平坦度。但上述檢測(cè)方法中，探針與顯示面板接觸，且其二者之間存在摩擦，這樣就容易在顯示面板上產(chǎn)生劃痕，以及產(chǎn)生粉末/顆粒，從而導(dǎo)致顯示面板的損壞及對(duì)顯示面板的污染。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一，提出了一種檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置及方法，其在檢測(cè)顯示面板表面的平坦度的過程中無需接觸顯示面板，可以避免顯示面板的損壞，以及，對(duì)顯示面板的污染。
[0007]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置，其包括承載基臺(tái)、圖像采集單元和數(shù)據(jù)處理單元；所述承載基臺(tái)，用于承載顯示面板；所述圖像采集單元，用于在檢測(cè)平面中的與顯示面板面向圖像采集單元的表面中預(yù)設(shè)的各檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的位置對(duì)所述檢測(cè)點(diǎn)對(duì)焦，并將對(duì)焦完成時(shí)的焦距發(fā)送給所述數(shù)據(jù)處理單元；所述檢測(cè)平面為一與承載基臺(tái)的承載面平行的平面；所述數(shù)據(jù)處理單元，用于根據(jù)所述圖像采集單元發(fā)送來的焦距數(shù)據(jù)，計(jì)算各所述檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)于所述檢測(cè)平面的距離，并據(jù)此確定所述顯示面板面向圖像采集單元的表面的平坦度。
[0008]其中，各所述檢測(cè)點(diǎn)在所述顯示面板的面向圖像采集單元的表面上均勻分布。
[0009]其中，所述檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置還包括監(jiān)視器；所述數(shù)據(jù)處理單元還用于根據(jù)各所述檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)于檢測(cè)平面的距離數(shù)據(jù)生成顯示面板面向圖像采集單元的表面的等高圖；所述監(jiān)視器用于顯示所述數(shù)據(jù)處理單元生成的等高圖。
[0010]其中，所述圖像采集單元包括第一采集模塊和第二采集模塊；所述第一采集模塊用于采集包含顯示面板的面向圖像采集單元的表面的所有區(qū)域的圖像；所述第二采集模塊用于捕捉各所述檢測(cè)點(diǎn)處的圖案，并完成對(duì)所述圖案的對(duì)焦。
[0011]其中，所述第二采集模塊完成對(duì)各所述檢測(cè)點(diǎn)的對(duì)焦的可變焦范圍為10?100倍。
[0012]其中，所述第二采集模塊包括鏡頭和多個(gè)對(duì)焦組件，各所述對(duì)焦組件具有不同的可變焦范圍。
[0013]作為另一個(gè)技術(shù)方案，本發(fā)明還提供一種利用本發(fā)明提供的上述檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置檢測(cè)顯示面板表面的平坦度的方法，所述檢測(cè)顯示面板表面平坦度的方法包括:
[0014]SI，將顯示面板置于承載基臺(tái)的承載面上；
[0015]S2，使用圖像采集單元在檢測(cè)平面中的與各檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的位置對(duì)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行對(duì)焦，并獲得對(duì)焦完成時(shí)的焦距；
[0016]S3，根據(jù)對(duì)各檢測(cè)點(diǎn)對(duì)焦時(shí)的焦距數(shù)據(jù)，計(jì)算顯示面板上的各檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)于所述檢測(cè)平面的距離，并據(jù)此確定所述顯示面板表面的平坦度。
[0017]其中，在步驟SI中，所述承載基臺(tái)水平設(shè)置。
[0018]其中，在進(jìn)行步驟SI前，檢測(cè)所述承載基臺(tái)的水平度，并在所述承載基臺(tái)的水平度超出預(yù)設(shè)范圍時(shí)，進(jìn)行校正。
[0019]其中，在步驟S2前，采集包含顯示面板的面向圖像采集單元的表面的所有區(qū)域的圖像，并在該圖像中識(shí)別預(yù)設(shè)的標(biāo)記點(diǎn)，建立基礎(chǔ)坐標(biāo)系和精確坐標(biāo)系；所述基礎(chǔ)坐標(biāo)系用于識(shí)別所述顯示面板是否偏移正常位置；所述精確坐標(biāo)系用于確定所述顯示面板的面向圖像采集單電源的表面上的每個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)。
[0020]其中，所述檢測(cè)顯示面板表面平坦度的方法還包括:
[0021]S4，根據(jù)各檢測(cè)點(diǎn)相對(duì)于所述圖像采集單元所在平面的距離數(shù)據(jù)生成所述顯示面板面向圖像采集單元的表面的等高圖，并在所述監(jiān)視器上顯示所述等高圖。
[0022]其中，所述顯示面板包括陣列基板和與其對(duì)盒的對(duì)盒基板，以及用于實(shí)現(xiàn)觸控的觸控電極；所述觸控電極設(shè)置在所述對(duì)盒基板上，且所述觸控電極與陣列基板分別位于所述對(duì)盒基板的兩側(cè)；在將所述觸控電極制備在所述對(duì)盒基板前，檢測(cè)所述顯示面板表面的平坦度，且所檢測(cè)的顯示面板的表面為對(duì)盒基板的表面。
[0023]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0024]本發(fā)明提供的檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置，其通過對(duì)放置于承載基臺(tái)上的顯示面板的面向圖像采集單元的表面上的各所述檢測(cè)點(diǎn)對(duì)焦，并根據(jù)對(duì)焦完成時(shí)的焦距計(jì)算相應(yīng)檢測(cè)點(diǎn)與檢測(cè)平面的距離，從而確定顯示面板的面向圖像采集單元的表面的平坦度；與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明無需與顯示面板接觸，從而可以避免造成顯示面板的損壞，以及污染顯示面板。
[0025]本發(fā)明提供的檢測(cè)顯示面板表面平坦度的方法，其通過對(duì)顯示面板的面向圖像采集單元的表面上的多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)焦，并根據(jù)對(duì)焦完成時(shí)的焦距計(jì)算各所述檢測(cè)點(diǎn)與檢測(cè)平面的距離，從而確定顯示面板的表面的平坦度；與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明無需與顯示面板接觸，從而可以避免造成顯示面板的損壞，以及污染顯示面板。
【附圖說明】
[0026]附圖是用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0027]圖1為本發(fā)明實(shí)施方式提供的檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置的示意圖；
[0028]圖2為圖像采集單元的示意圖；
[0029]圖3為本發(fā)明實(shí)施方式提供的檢測(cè)顯示面板表面平坦度的方法的流程圖；
[0030]圖4為圖3所示檢測(cè)方法所檢測(cè)的顯示面板的示意圖。
[0031]其中，附圖標(biāo)記:
[0032]10:承載基臺(tái)；11:圖像采集單元；12:數(shù)據(jù)處理單元；13:監(jiān)視器；20:顯示面板；110:第一采集模塊；111:第二采集模塊；200:陣列基板；201:對(duì)盒基板；202:觸控電極；1110:鏡頭；1111: ,1112:對(duì)焦組件。
【具體實(shí)施方式】
[0033]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0034]本發(fā)明提供一種檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置的實(shí)施方式，圖1為本發(fā)明實(shí)施方式提供的檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置的示意圖。如圖1所示，在本實(shí)施方式中，檢測(cè)顯示面板表面平坦度的裝置包括承載基臺(tái)10、圖像采集單元11和數(shù)據(jù)處理單元12 ;其中，所述承載基臺(tái)10，用于承載顯示面板20 ;所述圖像采集單元11，用于在檢測(cè)平面中的與顯示面板20面向圖像采集單元11的表面中預(yù)設(shè)的各檢測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的位置對(duì)所述檢測(cè)點(diǎn)對(duì)焦，并將對(duì)焦完成時(shí)的焦距發(fā)送