一種低阻抗寬帶測試夾具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及射頻微波測量技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種低阻抗寬帶測試夾具。
【背景技術(shù)】
[0002]應(yīng)用Loadpull系統(tǒng)測試功放管時，測試夾具針的阻抗為50 Ω，沒有設(shè)計(jì)阻抗變換功能。采用50Ω的測試夾具測試阻抗很小的大柵寬、高功率的LDMOS器件時，由于阻抗嚴(yán)重失配，導(dǎo)致低頻振蕩，器件很容易燒毀。用于封裝級測試的夾具，有一定的阻抗變換，可以從50歐姆變換到十幾歐姆，變換后的阻抗仍然相對較高，容易低頻振蕩，燒毀器件。此外，用偏置電路供電，夾具受偏置電路濾波電容的影響，工作帶寬很窄。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種阻抗變換范圍大的測試夾具，避免低頻振蕩。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種低阻抗寬帶測試夾具，用于LDMOS器件的測量操作；包括:阻抗變換器和支撐件；所述阻抗變換器固定在所述支撐件上；所述阻抗變換器包括:第一漸變微帶線、第一偏置電路、第二漸變微帶線以及第二偏置電路；所述第一漸變微帶線、所述第一偏置電路、所述第二漸變微帶線以及所述第二偏置電路印刷在PCB板上；所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線夾住待測LDMOS器件；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線相連；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線相連。
[0005]進(jìn)一步地，所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為100節(jié)。
[0006]進(jìn)一步地，所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線的長度均大于210mm。
[0007]進(jìn)一步地，所述第一偏置電路和所述第二偏置電路還包括:扇形電容；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線結(jié)點(diǎn)兩側(cè)分別設(shè)置一個扇形電容；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線結(jié)點(diǎn)兩側(cè)分別設(shè)置一個扇形電容。
[0008]進(jìn)一步地,所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為Klopfenstein漸變微帶線。
[0009]進(jìn)一步地，所述支撐件包括:底板和載板；所述PCB板固定在所述底板上；所述底板通過所述載板支撐。
[0010]進(jìn)一步地，所述載板包括:支撐板和底座；所述支撐板固定在所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線中間，用于承載待測的LDMOS器件；所述支撐板通過底座固定。
[0011]進(jìn)一步地，所述支撐板和底座為金屬材質(zhì)的一體成型結(jié)構(gòu)。
[0012]進(jìn)一步地，所述支撐板和底座為銅質(zhì)。
[0013]本發(fā)明提供的低阻抗寬帶測試夾具通過兩條漸變微帶線形成的阻抗變換器擴(kuò)大測試夾具的阻抗變換范圍，從而能夠?qū)⒆杩菇档胶艿偷膶哟?，降低夾具與待測試LDMOS器件的阻抗失配程度，減小低頻震蕩，降低燒管風(fēng)險。
【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的阻抗變換器的PCB板電路。
【具體實(shí)施方式】
[0015]參見圖1，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種低阻抗寬帶測試夾具，包括:阻抗變換器和支撐件；阻抗變換器固定在所述支撐件上，用于實(shí)現(xiàn)夾具阻抗變換，以配合待測試的各類LDMOS器件，降低阻抗失配的程度；阻抗變換器包括:第一漸變微帶線1、第一偏置電路2、第二漸變微帶線3以及第二偏置電路4 ;第一漸變微帶線1、第一偏置電路2、第二漸變微帶線3以及第二偏置電路4作為高頻電路，印刷在PCB板7上；第一漸變微帶線I和第二漸變微帶線3夾住待測LDMOS器件；第一偏置電路2與第一漸變微帶線I相連；第二偏置電路4與第二漸變微帶線3相連。PCB板7通過板面上設(shè)置的固定孔6固定在支撐件上，形成穩(wěn)固結(jié)構(gòu)，方便測試操作。
[0016]本實(shí)施例提供的漸變微帶線構(gòu)成的阻抗變換器，在排除材料影響的前提下阻抗變化范圍為50 Ω?5.4Ω ;因此，相應(yīng)的，第一漸變微帶線I和第二漸變微帶線3均為100節(jié)，從而保證阻抗變換的下限。阻抗下限越低，其與待測LDMOS器件的配合程度就越高，低頻振蕩就越緩和，燒管的風(fēng)險就越小。
[0017]為了改善供電電路濾波電容造成的工作帶寬窄的問題，優(yōu)選的，第一漸變微帶線I和第二漸變微帶線3的長度均大于210_，從而使頻率覆蓋范圍包括:P波段、L波段以及S波段；大的帶寬可以清楚的看到振蕩區(qū)域，解決低頻振蕩的問題，降低了燒管的風(fēng)險。
[0018]阻抗轉(zhuǎn)換器通過偏置電路連接外置電路，濾波電容選用扇形電容5，能夠通過較少的人工調(diào)試，就能獲得較好的指標(biāo)，同時其可重復(fù)效果很好。針對測量的不同頻率，波長也不同；第一偏置電路2的扇形電容5的位置設(shè)置在第一偏置電路2與第一漸進(jìn)微帶線I的結(jié)點(diǎn)兩側(cè)四分之一波長處；第二偏置電路4的扇形電容5的位置設(shè)置在第二偏置電路4與第二漸進(jìn)微帶線3的結(jié)點(diǎn)兩側(cè)四分之一波長處；從而獲得最好的濾波效果，進(jìn)一步削弱低頻振蕩，降低燒管風(fēng)險。
[0019]針對待測器件的阻抗相對低的特點(diǎn)，采用Klopfenstein漸變微帶線能夠較好的配合低阻抗測量。
[0020]本發(fā)明實(shí)施例提供的低阻抗寬帶測試夾具通過兩條漸變微帶線形成的阻抗變換器擴(kuò)大測試夾具的阻抗變換范圍，從而能夠?qū)⒆杩菇档胶艿偷膶哟?，降低夾具與待測試LDMOS器件的阻抗失配程度,減小低頻震蕩，降低燒管風(fēng)險。通過KlopfensteinlOO節(jié)漸變微帶線能夠?qū)⒆杩棺儞Q范圍最大化到50 Ω?5.4Ω，大大降低阻抗失配的風(fēng)險；將兩條Klopfenstein漸變微帶線設(shè)置成最少210mm能夠擴(kuò)大帶寬，看清楚振蕩區(qū)域，降低低頻振蕩以及由之帶來的燒管風(fēng)險；通過在偏置電路與漸進(jìn)微帶線的結(jié)點(diǎn)兩側(cè)設(shè)置扇形電容5，最大程度的濾波，能夠進(jìn)一步降低燒管風(fēng)險。
[0021]支撐件包括:底板和載板；PCB板7固定在底板上；底板通過載板支撐。PCB板3的板面通過設(shè)置在板面上的固定孔6，采用螺栓連接緊固。載板包括:支撐板和底座；支撐板固定在第一漸變微帶線I和第二漸變微帶線3中間，用于承載待測的LDMOS器件；支撐板通過底座固定。在通電測量過程中，LDMOS器件會產(chǎn)生大量的熱，優(yōu)選的，支撐板和底座為金屬材質(zhì)的一體成型結(jié)構(gòu)；在兼顧穩(wěn)定性同時，提升散熱效率。載板整體呈倒置的T型結(jié)構(gòu)，散熱面積大；同時其散熱空間大，擁有足夠的空間安裝散熱風(fēng)扇，提升散熱效率。優(yōu)選的，載板采用散熱效率極佳的銅。
[0022]此夾具實(shí)現(xiàn)了從50Ω?5.4Ω的阻抗變換功能，可以很好解決管子振蕩問題；偏置電路采用扇形電容使夾具的重復(fù)性、穩(wěn)定性更好。載板采用銅質(zhì)倒“T”的結(jié)構(gòu)方式，散熱效果比傳統(tǒng)的好很多。
[0023]最后所應(yīng)說明的是，以上【具體實(shí)施方式】僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照實(shí)例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種低阻抗寬帶測試夾具，用于LDMOS器件的測量操作；其特征在于，包括:阻抗變換器和支撐件；所述阻抗變換器固定在所述支撐件上；所述阻抗變換器包括:第一漸變微帶線、第一偏置電路、第二漸變微帶線以及第二偏置電路；所述第一漸變微帶線、所述第一偏置電路、所述第二漸變微帶線以及所述第二偏置電路印刷在PCB板上；所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線夾住待測LDMOS器件；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線相連；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線相連。
2.如權(quán)利要求1所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于:所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為100節(jié)。
3.如權(quán)利要求2所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于:所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線的長度均大于210mm。
4.如權(quán)利要求1?3任一項(xiàng)所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述第一偏置電路和所述第二偏置電路還包括:扇形電容；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線結(jié)點(diǎn)兩側(cè)分別設(shè)置一個扇形電容；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線結(jié)點(diǎn)兩側(cè)分別設(shè)置一個扇形電容。
5.如權(quán)利要求4所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于:所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線均為Klopfenstein漸變微帶線。
6.如權(quán)利要求1所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述支撐件包括:底板和載板；所述PCB板固定在所述底板上；所述底板通過所述載板支撐。
7.如權(quán)利要求6所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于，所述載板包括:支撐板和底座；所述支撐板固定在所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線中間，用于承載待測的LDMOS器件；所述支撐板通過底座固定。
8.如權(quán)利要求7所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于:所述支撐板和底座為金屬材質(zhì)的一體成型結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求8所述的低阻抗寬帶測試夾具，其特征在于:所述支撐板和底座為銅質(zhì)。
【專利摘要】本發(fā)明屬于射頻微波測量技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種低阻抗寬帶測試夾具，包括：阻抗變換器和支撐件；所述阻抗變換器固定在所述支撐件上；所述阻抗變換器包括：第一漸變微帶線、第一偏置電路、第二漸變微帶線以及第二偏置電路；所述第一漸變微帶線、所述第一偏置電路、所述第二漸變微帶線以及所述第二偏置電路印刷在PCB板上；所述第一漸變微帶線和所述第二漸變微帶線夾住待測LDMOS器件；所述第一偏置電路與所述第一漸變微帶線相連；所述第二偏置電路與所述第二漸變微帶線相連。本發(fā)明提供的低阻抗寬帶測試夾具通過漸變微帶線擴(kuò)大測試夾具的阻抗變換范圍，降低夾具與待測試LDMOS器件的阻抗失配程度，減小低頻震蕩，降低燒管風(fēng)險。
【IPC分類】G01R1-04
【公開號】CN104698227
【申請?zhí)枴緾N201310654857
【發(fā)明人】叢密芳, 王帥, 李科, 任建偉, 杜寰
【申請人】上海聯(lián)星電子有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2013年12月5日
【公告號】WO2015081708A1