防短路信號測試探針的制作方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試探針，特別涉及一種防短路信號測試探針。
【【背景技術(shù)】】
[0002]任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。
[0003]如從生產(chǎn)流程方面的測試講，IC測試一般又分為芯片測試、成品測試及檢驗測試，且這些項目的測試都不可避免的會使用到測試探針，請參閱圖1繪示，對一些pin腳11較密的芯片10 (如:KBC, Aud1等)進(jìn)行IC測試時，由于測試探針的直徑較小，不易與pin腳11準(zhǔn)確的對應(yīng)，則經(jīng)常會出現(xiàn)測試探針滑動造成短路的問題，嚴(yán)重時會造成芯片的燒毀或其他元件的損壞，從而給信號測試帶來嚴(yán)重的不便。
[0004]有鑒于此，實有必要提供一種防短路信號測試探針，以解決上述因測試探針滑動造成短路及損壞電子元件的問題。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0005]因此，本發(fā)明的目的為提供一種防短路信號測試探針，以解決上述問題。
[0006]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的防短路信號測試探針，其應(yīng)用于IC測試中，所述防短路信號測試探針包括:
[0007]測試探針，其下端頭部用于觸碰待測件的一 pin腳；
[0008]絕緣片，其兩端沿其本體向下彎折形成兩側(cè)臂，所述絕緣片的中間部位套設(shè)于所述測試探針，所述兩側(cè)臂分別位于所述測試探針的兩側(cè)，所述兩側(cè)臂下端與所述測試探針頭部緊密接觸，所述兩側(cè)臂下端長于所述測試探針的頭部。
[0009]較佳的，所述絕緣片具有彈性。
[0010]較佳的，所述待測件為具有密集pin腳的芯片。
[0011]較佳的，所述絕緣片的寬度大于所述測試探針的直徑。
[0012]較佳的，所述絕緣片的橫截面呈三角形。
[0013]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明防短路信號測試探針由所述測試探針與絕緣片組成，因此在IC測試中所述絕緣片的兩側(cè)臂可將所述pin腳與其相鄰的pin腳隔開，從而避免了所述測試探針頭部的滑動，而造成短路的問題。同時本發(fā)明能夠縮短測試時間，提高工作效率；有效的保證了不會因短路而損壞待測件的問題，同時節(jié)約了測試成本。
【【附圖說明】】
[0014]圖1繪示為現(xiàn)有芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖2繪示為本發(fā)明防短路信號測試探針的結(jié)構(gòu)示意圖。【【具體實施方式】】
[0016]以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0017]請參閱圖2繪示，為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的防短路信號測試探針，其應(yīng)用于IC測試中，所述防短路信號測試探針包括:
[0018]測試探針100，其下端頭部110用于觸碰待測件10的一 pin腳11 ；
[0019]絕緣片200，其兩端沿其本體向下彎折形成兩側(cè)臂210，所述絕緣片200的中間部位套設(shè)于所述測試探針100，所述兩側(cè)臂210分別位于所述測試探針100的兩側(cè)，所述兩側(cè)臂210下端與所述測試探針頭部110緊密接觸，所述兩側(cè)臂210下端長于所述測試探針100的頭部110。
[0020]其中，所述絕緣片200具有彈性。
[0021]其中，所述待測件10為具有密集pin腳11的芯片10。
[0022]其中，所述絕緣片200的寬度大于所述測試探針100的直徑(這樣的設(shè)置更加能夠避免短路的發(fā)生)。
[0023]其中，所述絕緣片200的橫截面呈三角形。
[0024]于本實施例中，所述芯片10具有密集的pin腳11，所述絕緣片200的兩側(cè)臂210的厚度小于所述Pin腳11之間的距離，因此，在IC測試時，只需將所述兩側(cè)臂210分別插入到所述pin腳11與其相鄰的pin腳11間的間隙，從而將所述相鄰兩pin腳間隔開，最終可完成信號測試，避免了因Pin腳11腳小，所述測試探針100易滑動而造成短路的問題。
[0025]本發(fā)明防短路信號測試探針由所述測試探針100與絕緣片200組成，因此在IC測試中所述絕緣片200的兩側(cè)臂210可將所述pin腳11與其相鄰的pin腳11隔開，從而避免了所述測試探針頭部110的滑動，而造成短路的問題。同時本發(fā)明能夠縮短測試時間，提高工作效率；有效的保證了不會因短路而損壞待測件的問題，同時節(jié)約了測試成本。
[0026]需指出的是，本發(fā)明不限于上述實施方式，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員基于本發(fā)明技術(shù)方案對上述實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，都落入本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種防短路信號測試探針，其應(yīng)用于IC測試中，所述防短路信號測試探針包括測試探針，所述測試探針的下端頭部用于觸碰待測件的一 pin腳，其特征在于，所述防短路信號測試探針還包括: 絕緣片，其兩端沿其本體向下彎折形成兩側(cè)臂，所述絕緣片的中間部位套設(shè)于所述測試探針，所述兩側(cè)臂分別位于所述測試探針的兩側(cè)，所述兩側(cè)臂下端與所述測試探針頭部緊密接觸，所述兩側(cè)臂下端長于所述測試探針的頭部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的防短路信號測試探針，其特征在于，所述絕緣片具有彈性。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的防短路信號測試探針，其特征在于，所述待測件為具有密集pin腳的芯片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的防短路信號測試探針，其特征在于，所述絕緣片的寬度大于所述測試探針的直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的防短路信號測試探針，其特征在于，所述絕緣片的橫截面呈三角形。
【專利摘要】一種防短路信號測試探針，其應(yīng)用于IC測試中，所述防短路信號測試探針包括：測試探針，其下端頭部用于觸碰待測件的一pin腳；絕緣片，其兩端沿其本體向下彎折形成兩側(cè)臂，所述絕緣片的中間部位套設(shè)于所述測試探針，所述兩側(cè)臂分別位于所述測試探針的兩側(cè)，所述兩側(cè)臂下端與所述測試探針頭部緊密接觸，所述兩側(cè)臂下端長于所述測試探針的頭部。本發(fā)明能夠縮短測試時間，提高工作效率；有效的保證了不會因短路而損壞待測件的問題，同時節(jié)約了測試成本。
【IPC分類】G01R31-28, G01R1-067
【公開號】CN104714062
【申請?zhí)枴緾N201310681487
【發(fā)明人】賀文輝
【申請人】神訊電腦(昆山)有限公司
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2013年12月13日