檢測系統(tǒng)的運作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測系統(tǒng)，特別是一種檢測系統(tǒng)的運作方法。
【背景技術(shù)】
[0002]按，隨著電子產(chǎn)品發(fā)展日漸蓬勃，為確保電子產(chǎn)品出廠時的質(zhì)量，制造、組裝及出廠前，通常都會通過檢測系統(tǒng)檢測電子產(chǎn)品的各精密電子元件間的電性連接是否確實。
[0003]而為使檢測能更加準確，檢測系統(tǒng)組裝好探針組后，會先將其探針抵接于一校正片上，進行檢測數(shù)值的補償(如歸零)。然而，此種運作方法僅在測試初始時執(zhí)行，且之后因應(yīng)不同測試需求而更換探針時，仍以初始的檢測數(shù)值進行補償，而易有誤差產(chǎn)生，導致測試結(jié)果不夠精準。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明的目的用于提供一種檢測系統(tǒng)的運作方法，可使每次更換探針組后，皆能具有準確的檢測結(jié)果。
[0005]緣以達成上述目的，本發(fā)明有一種提供檢測系統(tǒng)的運作方法，該檢測系統(tǒng)具有一檢測機以及一探針模塊，且該探針模塊一第一探針組以及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組中的一個可與該檢測機電性連接；該運作方法包括下列步驟:
[0006]A、連接該檢測機與該第一探針組；
[0007]B、校正該檢測系統(tǒng)；
[0008]C、將該第一探針組與一待測部位抵接，并對該待測部位進行電性檢測；
[0009]D、將該第一探針組與該待測物分離；
[0010]E、分離該檢測機與該第一探針組；
[0011]F、連接該檢測機與該第二探針組；
[0012]G、重新校正該檢測系統(tǒng)。
[0013]由此，通過每次更換探針組后，便實時進行校正的設(shè)計，便可使該檢測系統(tǒng)所得的檢測結(jié)果更加地準確。
【附圖說明】
[0014]圖1為檢測系統(tǒng)的架構(gòu)圖；
[0015]圖2為本發(fā)明的運作方法的流程圖。
[0016]【附圖標記說明】
[0017]10 檢測機
[0018]12 導線
[0019]121公接頭
[0020]30 探針組
[0021]34a第一探針組
[0022]34b第二探針組
[0023]341母接頭
[0024]342母接頭
【具體實施方式】
[0025]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合具體實施例，并參照附圖，對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
[0026]請參圖1所示，檢測系統(tǒng)包括依序電性連接的一檢測機10以及一探針模塊30，該檢測機10上設(shè)有一同軸的導線12，且該導線12 —端設(shè)有一以導體制成的公接頭121。該探針組30則包括不同測量間距的一第一探針組34a與一第二探針組34b，且該第一探針組34a與該第二探針組34b上分別設(shè)有一以導體制成的母接頭341、342。如此一來，該檢測機10便可依據(jù)測量點的間距須求，將該導線12上的公接頭121與該第一探針組34a或該第二探針組34b上的母接頭341、342連接，使得該第一探針組34a或該第二探針組34b可通過該導線12與該檢測機10電性連接。當然，在其他實施方式中，除使用可重復插拔的公母接頭的設(shè)計外，亦可通過如夾具或其它可進行重復結(jié)合與分離的結(jié)構(gòu)設(shè)計來達到連接的目的。
[0027]由此，請參閱圖2，當該檢測系統(tǒng)欲進行檢測時，便可執(zhí)行以下運作方法來確保檢測時的準確度，而該運作方法包括下列步驟:
[0028]A、連接該導線12上的公接頭121與該第一探針組34a上的母接頭341，使該導線12與該第一探針組34a電性連接。
[0029]B、校正該檢測系統(tǒng)。在本實施例中，利用將該第一探針組34a的針尖分次抵接于一校正片(圖未示)的短路接點、斷路接點以及阻抗接點上以進行對應(yīng)短路測量、斷路測量以及阻抗測量，并依據(jù)測量所得的數(shù)值進行對應(yīng)的數(shù)值校正(如歸零、數(shù)值偏移補償?shù)?，以達到校正該檢測系統(tǒng)的目的。
[0030]C、將該第一探針組34a的針尖與一待測物的待測部位抵接，而后，該檢測機10產(chǎn)生檢測信號將通過該導線12傳導給該第一探針組34a，而將檢測信號輸出至該待測物后，再回傳至該第一探針組34a，并再通過該導線12傳導回該檢測機10而形成一信號回路。如此一來，該檢測機10便可依據(jù)回傳的測試信號判定該待測部位電氣特性是否正常，進而達到對該待測物進行電性檢測的目的。
[0031]D、檢測完前述的該待測部位后，則將該第一探針組34a的針尖與該待測物分離。
[0032]E、而后，當該檢測系統(tǒng)欲檢測該待測物的另一待測部位，而該另一待測部位的測量間距與在步驟C的待測部位的測量間距不同時，則將該第一探針組34a上的母接頭341與該導線12上的公接頭121分離，使該第一探針組34a與該導線12之間呈現(xiàn)斷路。
[0033]F、連接該導線12上的公接頭121與該第二探針組34b，使該導線12與該第二探針組34b電性連接。
[0034]G、將該第二探針組34b的針尖分次抵接于該校正片的短路接點、斷路接點以及阻抗接點上以進行短路測量、斷路測量以及阻抗測量，并依據(jù)測量所得的數(shù)值進行對應(yīng)的數(shù)值校正(如歸零、數(shù)值偏移補償?shù)?，以重新校正該檢測系統(tǒng)。
[0035]H、校正完成后，便可將該第二探針組34b與該待測物的該另一待測部位抵接，而后，該檢測機10產(chǎn)生檢測信號將通過該導線12傳導給該第二探針組34b，而將檢測信號輸出至該待測物后，再回傳至該第二探針組34b，并再通過該導線12傳導回該檢測機10而形成一信號回路，該檢測機10便可依據(jù)回傳的測試信號判定該另一待測部位電氣特性是否正常，進而達到對該待測物進行電性檢測的目的。
[0036]由此，通過上述的方法設(shè)計，檢測系統(tǒng)在每次更換探針組34a、34b后，便可實時地進行數(shù)值校正，如此一來，便可避免各探針組34a、34b間的電氣特性差異造成測量結(jié)果產(chǎn)生誤差，進而使該檢測系統(tǒng)所得的檢測結(jié)果能更加地準確。
[0037]當然，在實際實施上，探針組初始的設(shè)定通常都是符合標準的，而使得上述的步驟H的電性檢測步驟，亦可在步驟F之后、步驟G之前執(zhí)行，并當檢測出的良率持續(xù)過低時，再進行步驟G的校正流程即可。此外，本發(fā)明除適用于兩組探針組34a、34B的檢測系統(tǒng)外，亦可適用于其他具有三組以上探針組的檢測系統(tǒng)。
[0038]以上所述的具體實施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳細說明，應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種檢測系統(tǒng)的運作方法，該檢測系統(tǒng)具有一檢測機以及一探針模塊，且該探針模塊一第一探針組以及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組中的一個可與該檢測機電性連接；該運作方法包括下列步驟: A、電性連接該檢測機與該第一探針組； B、校正該檢測系統(tǒng)； C、將該第一探針組與一待測部位抵接，并對該待測部位進行電性檢測； D、將該第一探針組與該待測物分離； E、電性分離該檢測機與該第一探針組； F、電性連接該檢測機與該第二探針組； G、重新校正該檢測系統(tǒng)。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，該檢測機上設(shè)有一導線，且在步驟A中，連接該導線與該第一探針組，使該檢測機與該第一探針組電性連接；且在步驟E中，分離該導線與該第一探針組，使該檢測機與該第一探針組電性分離。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，該導線一端具有一公接頭，而該第一探針組具有一對應(yīng)的母接頭，且在步驟A中，連接該公接頭與該母接頭，使該導線與該第一探針組連接；且在步驟E中，分離該公接頭與該母接頭，使該導線與該第一探針組分離。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，在步驟B中，利用將該第一探針組抵接于一校正片上以進行短路測量、斷路測量以及阻抗測量至少其中之一，并依據(jù)測量所得的數(shù)值進行對應(yīng)的補償以校正該檢測系統(tǒng)。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，該檢測機上設(shè)有一導線，且在步驟F中，連接該導線與該第二探針組，使該檢測機與該第二探針組電性連接。
6.如權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，該導線一端具有一公接頭，而該第二探針組具有一對應(yīng)的母接頭，且在步驟F中，連接該公接頭與該母接頭，使該導線與該第二探針組連接。
7.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，在步驟F中，利用將該第二探針組抵接于一校正片上以進行短路測量、斷路測量以及阻抗測量至少其中之一，并依據(jù)測量所得的數(shù)值進行對應(yīng)的補償，以校正該檢測系統(tǒng)。
8.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，在步驟G之后，還包括一步驟H，將該第二探針組與另一待測部位抵接，并對該另一待測部位進行電性檢測。
9.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，在步驟F之后，且在步驟G之前，還包括一步驟H，將該第二探針組與另一待測部位抵接，并對該另一待測部位進行電性檢測。
10.如權(quán)利要求8或9所述的檢測系統(tǒng)的運作方法，其特征在于，該第一探針組以及該第二探針組中的一個適用于不同測量間距，且步驟C與步驟H測量同一待測物上不同的待測部位。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種檢測系統(tǒng)的運作方法，該檢測系統(tǒng)具有一檢測機以及一探針模塊，且該探針模塊一第一探針組及一第二探針組，且該第一探針組與該第二探針組中的一個可與該檢測機連接；該運作方法包括下列步驟：先連接該檢測機與該第一探針組，并校正該檢測系統(tǒng)后，將該第一探針組與一待測物抵接，并對該待測物進行電性檢測；而后，將該第一探針組與該待測物分離，并分離該檢測機與該第一探針組；之后，連接該檢測機與該第二探針組，并重新校正該檢測系統(tǒng)，且將該第二探針組與該待測物抵接，以對該待測物進行電性檢測。
【IPC分類】G01R31-00, G01R35-00
【公開號】CN104714122
【申請?zhí)枴緾N201410680755
【發(fā)明人】顧偉正, 呂紹瑋, 魏豪, 王友澤
【申請人】旺矽科技股份有限公司
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2014年11月24日
【公告號】US20150204962