高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及耐電暈測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著工業(yè)生產(chǎn)自動(dòng)化程度要求的不斷提高，由變頻電源驅(qū)動(dòng)感應(yīng)電動(dòng)機(jī)的變頻調(diào)節(jié)系統(tǒng)，得到快速的發(fā)展和廣泛的采用。
[0003]電動(dòng)機(jī)中采用變頻電源后，其輸出電壓波形參數(shù)受到輸出端到電動(dòng)機(jī)輸入端“連接長度”等因素的影響。特別是絕緣柵雙極晶體管變頻器的應(yīng)用，在電動(dòng)機(jī)輸入端會(huì)產(chǎn)生附加脈沖電壓和“上沖”，脈沖附加電壓和“上沖”實(shí)際施加到電動(dòng)機(jī)定子繞組上，造成相鄰繞組漆包線間隙間的局部放電和絕緣介質(zhì)加熱。在這些綜合因素的作用下，最終造成漆包線絕緣介質(zhì)的過早老化損壞。
[0004]為了了解漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能，指導(dǎo)漆包線產(chǎn)品的生產(chǎn)，同時(shí)為了確定其性能是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求，保證漆包線產(chǎn)品的正常使用壽命和使用安全，人們需對(duì)漆包線的耐高頻脈沖性能及進(jìn)行測(cè)試。然而在變頻電機(jī)中由于在線圈中所承受的非正弦波而是短形方波電源，該種波形具有瞬間下降的特點(diǎn)(約十分之一納秒)，顯然常規(guī)的測(cè)試如電場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)試等，不能完全衡量漆包線產(chǎn)品的性能要求。
[0005]所以迫切的需要提供一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀，該測(cè)試儀可以模擬變頻電源輸出脈沖電壓條件，測(cè)試漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的是提供一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀，解決現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷和不足。
[0007]本發(fā)明提供一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀，用于測(cè)量漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能，包括主機(jī)和與所述主機(jī)通信連接的上位機(jī)，
所述主機(jī)包括:
脈沖電源，用以輸出雙極性對(duì)稱方波脈沖電壓；
測(cè)試箱，進(jìn)一步包括:通過高壓引線與所述脈沖電源連接的若干測(cè)試樣品插座、輸入端連接所述測(cè)試樣品插座連接用以采集測(cè)量數(shù)據(jù)的采集模塊；
所述上位機(jī)包括:
處理器系統(tǒng)，連接所述采集模塊的輸出端用以接收并處理采集到的測(cè)量數(shù)據(jù)；
存儲(chǔ)器系統(tǒng)，連接所述處理器系統(tǒng)用以存儲(chǔ)所述測(cè)量數(shù)據(jù)；
顯示系統(tǒng)，用以顯示所述處理器系統(tǒng)從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)讀取并處理的測(cè)量數(shù)據(jù)。
[0008]所述測(cè)試箱還包括溫控裝置，所述溫控裝置包括與所述處理器系統(tǒng)連接的溫度控制器以及與其連接的加熱元件和溫度傳感器。
[0009]所述測(cè)試儀還包括與所述主機(jī)連接的示波器，用以顯示包括測(cè)試電壓、脈沖頻率、波形的信息。
[0010]所述上位機(jī)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)還存儲(chǔ)有測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序，所述處理器系統(tǒng)從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)中讀取所存儲(chǔ)的測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果通過所述顯示系統(tǒng)對(duì)外顯示。
[0011]本發(fā)明可以模擬變頻電源輸出脈沖電壓條件，同時(shí)對(duì)漆包線產(chǎn)品的若干測(cè)試樣品進(jìn)行耐高頻脈沖性能的測(cè)試，測(cè)試精度得到提高的同時(shí)，測(cè)試速度快，并且測(cè)試結(jié)果可以通過示波器直觀的顯示。
【附圖說明】
[0012]圖1是本發(fā)明所述測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)框圖；
圖2是本發(fā)明所述測(cè)試儀安裝外殼后的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
[0014]參見圖1，本發(fā)明提供一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀100，用于測(cè)量漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能，包括主機(jī)110和與所述主機(jī)110通信連接的上位機(jī)120，所述主機(jī)110包括:
脈沖電源111，用以輸出雙極性對(duì)稱方波脈沖電壓；
測(cè)試箱112，進(jìn)一步包括:通過高壓引線與所述脈沖電源111連接的若干測(cè)試樣品插座1121、輸入端連接所述測(cè)試樣品插座1121連接用以采集測(cè)量數(shù)據(jù)的采集模塊1122 ；
所述上位機(jī)120包括:
處理器系統(tǒng)121，連接所述采集模塊1122的輸出端用以接收并處理采集到的測(cè)量數(shù)據(jù)；
存儲(chǔ)器系統(tǒng)122，連接所述處理器系統(tǒng)121用以存儲(chǔ)所述測(cè)量數(shù)據(jù)；
顯示系統(tǒng)123，用以顯示所述處理器系統(tǒng)121從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)122讀取并處理的測(cè)量數(shù)據(jù)。
[0015]作為一實(shí)施例，所述測(cè)試箱112還包括溫控裝置1123，所述溫控裝置1123包括與所述處理器系統(tǒng)121連接的溫度控制器11231以及與其連接的加熱元件11232和溫度傳感器 11233。
[0016]作為一實(shí)施例，所述測(cè)試儀100還包括與所述主機(jī)110連接的示波器130，用以顯示包括測(cè)試電壓、脈沖上升時(shí)間、脈沖頻率、波形的信息。
[0017]所述上位機(jī)120的顯示系統(tǒng)123為顯示器，用以顯示的信息包括測(cè)試電壓、脈沖上升時(shí)間、脈沖頻率、占空比、測(cè)試溫度。
[0018]作為一實(shí)施例，所述上位機(jī)120的存儲(chǔ)器系統(tǒng)122還存儲(chǔ)有測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序，所述處理器系統(tǒng)121從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)122中讀取所存儲(chǔ)的測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果通過所述顯示系統(tǒng)123對(duì)外顯示。
[0019]參見圖2,測(cè)試儀100還包括一用于放置測(cè)主機(jī)110的外殼3,外殼3以能夠放置下測(cè)試箱112、脈沖電源111等測(cè)試儀主機(jī)110部件為準(zhǔn)。為了使漆包線耐電暈測(cè)試儀更加美觀，夕卜殼3米用柜式結(jié)構(gòu)。外殼3可以是一獨(dú)立外殼,外殼內(nèi)上方固定有測(cè)試箱112,下方放置測(cè)試儀主機(jī)110的其它部分。外殼3也可是可分離式的外殼，分為上下兩部分，兩部分外殼之間相互配套，一部分外殼內(nèi)放置測(cè)試儀主機(jī)110的除測(cè)試箱112以外的其它部分，另一部分外殼置于測(cè)試箱112上，如果測(cè)試箱112采用烘箱，該置于測(cè)試箱112上的外殼可以直接采用烘箱的外殼1，而不是另設(shè)。
[0020]下面通過一實(shí)施例繼續(xù)描述本發(fā)明。
[0021]測(cè)試儀主機(jī)110包括一用于為漆包線產(chǎn)品的測(cè)試樣品輸入測(cè)量電壓的脈沖電源111，脈沖電源111采用輸出雙極性對(duì)稱方波脈沖電壓的脈沖電源。為了提高測(cè)試環(huán)境的匹配度，使測(cè)試儀主機(jī)110模擬出一個(gè)更接近真實(shí)使用環(huán)境的測(cè)試環(huán)境，提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度，脈沖電源111的技術(shù)指標(biāo)要求滿足如下條件:脈沖頻率:2-20KHz連續(xù)可調(diào)，指示誤差0.1%;電壓范圍:0-±1500v連續(xù)可調(diào)，指示誤差5%;上升時(shí)間:50-400ns可調(diào)；占空比:20%-80%連續(xù)可調(diào)。
[0022]測(cè)試儀主機(jī)110還包括一測(cè)試箱112，測(cè)試箱112內(nèi)設(shè)有測(cè)試樣品插座1121，脈沖電源111通過高壓引線連接所述測(cè)試樣品插座1121。測(cè)試樣品插座1121有五個(gè)。脈沖電源111可同時(shí)向五個(gè)測(cè)試樣品插座1121輸出脈沖信號(hào)。這樣可同時(shí)對(duì)漆包線產(chǎn)品的五個(gè)測(cè)試樣品進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試箱112內(nèi)還設(shè)有一用于采集測(cè)量數(shù)據(jù)的測(cè)量數(shù)據(jù)采集模塊1122，測(cè)量數(shù)據(jù)采集模塊1122連接上位機(jī)120，測(cè)量數(shù)據(jù)采集模塊1122設(shè)有一電橋電路。
[0023]測(cè)試箱112內(nèi)還設(shè)有一用于采集測(cè)試箱112內(nèi)溫度值的溫度傳感器11233，溫度傳感器11233連接一用于控制測(cè)試箱內(nèi)112溫度的溫度控制器11231，溫度控制器11231還連接一用于提升測(cè)試箱內(nèi)溫度的加熱元件11232。加熱元件11232可以置于測(cè)試箱112內(nèi)，也可以位于測(cè)試箱112下方。溫度控制器11231可以連接上位機(jī)2。這樣溫度傳感器11233實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試箱112內(nèi)的溫度，并將測(cè)量到的溫度值傳送給溫度控制器11231，溫度控制器11231對(duì)當(dāng)前溫度值進(jìn)行分析，通過調(diào)控加熱元件11232的工作狀態(tài)控制測(cè)試箱112內(nèi)的溫度在室溫到200度之間連續(xù)可調(diào)。為了提高溫控精度，溫度傳感器11233可以采用熱敏電阻器制作的溫度傳感器。測(cè)試箱112可以是一烘箱，烘箱內(nèi)設(shè)有測(cè)試樣品插座1121、測(cè)量數(shù)據(jù)采集模塊1122。
[0024]為了明顯直觀的將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行顯示，高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀100，還包括一示波器130，示波器130連接測(cè)試儀主機(jī)110。這樣，在測(cè)試過程中，高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀100可同步顯示每個(gè)漆包線產(chǎn)品的測(cè)試樣品的測(cè)試電壓、脈沖頻率、波形等信息。
[0025]上位機(jī)120包括一處理器系統(tǒng)121、一存儲(chǔ)器系統(tǒng)122、一顯不系統(tǒng)123,測(cè)試儀主機(jī)110連接上位機(jī)120，處理器系統(tǒng)121將測(cè)量數(shù)據(jù)采集模塊1122的測(cè)量數(shù)據(jù)輸入到存儲(chǔ)器系統(tǒng)122進(jìn)行存儲(chǔ)。存儲(chǔ)器系統(tǒng)122能夠?qū)Χ嘟M數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，方便隨時(shí)調(diào)看測(cè)量數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)器系統(tǒng)122中還存儲(chǔ)有測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序，處理器系統(tǒng)121從存儲(chǔ)器系統(tǒng)122中讀取所存儲(chǔ)的測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果通過顯示系統(tǒng)123對(duì)外顯示。例如:測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序中包含有測(cè)量次數(shù)控制、測(cè)量數(shù)據(jù)的求平均值計(jì)算，那么，上位機(jī)2就會(huì)通過測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序控制測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量次數(shù)，同時(shí)可將多次測(cè)量的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行求平均值計(jì)算，并可以將測(cè)量次數(shù)、測(cè)量數(shù)據(jù)、平均值等信息對(duì)外輸出。
[0026]本發(fā)明具體使用方法:準(zhǔn)備五根漆包線產(chǎn)品的測(cè)試樣品，每根測(cè)試樣品自身扭絞，使其端部打開，置于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定溫度的測(cè)試箱112內(nèi)，測(cè)試箱112內(nèi)的溫度可以通過溫度控制器11231進(jìn)行調(diào)整。通過脈沖電源111向每對(duì)扭絞樣品施加所規(guī)定的上升和下降時(shí)間的脈沖電壓。當(dāng)施加在測(cè)試樣品上的電流脈沖超出一定值時(shí)，測(cè)試樣品失效，上位機(jī)120將測(cè)試數(shù)據(jù)采集模塊1122采集到的相應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存。
[0027]本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，以上的實(shí)施方式僅是用來說明本發(fā)明，而并非用作為對(duì)本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)精神范圍內(nèi)，對(duì)以上實(shí)施方式的變化、變型都將落在本發(fā)明的權(quán)利要求書范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀，用于測(cè)量漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能，包括主機(jī)和與所述主機(jī)通信連接的上位機(jī)，其特征在于， 所述主機(jī)包括: 脈沖電源，用以輸出雙極性對(duì)稱方波脈沖電壓； 測(cè)試箱，進(jìn)一步包括:通過高壓引線與所述脈沖電源連接的若干測(cè)試樣品插座、輸入端連接所述測(cè)試樣品插座連接用以采集測(cè)量數(shù)據(jù)的采集模塊； 所述上位機(jī)包括: 處理器系統(tǒng)，連接所述采集模塊的輸出端用以接收并處理采集到的測(cè)量數(shù)據(jù)； 存儲(chǔ)器系統(tǒng)，連接所述處理器系統(tǒng)用以存儲(chǔ)所述測(cè)量數(shù)據(jù)； 顯示系統(tǒng)，用以顯示所述處理器系統(tǒng)從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)讀取并處理的測(cè)量數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試箱還包括溫控裝置，所述溫控裝置包括與所述處理器系統(tǒng)連接的溫度控制器以及與其連接的加熱元件和溫度傳感器。
3.如權(quán)利要求1或2所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述測(cè)試儀還包括與所述主機(jī)連接的示波器，用以顯示包括測(cè)試電壓、脈沖頻率、波形的信息。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試儀，其特征在于，所述上位機(jī)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)還存儲(chǔ)有測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序，所述處理器系統(tǒng)從所述存儲(chǔ)器系統(tǒng)中讀取所存儲(chǔ)的測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比程序進(jìn)行處理，并將處理結(jié)果通過所述顯示系統(tǒng)對(duì)外顯示。
【專利摘要】本發(fā)明揭示了一種高頻脈沖耐電暈測(cè)試儀，用于測(cè)量漆包線產(chǎn)品的耐高頻脈沖性能，包括主機(jī)和與所述主機(jī)通信連接的上位機(jī)。本發(fā)明可以通過主機(jī)的脈沖電源模擬變頻電源輸出脈沖電壓條件，同時(shí)對(duì)漆包線產(chǎn)品的若干測(cè)試樣品進(jìn)行耐高頻脈沖性能的測(cè)試，測(cè)試精度得到提高的同時(shí)，測(cè)試速度快，并且測(cè)試結(jié)果可以通過示波器直觀的顯示。
【IPC分類】G01R31-12
【公開號(hào)】CN104749494
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310726030
【發(fā)明人】夏克, 葉賢剛, 周震堃
【申請(qǐng)人】常州威遠(yuǎn)電工器材有限公司
【公開日】2015年7月1日
【申請(qǐng)日】2013年12月25日