一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及校準(zhǔn)方法應(yīng)用領(lǐng)域，特別涉及一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對(duì)于插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)主要參考的技術(shù)規(guī)范有JJG795-2004耐電壓測(cè)試儀檢定規(guī)程、JJG1005-2005電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程，但這兩個(gè)規(guī)程均不是專門(mén)針對(duì)插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)技術(shù)規(guī)范，很多插頭綜合測(cè)試儀實(shí)際校準(zhǔn)過(guò)程中的特殊要求或問(wèn)題在兩個(gè)規(guī)程中并不能完全體現(xiàn)，如內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)壓漏電電流、外壓漏電電流、絕緣電阻、絕緣電阻測(cè)試電壓、定時(shí)功能檢查等校準(zhǔn)項(xiàng)目均無(wú)法通過(guò)上述兩個(gè)規(guī)程完全的實(shí)現(xiàn)，給企業(yè)帶來(lái)了很大的不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述【背景技術(shù)】中存在的問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法，以達(dá)到全面校準(zhǔn)、提高工作效率，且操作簡(jiǎn)單方便的目的。
[0004]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0005]一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法，包括以下步驟:
[0006]a、將插頭綜合測(cè)試儀的測(cè)試插頭類型選擇為三芯，將其插座更換為三孔的插座，用三條耐高壓的絕緣性良好的導(dǎo)線分別連接插座上的E、L、N三孔；
[0007]b、啟動(dòng)測(cè)試，按照上述面板標(biāo)識(shí)的順序，分別將E、L、N觸碰點(diǎn)擊板，此時(shí)相應(yīng)的指示燈亮，而后，插頭綜合測(cè)試儀按順序進(jìn)行絕緣、內(nèi)高壓、外高壓測(cè)試，正常狀態(tài)其相應(yīng)的指示燈按順序點(diǎn)亮，觀察其內(nèi)高壓和外高壓的先后順序；
[0008]C、絕緣電阻的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與高阻箱相連接，將插頭綜合測(cè)試儀的絕緣電阻設(shè)置為某一檔位，記為χΜΩ，啟動(dòng)測(cè)試，將內(nèi)高壓和外高壓的輸出電壓設(shè)為零，將高阻箱電阻設(shè)置為χΜ Ω附近值，分別多次重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，調(diào)整高阻箱的電阻值，記錄插頭綜合測(cè)試儀指示的絕緣電阻項(xiàng)目由不合格到合格時(shí)的轉(zhuǎn)換點(diǎn)，并校準(zhǔn)插頭綜合測(cè)試儀絕緣電阻的其他檔位；
[0009]d、絕緣電阻測(cè)試電壓的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與數(shù)字萬(wàn)用表(DCV功能)或數(shù)字高壓表(DCV功能)相連接，將插頭綜合測(cè)試儀的絕緣電阻設(shè)置到最小檔位，啟動(dòng)測(cè)試，分別觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，觀察并記錄數(shù)字萬(wàn)用表或數(shù)字高壓表的讀數(shù)，正常狀態(tài)E為高壓的低端;
[0010]e、內(nèi)高壓的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與數(shù)字高壓表(ACV功能)相連接，如插頭綜合測(cè)試儀先進(jìn)行外高壓測(cè)試，需先連接L端，待外高壓通過(guò)后，再接上E端，進(jìn)行內(nèi)高壓測(cè)試，將內(nèi)高壓測(cè)試時(shí)間設(shè)置在1s以上，啟動(dòng)測(cè)試，將內(nèi)高壓設(shè)置成某一校準(zhǔn)點(diǎn)xkV，外高壓設(shè)置成零，分別觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，觀察并記錄數(shù)字高壓表的讀數(shù)，重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板校準(zhǔn)內(nèi)高壓其他校準(zhǔn)點(diǎn)；
[0011]f、內(nèi)高壓漏電電流的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與高阻箱相連接，并將數(shù)字萬(wàn)用表(ACA)串聯(lián)到E端，如插頭綜合測(cè)試儀先進(jìn)行外高壓測(cè)試，需先連接L端，待外高壓通過(guò)后，再接上E端，進(jìn)行內(nèi)高壓測(cè)試，將內(nèi)高壓測(cè)試時(shí)間設(shè)置在1s以上，將內(nèi)高壓泄漏電流設(shè)置在某一檔位，高阻箱的阻值設(shè)置在500/泄漏電流，啟動(dòng)測(cè)試，將內(nèi)高壓設(shè)置成500V，外高壓設(shè)置成零，分別多次重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，調(diào)整高阻箱的電阻值，記錄插頭綜合測(cè)試儀指示的內(nèi)高壓項(xiàng)目由不合格到合格時(shí)的電流轉(zhuǎn)換點(diǎn)，觀察并記錄數(shù)字萬(wàn)用表的電流讀數(shù)，并校準(zhǔn)內(nèi)高壓漏電電流其他檔位；
[0012]g、外高壓的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與高壓表相連接，將外高壓測(cè)試時(shí)間設(shè)置在1s以上，啟動(dòng)測(cè)試，將外高壓設(shè)置為某一校準(zhǔn)點(diǎn)xkV，內(nèi)高壓設(shè)置成零，分別多次重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，觀察并記錄高壓表的讀數(shù)，并校準(zhǔn)外高壓其他校準(zhǔn)點(diǎn)；
[0013]h、外高壓漏電電流的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與高壓表相連接，并將數(shù)字萬(wàn)用表(ACA)串聯(lián)到E端，將外高壓測(cè)試時(shí)間設(shè)置在1s以上，將外高壓泄漏電流設(shè)置在某一檔位，高阻箱的阻值設(shè)置為500/泄漏電流，啟動(dòng)測(cè)試，將外高壓設(shè)置成500V，內(nèi)高壓設(shè)置成零，分別多次重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，調(diào)整高阻箱的電阻值，記錄插頭綜合測(cè)試儀指示的外高壓項(xiàng)目由不合格到合格時(shí)的電流轉(zhuǎn)換點(diǎn)，觀察并記錄數(shù)字萬(wàn)用表的電流讀數(shù)，并校準(zhǔn)外高壓漏電電流其他檔位；
[0014]1、外高壓和內(nèi)高壓定時(shí)功能的校準(zhǔn)，將外高壓或內(nèi)高壓測(cè)試時(shí)間分別設(shè)置成需要校準(zhǔn)的時(shí)間點(diǎn)，均大于10s，參考內(nèi)高壓或外高壓的校準(zhǔn)方法，無(wú)需接入高壓表，啟動(dòng)測(cè)試，分別用秒表記錄內(nèi)高壓或外高壓又開(kāi)始到結(jié)束的時(shí)間，通過(guò)觀察插頭綜合測(cè)試儀的指示燈和定時(shí)器的動(dòng)作即可。
[0015]通過(guò)上述技術(shù)方案，本發(fā)明提供的一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法，不僅可以對(duì)插頭綜合測(cè)試儀進(jìn)行更全面的校準(zhǔn)，使其解決了在實(shí)際校準(zhǔn)過(guò)程中的特殊要求和問(wèn)題，而且還因一次全面的校準(zhǔn)而提高了工作效率，且操作簡(jiǎn)單、方便。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。
[0017]本發(fā)明提供的一種插頭綜合測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法，包括以下步驟:
[0018]a、將插頭綜合測(cè)試儀的測(cè)試插頭類型選擇為三芯，將其插座更換為三孔的插座，用三條耐高壓的絕緣性良好的導(dǎo)線分別連接插座上的E、L、N三孔；
[0019]b、啟動(dòng)測(cè)試，按照上述面板標(biāo)識(shí)的順序，分別將E、L、N觸碰點(diǎn)擊板，此時(shí)相應(yīng)的指示燈亮，而后，插頭綜合測(cè)試儀按順序進(jìn)行絕緣、內(nèi)高壓、外高壓測(cè)試，正常狀態(tài)其相應(yīng)的指示燈按順序點(diǎn)亮，觀察其內(nèi)高壓和外高壓的先后順序；
[0020]C、絕緣電阻的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與高阻箱相連接，將插頭綜合測(cè)試儀的絕緣電阻設(shè)置為某一檔位，記為χΜΩ，啟動(dòng)測(cè)試，將內(nèi)高壓和外高壓的輸出電壓設(shè)為零，將高阻箱電阻設(shè)置為χΜ Ω附近值，分別多次重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，調(diào)整高阻箱的電阻值，記錄插頭綜合測(cè)試儀指示的絕緣電阻項(xiàng)目由不合格到合格時(shí)的轉(zhuǎn)換點(diǎn)，并校準(zhǔn)插頭綜合測(cè)試儀絕緣電阻的其他檔位；
[0021]d、絕緣電阻測(cè)試電壓的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與數(shù)字萬(wàn)用表(DCV功能)或數(shù)字高壓表(DCV功能)相連接，將插頭綜合測(cè)試儀的絕緣電阻設(shè)置到最小檔位，啟動(dòng)測(cè)試，分別觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，觀察并記錄數(shù)字萬(wàn)用表或數(shù)字高壓表的讀數(shù)，正常狀態(tài)E為高壓的低端;
[0022]e、內(nèi)高壓的校準(zhǔn)，插頭綜合測(cè)試儀與數(shù)字高壓表(ACV功能)相連接，如插頭綜合測(cè)試儀先進(jìn)行外高壓測(cè)試，需先連接L端，待外高壓通過(guò)后，再接上E端，進(jìn)行內(nèi)高壓測(cè)試，將內(nèi)高壓測(cè)試時(shí)間設(shè)置在1s以上，啟動(dòng)測(cè)試，將內(nèi)高壓設(shè)置成某一校準(zhǔn)點(diǎn)xkV，外高壓設(shè)置成零，分別觸碰E、L、N的點(diǎn)擊板，觀察并記錄數(shù)字高壓表的讀數(shù)，重復(fù)觸碰E、L、N的點(diǎn)擊