自動測試設(shè)備及其控制方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種自動測試設(shè)備及其控制方法，且特別涉及一種適用于平行測試架構(gòu)的自動測試設(shè)備及其控制方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市面上的自動測試設(shè)備(automatic test equipment, ATE)在對待測裝置(device under test, DUT)進(jìn)行模擬波形(analog waveform)的測試時,測試人員僅需依照測試需求輸入所需的數(shù)據(jù)與其所需測試的參數(shù)(例如模擬波形的頻率)，自動測試設(shè)備即可依照上述輸入的數(shù)據(jù)與參數(shù)對待測裝置輸入模擬波形，并接收由待測裝置所反饋的波形，以作為模擬測試用途。
[0003]上述這種模擬波形的產(chǎn)生方式是通過軟件的演算后載入硬件記憶體而達(dá)成，此硬件記憶體需事先寫入對應(yīng)的數(shù)據(jù)，且一組測試的參數(shù)所對應(yīng)的數(shù)據(jù)僅能儲存于一個硬件記憶體中。
[0004]然而，隨著現(xiàn)今半導(dǎo)體工藝的進(jìn)步，自動測試設(shè)備已漸漸朝向高密度且復(fù)雜的平行測試架構(gòu)演進(jìn)，以符合高密度測試通道的需求，但目前的自動測試設(shè)備針對模擬測試有很多資源的限制(例如測試深度與不同site間的測試頻率)，這些限制會使得原本已為數(shù)不多的模擬通道的自動測試設(shè)備在使用上更顯出窘境。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于以上的問題，本發(fā)明的目的在于提出一種自動測試設(shè)備及其控制方法，其通過多工模塊與控制模塊的設(shè)計，使得自動測試設(shè)備僅需單一個實體記憶體即能實現(xiàn)平行測試架構(gòu)，增加了此實體記憶體的使用效率。
[0006]根據(jù)本發(fā)明一實施例中的一種自動測試設(shè)備，此自動測試設(shè)備用于測試第一待測裝置。此自動測試設(shè)備主要包括儲存模塊、第一多工模塊、控制模塊以及第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊，其中控制模塊電性連接儲存模塊與第一多工模塊，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊電性連接第一多工模塊的輸出端與控制模塊。儲存模塊用以儲存多個數(shù)據(jù)信號。第一多工模塊用以接收具有不同頻率的多個時脈信號并依據(jù)控制信號由所述多個時脈信號中選擇其中之一輸出?？刂颇K用以產(chǎn)生控制信號，并選擇性地讀取儲存模塊中的所述多個數(shù)據(jù)信號其中之一。第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊用以依據(jù)第一多工模塊所輸出的時脈信號與被控制模塊讀取的數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生第一測試信號，并輸出此第一測試信號至第一待測裝置。
[0007]于一實施例中，自動測試設(shè)備于接收到第一待測裝置所輸出的反饋信號時，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊會至少依據(jù)所述多個時脈信號其中之一對反饋信號進(jìn)行取樣，并據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0008]根據(jù)本發(fā)明一實施例中的一種自動測試設(shè)備控制方法，此自動測試設(shè)備控制方法用于以自動測試設(shè)備測試第一待測裝置。此自動測試設(shè)備控制方法的步驟流程如下所述。接收具有不同頻率的多個時脈信號，并由所述多個時脈信號中選擇其中之一。選擇性地讀取自動測試設(shè)備中的多個數(shù)據(jù)信號其中之一。依據(jù)被選擇的時脈信號與被讀取的數(shù)據(jù)信號產(chǎn)生第一測試信號，并輸出此第一測試信號至第一待測裝置。
[0009]于一實施例中，自動測試設(shè)備于接收到第一待測裝置所輸出的反饋信號時，此自動測試設(shè)備更至少依據(jù)所述多個時脈信號其中之一對此反饋信號進(jìn)行取樣，并據(jù)以產(chǎn)生測試結(jié)果信號。
[0010]綜合以上所述，本發(fā)明提供一種自動測試設(shè)備及其控制方法，此自動測試設(shè)備通過多工模塊可以由多個時脈信號選擇其中之一來給對應(yīng)的數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊的特性，使得數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊可依據(jù)多工模塊所選擇的時脈信號與儲存模塊中所儲存的多個數(shù)據(jù)信號其中之一來產(chǎn)生一種提供給待測裝置的測試信號。另一方面，在自動測試設(shè)備接收到待測裝置所輸出的反饋信號時，數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊更可以依據(jù)多工模塊所選擇的時脈信號來對此反饋信號進(jìn)行取樣，以將反饋信號解調(diào)回測試結(jié)果信號。
[0011]以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對本發(fā)明的限定。
【附圖說明】
[0012]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的自動測試設(shè)備的功能方框圖；
[0013]圖2為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的自動測試設(shè)備的功能方框圖；
[0014]圖3為根據(jù)本發(fā)明一實施例的自動測試設(shè)備控制方法的步驟流程圖。
[0015]其中，附圖標(biāo)記
[0016]1、I’自動測試設(shè)備
[0017]100儲存模塊
[0018]102、102a、102b 多工模塊
[0019]104控制模塊
[0020]106、106a、106b數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊
[0021]108切換模塊
[0022]2、2a、2b 待測裝置
[0023]S300?S304步驟流程
【具體實施方式】
[0024]以下在實施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何熟習(xí)相關(guān)技藝者了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實施，且根據(jù)本說明書所發(fā)明的內(nèi)容、權(quán)利要求范圍及附圖，任何熟習(xí)相關(guān)技藝者可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。以下的實施例是進(jìn)一步詳細(xì)說明本發(fā)明的觀點(diǎn)，但非以任何觀點(diǎn)限制本發(fā)明的范疇。
[0025]〔自動測試設(shè)備的一實施例〕
[0026]請參照圖1，圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的自動測試設(shè)備的功能方框圖。如圖1所示，此自動測試設(shè)備I用于測試第一待測裝置2，此自動測試設(shè)備I主要包括儲存模塊100、第一多工模塊102、控制模塊104以及第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106，其中第一多工模塊102與第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106互相電性連接，且儲存模塊100、第一多工模塊102以及第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106皆與控制模塊104電性連接。以下將分別就自動測試設(shè)備I中的各部功能模塊作詳細(xì)的說明。
[0027]儲存模塊100用以儲存多個數(shù)據(jù)信號，其中此數(shù)據(jù)信號是為自動測試設(shè)備I欲對第一待測裝置2進(jìn)行測試的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。于實務(wù)上，儲存模塊100可以為一種可程序化只讀記憶體(programmable read-only memory, PROM)、可擦可程序化只讀記憶體(erasableprogrammable read-only memory, EPROM)、可電擦可程序化只讀記憶體(electricallyerasable programmable read-only memory, EEPR0M)、快閃記憶體(flash memory)等非揮發(fā)性記憶體(non-volatile memory),或者是可以為一種動態(tài)隨機(jī)存取記憶體(dynamicrandom access memory, DRAM)、靜態(tài)隨機(jī)存取記憶體(static random access memory,SRAM)等揮發(fā)性記憶體(volatile memory),本發(fā)明在此不加以限制。
[0028]第一多工模塊102用以接收具有不同頻率的多個時脈信號，并依據(jù)控制模塊104所產(chǎn)生的控制信號而由所述多個時脈信號中選擇其中之一輸出。于實務(wù)上，第一多工模塊102可以為一種多工器(multiplexer, MUX),由于多工器技術(shù)已為于所屬技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者所慣用技術(shù)，故在此不再特別贅述。
[0029]此外，自動測試設(shè)備I更可以包括有時脈產(chǎn)生模塊(未繪示于圖中)，此時脈產(chǎn)生模塊電性連接第一多工模塊102，且此時脈產(chǎn)生模塊用以對第一多工模塊102提供所述多個時脈信號。于實務(wù)上，時脈產(chǎn)生模塊為一種振蕩器(oscillator),且此振蕩器可以依據(jù)自動測試設(shè)備I的實際需求而徑行設(shè)定所輸出時脈信號的頻率以及數(shù)量。
[0030]控制模塊104用以產(chǎn)生上述的控制信號，并選擇性地從儲存模塊100中讀取所述多個數(shù)據(jù)信號其中之一。于實務(wù)上，控制模塊可以為一種場可程序邏輯門陣列(fieldprogrammable gate array, FPGA)、微控制器(microcontroller, MCU)或中央處理器(central processing unit, CPU),本發(fā)明在此不加以限制。
[0031]第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106用以依據(jù)第一多工模塊102所輸出的時脈信號與被控制模塊104讀取的數(shù)據(jù)信號而產(chǎn)生一個第一測試信號，并輸出此第一測試信號至第一待測裝置2。換句話說，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106用以將第一多工模塊102所輸出的時脈信號的頻率以及被控制模塊104讀取的數(shù)據(jù)信號的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)變，并據(jù)以產(chǎn)生一種模擬測試信號，并將此模擬測試信號輸出至第一待測裝置2，使得第一待測裝置2可以依據(jù)此模擬測試信號進(jìn)行測試程序。
[0032]此外，當(dāng)自動測試設(shè)備I接收到第一待測裝置2所輸出的反饋信號(即第一待測裝置2依據(jù)第一測試信號進(jìn)行測試程序時所產(chǎn)生的信號)時，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106至少會依據(jù)所述多個時脈信號其中之一對上述的反饋信號進(jìn)行取樣，并據(jù)以產(chǎn)生一個測試結(jié)果信號。換句話說，當(dāng)自動測試設(shè)備I接收到第一待測裝置2所輸出的反饋信號時，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106會依據(jù)所述多個時脈信號其中之一的頻率，將屬于模擬信號的反饋信號進(jìn)行取樣，以將上述的反饋信號解調(diào)為具有多個取樣點(diǎn)的測試結(jié)果信號。于實務(wù)上，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106可以為一種數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(digital to analog converter,DAC)與模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog to digital converter, ADC)所組成的組合電路。
[0033]在實際的操作中，第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106更可通過探針(probe)或是其他傳輸端口來與第一待測裝置2電性連接，本發(fā)明在此不加以限制。此外，當(dāng)?shù)谝粩?shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106將反饋信號解調(diào)回測試結(jié)果信號后，控制模塊104更可以將屬于數(shù)字信號的測試結(jié)果信號寫入至儲存模塊100中，或是直接將此測試結(jié)果信號以圖像、數(shù)值或聲音的方式提供給測試人員，本發(fā)明在此不加以限制。
[0034]因此，自動測試設(shè)備I更可包括有提示模塊(未繪示于圖式)，此提示模塊電性連接控制模塊104，此提示模塊用以依據(jù)上述的測試結(jié)果信號而產(chǎn)生一組提示信號，此提示信號用以指示測試結(jié)果信號中的信息。于實務(wù)上，提示模塊可以為一種顯示模塊(例如發(fā)光二極管、顯示面板、七段顯示器等電子顯示元件)或是發(fā)聲模塊(例如喇叭、蜂鳴器等電子發(fā)聲元件)，本發(fā)明在此不加以限制。若提示模塊為顯示模塊的話，則提示信號是以影像或是光線的型式呈現(xiàn)給測試人員；若提示模塊為發(fā)聲模塊的話，則提示信號是以聲音的型式呈現(xiàn)給測試人員。
[0035]〔自動測試設(shè)備之另一實施例〕
[0036]請參照圖2，圖2為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的自動測試設(shè)備的功能方框圖。如圖2所示，此自動測試設(shè)備I ’用于測試第一待測裝置2a與第二待測裝置2b，此自動測試設(shè)備I ’主要包括儲存模塊100、第一多工模塊102a、第二多工模塊102b、控制模塊104、第一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106a、第二數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊106b以及切換模塊108，其中第一