夠制作出峰的波形形狀良好且其強(qiáng)度足夠高的質(zhì)譜圖。
[0077]以下，參考圖2，對本發(fā)明的第2實(shí)施例的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置進(jìn)行說明。圖2是第2實(shí)施例的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置的主要部分的概略結(jié)構(gòu)圖，對與圖1所示的第I實(shí)施例的裝置相同的結(jié)構(gòu)要素標(biāo)記了相同附圖標(biāo)記。
[0078]在第I實(shí)施例的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置中，表示掃描速度與CID氣體供給壓關(guān)系的信息被預(yù)先寫入于CID氣體條件表31a中，并利用該信息控制供給至碰撞池4的CID氣體的供給壓。與此相對，第2實(shí)施例的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置具備:CID氣體條件自動(dòng)調(diào)整部32，其承擔(dān)用于在用戶側(cè)自動(dòng)算出掃描速度與CID氣體供給壓之間的關(guān)系的控制及數(shù)據(jù)處理；以及，流路切換閥14和調(diào)整用試料供給部15，其用于代替目標(biāo)試料而將調(diào)整用的標(biāo)準(zhǔn)試料導(dǎo)入離子源2。通常，調(diào)整用的標(biāo)準(zhǔn)試料是高純度地包含質(zhì)荷比為已知的規(guī)定的化合物的試料。
[0079]S卩，如果操作者在輸入部40指示實(shí)行自動(dòng)參數(shù)調(diào)整，則CID氣體條件自動(dòng)調(diào)整部32將流路切換閥14切換至調(diào)整用試料供給部15側(cè)，并將調(diào)整用的標(biāo)準(zhǔn)試料導(dǎo)入離子源2。此外，CID氣體條件自動(dòng)調(diào)整部32，以將CID氣體供給壓依次切換為預(yù)先決定的多個(gè)數(shù)值的方式控制CID氣體供給部8，然后以對每個(gè)不同的CID氣體供給壓，以不同的掃描速度分別至少實(shí)行一次對源自包含于標(biāo)準(zhǔn)試料的化合物的離子的質(zhì)荷比附近的規(guī)定質(zhì)荷比的前體離子掃描測定的方式控制各電源部11、12、13。CID氣體供給壓例如可以像圖4、圖6所示那樣以190、210、230、260、290、350[kPa]的6個(gè)階段切換。此外，掃描速度可以以100u/s和2500u/s的2個(gè)階段切換。當(dāng)然，如果時(shí)間允許也可以更細(xì)密地切換條件。
[0080]如果實(shí)施上述那樣的對標(biāo)準(zhǔn)試料的測定，則在數(shù)據(jù)處理部20，對多個(gè)階段的每個(gè)CID氣體供給壓，制作如圖3，圖5所示那樣的，能夠觀測到源自規(guī)定的化合物的離子峰的質(zhì)譜圖。CID氣體條件自動(dòng)調(diào)整部32檢測出在這樣的質(zhì)譜圖上出現(xiàn)的峰，并基于該峰的的波形形狀以及峰的強(qiáng)度，對每個(gè)掃描速度決定最優(yōu)的CID氣體供給壓。作為此時(shí)的判斷基準(zhǔn)，如上所述，可以選擇:峰形狀是峰的FWHM為0.7以下、或者能夠分離主峰和與其最近的同位素峰的形狀，且賦予最大峰強(qiáng)度的CID氣體供給壓。這樣，如果對每個(gè)掃描速度決定了最優(yōu)的CID氣體供給壓，則CID氣體條件自動(dòng)調(diào)整部32將該信息寫入到CID氣體條件表31a。
[0081]如上述所那樣作成CID氣體條件表31a之后的，在試料測定時(shí)的CID氣體供給壓的控制與第I實(shí)施例相同。
[0082]此外，與作成上述的CID氣體條件表31a相關(guān)的分析和/或數(shù)據(jù)處理能夠與例如決定向各部施加的電壓參數(shù)等的最優(yōu)值的自動(dòng)調(diào)諧同時(shí)進(jìn)行。
[0083]在第2實(shí)施例的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置中作成的CID氣體條件表31a反映最近的裝置的使用環(huán)境和/或狀態(tài)等。因此，該第2實(shí)施例的裝置與第I實(shí)施例的裝置相比，能夠更良好地實(shí)施測定，也就是說，可以實(shí)施能夠?qū)崿F(xiàn)如下狀態(tài)的測定的可能性高，所述狀態(tài)是質(zhì)譜圖上的峰形狀更好且峰強(qiáng)度也高的狀態(tài)。
[0084]由于上述實(shí)施例均都是本發(fā)明的一例，所以顯而易見的是，即使在本發(fā)明的要旨的范圍內(nèi)進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖冃巍⒆芳?、修正，也包含于本申請的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0085]例如在上述實(shí)施例中，在CID氣體條件表31a儲(chǔ)存了掃描速度和CID氣體供給壓之間的關(guān)系，但是也可以儲(chǔ)存掃描速度和與碰撞池4內(nèi)的CID氣體供給壓相關(guān)的其他信息(例如CID氣體供給流量、CID氣壓自身等)之間的關(guān)系。另外，理所當(dāng)然地，掃描速度與CID氣體供給壓等的關(guān)系也可以不以表格形式，而以計(jì)算式等其他形式存儲(chǔ)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，其特征在于，包括:前段四極質(zhì)量過濾器，其在各種離子中選擇具有特定質(zhì)荷比的離子作為前體離子；碰撞池，其通過使所述前體離子與規(guī)定氣體沖撞，使該離子解離；后段四極質(zhì)量過濾器，其在通過該解離產(chǎn)生的各種產(chǎn)物離子中選擇具有特定的質(zhì)荷比的離子；檢測部，其檢測該被選擇的產(chǎn)物離子，所述串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置還包括: a)氣體供給部，其向所述碰撞池內(nèi)提供所述規(guī)定氣體； b)設(shè)定信息存儲(chǔ)部，其用于對應(yīng)在所述前段四極質(zhì)量過濾器進(jìn)行質(zhì)量掃描的測定模式下的質(zhì)量掃描的掃描速度，來存儲(chǔ)碰撞池內(nèi)的規(guī)定氣體的氣壓信息或者用以供給該規(guī)定氣體的控制信息； c)分析控制部，其至少在實(shí)行在所述前段四極質(zhì)量過濾器進(jìn)行質(zhì)量掃描的測定模式時(shí)，基于存儲(chǔ)于所述設(shè)定信息存儲(chǔ)部的信息，以碰撞池內(nèi)的規(guī)定氣體的氣壓變?yōu)榕c實(shí)行的質(zhì)量掃描的掃描速度對應(yīng)的狀態(tài)的方式控制所述氣體供給部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，其特征在于:在所述前段四極質(zhì)量過濾器進(jìn)行質(zhì)量掃描的測定模式是指，前體離子掃描測定模式、中性丟失掃描測定模式、以及在后段四極質(zhì)量過濾器不實(shí)施根據(jù)質(zhì)荷比的離子選擇而只在前段四極質(zhì)量過濾器進(jìn)行質(zhì)量掃描的、與通常的掃描測定模式相同的測定模式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，其特征在于:還包括設(shè)定信息自動(dòng)制作部，其在所述前段四極質(zhì)量過濾器進(jìn)行質(zhì)量掃描的測定模式下，以在該質(zhì)量掃描的掃描速度以多個(gè)階段變化的各階段來使碰撞池內(nèi)的規(guī)定氣體的氣壓以多個(gè)階段變化的方式控制所述氣體供給部，同時(shí)反復(fù)實(shí)行對規(guī)定試料的測定，基于在根據(jù)這些測定獲得的質(zhì)譜圖上作為目標(biāo)的峰的形狀以及該峰的強(qiáng)度，對每個(gè)質(zhì)量掃描的掃描速度求出合適的氣壓，并將該氣壓的信息或者用以供給規(guī)定氣體的控制信息儲(chǔ)存于所述設(shè)定信息存儲(chǔ)部。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，其特征在于:所述設(shè)定信息自動(dòng)制作部將作為目標(biāo)的峰的半值寬為0.7u以上且峰的強(qiáng)度變?yōu)樽畲蟮臍鈮号袛酁楹线m的氣壓。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，其特征在于:所述設(shè)定信息自動(dòng)制作部將能夠在源自作為目標(biāo)的化合物的峰中使只由穩(wěn)定同位素元素組成的峰與包含非穩(wěn)定同位素元素的峰相分離的、且峰的強(qiáng)度變?yōu)樽畲蟮臍鈮号袛酁楹线m的氣壓。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種串聯(lián)四極型質(zhì)量分析裝置，在被內(nèi)置于控制部（30）的測定條件存儲(chǔ)部（31）儲(chǔ)存著CID氣體條件表（31a），該CID氣體條件表（31a）表示在前段四極質(zhì)量過濾器（3）中質(zhì)量掃描的掃描速度和CID氣體供給壓的關(guān)系。如果掃描速度大，則在碰撞池（4）內(nèi)的由與CID氣體沖撞引起的離子的速度降低的影響相對地變大。因此，為了在質(zhì)譜圖上的峰的波形形狀的潰散小且盡量使離子強(qiáng)度變高，根據(jù)每個(gè)掃描速度預(yù)先調(diào)查適合的CID氣體供給壓并存儲(chǔ)于CID氣體條件表（31a）。在目標(biāo)試料的測定時(shí)，前體離子掃描測定模式等被指定后，基于CID氣體條件表（31a），求出與此時(shí)的掃描速度對應(yīng)的CID氣體供給壓并控制CID氣體供給部（8）。由此，不受掃描速度限制，而能夠獲得峰的分離能力高且靈敏度良好的質(zhì)譜圖。
【IPC分類】H01J49-42, G01N27-62
【公開號(hào)】CN104769425
【申請?zhí)枴緾N201280076988
【發(fā)明人】藤田慎二郎
【申請人】株式會(huì)社島津制作所
【公開日】2015年7月8日
【申請日】2012年11月13日
【公告號(hào)】EP2921852A1, US20150262799, WO2014076766A1