薄膜的卷取不良檢查方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種薄膜的卷取不良檢查方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 近年，與現(xiàn)有的作為顯示器的CRT (Cathode Ray Tube :電子射線管）相比較，正急 速地?cái)U(kuò)大需要一種具有薄型輕量化、省電、高畫(huà)質(zhì)化等優(yōu)點(diǎn)的液晶顯示器（LCD)，尤其正急 速地?cái)U(kuò)大需要一種用于大畫(huà)面監(jiān)視器或32英寸以上的大畫(huà)面TV的LCD。多數(shù)情況下，隨著 LCD的大畫(huà)面化，通過(guò)提高背光源的輝度或者安裝用于提高輝度的功能性薄膜等，由此即使 畫(huà)面較大也能確保IXD有足夠的輝度。
[0003] 對(duì)于這種高輝度類(lèi)型的IXD，由于輝度較高，因此在顯示器中存在的小缺點(diǎn)通常成 為問(wèn)題，另外，在偏光板、相位差板這樣具有光學(xué)特性的結(jié)構(gòu)部件中，存在對(duì)于現(xiàn)有的LCD 不成為問(wèn)題的大小的缺點(diǎn)卻成為問(wèn)題的情況。因此，較為重要的是，防止在各光學(xué)部件的制 造工序中產(chǎn)生缺點(diǎn)，或者即使產(chǎn)生了缺點(diǎn)也可以切實(shí)地識(shí)別出缺點(diǎn)的檢查性能的提高。
[0004] 這種現(xiàn)有的薄膜檢查方法是在薄膜制造工序中，對(duì)片（sheet)狀的薄膜進(jìn)行檢 查。
[0005] 然而，當(dāng)薄膜以輥?zhàn)訝盍魍〞r(shí)，這種輥?zhàn)邮且贿吷a(chǎn)薄膜一邊將薄膜卷取在輥?zhàn)?上進(jìn)行制造，但在將薄膜卷取于輥?zhàn)由蠒r(shí)，有可能會(huì)流入雜質(zhì)、薄膜厚度的不均勻、因張力 等條件等問(wèn)題而產(chǎn)生凹凸或者產(chǎn)生外觀不良。
[0006] 并且，若在不理會(huì)這些不良的狀態(tài)下繼續(xù)卷取薄膜時(shí)，而在所卷取的薄膜整體上 繼續(xù)累積這些不良，由此會(huì)發(fā)生必須廢棄已卷取在輥?zhàn)由系谋∧ふw的問(wèn)題。
[0007] 由于這些不良與其說(shuō)是薄膜本身的問(wèn)題，不如說(shuō)是在卷取過(guò)程中所產(chǎn)生的不良， 而在現(xiàn)有的薄膜評(píng)價(jià)方法中，對(duì)這些不良無(wú)法進(jìn)行檢查。
[0008] 因此，為了不使所述不良累積，尋求一種檢查方法，其可以在薄膜的卷取過(guò)程中實(shí) 時(shí)地檢查并采取調(diào)節(jié)工序等措施，但實(shí)際上這種方法尚未確立。
[0009] 在韓國(guó)公開(kāi)專(zhuān)利第2013-00076801號(hào)公報(bào)中，記載了薄膜的缺陷檢查裝置、缺陷 檢查方法以及脫模薄膜。
[0010] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0011] 專(zhuān)利文獻(xiàn)
[0012] 專(zhuān)利文獻(xiàn)1 :韓國(guó)公開(kāi)專(zhuān)利第2013-00076801號(hào)公報(bào)

【發(fā)明內(nèi)容】

[0013] 本發(fā)明所要解決的問(wèn)題
[0014] 本發(fā)明的目的是提供一種可以一邊將薄膜卷取于輥?zhàn)由?，一邊?shí)時(shí)地判別卷取過(guò) 程中產(chǎn)生的不良的檢查方法。
[0015] 為解決問(wèn)題的方法
[0016] 1.薄膜的卷取不良檢查方法是向卷取于輥?zhàn)由系谋∧ふ丈涔猓?duì)光所照射的部 位進(jìn)行拍攝，將從所拍攝的影像中得到的規(guī)定尺寸的低明亮度點(diǎn)判別為卷取不良部位。
[0017] 2.在所述項(xiàng)目1的薄膜的卷取不良檢查方法中，所述光的照度為50000勒克司 (Iux)以上。
[0018] 3.在所述項(xiàng)目1的薄膜的卷取不良檢查方法中，所述光從離薄膜1.5m以內(nèi)的距離 進(jìn)行照射。
[0019] 4.在所述項(xiàng)目1的薄膜的卷取不良檢查方法中，當(dāng)所述影像中包括與基準(zhǔn)灰度的 灰度差在6以上的部位的最小正方形為I X Imm~50 X 50mm時(shí)，則判別為該部位為凹凸不 良。
[0020] 5.在所述項(xiàng)目1的薄膜的卷取不良檢查方法中，當(dāng)所述影像中包括與基準(zhǔn)灰度的 灰度差在10以上的部位的最小正方形超過(guò)50 X 50mm時(shí)，則判別為該部位為外觀不良。
[0021] 6.在所述項(xiàng)目4或5的薄膜的卷取不良檢查方法中，包括具有所述灰度差的部位 的最小正方形是包括存在于以任一部位為中心的半徑IOmm的圓內(nèi)的所有部位的最小正方 形。
[0022] 7.在所述項(xiàng)目1的薄膜的卷取不良檢查方法中，當(dāng)所述影像的沿輥?zhàn)拥耐庵苊嫠?形成的線與基準(zhǔn)灰度的灰度差在5以上且其寬度在Imm以上時(shí)，則判別為所述線為線形不 良。
[0023] 8.薄膜的卷取不良檢查方法具有如下步驟：
[0024] 步驟（SI)，向卷取于輥?zhàn)由系谋∧ふ丈涔猓?duì)光所照射的部位進(jìn)行拍攝，在所拍 攝的影像中選別與基準(zhǔn)灰度的灰度差在6以上的部位；
[0025] 步驟（S2)，當(dāng)包括在所述（SI)步驟中所選別的部位的最小正方形為IX Imm~ 50 X 50mm時(shí)，則判別為該部位為凹凸不良；
[0026] 步驟（S3)，對(duì)未判別為所述凹凸不良的部位中、與基準(zhǔn)灰度的灰度差為10以上的 部位進(jìn)行選別；
[0027] 步驟（S4)，當(dāng)包括在所述（S3)步驟中所選別的部位的最小正方形超過(guò)50X50mm 時(shí)，則判別為該部位為外觀不良；
[0028] 步驟（S5)，對(duì)未判別為所述凹凸不良以及外觀不良的部位中、與基準(zhǔn)灰度的灰度 差為5以上且沿輥?zhàn)拥耐庵苊嫠纬傻木€進(jìn)行選別；以及
[0029] 步驟（S6)，若在所述（S5)步驟中所選別的線的寬度為1mm以上，則判別為該部位 為線形不良。
[0030] 9.在所述項(xiàng)目8的薄膜的卷取不良檢查方法中，對(duì)于凹凸不良以及外觀不良，包 括具有灰度差的部位的最小正方形是包括存在于以任一部位為中心的半徑IOmm的圓內(nèi)的 所有部位的最小正方形。
[0031] 10.薄膜的卷取不良檢查系統(tǒng)具有：光源，其向卷取于輥?zhàn)由系谋∧さ木砣〔空?射光；拍攝設(shè)備，其對(duì)所述卷取部的光照射部位進(jìn)行拍攝；編碼器，其根據(jù)所述薄膜的卷取 速度而發(fā)出所述拍攝設(shè)備的拍攝周期信號(hào)；與控制部，其從所述編碼器接收拍攝周期信號(hào) 并將拍攝信號(hào)傳送至所述拍攝設(shè)備，并在從所述拍攝設(shè)備接收的拍攝影像中對(duì)卷取不良進(jìn) 行檢測(cè)。
[0032] 11.在所述項(xiàng)目10的薄膜的卷取不良檢查系統(tǒng)中，當(dāng)拍攝影像中包括與基準(zhǔn)灰度 的灰度差為6以上的部位的最小正方形為IX Imm~50X 50mm時(shí)，則所述控制部判別為該 部位為凹凸不良。
[0033] 12.在所述項(xiàng)目10的薄膜的卷取不良檢查系統(tǒng)中，當(dāng)拍攝影像中包括與基準(zhǔn)灰度 的灰度差為10以上的部位的最小正方形超過(guò)50X50mm時(shí)，則所述控制部判別為該部位為 外觀不良。
[0034] 13.在所述項(xiàng)目11或12的薄膜的卷取不良檢查系統(tǒng)中，包括具有所述灰度差的部 位的最小正方形是包括存在于以任一部位為中心的半徑IOmm的圓內(nèi)的所有部位的最小正 方形。
[0035] 14.在所述項(xiàng)目10的薄膜的卷取不良檢查系統(tǒng)中，當(dāng)拍攝影像的沿輥?zhàn)拥耐庵苊?所形成的線與基準(zhǔn)灰度的灰度差在5以上且其寬度在Imm以上時(shí)，則所述控制部判別為所 述線為線形不良。
[0036] 發(fā)明效果
[0037] 由于本發(fā)明的檢查方法可以對(duì)經(jīng)由將薄膜卷取于輥?zhàn)由系木砣∵^(guò)程中產(chǎn)生的不 良進(jìn)行判別，因此適用于將薄膜卷取于輥?zhàn)由蟻?lái)制造薄膜輥?zhàn)拥墓ば蛑卸梢詫?shí)時(shí)地對(duì)不 良進(jìn)行判別。由此，可以防止在不理會(huì)不良的狀態(tài)下而繼續(xù)卷取薄膜而防止廢棄薄膜整體， 因此可以顯著地改善薄膜輥?zhàn)又圃旃ば虻氖斋@率。
【附圖說(shuō)明】
[0038] 圖1是表示所卷取的薄膜的凹凸不良的圖。
[0039] 圖2是表示所卷取的薄膜的外觀不良的圖。
[0040]圖3是表示所卷取的薄膜的線形不良的圖。
[0041] 圖4是大致地表示群集型不良的一例的圖。
[0042] 圖5是大致地表示本發(fā)明的一具體例所實(shí)現(xiàn)的卷取不良檢查系統(tǒng)的圖。
【具體實(shí)施方式】
[0043] 本發(fā)明涉及如下一種薄膜的卷取不良檢查方法：向卷取于輥?zhàn)由系谋∧ふ丈涔猓?并對(duì)光所照射的部位進(jìn)行拍攝，而將從所拍攝的影像中得到的規(guī)定尺寸的低明亮度點(diǎn)判別 為