一種測量物體間偏差的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測量物體間偏差的方法，特別涉及利用光束與等面積線原理測量 物體間偏差的方法。
【背景技術(shù)】
[0002] W往，在很多的情況下，物體與物體之間的偏差是很難精確測量的。因此，存在人 為測量難度大、實時性差并且精度低的問題。因此，當(dāng)前急需一種根據(jù)探測物體(例如，物體 A)的強度分布來計算物體A強度的中也與探測器參考點(例如，物體B，并且探測器固定在 物體B上）的偏離距離的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明是為了解決上述課題而提出的，其目的在于提供一種利用光束與等面積線 原理測量物體間偏差的方法。
[0004] 為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種測量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如 下步驟： (a) 利用在X軸上排列多個單位探測器而成的探測器陣列測量來自光源的光束的光強 分布曲線； (b) 根據(jù)在步驟（a)中得到的光強分布曲線，得到所述光強分布曲線與X軸所包圍的封 閉曲線在所選取的參考點即X軸0點的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中也與所述探測 器陣列的所述參考點之間的偏差。
[0005] 此外，在本發(fā)明的測量物體間偏差的方法中， 在所述步驟（b)中，在所述探測器陣列的單位探測器數(shù)量為M并且選擇第N號單位探 測器與第化1號單位探測器的沿X軸方向上的連線的中也線與X軸的交點作為所述參考點 的情況下， 所述參考點的一側(cè)的光通量為
【主權(quán)項】
1. 一種測量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如下步驟： (a) 利用在X軸上排列多個單位探測器而成的探測器陣列測量來自光源的光束的光強 分布曲線； (b) 根據(jù)在步驟（a)中得到的光強分布曲線，得到所述光強分布曲線與X軸所包圍的封 閉曲線在所選取的參考點即X軸〇點的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中心與所述探測 器陣列的所述參考點之間的偏差。
2. 如權(quán)利要求1所述的測量物體間偏差的方法，其特征在于， 在所述步驟（b)中，在所述探測器陣列的單位探測器數(shù)量為M并且選擇第N號單位探 測器與第N+1號單位探測器的沿X軸方向上的連線的中心線與X軸的交點作為所述參考點 的情況下， Σ]\? ，所述參考點的另一偵彳的光 A·=丄 通量為
其中，X為單位探測器沿X軸方向的厚度；H為單位探測器的寬度；Yk為第k號單位探 測器在X*H面積內(nèi)探測到的光的強度， 在設(shè)h為第N+1號單位探測器探測到的光強并且d為光束中心與所述探測器陣列的所 述參考點之間的偏差時，d由如下公式得到，
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種測量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如下步驟：（a）利用在X軸上排列多個單位探測器而成的探測器陣列測量來自光源的光束的光強分布曲線；（b）根據(jù)在步驟（a）中得到的光強分布曲線，得到所述光強分布曲線與X軸所包圍的封閉曲線在所選取的參考點即X軸0點的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中心與所述探測器陣列的所述參考點之間的偏差。
【IPC分類】G01B11-00, G01B11-02
【公開號】CN104880148
【申請?zhí)枴緾N201410070827
【發(fā)明人】李寧, 張新華, 于華林, 劉思源
【申請人】同方威視技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年9月2日
【申請日】2014年2月28日