多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)、方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)、方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]多孔陶瓷因其具有高強(qiáng)度、高硬度、良好的抗磨損性能和抗熱震性能，較高的熱導(dǎo)率，較低的熱膨脹系數(shù)，在航空航天、汽車制動(dòng)、電子封裝、機(jī)械制造等工業(yè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。多孔陶瓷以高氣孔率為主要特征，表面均勻布滿了微孔，因而多孔陶瓷的表面存在著粗糙度，多孔陶瓷表面粗糙度影響著零件的耐磨性、密封性疲勞強(qiáng)度及表面涂層的附著強(qiáng)度等重要參數(shù)，尤其在陶瓷多孔軸套中直接關(guān)系到轉(zhuǎn)動(dòng)噪聲的大小、含油率等重要參數(shù)。為了確保多孔陶瓷材料的零件的合格率需要檢測(cè)多孔陶瓷的粗糙度。
[0003]傳統(tǒng)的零件粗糙度的檢測(cè)方法，將粗糙度測(cè)試儀的測(cè)針在零件表面劃過，以形成由多個(gè)波峰和波谷形成的輪廓曲線圖，通過計(jì)算波峰和波谷上各點(diǎn)到基準(zhǔn)線距離的絕對(duì)值的算術(shù)平均值獲得零件表面的粗糙度。由于多孔陶瓷其表面存成很多孔隙，若使用傳統(tǒng)的零件粗糙度的檢測(cè)方法對(duì)多孔陶瓷進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)針會(huì)在測(cè)量時(shí)掉進(jìn)孔隙中，孔隙形成的波谷會(huì)影響到粗糙度的計(jì)算，造成粗糙度計(jì)算不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問題，提供一種能提高多孔陶瓷粗糙度檢測(cè)準(zhǔn)確度的多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)、方法及裝置。
[0005]一種多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括:終端以及接觸式表面粗糙度儀；其中，所述接觸式表面粗糙度儀包括儀器本體和接觸式測(cè)頭；所述儀器本體分別與終端以及接觸式測(cè)頭連接；
[0006]所述終端，用于向所述儀器本體發(fā)送測(cè)量指令，接收所述儀器本體返回的測(cè)量數(shù)據(jù)，并輸出所述測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的輪廓曲線圖，所述輪廓曲線圖上包含:基準(zhǔn)線以及若干波峰和波谷；通過所述輪廓曲線圖獲取波峰中的最高波峰對(duì)應(yīng)的峰高值；根據(jù)所述峰高值計(jì)算被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0007]所述儀器本體，用于接收終端發(fā)送的測(cè)量指令，根據(jù)測(cè)量指令控制接觸式測(cè)頭緊貼在被測(cè)多孔陶瓷的表面；獲取接觸式測(cè)頭對(duì)被測(cè)多孔陶瓷表面進(jìn)行粗糙度檢測(cè)時(shí)采集到的測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)返回至所述終端；
[0008]所述接觸式測(cè)頭，用于在被測(cè)多孔陶瓷表面劃過一段預(yù)設(shè)距離，并采集測(cè)量數(shù)據(jù)。
[0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述終端還用于獲取用戶從所述輪廓曲線圖中包含的波峰中選取的最高波峰；計(jì)算所述最高波峰距離所述基準(zhǔn)線之間的垂直距離值，所述垂直距離值即為波峰值。
[0010]一種多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)方法，應(yīng)用于終端，所述方法包括:
[0011]接收接觸式表面粗糙度儀發(fā)送的對(duì)被測(cè)多孔陶瓷進(jìn)行表面粗糙度檢測(cè)后得到的測(cè)量數(shù)據(jù)，并輸出所述測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的輪廓曲線圖，所述輪廓曲線圖上包含:基準(zhǔn)線以及若干波峰和波谷；
[0012]通過所述輪廓曲線圖獲取波峰中的最高波峰對(duì)應(yīng)的峰高值；
[0013]根據(jù)所述峰高值計(jì)算被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，在所述獲取對(duì)被測(cè)多孔陶瓷進(jìn)行表面粗糙度檢測(cè)后得到的測(cè)量數(shù)據(jù)的步驟之前，還包括:
[0015]發(fā)送檢測(cè)指令至接觸式表面粗糙度儀，使得所述接觸式表面粗糙度儀對(duì)被測(cè)多孔陶瓷進(jìn)行表面粗糙度進(jìn)行檢測(cè)。
[0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述通過所述輪廓曲線圖獲取波峰中最高波峰對(duì)應(yīng)的峰高值的步驟，包括:
[0017]獲取用戶從所述輪廓曲線圖中包含的波峰中選取的最高波峰；
[0018]計(jì)算所述最高波峰距離所述基準(zhǔn)線之間的垂直距離值，所述垂直距離值即為波峰值。
[0019]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)所述峰高值計(jì)算被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度的步驟，包括:
[0020]計(jì)算峰高值與預(yù)設(shè)常量之間的比值，所述比值即為被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0021]一種多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)裝置，所述裝置包括:
[0022]圖像輸出模塊，用于接收接觸式表面粗糙度儀發(fā)送的對(duì)被測(cè)多孔陶瓷進(jìn)行表面粗糙度檢測(cè)后得到的測(cè)量數(shù)據(jù)，并輸出所述測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的輪廓曲線圖，所述輪廓曲線圖上包含:基準(zhǔn)線以及若干波峰和波谷；
[0023]峰高值獲取模塊，用于通過所述輪廓曲線圖獲取波峰中的最高波峰對(duì)應(yīng)的峰高值；
[0024]粗糙度計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述峰高值計(jì)算被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0025]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述裝置還包括:
[0026]指令發(fā)送模塊，用于發(fā)送檢測(cè)指令至接觸式表面粗糙度儀，使得所述接觸式表面粗糙度儀對(duì)被測(cè)多孔陶瓷進(jìn)行表面粗糙度進(jìn)行檢測(cè)。
[0027]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述峰高值獲取模塊包括:
[0028]波峰獲取模塊，獲取用戶從所述輪廓曲線圖中包含的波峰中選取的最高波峰；
[0029]峰值計(jì)算模塊，用于計(jì)算所述最高波峰距離所述基準(zhǔn)線之間的垂直距離值，所述垂直距離值即為波峰值。
[0030]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述粗糙度計(jì)算模塊還用于計(jì)算峰高值與預(yù)設(shè)常量之間的比值，所述比值即為被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0031]上述多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)、方法及裝置，接觸式表面粗糙度儀將對(duì)被測(cè)多孔陶瓷表面粗糙度進(jìn)行檢測(cè)的測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至終端，終端在計(jì)算粗糙度時(shí)只是參考了輪廓曲線圖中的波峰的峰高值來計(jì)算粗糙度，由于粗糙度計(jì)算不涉及到波谷的數(shù)值，因而排除了測(cè)量數(shù)據(jù)中多孔陶瓷孔隙對(duì)應(yīng)的波谷數(shù)據(jù)對(duì)粗糙度計(jì)算結(jié)果的影響，相比傳統(tǒng)的粗糙度檢測(cè)方法，本系統(tǒng)、方法及裝置提高了對(duì)多孔陶瓷粗糙度檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
【附圖說明】
[0032]圖1為一個(gè)實(shí)施例中多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖2為一個(gè)實(shí)施例中被測(cè)多孔陶瓷表面的電鏡掃描圖片；
[0034]圖3為一個(gè)實(shí)施例中對(duì)被測(cè)多孔陶瓷表面的粗糙度進(jìn)行檢測(cè)后得到的輪廓曲線圖；
[0035]圖4為一個(gè)實(shí)施例中多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)方法的流程示意圖；
[0036]圖5為一個(gè)實(shí)施例中多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0037]圖6為一個(gè)實(shí)施例中多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖7為一個(gè)實(shí)施例中峰高值獲取模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0039]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0040]如圖1所示，在一個(gè)實(shí)施例中，提供的一種多孔陶瓷表面粗糙度的檢測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括:終端10以及接觸式表面粗糙度儀20，其中接觸式表面粗糙度儀20包括儀器本體201和接觸式測(cè)頭202 ;儀器本體201分別與終端10以及接觸式測(cè)頭202連接。
[0041]終端10，用于向儀器本體201發(fā)送測(cè)量指令，接收儀器本體201返回的測(cè)量數(shù)據(jù)，并輸出測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的輪廓曲線圖，輪廓曲線圖上包含:基準(zhǔn)線以及若干波峰和波谷；通過輪廓曲線圖獲取波峰中的最高波峰對(duì)應(yīng)的峰高值；根據(jù)峰高值計(jì)算被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度。
[0042]儀器本體201，用于接收終端10發(fā)送的測(cè)量指令，根據(jù)測(cè)量指令控制接觸式測(cè)頭202緊貼在被測(cè)多孔陶瓷的表面，；獲取接觸式測(cè)頭202對(duì)被測(cè)多孔陶瓷表面進(jìn)行粗糙度檢測(cè)時(shí)采集到的測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)返回至所述終端10。
[0043]接觸式測(cè)頭202，用于在被測(cè)多孔陶瓷表面劃過一段預(yù)設(shè)距離，并采集測(cè)量數(shù)據(jù)。
[0044]本實(shí)施例中，基準(zhǔn)線是用來評(píng)價(jià)多孔陶瓷表面粗糙度參考值大小時(shí)所用的一條參考線。被測(cè)多孔陶瓷的表面粗糙度Ra也稱為輪廓算術(shù)平均偏差或稱中心線平均值是表面粗糙度的一種計(jì)量單位。一般情況下表面粗糙度的單位為微米(um)。
[0045]如圖2所示，為一個(gè)實(shí)施例中，被測(cè)多孔陶瓷表面的電鏡掃描圖片，通過圖片可以清楚的看到被測(cè)多孔陶瓷的表面存在大量的孔隙。
[0046]如圖3所示，為對(duì)如圖2所述的被測(cè)多孔陶瓷表面進(jìn)行粗糙度檢測(cè)后得到的輪廓曲線圖，其中A為最高波峰，B為基準(zhǔn)線，C為檢測(cè)多孔陶瓷表面的孔隙所形成的波谷，在計(jì)算粗糙度時(shí)C點(diǎn)的波谷數(shù)據(jù)應(yīng)該排除在外。A點(diǎn)距離B點(diǎn)垂直距離AB即為峰高值。
[0047]在一個(gè)實(shí)施例中，在終端上安裝用來與接觸式表面粗糙度儀進(jìn)行通訊連接的軟件，通過該軟件的界面圖可以對(duì)測(cè)量條件以及測(cè)量參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。設(shè)置完成后通過點(diǎn)擊開始按鈕，將觸發(fā)測(cè)量指令并發(fā)送至接觸式表面粗糙度儀。接觸式表面粗糙度儀將對(duì)多孔陶瓷的表面進(jìn)行檢測(cè)后的得到的測(cè)量數(shù)據(jù)返回至終端，通過該軟件對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)