半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)，尤其涉及一種半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]半導(dǎo)體激光器具有體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、效率高、壽命長(zhǎng)且易于調(diào)制的特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于光纖通信、激光制導(dǎo)、激光武器、激光雷達(dá)和激光測(cè)距等軍事領(lǐng)域，以及激光醫(yī)療、美容、機(jī)械加工等民用領(lǐng)域。
[0003]半導(dǎo)體激光器，尤其是高功率的半導(dǎo)體激光器，其工作狀態(tài)的穩(wěn)定性，直接影響了應(yīng)用于上述領(lǐng)域時(shí)的安全性以及使用效果，因此，在出廠前都必須對(duì)半導(dǎo)體激光器進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試，以篩選出合格產(chǎn)品。但現(xiàn)有技術(shù)中缺乏一種有效對(duì)半導(dǎo)體激光器工作狀態(tài)的穩(wěn)定性進(jìn)行測(cè)試的方式。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)半導(dǎo)體激光器工作狀態(tài)的穩(wěn)定性進(jìn)行測(cè)試。
[0005]本發(fā)明的第一個(gè)方面提供一種半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)，包括:至少一臺(tái)測(cè)試儀、控制主機(jī)、測(cè)試儀電源線、測(cè)試儀供電電源、半導(dǎo)體激光器電源控制線和數(shù)據(jù)總線；
[0006]所述至少一臺(tái)測(cè)試儀中的每臺(tái)測(cè)試儀分別與每個(gè)待測(cè)試的半導(dǎo)體激光器一一對(duì)應(yīng)，用于進(jìn)行對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)的測(cè)試，其中，所述預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)包括輸出光功率、工作電壓、工作電流、工作溫度；
[0007]所述每臺(tái)測(cè)試儀通過(guò)所述數(shù)據(jù)總線與所述控制主機(jī)連接；所述每臺(tái)測(cè)試儀通過(guò)所述測(cè)試儀電源線與所述測(cè)試儀供電電源連接，由所述測(cè)試儀供電電源為所述每臺(tái)測(cè)試儀進(jìn)行供電；所述每個(gè)半導(dǎo)體激光器與對(duì)應(yīng)的所述半導(dǎo)體激光器電源控制線連接，所述每臺(tái)測(cè)試儀通過(guò)所述半導(dǎo)體激光器電源控制線控制對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器電源的通斷；
[0008]每臺(tái)測(cè)試儀包括:
[0009]處理器、存儲(chǔ)器、制冷設(shè)備，以及用于測(cè)量對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的所述輸出功率的功率傳感器、用于測(cè)量所述對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的所述工作電壓的電壓傳感器、用于測(cè)量所述對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的所述工作電流的電流傳感器和用于測(cè)量所述對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的所述工作溫度的溫度傳感器；
[0010]所述存儲(chǔ)器、所述功率傳感器、所述電壓傳感器、所述電流傳感器和所述溫度傳感器分別與所述處理器連接；所述制冷設(shè)備與所述功率傳感器連接；
[0011]所述處理器，用于接收所述控制主機(jī)通過(guò)所述數(shù)據(jù)總線發(fā)送的測(cè)試指令，所述測(cè)試指令中包括所述預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)；并在接收到所述測(cè)試指令后，斷開(kāi)對(duì)應(yīng)測(cè)試儀與所述數(shù)據(jù)總線間的電連接，使所述對(duì)應(yīng)測(cè)試儀處于離線工作狀態(tài)；
[0012]所述處理器，還用于控制所述功率傳感器、所述電壓傳感器、所述電流傳感器和所述溫度傳感器分別進(jìn)行所述預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)的參數(shù)數(shù)據(jù)采集，并對(duì)采集到的參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后，將處理結(jié)果存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中。
[0013]如上所述的系統(tǒng)，所述制冷設(shè)備包括:半導(dǎo)體制冷設(shè)備、風(fēng)冷設(shè)備或液體制冷設(shè)備中的任一個(gè)。
[0014]如上所述的系統(tǒng)，當(dāng)采用液體制冷設(shè)備時(shí)，采用每臺(tái)測(cè)試儀獨(dú)立液體循環(huán)的方式，或者采用所述至少一臺(tái)測(cè)試儀集中液體循環(huán)的方式。
[0015]如上所述的系統(tǒng)，所述功率傳感器包括積分球衰減均化器、光探測(cè)器和峰值保持電路；
[0016]所述積分球衰減均化器上開(kāi)有入光孔和采樣孔，所述積分球衰減均化器通過(guò)所述采樣孔與所述光探測(cè)器的輸入端連接，所述光探測(cè)器的輸出端與所述峰值保持電路連接；
[0017]通過(guò)所述入光孔接收對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光，并通過(guò)所述采樣孔將與所述激光功率對(duì)應(yīng)的光信號(hào)傳輸給所述光探測(cè)器；所述光探測(cè)器為量熱型光探測(cè)器或光電探測(cè)器，對(duì)所述光信號(hào)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，得到對(duì)應(yīng)的電信號(hào)；所述峰值保持電路根據(jù)所述電信號(hào)得到所述輸出光功率。
[0018]如上所述的系統(tǒng)，所述制冷設(shè)備貼附在所述積分球衰減勻化器上。
[0019]如上所述的系統(tǒng)，所述電壓傳感器的電壓測(cè)試接頭與對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的正負(fù)極連接；所述電流傳感器的電流測(cè)試接頭與對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的所述正負(fù)極連接；所述溫度傳感器的溫度測(cè)試接頭連接在對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器的表面上；所述電壓測(cè)試接頭為貼片式或夾具式。
[0020]如上所述的系統(tǒng)，所述處理器中包括:濾波電路、放大電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路；
[0021]所述濾波電路、所述放大電路和所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路依次連接，分別用于對(duì)所述參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、放大、模數(shù)轉(zhuǎn)換處理。
[0022]如上所述的系統(tǒng)，所述處理器還用于接收所述控制主機(jī)發(fā)送的讀取指令；
[0023]所述處理器還用于根據(jù)所述讀取指令將所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的所述處理結(jié)果發(fā)送給所述控制主機(jī)；
[0024]所述控制主機(jī)還用于對(duì)接收到的所述處理結(jié)果進(jìn)行分析處理，并存儲(chǔ)分析處理結(jié)果；其中，所述分析處理包括求最大值、最小值、均值或繪制所述預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)的變化曲線。
[0025]如上所述的系統(tǒng)，所述處理器中還包括:清零電路，用于清零所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的所述處理結(jié)果。
[0026]采用上述本發(fā)明技術(shù)方案的有益效果是:通過(guò)與各半導(dǎo)體激光器一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)各半導(dǎo)體激光器的各工作狀態(tài)參數(shù)的離線測(cè)試。具體地，各測(cè)試儀通過(guò)數(shù)據(jù)總線與控制主機(jī)連接，并在接收到控制主機(jī)下達(dá)的攜帶有待測(cè)試工作狀態(tài)參數(shù)的測(cè)試指令后，斷開(kāi)與控制主機(jī)間的連接，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)離線工作；各測(cè)試儀在控制自身上的各傳感器對(duì)各工作狀態(tài)參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集之后，對(duì)參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并保存，并在用戶需要查看測(cè)試結(jié)果的時(shí)候，通過(guò)控制主機(jī)讀取各個(gè)測(cè)試儀中存儲(chǔ)的處理結(jié)果。不但能夠?qū)崿F(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)半導(dǎo)體激光器的工作穩(wěn)定性的高效、全面準(zhǔn)確測(cè)試，而且避免了控制主機(jī)出現(xiàn)斷電或死機(jī)等意外情況時(shí)，對(duì)測(cè)試的不利影響，并且離線測(cè)試保證了長(zhǎng)期測(cè)試過(guò)程中測(cè)試結(jié)果的安全可
A+-.與巨O
【附圖說(shuō)明】
[0027]圖1為本發(fā)明半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的原理圖；
[0028]圖2為測(cè)試儀中的處理器的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖3為本發(fā)明實(shí)施例一提供的半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖4為本發(fā)明實(shí)施例二提供的半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]圖1為本發(fā)明半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)的原理圖，如圖1所示，該測(cè)試系統(tǒng)包括:
[0032]至少一臺(tái)測(cè)試儀11、控制主機(jī)12、測(cè)試儀電源線13、測(cè)試儀供電電源14、半導(dǎo)體激光器電源控制線15和數(shù)據(jù)總線16 ;
[0033]其中，該數(shù)據(jù)總線16可為RS-485數(shù)據(jù)總線或內(nèi)部集成電路(Inter — IntegratedCircuit, I2C)總線。
[0034]測(cè)試儀供電電源14可以是220V交流電，也可以是適配器，將220交流電轉(zhuǎn)化為9V或12V的低壓直流電。
[0035]每臺(tái)測(cè)試儀11分別與每個(gè)待測(cè)試的半導(dǎo)體激光器17 —一對(duì)應(yīng)，用于進(jìn)行對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器17預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)的測(cè)試，其中，所述預(yù)設(shè)工作狀態(tài)參數(shù)包括輸出光功率、工作電壓、工作電流、工作溫度；
[0036]每臺(tái)測(cè)試儀11通過(guò)數(shù)據(jù)總線16與控制主機(jī)12連接；每臺(tái)測(cè)試儀11通過(guò)測(cè)試儀電源線13與測(cè)試儀供電電源14連接，由該測(cè)試儀供電電源14為每臺(tái)測(cè)試儀11進(jìn)行供電；每個(gè)半導(dǎo)體激光器17與對(duì)應(yīng)的半導(dǎo)體激光器電源控制線15連接，每臺(tái)測(cè)試儀11通過(guò)所述半導(dǎo)體激光器電源控制線15控制對(duì)應(yīng)半導(dǎo)體激光器17電源的通斷。
[0037]其中，每臺(tái)測(cè)試儀11包括:
[0038]冷卻設(shè)備111、處理器112、存儲(chǔ)器113、功率傳感器114、電壓傳感器115、電流傳感器116、溫度傳感器117。
[0039]所述存儲(chǔ)器113、所述功率傳感器114、所述電壓傳感器115、所述電流