分光測定裝置及分光測定方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及分光測定裝置及分光測定方法。
【背景技術(shù)】
[0002] -直W來，已知有對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定 裝置。作為該種技術(shù)，例如專利文獻1中記載有在求取量子產(chǎn)率時，在積分球內(nèi)未直接擊中 激發(fā)光的位置固定試樣，根據(jù)將激發(fā)光間接地入射至試樣所得到的強度、與將激發(fā)光直接 入射至試樣所得到的強度，求得試樣的光吸收率的絕對巧光量子效率測定裝置。
[0003]另外，例如專利文獻2中，記載有測定在透過試樣后的激發(fā)光在積分空間內(nèi)反射 那樣的狀態(tài)下被試樣吸收的激發(fā)光，并且在透過試樣后的激發(fā)光未在積分空間內(nèi)反射那樣 的狀態(tài)下測定自試樣產(chǎn)生的光的量子效率測定裝置。該量子效率測定裝置中，通過進行該 樣的2階段的測量處理，從而謀求降低由再激發(fā)（二次激發(fā)）引起的測定誤差。另外，非專 利文獻1~3中，記載有將W被包含（內(nèi)包）于試樣的方式入射激發(fā)光作為前提來計算量 子產(chǎn)率。
[0004] 現(xiàn)有技術(shù)文獻 [000引專利文獻
[0006] 專利文獻1 ;日本特開平9-292281號公報
[0007] 專利文獻2;日本特開2003-215041號公報
[0008] 非專利文獻
[0009] 非專利文獻 1;"Measurementof油solute地otoluminescencequantum efficienciesinconjugatedpolymersChemicalPhysicsLettersVolume241"、 Issues1-2、14July1995、化ges89-96、N.C.Greenham、I.D.W.Samuel、G.R.Hayes、 R.T.Phillips、Y.A.R.R.Kessener、S.C.Moratti,A.B.Holmes,R.H.Friend
[0010] 非專利文獻 2;"Animprovedexperimentaldeterminationofexternal photoluminescencequantumefficiencyAdvancedMaterials"、Vol. 9、Issue3、March 1997、化ges230-232、JohnC.deMello、H.F'elixWittmann、I?ichardH.Rriend
[0011] 非專利文獻3 使用積分球的絕對巧光量子效率測定法的理論研究"、第71次應(yīng) 用物理學(xué)會學(xué)術(shù)演講會（2010年9月12日）、14p-NK-6、市野善朗（2010. 9. 12) 14P-NK-6

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012] 發(fā)明所要解決的問題
[0013] 然而，一般而言，對于上述的分光測定裝置而言，如上所述，在激發(fā)光被包含（內(nèi) 包）于試樣且向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積（W下也單單稱為"激發(fā)光的照射 面積"）小于試樣的被照射面積的理論下進行構(gòu)筑。因此，例如在測定少量的試樣等的情況 下，若激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積，則估計所計算出的光吸收率與真值不同， 從而有難W高精度地測定光吸收率的擔(dān)憂。
[0014] 因此，本發(fā)明的一個側(cè)面的課題在于提供可高精度地求得光吸收率的分光測定裝 置及分光測定方法。
[0015] 解決問題的技術(shù)手段
[0016] 為了解決上述課題，本發(fā)明的一個側(cè)面所設(shè)及的分光測定裝置，其特征在于，其是 對作為測定對象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定裝置，具備：光源，其產(chǎn)生激 發(fā)光；積分器，其具有入射激發(fā)光的入射開口部、及射出在內(nèi)部反射后的光的射出開口部； 收納部，其配置于積分器內(nèi)，且收納試樣；入射光學(xué)系統(tǒng)，其使激發(fā)光入射至試樣；光檢測 器，其檢測自射出開口部射出的光；及解析單元，其基于由光檢測器檢測出的檢測值而計算 試樣的光吸收率；向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積，解析 單元相對于所計算出的光吸收率，進行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積有關(guān)的面 積比修正。
[0017] 在該分光測定裝置中，激發(fā)光的照射面積能夠大于試樣的被照射面積。于是，在該 情況下，能夠相對于所計算出的光吸收率，進行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積 有關(guān)的面積比修正。由此，即使在例如測定少量的試樣的情況下，也可高精度地求得光吸收 率。
[001引另外，激發(fā)光也可W包含（內(nèi)包）試樣的方式被照射于該試樣。此時，面積比修正 可通過相對于光吸收率累計激發(fā)光的照射面積除W試樣的被照射面積后的值來進行。另 夕b解析單元可基于下式（1)的面積比修正的關(guān)系式，計算光吸收率。
[001引[數(shù)U
[0020]
[0021] 其中，
[0022] A;光吸收率、P=積分器反射率、Si;試樣的被照射面積、S2;激發(fā)光的照射面積、 Abs。;間接激發(fā)時的光吸收率、Abs22;直接激發(fā)時的光吸收率。
[0023] 另外，作為適宜地實現(xiàn)上述作用效果的構(gòu)成，具體而言，可W列舉入射光學(xué)系統(tǒng)W 激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積的方式調(diào)整激發(fā)光的構(gòu)成。
[0024]另外，本發(fā)明的一個側(cè)面所設(shè)及的分光測定方法，其特征在于，其是對作為測定對 象的試樣照射激發(fā)光而檢測被測定光的分光測定方法，包含：在積分器內(nèi)配置試樣的工序； W向試樣的入射位置上的激發(fā)光的照射面積大于試樣的被照射面積的方式向積分器內(nèi)照 射激發(fā)光且入射至試樣的工序；由光檢測器檢測自積分器射出的光的工序；及基于由光檢 測器檢測出的檢出值，計算試樣的光吸收率的工序；在計算光吸收率的工序中，包含相對于 光吸收率，進行與激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積有關(guān)的面積比修正的工序。
[00巧]在該分光測定方法中，也實現(xiàn)了可高精度地求得光吸收率的上述作用效果。
[0026] 另外，在使激發(fā)光入射至試樣的工序中，激發(fā)光也可W包含（內(nèi)包）試樣的方式被 照射。此時，面積比修正可通過相對于光吸收率累計激發(fā)光的照射面積除W試樣的被照射 面積后的值來進行。另外，計算光吸收率的工序中，可基于下式（2)的面積比修正的關(guān)系 式，計算光吸收率。
[0027][數(shù) 2]
[0028]
[002引其中，
[0030]A;光吸收率、P=積分器反射率、Si;試樣的被照射面積、S2;激發(fā)光的照射面積、 Abs。;間接激發(fā)時的光吸收率、Abs22;直接激發(fā)時的光吸收率。
[0031] 發(fā)明的效果
[0032] 根據(jù)本發(fā)明的一個側(cè)面，可高精度地求得光吸收率。
【附圖說明】
[0033] 圖1是示意性表示一個實施方式所設(shè)及的分光測定裝置的構(gòu)成的圖。
[0034] 圖2是表示間接激發(fā)時的主體的平面圖。
[00巧]圖3是圖2的暗箱的內(nèi)部及其周邊部分的放大圖。
[0036] 圖4是沿著圖3的IV-IV線的剖面圖。
[0037] 圖5是表示試樣容器的一個例子的立體圖。
[0038] 圖6是直接激發(fā)時的對應(yīng)于圖4的剖面圖。
[0039] 圖7是表示使用了圖1的分光測定裝置的分光測定方法的流程圖。
[0040] 圖8 (a)是表示在無試樣的狀態(tài)下所檢測的波長光譜的一個例子的圖表，化）是表 示間接激發(fā)時所檢測的波長光譜的一個例子的圖表，（C)是表示直接激發(fā)時所檢測的波長 光譜的一個例子的圖表。
[0041] 圖9 (a)是表示關(guān)于激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積的關(guān)系的一個例子的 模式圖，化）是表示關(guān)于激發(fā)光的照射面積及試樣的被照射面積的關(guān)系的其它例子的模式 圖。
【具體實施方式】
[0042]W下，參照附圖，詳細地說明優(yōu)選的實施方式。還有，W下的說明中，對相同或相當 要素標注相同符號，省略重復(fù)的說明。
[0043] 圖1是示意性地表示一個實施方式所設(shè)及的分光測定裝置的構(gòu)成的圖。如圖1 所示，本實施方式的分光測定裝置100是對于作為成為測定對象的樣本的試樣，通過光致 發(fā)光法（PL(地otoluminescence)法）測定或者評價巧光特性等的發(fā)光特性的裝置。試 樣例如為有機化巧16(3化〇111111；[]163〇6]1〇6(電致發(fā)光））材料、或白色160化；[曲1：血；[1：1：；[]1徑 Diode(發(fā)光二極管））用、或FPD(FlatPanelDisplay(平板顯示器））用等的發(fā)光材料等 的巧光試樣，可使用例如粉末狀、液體狀（溶液狀）、固體狀或薄膜狀的試樣。分光測定裝置 100具備；主體1A、數(shù)據(jù)解析裝置50、輸入裝置91、及顯示裝置92。
[0044] 圖2是表示間接激