(800)以便執(zhí)行電檢查。
[0090]根據(jù)本發(fā)明的當(dāng)前實(shí)施例的測試插座(500)可提供以下效果。
[0091]首先，因?yàn)榕c裝置(800)接觸的第二傳導(dǎo)部(530)是由密集地配置的導(dǎo)電粒子形成，所以可在第二傳導(dǎo)部(530)與裝置(800)之間建立可靠的電連接。詳言之，因?yàn)榈诙鲗?dǎo)部(530)由支撐薄片(520)支撐，所以第二傳導(dǎo)部(530)可維持其原始形狀，即使在第二傳導(dǎo)部(530)重復(fù)地與待測試的裝置接觸之后亦是如此。
[0092]詳言之，第二導(dǎo)電粒子(531)可小于第一導(dǎo)電粒子(511a)，且可密集地配置在彈性材料中。因?yàn)榈诙?dǎo)電粒子(531)具有小的平均粒徑，所以第二導(dǎo)電粒子(531)與裝置(800)的端子(801)之間的接觸點(diǎn)的數(shù)目可為多的。舉例而言，若第二導(dǎo)電粒子(531)小且密集地配置，則與裝置(800)的端子(801)接觸的第二導(dǎo)電粒子(531)的數(shù)目可增加，且第二導(dǎo)電粒子(531)與裝置(800)的端子(801)之間的接觸區(qū)域亦可增大。因此，其間的電連接可更可靠。
[0093]此外，因?yàn)槭寡b置(800)與彈性部分(540)接觸而非使其與相對較硬的支撐薄片(520)接觸，所以可保護(hù)裝置(800)的端子(801)。即使裝置(800)的端子(801)在裝置
(800)向下移動(dòng)時(shí)與彈性部分(540)的第二穿透孔(541)的側(cè)壁接觸，裝置(800)的端子(801)亦可能不被損壞或可能受到較少損壞，這是因?yàn)閺椥圆糠?540)是由軟材料形成。
[0094]可如下修改當(dāng)前實(shí)施例的測試插座(500)。
[0095]參考圖12，支撐薄片(620)安置在彈性導(dǎo)電薄片(610)的頂表面上，且對應(yīng)于支撐薄片(620)的下部支撐薄片(650)安置在彈性導(dǎo)電薄片(610)的底表面上。對應(yīng)于支撐薄片(620)的第一穿透孔(621)的下部穿透孔(651)形成于下部支撐薄片(650)中。對應(yīng)于第二傳導(dǎo)部(630)的下部傳導(dǎo)部(660)可安置于下部穿透孔(651)中。
[0096]參考圖13，第二傳導(dǎo)部(730)插入至彈性部分(740)的第二穿透孔(741)中。也就是說，自支撐薄片(720)突出的第二傳導(dǎo)部(730)可插入至第二穿透孔(741)中。在此情況下，可使待測試的裝置的端子與插入至第二穿透孔(741)中的第二傳導(dǎo)部(730)接觸。
[0097]應(yīng)理解，本文所述的測試插座的例示性實(shí)施例應(yīng)僅在描述性意義上加以考慮，而非出于限制目的。每一實(shí)施例內(nèi)的特征或態(tài)樣的描述應(yīng)通常認(rèn)為是可用于其他實(shí)施例中的其他類似特征或態(tài)樣。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測試插座，其具有高密度傳導(dǎo)部且用以安置在待測試的裝置與測試設(shè)備之間用于電連接所述裝置的端子與所述測試設(shè)備的襯墊，其特征在于所述測試插座包含:彈性導(dǎo)電薄片，其包含第一傳導(dǎo)部及絕緣支撐部，所述第一傳導(dǎo)部安置在對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處且是藉由在第一傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第一導(dǎo)電粒子而形成，所述絕緣支撐部支撐所述第一傳導(dǎo)部且使所述第一傳導(dǎo)部彼此絕緣；支撐薄片，其附接至所述彈性導(dǎo)電薄片的頂表面且包含處于對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處的穿透孔；以及 第二傳導(dǎo)部，其安置于所述支撐薄片的所述穿透孔中且是藉由在所述第二傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第二導(dǎo)電粒子而形成， 其中所述第二導(dǎo)電粒子比所述第一導(dǎo)電粒子配置得更密集，且 所述穿透孔的上部直徑大于所述穿透孔的下部直徑。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座，其特征在于所述穿透孔具有向下減小的直徑。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座，其特征在于所述穿透孔包含: 直徑減小部分，其具有向下減小的直徑；以及 恒定直徑部分，其形成于所述直徑減小部分下方且具有恒定直徑。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試插座，其特征在于所述直徑減小部分的高度小于所述恒定直徑部分的高度。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座，其特征在于所述第二導(dǎo)電粒子的平均粒徑小于所述第一導(dǎo)電粒子的平均粒徑。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試插座，其特征在于所述第二導(dǎo)電粒子之間的平均距離小于所述第一導(dǎo)電粒子之間的平均距離。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座，其特征在于所述支撐薄片是由比用以形成所述絕緣支撐部的材料硬的材料形成。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試插座，其特征在于分離線形成于所述支撐薄片中以為彼此相鄰的所述第二傳導(dǎo)部提供獨(dú)立性。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試插座，其特征在于所述分離線為藉由切割所述支撐薄片而形成的凹槽或孔。10.一種測試插座，其具有高密度傳導(dǎo)部且用以安置在待測試的裝置與測試設(shè)備之間用于電連接所述裝置的端子與所述測試設(shè)備的襯墊，其特征在于所述測試插座包含: 彈性導(dǎo)電薄片，其包含第一傳導(dǎo)部及絕緣支撐部，所述第一傳導(dǎo)部安置在對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處且是藉由在所述第一傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第一導(dǎo)電粒子而形成，所述絕緣支撐部支撐所述第一傳導(dǎo)部且使所述第一傳導(dǎo)部彼此絕緣； 支撐薄片，其附接至所述彈性導(dǎo)電薄片的底表面且包含處于對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處的穿透孔；以及 第二傳導(dǎo)部，其安置于所述支撐薄片的所述穿透孔中且是藉由在所述第二傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第二導(dǎo)電粒子而形成， 其中所述第二導(dǎo)電粒子比所述第一導(dǎo)電粒子配置得更密集，且 所述穿透孔的上部直徑大于所述穿透孔的下部直徑。11.一種測試插座，其具有高密度傳導(dǎo)部且用以安置在待測試的裝置與測試設(shè)備之間用于電連接所述裝置的端子與所述測試設(shè)備的襯墊，其特征在于所述測試插座包含: 彈性導(dǎo)電薄片，其包含第一傳導(dǎo)部及絕緣支撐部，所述第一傳導(dǎo)部安置在對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處且是藉由在所述第一傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第一導(dǎo)電粒子而形成，所述絕緣支撐部支撐所述第一傳導(dǎo)部且使所述第一傳導(dǎo)部彼此絕緣； 支撐薄片，其附接至所述彈性導(dǎo)電薄片的頂表面且包含處于對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處的第一穿透孔； 第二傳導(dǎo)部，其安置于所述支撐薄片的所述第一穿透孔中且是藉由在所述第二傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第二導(dǎo)電粒子而形成；以及 彈性部分，其安置在所述支撐薄片的頂表面上且包含對應(yīng)于所述裝置的所述端子的第二穿透孔，所述彈性部分是由比用以形成所述支撐薄片的材料軟的材料形成， 其中所述第二導(dǎo)電粒子比所述第一導(dǎo)電粒子配置得更密集。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于所述第二導(dǎo)電粒子的平均粒徑小于所述第一導(dǎo)電粒子的平均粒徑。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測試插座，其特征在于所述第二導(dǎo)電粒子之間的平均距離小于所述第一導(dǎo)電粒子之間的平均距離。14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于分離線形成于所述支撐薄片中以為彼此相鄰的所述第二傳導(dǎo)部提供獨(dú)立性。15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于用以形成所述支撐薄片的所述材料比用以形成所述絕緣支撐部的材料硬。16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于所述彈性部分是由與用以形成所述絕緣支撐部的材料相同的材料形成。17.根據(jù)權(quán)利要求11或16所述的測試插座，其特征在于所述彈性部分是由硅酮橡膠形成。18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于所述裝置的所述端子可插入至所述彈性部分的所述第二穿透孔中。19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于所述第二傳導(dǎo)部自所述支撐薄片突出，且插入至所述彈性部分的所述第二穿透孔中。20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試插座，其特征在于還包含: 下部支撐薄片，其附接至所述彈性導(dǎo)電薄片的底表面且包含處于對應(yīng)于所述裝置的所述端子的位置處的下部穿透孔；以及 下部傳導(dǎo)部，其安置于所述下部支撐薄片的所述下部穿透孔中且是藉由在所述下部傳導(dǎo)部的厚度方向上在彈性材料中配置多個(gè)第三導(dǎo)電粒子而形成， 其中所述第三導(dǎo)電粒子比所述第一導(dǎo)電粒子配置得更密集。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種具有高密度傳導(dǎo)部的測試插座，測試插座用以安置在血液測試裝置與測試設(shè)備之間用于電連接血液測試裝置的端子與測試設(shè)備的襯墊，包括：第一傳導(dǎo)部安置在對應(yīng)于血液測試裝置的端子的位置處且藉由在厚度方向上安置在彈性材料中的多個(gè)第一導(dǎo)電粒子而形成；彈性導(dǎo)電薄片，包括藉由使相鄰的第一傳導(dǎo)部彼此絕緣以支撐第一傳導(dǎo)部的絕緣支撐部；支撐薄片，附接至彈性導(dǎo)電薄片的頂表面且包括處于對應(yīng)于血液測試裝置的端子的每個(gè)位置處的穿透孔；以及第二傳導(dǎo)部，填滿支撐薄片的穿透孔中且藉由在厚度方向上安置在彈性材料中的多個(gè)第二導(dǎo)電粒子而形成。在彈性材料中，第二導(dǎo)電粒子比第一導(dǎo)電粒子配置得更密集，且穿透孔的上部直徑大于下部直徑。
【IPC分類】G01R31/26, G01R1/067
【公開號(hào)】CN105008940
【申請?zhí)枴緾N201480009308
【發(fā)明人】李載學(xué)
【申請人】株式會(huì)社Isc
【公開日】2015年10月28日
【申請日】2014年2月18日
【公告號(hào)】WO2014129784A1