通信路徑進(jìn)行傳遞(也可以進(jìn)行聚合)。
[0051 ] 在一些實施例中，用于生成消息的電路是使用消息的相同電路的一部分。例如，測試系統(tǒng)中的模式生成器可以響應(yīng)于測試不合格而生成消息并且使用測試不合格的聚合指示(如，用以確定測試過程中的后續(xù)操作)。在此類實施例中，通信路徑230將會成為回路，用于接收來自消息生成器的消息、執(zhí)行消息的聚合，然后將聚合消息返回給消息生成器。這些實施例在圖3的例子中示出。
[0052]圖3示出了根據(jù)一些實施例的適用于使用串行通信路徑處理消息的系統(tǒng)的示意圖。在圖3的例子中，系統(tǒng)300向通信路徑330提供來自消息生成器/使用器311-313的消息，該通信路徑330執(zhí)行消息聚合，并將聚合消息返回給消息生成器/使用器311-313。
[0053]圖4示出了根據(jù)一些實施例的適用于處理標(biāo)記的電路的示意圖，所述標(biāo)記由自動測試系統(tǒng)中的多個模式生成器生成。在圖4的例子中，系統(tǒng)400對模式生成器411-414生成的標(biāo)記進(jìn)行聚合，并將聚合指示返回給模式生成器。系統(tǒng)400執(zhí)行此過程的時間為系統(tǒng)的十個周期；在每個周期結(jié)束時，通過系統(tǒng)傳送的數(shù)據(jù)被鎖存在觸發(fā)器436-439或471-473中的一個處，或被鎖存在緩存器421-424或461-464中的一個內(nèi)。系統(tǒng)400包含通信路徑401，該通信路徑通過或門431-434進(jìn)行聚合并在每個周期結(jié)束時將數(shù)據(jù)鎖存在觸發(fā)器436-439或 471-473 中。
[0054]在圖4的例子中，緩存器421-424將接收到的標(biāo)記存儲在其隊列的底部；每個隊列的有效深度可能根據(jù)其在連接到通信路徑401時在緩存器和模式生成器順序中的位置而不同。
[0055]緩存器421-424以具有四個時隙的隊列的形式示于圖4中；然而，應(yīng)當(dāng)理解，該示圖僅僅用于清楚展示所述概念，可以使用與本文描述一致的緩存器的任何具體實施。作為具體的例子，緩存器421-424可以是FIFO，并且圖4中所示的緩存器可被實施為在FIFO存儲器中的讀取指針和寫入指針之間具有四個不同距離(如，與緩存器424的指針相比，緩存器421的指針相互之間更加靠近)。然而，可以使用其中標(biāo)記根據(jù)其在系統(tǒng)400中的位置存儲特定時間長度的任何類型緩存器的任何具體實施，因為本發(fā)明在這一點(diǎn)上并沒有限制。
[0056]此外，在圖4中，在連續(xù)周期內(nèi)存儲于緩存器421-424中的標(biāo)記用“C2”、“C3”和“C4”表示，同時也應(yīng)理解，該指示用以表示在緩存器內(nèi)存儲標(biāo)記達(dá)多個系統(tǒng)400周期的概念，并且實際電路可能不同于圖4所示電路。如在FIFO緩存器421-424的例子中，指示“C2”、“C3”和“C4”可以指示在標(biāo)記首先被存儲于緩存器之后的連續(xù)周期中，讀取指針與存儲于緩存器中的標(biāo)記之間的有效距離。
[0057]在系統(tǒng)400的第一周期(在圖4中由“Cl”表示)中，模式生成器411-414分別生成一個標(biāo)記，用以指示由相應(yīng)模式生成器執(zhí)行的測試是合格還是不合格。例如，標(biāo)記可以是指示測試合格或不合格的單比特值(即，高或低)。在此周期中，模式生成器411-414為相應(yīng)緩存器421-424提供標(biāo)記。
[0058]在系統(tǒng)400的第一周期中，從模式生成器411輸出的標(biāo)記存儲在緩存器421的時隙425內(nèi)。緩存器421被配置為使得時隙425的內(nèi)容將在下一個周期中從緩存器輸出。同樣在系統(tǒng)400的第一周期中，從模式生成器412輸出的標(biāo)記存儲在緩存器422的時隙426內(nèi)。緩存器422被配置為使得時隙426的內(nèi)容將在下一個周期中傳送到緩存器422的下一個時隙內(nèi)，在圖4中被標(biāo)記為“C2”。相似地，在系統(tǒng)400的第一周期中，從模式生成器413輸出的標(biāo)記存儲在緩存器423的時隙427內(nèi)；并且從模式生成器414輸出的標(biāo)記存儲在緩存器424的時隙428內(nèi)。
[0059]在系統(tǒng)400的第二周期中，存儲于緩存器421的時隙425內(nèi)的標(biāo)記從緩存器421輸出。同樣在此周期中，將在第一周期中分別存儲于緩存器422、423和424的時隙426、427和428內(nèi)的標(biāo)記傳送到相應(yīng)緩存器的下一個時隙內(nèi)，每個緩存器在圖4中都被標(biāo)記為“C2”。
[0060]將從緩存器421輸出的標(biāo)記輸入到或門431，或門431將標(biāo)記與通信路徑401的被輸入到或門的其他輸入中的內(nèi)容進(jìn)行聚合。例如，通信路徑401可能會向或門431的輸入提供低值，使得或門的輸出能夠指示從緩存器421提供的值。然而，可提供任何合適的值，用于與緩存器所提供的值聚合。在第二周期結(jié)束時，從或門輸出的值被鎖存在觸發(fā)器436中。
[0061]在系統(tǒng)400的第三周期中，緩存器422輸出在第一周期中向時隙426提供的標(biāo)記。同樣在此周期中，將在第一周期中分別存儲于緩存器423和424的時隙427和428內(nèi)的標(biāo)記傳送到相應(yīng)緩存器的下一個時隙內(nèi)，每個緩存器在圖4中都被標(biāo)記為“C3”。將從緩存器422輸出的標(biāo)記輸入到或門432，或門432將該值與鎖存在觸發(fā)器436中的值(即，在前一周期中從或門431輸出的值)聚合。在第三周期結(jié)束時，從或門432輸出的值被鎖存在觸發(fā)器437中。
[0062]在系統(tǒng)400的第四周期中，緩存器423輸出在第一周期中向時隙427提供的標(biāo)記。同樣在此周期中，將在第一周期中存儲于緩存器424的時隙428內(nèi)的標(biāo)記傳送到該緩存器的下一個時隙內(nèi)，在圖4中標(biāo)記為“C4”。將從緩存器423輸出的標(biāo)記輸入或門433，或門433將該值與鎖存在觸發(fā)器437中的值(S卩，在前一周期中從或門432輸出的值)聚合。在第四周期結(jié)束時，從或門433輸出的值被鎖存在觸發(fā)器438中。
[0063]在系統(tǒng)400的第五周期中，緩存器424輸出在第一周期中向時隙428提供的標(biāo)記。將從緩存器424輸出的標(biāo)記輸入到或門434，或門434將該值與鎖存在觸發(fā)器438內(nèi)的值聚合。在第五周期結(jié)束時，從或門434輸出的值被鎖存在觸發(fā)器439中。
[0064]在系統(tǒng)400的上述運(yùn)行周期中，模式生成器411-414在第一周期中提供的四個標(biāo)記由此聚合，從而得到聚合指示，該聚合指示在第五周期結(jié)束時被鎖存在觸發(fā)器439中。
[0065]在圖4的例子中，將聚合指示經(jīng)由緩存器461-464提供給模式生成器411-414。這樣可允許模式生成器接收來自模式生成器461-464中任一個的對任何測試不合格的指不。例如，如果模式生成器411未生成測試不合格指示，但是模式生成器414生成了測試不合格指示，則在系統(tǒng)400的幾個周期內(nèi)，模式生成器411可以經(jīng)由聚合指示接收該測試不合格的指示。
[0066]在系統(tǒng)400的第六周期中，將鎖存在觸發(fā)器439中的聚合指示提供給緩存器461的時隙465，并另外將其鎖存在觸發(fā)器471中。緩存器461被配置為使得時隙471的內(nèi)容將在下一個周期傳送到緩存器461的下一個時隙內(nèi)，在圖4中被標(biāo)記為“C7”。緩存器461-464類似地被配置為將每個時隙的內(nèi)容傳送到各個緩存器的后續(xù)時隙內(nèi)，如下所述。
[0067]在系統(tǒng)400的第七周期中，將鎖存在觸發(fā)器471中的聚合指示提供給緩存器462的時隙466，并另外將其鎖存在觸發(fā)器472中。同樣在此周期中，將在第六周期中存儲于緩存器461的時隙465內(nèi)的標(biāo)記傳送到該緩存器的下一個時隙內(nèi)，在圖4中標(biāo)記為“C7”。
[0068]在系統(tǒng)400的第八周期中，將鎖存在觸發(fā)器472中的聚合指示提供給緩存器463的時隙467，并另外將其鎖存在觸發(fā)器473中。同樣在此周期中，將在第六周期中存儲于緩存器461的時隙465內(nèi)的標(biāo)記和在第七周期中存儲于緩存器462的時隙466內(nèi)的標(biāo)記分別傳送到這些緩存器的下一個時隙內(nèi)，在圖4中標(biāo)記為“CS”。
[0069]在系統(tǒng)400的第九周期中，將鎖存在觸發(fā)器473中的聚合指示提供給緩存器464的時隙468，并另外將其鎖存在觸發(fā)器474中。同樣在此周期中，將在第六周期中存儲于緩存器461的時隙465內(nèi)的標(biāo)記、在第七周期中存儲于緩存器462的時隙466內(nèi)的標(biāo)記和在第八周期中存儲于緩存器463的時隙467內(nèi)的標(biāo)記分別傳送到這些緩存器的下一個時隙內(nèi)，在圖4中標(biāo)記為“C9”。
[0070]在系統(tǒng)400的第十周期中，聚合指不從緩存器461-464中的每一個輸出到相應(yīng)模式生成器411-414。如上所述，例如，這可能允許模式生成器在系統(tǒng)400的多個周期內(nèi)接收來自模式生成器411-414中任一個的測試不合格指示。
[0071]應(yīng)當(dāng)理解，圖4的例子僅僅是聚合來自模式生成器的消息的通信路徑的示例性配置，本發(fā)明的其他實施例可采用圖4中未示出的配置。例如，可以采用任何聚合方法，因為本發(fā)明不限于在單比特標(biāo)記上執(zhí)行或運(yùn)算，相反，可以執(zhí)行任何合適的運(yùn)算，不限于邏輯運(yùn)算。此外，應(yīng)當(dāng)理解，可以采用任意數(shù)量的模式生成器。
[0072]此外，應(yīng)當(dāng)理解，雖然圖4的例子示出了多個周期內(nèi)的聚合，但是在每個聚合步驟中，本發(fā)明的其他實施例可以使用不同(但是固定的)的系統(tǒng)400周期數(shù)量。在此類實施例中，在第一周期中標(biāo)記存儲于緩存器內(nèi)的位置將會作出相應(yīng)調(diào)整，以確保緩存器在適當(dāng)時間輸出標(biāo)記以進(jìn)行聚合。例如，可與每個聚合步驟相關(guān)的硬件(如從觸發(fā)器436至觸發(fā)器437)采用了四個系統(tǒng)400周期，而不是圖4的例子中所示的單個周期。在此例子中，緩存器421-424將會需要具有多達(dá)13個時隙用的存儲區(qū)，以足以確保在第一周期中可以將標(biāo)記分別存儲在緩存器421-424的時隙1、5、9和13內(nèi)。
[0073]此外，應(yīng)當(dāng)理解，在任何周期中，系統(tǒng)400可以在聚合過程中的一些或所有步驟中處理數(shù)據(jù)。雖然圖4的例子示出了從由模式生成器411-414輸出的示例性標(biāo)記開始的十個周期的序列，但應(yīng)當(dāng)理解，可以在圖4的示例性序列開始后的任何時間重新開始相同的序列。例如，模式生成器在每個周期都可以輸出標(biāo)記；模式生成器在每個周期都可以接收聚合指示；觸發(fā)器436-439和471-473在每個周期結(jié)束時都可以鎖存數(shù)據(jù)。因此，系統(tǒng)400可以為一組模式生成器中的任一個的測試不合格提供固定且已知的時間，以便傳送回所有相同的模式生成器。
[0074]如上所述，測試系統(tǒng)可以在多個模塊中包括多個模式生成器。此外，模塊可以連接到包含多個時隙的底板上，和/或在測試系統(tǒng)中可以有多個底板。因此，除了結(jié)合上面的圖4所述的跨越模塊內(nèi)的模式生成器進(jìn)行的聚合外，還可以跨越時隙和/或底板進(jìn)行另外聚入口 ο
[0075]圖5示出了根據(jù)一些實施例的適用于聚合自動測試系統(tǒng)中模塊和底板上的標(biāo)記的電路的示意圖。在圖5的例子中，