用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種印刷線路板AOI檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種能夠檢測(cè)元件反白的AOI檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]AOI (Automatic Optic Inspect1n)的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了 AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。
[0003]然而，目前的AOI設(shè)備并不具有檢測(cè)元件反白的功能，元件的反白只能由作業(yè)人員人工視覺檢測(cè)。
[0004]有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計(jì)人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的是提供一種用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法。
[0006]本發(fā)明的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，按照下述步驟進(jìn)行:
[0007]—、光源和攝像頭皆位于被測(cè)物放置點(diǎn)的正上方，光源垂直向下照射；
[0008]二、通過人機(jī)交互界面進(jìn)行反白參數(shù)設(shè)置，所述反白參數(shù)包括反白亮度值和反白面積百分比值；
[0009]三、啟動(dòng)光源和攝像頭獲取被測(cè)物圖像；
[0010]四、利用Solder框框住圖像上的元件本體，將此框住元件本體的框定義為檢測(cè)框；
[0011]五、對(duì)檢測(cè)框內(nèi)的圖形進(jìn)行亮度分析，當(dāng)檢測(cè)框內(nèi)亮度超過所述反白亮度值的面積與檢測(cè)框的面積的百分比值達(dá)到所述反白面積百分比值時(shí)，則判定元件反白。
[0012]進(jìn)一步的，其特征在于:所述反白亮度值的取值范圍為70-90，所述反白面積百分比值的取值范圍為70% _100%，所述檢測(cè)框的面積視元件的平面面積而定。
[0013]優(yōu)選的，所述反白亮度值的取值為85，所述反白面積百分比值的取值為80%。
[0014]進(jìn)一步的，所述被測(cè)物為印刷線路板。
[0015]進(jìn)一步的，當(dāng)檢測(cè)出元件反白時(shí)，通過屏幕標(biāo)記顯示的方法或在被測(cè)物上打標(biāo)的方法標(biāo)示出反白元件。
[0016]進(jìn)一步的，在進(jìn)行步驟四之前先利用自適應(yīng)維納濾波器對(duì)圖像進(jìn)行去噪處理。
[0017]進(jìn)一步的，所述攝像頭為黑白CXD攝像頭或彩色CXD攝像頭。
[0018]借由上述方案，本發(fā)明至少具有以下優(yōu)點(diǎn):本發(fā)明的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法利用了反白元件在圖像上顯示的亮度不同的原理，通過對(duì)元件亮度的檢驗(yàn)，來判定元件是否反白，從而實(shí)現(xiàn)元件反白的AOI檢測(cè)。
[0019]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
【具體實(shí)施方式】
[0020]下面結(jié)合實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。
[0021]—種用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，按照下述步驟進(jìn)行:
[0022]—、光源和攝像頭皆位于被測(cè)物放置點(diǎn)的正上方，光源垂直向下照射；
[0023]二、通過人機(jī)交互界面進(jìn)行反白參數(shù)設(shè)置，所述反白參數(shù)包括反白亮度值和反白面積百分比值，所述反白亮度值的取值為85，所述反白面積百分比值的取值為80% ;
[0024]三、啟動(dòng)光源和攝像頭獲取被測(cè)物圖像，用自適應(yīng)維納濾波器對(duì)圖像進(jìn)行去噪處理；
[0025]四、利用Solder框框住圖像上的元件本體，將此框住元件本體的框定義為檢測(cè)框；
[0026]五、對(duì)檢測(cè)框內(nèi)的圖形進(jìn)行亮度分析，當(dāng)檢測(cè)框內(nèi)亮度超過所述反白亮度值的面積與檢測(cè)框的面積的百分比值達(dá)到所述反白面積百分比值時(shí)，則判定元件反白。當(dāng)檢測(cè)出元件反白時(shí)，通過屏幕標(biāo)記顯示的方法或在被測(cè)物上打標(biāo)的方法標(biāo)示出反白元件。
[0027]所述被測(cè)物為印刷線路板。
[0028]所述攝像頭為黑白CXD攝像頭或彩色CXD攝像頭。
[0029]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，并不用于限制本發(fā)明，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:按照下述步驟進(jìn)行: 一、光源和攝像頭皆位于被測(cè)物放置點(diǎn)的正上方，光源垂直向下照射； 二、通過人機(jī)交互界面進(jìn)行反白參數(shù)設(shè)置，所述反白參數(shù)包括反白亮度值和反白面積百分比值； 三、啟動(dòng)光源和攝像頭獲取被測(cè)物圖像； 四、利用Solder框框住圖像上的元件本體，將此框住元件本體的框定義為檢測(cè)框； 五、對(duì)檢測(cè)框內(nèi)的圖形進(jìn)行亮度分析，當(dāng)檢測(cè)框內(nèi)亮度超過所述反白亮度值的面積與檢測(cè)框的面積的百分比值達(dá)到所述反白面積百分比值時(shí)，則判定元件反白。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:所述反白亮度值的取值范圍為70-90，所述反白面積百分比值的取值范圍為70 % -100 %，所述檢測(cè)框的面積視元件的平面面積而定。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:所述反白亮度值的取值為85，所述反白面積百分比值的取值為80%。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:所述被測(cè)物為印刷線路板。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:當(dāng)檢測(cè)出元件反白時(shí)，通過屏幕標(biāo)記顯示的方法或在被測(cè)物上打標(biāo)的方法標(biāo)示出反白元件。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:在進(jìn)行步驟四之前先利用自適應(yīng)維納濾波器對(duì)圖像進(jìn)行去噪處理。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于:所述攝像頭為黑白C⑶攝像頭或彩色CXD攝像頭。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)元件反白的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，按照下述步驟進(jìn)行：一、光源和攝像頭皆位于被測(cè)物放置點(diǎn)的正上方，光源垂直向下照射；二、通過人機(jī)交互界面進(jìn)行反白參數(shù)設(shè)置，所述反白參數(shù)包括反白亮度值和反白面積百分比值；三、啟動(dòng)光源和攝像頭獲取被測(cè)物圖像；四、利用Solder框框住圖像上的元件本體，將此框住元件本體的框定義為檢測(cè)框；五、對(duì)檢測(cè)框內(nèi)的圖形進(jìn)行亮度分析，當(dāng)檢測(cè)框內(nèi)亮度超過所述反白亮度值的面積與檢測(cè)框的面積的百分比值達(dá)到所述反白面積百分比值時(shí)，則判定元件反白。本發(fā)明利用了反白元件在圖像上顯示的亮度不同的原理，通過對(duì)元件亮度的檢驗(yàn)，來判定元件是否反白，從而實(shí)現(xiàn)元件反白的AOI檢測(cè)。
【IPC分類】G01N21/956
【公開號(hào)】CN105092605
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510574085
【發(fā)明人】張智海, 易永祥
【申請(qǐng)人】蘇州威盛視信息科技有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請(qǐng)日】2015年9月10日