一種磁盤功耗的測試方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及服務器技術領域，特別涉及一種磁盤功耗的測試方法。
【背景技術】
[0002]隨著互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)的融合，以及云計算、大數(shù)據(jù)的快速發(fā)展，越來越多的數(shù)據(jù)需要依靠大型數(shù)據(jù)中心的處理。數(shù)據(jù)中心通常部署數(shù)以千萬計的服務器，而且規(guī)模一直在不斷增加。這些服務器消耗了巨大的能源，帶來了大量的成本投入。因此，數(shù)據(jù)中心對服務器的功耗要求提出了更加苛刻的指標，要求在完成功能要求的目標下，優(yōu)選功耗低的服務器。
[0003]其中，在服務器的功耗分布比例中，功耗較大部分來自于磁盤陣列，以及用于給磁盤散熱所產(chǎn)生的風扇功耗，這種磁盤陣列由少則十幾顆多則上百顆磁盤組成。由于服務器可以使用的磁盤種類較多，且不同類型的磁盤功耗不同，因此，如何測試磁盤功耗成為部件選型設計中的一項重要工作。
[0004]目前，對磁盤功耗進行測試的方式可以包括:確定磁盤類型，根據(jù)磁盤類型使用相對應的專用磁盤功耗測試設備，對該類型的磁盤的功耗進行測試。然而，對于這種對磁盤功耗進行測試的專門設備，測試成本較高。

【發(fā)明內容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明提供一種磁盤功耗的測試方法，以解決現(xiàn)有技術中測試成本較高的問題。
[0006]本發(fā)明實施例提供了一種磁盤功耗的測試方法，包括:
[0007]將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間，以使所述硬盤背板為所述待測磁盤提供一個以上的供電電源；其中，所述測試治具包括與所述硬盤背板為所述待測磁盤提供的供電電源個數(shù)相同的連接線纜，每一條連接線纜對應一個供電電源；
[0008]將示波器的電流探頭接在每一條連接線纜上，以及將示波器的電壓探頭接在所述測試治具上每一條連接線纜分別對應地電壓測試點上，以同時測量每一條連接線纜的瞬時電流值和每一個電壓測試點上的瞬時電壓值；
[0009]根據(jù)示波器測量到的瞬間電流值與瞬間電壓值，計算所述待測磁盤的最大瞬時功耗。
[0010]優(yōu)選地，所述計算所述待測磁盤的最大瞬時功耗，包括:
[0011]根據(jù)示波器的Math功能，編輯如下公式，以實時監(jiān)測記錄在測試過程中所述待測磁盤的瞬時功耗:
[0012]Math 瞬時功耗=I1WAl2W2+...+In*Un
[0013]其中，MathMi^用于表征在同一時間點測量得到每一條連接線纜所對應所述待測磁盤的最大瞬時功耗，In用于表征第η條連接線纜上的瞬時電流，Un用于表征第η條連接線纜所對應電壓測試點上的瞬時電壓，In*Un用于表征第η條連接線纜所供電的器件的功耗；
[0014]根據(jù)實時監(jiān)測到的所述待測磁盤的瞬時功耗，將監(jiān)測到的瞬時功耗最大的值作為所述待測磁盤的最大瞬時功耗。
[0015]優(yōu)選地，
[0016]進一步包括:將測試治具中所包括的至少一條連接線纜纏繞多圈；
[0017]所述第η條連接線纜所供電的器件的功耗，包括:
[0018]Mathn= (In*Un)/m
[0019]其中，m用于表征第η條連接線纜所纏繞的圈數(shù)。
[0020]優(yōu)選地，所述實時監(jiān)測記錄在測試過程中所述待測磁盤的瞬時功耗，包括:
[0021]實時監(jiān)測記錄在服務器的開機狀態(tài)、磁盤壓力讀寫狀態(tài)、關機狀態(tài)和待機狀態(tài)下所述待測磁盤的瞬時功耗。
[0022]優(yōu)選地，所述將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間，包括:
[0023]將測試治具的背板連接器與所述硬盤背板相連接，將測試治具的磁盤連接器上的SFF-8639接口與所述待測磁盤的SAS接口、SATA接口或NVME接口相連接。
[0024]本發(fā)明實施例提供了一種磁盤功耗的測試方法，不需要購置特殊的功耗測試設備，利用實驗室常用設備，借助測試治具，在不影響磁盤正常工作的情況下，實現(xiàn)對磁盤的瞬時功耗的測量分析，操作簡便，節(jié)約成本。
【附圖說明】
[0025]圖1是本發(fā)明實施例提供的方法流程圖；
[0026]圖2是本發(fā)明另一實施例提供的方法流程圖；
[0027]圖3是本發(fā)明實施例提供的測試治具結構示意圖；
[0028]圖4是本發(fā)明實施例提供的測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0029]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0030]如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種磁盤功耗的測試方法，該方法可以包括以下步驟:
[0031]步驟101:將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間，以使所述硬盤背板為所述待測磁盤提供一個以上的供電電源；其中，所述測試治具包括與所述硬盤背板為所述待測磁盤提供的供電電源個數(shù)相同的連接線纜，每一條連接線纜對應一個供電電源。
[0032]步驟102:將示波器的電流探頭接在每一條連接線纜上，以及將示波器的電壓探頭接在所述測試治具上每一條連接線纜分別對應地電壓測試點上，以同時測量每一條連接線纜的瞬時電流值和每一個電壓測試點上的瞬時電壓值。
[0033]步驟103:根據(jù)示波器測量到的瞬間電流值與瞬間電壓值，計算所述待測磁盤的最大瞬時功耗。
[0034]根據(jù)上述方案，不需要購置特殊的功耗測試設備，利用實驗室常用設備，借助測試治具，在不影響磁盤正常工作的情況下，實現(xiàn)對磁盤的瞬時功耗的測量分析，操作簡便，節(jié)約成本。
[0035]由于一些磁盤可能需要多個供電電源來供電，且每一個供電電源在對磁盤上相應器件供電時，器件上產(chǎn)生的功耗也不相同，因此，若需要計算磁盤的最大瞬時功耗，需要利用示波器的Math功能，將在某個時間點時每一條連接線纜所對應器件的功耗進行相加，得到磁盤的瞬時功耗，并將瞬時功耗最大值作為磁盤的最大瞬時功耗，從而提高了磁盤功耗測試的準確性。
[0036]為了進一步提高磁盤功耗測試的準確性，可以將測試治具中至少一條連接線纜纏繞為多圈，例如m圈，并測試纏繞了 m圈的連接線纜上的電流，并在計算該條連接線纜所對應的功耗為 Mathn= (I n*Un) /m。
[0037]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面結合附圖及具體實施例對本發(fā)明作進一步地詳細描述。
[0038]如圖2所示，本發(fā)明實施例提供了一種磁盤功耗的測試方法，該方法可以包括以下步驟:
[0039]步驟201:將測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間。
[0040]在本實施例中，待測磁盤的接口可以包括SAS(Serial Attached SCSI，串行連接SCSI)、SATA (Serial ATA，串口硬盤)和 NVME (Non Volatile Memory express)等多種類型。因此，在服務器中選用功耗較低的磁盤時，可以根據(jù)本實施例的測試過程逐個對各個待測磁盤進行測試，以確定哪一類型的磁盤最大瞬時功耗最低。
[0041]為了降低磁盤功耗測試的成本，本實施例中，可以使用實驗室中既有的設備，測試治具和示波器，對磁盤功耗進行測試。
[0042]如圖3所示，為測試治具的結構示意圖。該測試治具包括背板連接器、磁盤連接器和連接線纜三個部分，其中，該背板連接器與磁盤連接器均符合SFF-8639協(xié)議規(guī)范，可以支持SAS、SATA, NVME多種接口類型的磁盤，因此，在對不同接口類型的磁盤功耗進行測試時，只需利用該測試治具即可實現(xiàn)，從而提高了測試設備測試的多樣性。
[0043]本實施例中，可以將一臺2U機架式服務器的硬盤背板作為測試平臺，如圖4所示，為測試治具串接在硬盤背板與待測磁盤之間的結構示意圖，其中，測試治具中還可以包括:P1-P15的電源Pin腳和信號Pin腳，其中，電源Pin腳用于連接硬盤背板，信號Pin腳用于轉發(fā)硬盤背板與待測磁盤之間的交互信號。
[0044]其中，每一個待測磁盤需要至少一個供電電源為其進行供電，例如，待測磁盤需要5V的供電電源為其供電，或需要12V的供電電源為其供電，或需要12V和5V的供電電源為其供電。
[0045]本實施例中，以某一款3.5寸的SATA接口的機械硬盤作為待測硬盤為例，對本實施例中的磁盤功耗的測試進行詳細說明。其中，該待測