測量點的選擇。4.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 一個或多個相互傾斜地位于空間中的特征、如鉆孔被測量，優(yōu)選地關(guān)于物體的對稱軸來測量。5.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 至少仰角和/或方位角和/或空間中的地點和/或直徑和/或直徑變化和/或粗糙度被確定。6.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 利用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置和/或至少一個另外的傳感器、優(yōu)選地觸覺的或光學(xué)的或觸覺光學(xué)的傳感器來測量噴油嘴的一個或多個區(qū)域、優(yōu)選地噴射孔。7.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 所述特征的額定尺寸和/或額定幾何形狀通過測量標準部件來確定或校準。8.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 額定幾何形狀由一個或多個幾何元素、如直線、直線片段、圓、圓片段、球、球片段、圓柱、圓柱片段、圓錐、圓錐片段、環(huán)面、環(huán)面片段組成，并且不通過事先存在的CAD模型來確定，優(yōu)選地通過所述幾何元素定義所述額定幾何形狀的CAD元素。9.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 所述額定幾何形狀通過至少一個參數(shù)集來確定，所述參數(shù)集優(yōu)選地由三個空間坐標(X、y、z)和/或至少一個角位置(phi，theta)或軸位置(dx，dy，dz)和/或平面(x，y，z，dx，dy, dz)和/或其他在空間中定義的并且優(yōu)選地在其延展上限制的幾何元素組成，優(yōu)選地通過所述參數(shù)集來定義額定幾何形狀的幾何元素和/或CAD元素。10.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 為了確定額定幾何形狀要使用的幾何元素手動地至少粗略地由操作者來定義并且優(yōu)選地隨后通過計算機程序借助以下的步驟進行更準確的確定: 一使用粗略確定的幾何元素進行表面點的暫時選擇 一從所選擇的表面點計算幾何補償元素，其中所述補償元素的類型對應(yīng)于手動確定的幾何元素的類型 一將手動的幾何元素適配于所述幾何補償元素 一使用所適配的手動的幾何元素進行表面點的最終選擇。11.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 從另外的傳感器的測量點計算幾何元素，另外的傳感器的測量點通過將所述另外的傳感器與計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置對齊和/或校準而存在于共同的坐標系中。12.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 作為另外的傳感器使用以下傳感器，所述傳感器與計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置共同地集成在坐標測量設(shè)備中。13.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 利用所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置和另外的傳感器以相同的測量策略測量幾何形狀特征，其中優(yōu)選地針對所述另外的傳感器以下測量點被用于分析，所述測量點被用于計算幾何元素以用于確定額定幾何形狀。14.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 另外的傳感器的測量點被用于分別修正計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的測量點，所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的測量點與另外的傳感器的測量點空間上相關(guān)聯(lián)，優(yōu)選地位于到另外的傳感器的測量點的可預(yù)先給定的最大間距內(nèi)，其中優(yōu)選地修正計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的測量點，所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的測量點借助所述額定幾何形狀來選擇，所述額定幾何形狀由所述幾何元素構(gòu)成，所述幾何元素由另夕卜的傳感器的測量點來計算并且為了修正而使用另外的傳感器的所述測量點。15.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 要在物體上測量的區(qū)域、優(yōu)選地噴油嘴的噴射孔優(yōu)選地自動地布置在輻射源和探測器之間的、優(yōu)選地盡可能靠近輻射源的合適的位置中，使得所述要測量的區(qū)域在所有旋轉(zhuǎn)位置中完全在所述探測器上成像。16.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 在利用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置測量之前，所述機械旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)位置優(yōu)選地自動地被調(diào)節(jié)，使得要在工件上測量的區(qū)域、優(yōu)選地噴油嘴的噴射孔優(yōu)選地通過以下方式被布置在事先定義的地點中，即布置在機械旋轉(zhuǎn)軸上的對齊元件、如與旋轉(zhuǎn)軸平行伸展的圓柱銷和/或工件上的標記利用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器和/或另外的傳感器來檢測。17.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的成像比例利用校準體、優(yōu)選地校準球來確定，所述校準體被布置在與工件的之后要測量的區(qū)域相同的位置處。18.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 通過以下方式識別機械旋轉(zhuǎn)軸與其余的計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置的相對位置中的偏差，即確定漂移體、如漂移球的地點并且修正所述偏差，優(yōu)選地通過借助機械移動軸定位所述機械旋轉(zhuǎn)軸和/或所述探測器和/或所述輻射源和/或通過所拍攝的透視圖像的位移。19.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 借助所述另外的傳感器之一、優(yōu)選地光學(xué)傳感器、特別優(yōu)選地圖像處理傳感器和/或在利用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器所拍攝的透視圖像上確定所述漂移體的地點，其中測量在機械旋轉(zhuǎn)軸的一個或多個確定的旋轉(zhuǎn)位置中、優(yōu)選地起動旋轉(zhuǎn)位置中或借助換向方法在分別兩個180°位移的旋轉(zhuǎn)位置中進行。20.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 通過以下方式為計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器和優(yōu)選地另外的傳感器的測量結(jié)果確定坐標系、優(yōu)選地共同的坐標系，即至少一個與旋轉(zhuǎn)軸垂直伸展的軸通過在所述機械旋轉(zhuǎn)軸上布置的對齊元件、如與旋轉(zhuǎn)軸平行伸展的圓柱銷通過以下方式來定義，即所述對齊元件利用所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器和/或所述另外的傳感器來檢測。21.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 通過以下方式為計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器和優(yōu)選地另外的傳感器的測量結(jié)果確定坐標系、優(yōu)選地共同的坐標系，即物體上的標記利用所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器和/或所述另外的傳感器來檢測。22.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 優(yōu)選地通過在夾緊設(shè)備中以相同的定向和地點的布置依次測量多個相同的物體或物體、優(yōu)選地噴油嘴上的區(qū)域。23.根據(jù)上述權(quán)利要求的至少一個所述的方法， 其特征在于， 在測量噴油嘴時: 一為所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器進行手動的或自動的人工修正、特別是射線硬化修正和/或 一將輻射源的焦點調(diào)節(jié)到小于大約10 μ m的直徑上和/或 一在輻射源之前設(shè)置優(yōu)選地由金構(gòu)成的并且具有大約0.1mm厚度的射線濾波器和/或 -X光輻射源的電壓被調(diào)節(jié)到大約190kV至200kV上和/或 一在旋轉(zhuǎn)機械旋轉(zhuǎn)軸期間利用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器進行測量。24.用于確定物體、如工件或工具(4)上的結(jié)構(gòu)的幾何形狀的至少由計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置組成的設(shè)備，所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置至少由輻射源(I )、機械旋轉(zhuǎn)軸(3 )和探測器(2 )、優(yōu)選地面探測器組成，其中通過所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置優(yōu)選地在材料過渡的區(qū)域中能夠生成表面測量點， 其特征在于， 在機械旋轉(zhuǎn)軸(3)的可旋轉(zhuǎn)部分(32)上固定有夾緊設(shè)備(5)，所述夾緊設(shè)備包含用于固定物體的機構(gòu)(6、9)和用于固定坐標系和/或預(yù)先定義機械旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)位置的對齊元件(9)和/或適合于確定機械旋轉(zhuǎn)軸(3)與其余的計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置(1、2)的相對位置中的偏差、特別是機械旋轉(zhuǎn)軸(3)與探測器(2)或X光源(I)之間的移動的漂移體(12 )的至少一個軸向的機構(gòu)，其中所述對齊元件(9 )和/或所述漂移體(12 )能夠被所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置和/或另外的傳感器(10)檢測。25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的設(shè)備， 其特征在于， 用于固定物體的機構(gòu)(6、9)圓柱形地鑄造并且優(yōu)選地包含配合件和/或定中心，優(yōu)選地用于在內(nèi)圓柱處或在外圓柱處固定噴油嘴(4)。26.根據(jù)權(quán)利要求24或25所述的設(shè)備， 其特征在于， 所述對齊元件(9)由一個或兩個圓柱形的銷組成，所述圓柱形的銷優(yōu)選地與旋轉(zhuǎn)軸平行地對齊，其中所述對齊元件(9 )優(yōu)選地用作用于固定物體的機構(gòu)(6、9 )。27.根據(jù)權(quán)利要求24至26的至少一個所述的設(shè)備， 其特征在于， 所述對齊元件(9)由與所述物體(4)相同密度或近似相同密度的材料、優(yōu)選地由鋼構(gòu)成。28.根據(jù)權(quán)利要求24至27的至少一個所述的設(shè)備， 其特征在于， 用于固定所述物體(4)的機構(gòu)(6)被構(gòu)造用于容納校準體。29.根據(jù)權(quán)利要求24至28的至少一個所述的設(shè)備， 其特征在于， 所述漂移體(12)的固定通過布置在材料、優(yōu)選地泡沫中進行，所述材料相較于所述漂移體較少地衰減計算機層析X射線攝影術(shù)傳感器的測量輻射，優(yōu)選地引起所述漂移體的衰減的最大50%。30.根據(jù)權(quán)利要求24至29的至少一個所述的設(shè)備， 其特征在于， 所述漂移體(12)的固定通過布置在開口( 13)中進行，使得在機械旋轉(zhuǎn)軸(3)的至少一個旋轉(zhuǎn)位置中所述漂移體(12)能夠通過所述另外的傳感器(10)、優(yōu)選地觸覺傳感器或圖像處理傳感器在垂直照明或透射光中檢測。31.根據(jù)權(quán)利要求24至30的至少一個所述的設(shè)備， 其特征在于， 所述計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置和優(yōu)選地至少一個另外的傳感器(10)被集成到坐標測量設(shè)備中。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于至少應(yīng)用計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置來確定物體上的結(jié)構(gòu)的幾何形狀的方法，該計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置至少由輻射源、機械旋轉(zhuǎn)軸和探測器、優(yōu)選地面探測器組成，其中通過計算機層析X射線攝影術(shù)傳感裝置例如在材料過渡的區(qū)域中生成表面測量點。為了利用任意的額定幾何形狀、特別是在沒必要存在CAD模型的情況下來選擇為了確定幾何形狀特征而要使用的表面測量點，提出：為了確定幾何形狀特征使用表面測量點，所述表面測量點基于可預(yù)先給定的規(guī)則被分配給要確定的幾何形狀特征，并且從所分配的表面測量點確定幾何形狀特征。
【IPC分類】G01B15/04, G01N23/04
【公開號】CN105102923
【申請?zhí)枴緾N201480005933
【發(fā)明人】R.克里斯托弗, I.施密特
【申請人】沃思測量技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2014年1月24日
【公告號】DE102013104490A1, US20150355113, WO2014114737A2, WO2014114737A3