一種探針測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及自動化測試領(lǐng)域，尤其是通過探針進行測試的測試領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子產(chǎn)品日益向小型化發(fā)展，電子產(chǎn)品內(nèi)所使用的連接器也越來越小巧，在檢測過程中如何對產(chǎn)品進行定位比較難，產(chǎn)品稍微一移動位置，就會導致測試不準。因此如何對體積小的產(chǎn)品進行性能測試則是比較難解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種探針測試裝置，其可以方便對產(chǎn)品進行定位檢測。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案是一種探針測試裝置，其包括與探針連接的測試線，其特征在于還包括針板和位于所述針板上方的載板，在所述針板上安裝有探針模組；在所述載板上面開設(shè)有產(chǎn)品容置凹槽，所述探針模組穿過所述載板位于所述產(chǎn)品容置凹槽中。
[0005]在所述載板中開設(shè)有真空腔室，在所述產(chǎn)品容置凹槽內(nèi)開設(shè)有與所述真空腔室連通的若干真空吸孔。
[0006]所述載板通過螺絲固定在所述針板上，在所述載板與所述針板之間的螺絲上分別套設(shè)有彈簧。
[0007]還包括安裝底板，在所述安裝底板上安裝有測試線轉(zhuǎn)接板，所述針板安裝在所述測試線轉(zhuǎn)接板上；所述探針模組的下端向下延伸與所述測試線轉(zhuǎn)接板上面的與所述測試線連接的接觸點接觸。
[0008]本發(fā)明的探針測試裝置，通過將產(chǎn)品放置在載板的產(chǎn)品容置凹槽中，對其進行前后左右定位，再通過真空吸孔吸住產(chǎn)品進一步進行上下定位，使產(chǎn)品與探針保持測試接觸。在載板和針板之間設(shè)置有彈簧，可以調(diào)節(jié)探針在產(chǎn)品容置凹槽中伸出的距離，方便測試，保護探針。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單緊湊，定位方便，特別適合小型化產(chǎn)品的性能測試工作。
【附圖說明】
[0009]圖1，本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖2，本發(fā)明結(jié)構(gòu)爆炸示意圖。
【具體實施方式】
[0011]針對上述技術(shù)方案，現(xiàn)舉一較佳實施例并結(jié)合圖示進行具體說明。本發(fā)明的探針測試裝置，主要包括測試線轉(zhuǎn)接板、針、載板，參看圖1至圖2，其中。
[0012]測試線1，連接在測試線轉(zhuǎn)接板2上。測試線轉(zhuǎn)接板安裝在安裝底板3上。在測試線轉(zhuǎn)接板上面安裝有針板4。在測試線轉(zhuǎn)接板上面設(shè)置有測試線連接的接觸點。在針板4上安裝有數(shù)個豎直的微小的探針模組。在本實施例中，探針模組針對針腳在0.35毫米以下的連接器進行測試。當然，可根據(jù)實際需要，改變探針模組的尺寸大小，以適用不同的連接器或其他需測試的產(chǎn)品進行測試。探針模組組成的測試點位與產(chǎn)品的測試點位相同。在針板上開設(shè)有同螺絲穿過的螺孔。探針模組的下端向下伸出針板下面至測試線轉(zhuǎn)接板的上面，與測試線轉(zhuǎn)接板上的與測試線連接的接觸點接觸，如此結(jié)構(gòu)可將探針測試的測試信息經(jīng)過測試線傳輸給測試設(shè)備。
[0013]載板5，通過等高螺絲51固定安裝在針板的上面。在載板和針板之間的等高螺絲上分別套設(shè)有彈簧52。在載板上面開設(shè)有產(chǎn)品容置凹槽53，用于放置產(chǎn)品，并對產(chǎn)品進行前后左右定位。在產(chǎn)品容置凹槽中開設(shè)有供探針穿過的透孔，探針的上端穿過該透孔位于產(chǎn)品容置凹槽中。在載板中開設(shè)有真空腔室，真空腔室通過真空接頭54與外部真空設(shè)備連接。在產(chǎn)品容置凹槽上開設(shè)有與真空腔室連通的真空吸孔。當產(chǎn)品放置在產(chǎn)品容置凹槽中時，真空吸孔吸住產(chǎn)品，對其進行上下位置定位，使產(chǎn)品測試點保持與探針上端接觸，實現(xiàn)對產(chǎn)品的測試。由于在針板與載板之間設(shè)置有彈簧，可以通過擰緊等高螺絲或擰松等高螺絲來調(diào)節(jié)彈簧壓縮狀態(tài)，調(diào)節(jié)探針上端在產(chǎn)品容置凹槽中凸出的距離，即保證探針伸出足夠距離與產(chǎn)品接觸，也要保證探針不能伸出太多，以免對測試產(chǎn)品造成損傷。
[0014]本發(fā)明的探針測試裝置的工作原理:將產(chǎn)品放置在產(chǎn)品容置凹槽中，抽真空，真空吸孔吸緊產(chǎn)品使其與探針模組上端測試點保持接觸；探針模組將測試信息通過探針傳送給測試線，測試線再將測試信息傳輸給測試設(shè)備，測試設(shè)備讀取測試數(shù)據(jù)，以判斷性能好壞。
[0015]本發(fā)明的探針測試組件，通過針板和載板、測試線的有機組合，即可實現(xiàn)對小型化產(chǎn)品的進行定位測試。其結(jié)構(gòu)簡單緊湊，測試方便，適合各類小型化電子產(chǎn)品的測試工作。
【主權(quán)項】
1.一種探針測試裝置，其包括與探針連接的測試線，其特征在于還包括針板和位于所述針板上方的載板，在所述針板上安裝有探針模組；在所述載板上面開設(shè)有產(chǎn)品容置凹槽，所述探針模組穿過所述載板位于所述產(chǎn)品容置凹槽中。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針測試裝置，其特征在于在所述載板中開設(shè)有真空腔室，在所述產(chǎn)品容置凹槽內(nèi)開設(shè)有與所述真空腔室連通的若干真空吸孔。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針測試裝置，其特征在于所述載板通過螺絲固定在所述針板上，在所述載板與所述針板之間的螺絲上分別套設(shè)有彈簧。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針測試裝置，其特征在于還包括安裝底板，在所述安裝底板上安裝有測試線轉(zhuǎn)接板，所述針板安裝在所述測試線轉(zhuǎn)接板上；所述探針模組的下端向下延伸與所述測試線轉(zhuǎn)接板上面的與所述測試線連接的接觸點接觸。
【專利摘要】一種探針測試裝置，其包括與探針連接的測試線，其特征在于還包括針板和位于所述針板上方的載板，在所述針板上安裝有探針模組；在所述載板上面開設(shè)有產(chǎn)品容置凹槽，所述探針模組穿過所述載板位于所述產(chǎn)品容置凹槽中。本發(fā)明的探針測試組件，通過針板和載板、測試線的有機組合，即可實現(xiàn)對小型化產(chǎn)品的進行定位測試。其結(jié)構(gòu)簡單緊湊，測試方便，適合各類小型化電子產(chǎn)品的測試工作。
【IPC分類】G01R1/04, G01R1/067, G01R31/00
【公開號】CN105182142
【申請?zhí)枴緾N201510670002
【發(fā)明人】孫豐
【申請人】蘇州賽騰精密電子股份有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請日】2015年10月16日