觸摸屏通電狀況測試方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試方法，特別是指一種用于測試觸摸屏通電狀況的方法。
【背景技術】
[0002]近年來，設有電容觸摸屏的電子裝置越來越多，并且電子裝置的屏幕尺寸越來越大并且邊框越來越窄，在此種情況下不得不讓電容觸摸屏邊緣的銀漿走線越來越窄，從而以適應上述的變化，電容觸摸屏邊緣的銀漿走線從原來普通的線寬lOOum、線距10um已發(fā)展到現在的線寬30um、線距30um，而且還有再減少的趨勢。
[0003]當設有電容觸摸屏的電子裝置(如智能手機)在潮濕及高溫的環(huán)境下使用時，隨著時間的推移，電容觸摸屏的銀漿線會有迀移的現象，最終會造成銀線路短路或斷路，從而令電容觸摸屏出現跳點和斷線失靈的情況。尤其是對于GFF和GF或GFM等等薄膜傳感器(Film sensor)觸摸屏，地線與信號線相鄰，并且有電壓差，易發(fā)生銀迀移現象，從而這種失效現象更加明顯。因此，實有必要提供一種對觸摸屏通電狀況進行測試的方法。
【發(fā)明內容】
[0004]針對現有技術的不足，本發(fā)明的發(fā)明目的在于提供一種用于測試觸摸屏通電狀況的方法，利用電源箱和高溫高濕實驗箱，實現對觸摸屏進行檢測并判斷是否符合要求。
[0005]本發(fā)明的發(fā)明目的通過以下技術方案實現:
[0006]一種觸摸屏通電狀況測試方法，包含以下步驟:
[0007]步驟1、將被測觸摸屏樣品放入高溫高濕實驗箱；
[0008]步驟2、利用電源箱為被測觸摸屏樣品提供工作電壓；
[0009]步驟3、通過設定高溫高濕實驗箱的溫度和濕度模擬用戶使用環(huán)境；
[0010]步驟4、到達設定時間后，從高溫高濕實驗箱中取出被測觸摸屏樣品，將被測觸摸屏樣品連接到功能測試板；
[0011]步驟5、對功能測試板輸出的被測觸摸屏樣本的功能參數進行判斷，若所有功能參數均合格則判定被測觸摸屏樣品合格。
[0012]依據上述特征，所述電源箱通過轉換測試板連接被測觸摸屏樣品。
[0013]依據上述特征，所述功能參數包含芯片廠給出的觸摸屏原始數據和信號變化量。
[0014]依據上述特征，在步驟5中如有任何一項功能參數不合格則認為被測觸摸屏樣品不合格。
[0015]依據上述特征，高溫高濕實驗箱的溫度和濕度為80°C和95% RH。
[0016]依據上述特征，所述的設定時間為240小時。
[0017]與現有技術相比較，本發(fā)明通過利用電源箱和高溫高濕實驗箱模擬用戶使用環(huán)境，對觸摸屏的通電狀況進行測試以判斷是否符合要求，從而更易于測試觸摸屏是否發(fā)生銀迀移現象，更利于保證觸摸屏在實際使用環(huán)境中的可靠性。
【附圖說明】
[0018]圖1為實施本發(fā)明的觸摸屏通電狀況測試方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
[0020]如圖1所示，為實施本發(fā)明的觸摸屏通電狀況測試方法的流程示意圖，實施本發(fā)明的觸摸屏通電狀況測試方法包括如下步驟:
[0021]步驟I)、將被測觸?旲屏樣品放入尚溫尚濕實驗箱。
[0022]步驟2)、利用電源箱為被測觸摸屏樣品提供工作電壓，其中電源箱根據觸摸屏的工作電壓(如2.8V、3.3V等)為觸摸屏提供電壓，電源箱通過轉換測試板連接高溫高濕實驗箱內的被測觸摸屏樣品。
[0023]步驟3)、通過設定高溫高濕實驗箱的溫度和濕度(如80°C，95% RH)模擬用戶使用環(huán)境。在電場的作用下，觸摸屏中的銀離子從高電位向低電位迀移，并形成絮狀或枝蔓狀擴展，在高低電位相連的邊界上形成黑色氧化銀。
[0024]步驟4)、到達設定時間(如240小時)后，從高溫高濕實驗箱中取出被測觸摸屏樣品，將被測觸摸屏樣品連接到功能測試板；
[0025]步驟5)、對功能測試板輸出的被測觸摸屏樣本的功能參數進行判斷，若所有功能參數均合格則判定被測觸摸屏樣品合格，如有任何一項功能參數不合格則認為被測觸摸屏樣品不合格。功能參數是指芯片廠給出的觸摸屏原始數據、信號變化量等。
[0026]通過上述的方法，本發(fā)明通過利用電源箱和高溫高濕實驗箱模擬用戶使用環(huán)境，對觸摸屏的通電狀況進行測試以判斷是否符合要求，從而更易于測試觸摸屏是否發(fā)生銀迀移現象，更利于保證觸摸屏在實際使用環(huán)境中的可靠性。
[0027]可以理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據本發(fā)明的技術方案及其發(fā)明構思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應屬于本發(fā)明所附的權利要求的保護范圍。
【主權項】
1.一種觸摸屏通電狀況測試方法，包括以下步驟: 步驟1、將被測觸摸屏樣品放入高溫高濕實驗箱； 步驟2、利用電源箱為被測觸摸屏樣品提供工作電壓； 步驟3、通過設定高溫高濕實驗箱的溫度和濕度模擬用戶使用環(huán)境； 步驟4、到達設定時間后，從高溫高濕實驗箱中取出被測觸摸屏樣品，將被測觸摸屏樣品連接到功能測試板； 步驟5、對功能測試板輸出的被測觸摸屏樣品的功能參數進行判斷，若所有功能參數均合格則判定被測觸摸屏樣品合格。2.根據權利要求1所述的觸摸屏通電狀況測試方法，其特征在于:所述電源箱通過轉換測試板連接被測觸摸屏樣品。3.根據權利要求1所述的觸摸屏通電狀況測試方法，其特征在于:所述功能參數包含芯片廠給出的觸摸屏原始數據和信號變化量。4.根據權利要求1所述的觸摸屏通電狀況測試方法，其特征在于:在步驟5中如有任何一項功能參數不合格則認為被測觸摸屏樣品不合格。5.根據權利要求1所述的觸摸屏通電狀況測試方法，其特征在于:高溫高濕實驗箱的溫度和濕度為80°C和95% RH。6.根據權利要求1所述的觸摸屏通電狀況測試方法，其特征在于:所述的設定時間為240小時。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種觸摸屏通電狀況測試方法，包括以下步驟：1)、將被測觸摸屏樣品放入高溫高濕實驗箱；2)、利用電源箱為被測觸摸屏樣品提供工作電壓；3)、通過設定高溫高濕實驗箱的溫度和濕度模擬用戶使用環(huán)境；4)、到達設定時間后，從高溫高濕實驗箱中取出被測觸摸屏樣品，將被測觸摸屏樣品連接到功能測試板；5)、對功能測試板輸出的被測觸摸屏樣本的功能參數進行判斷，若所有功能參數均合格則判定被測觸摸屏樣品合格，本發(fā)明利用電源箱和高溫高濕實驗箱，實現對觸摸屏通電狀況進行檢測并判斷是否符合要求。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號】CN105203900
【申請?zhí)枴緾N201510552667
【發(fā)明人】郭延順, 王佳
【申請人】捷開通訊科技(上海)有限公司
【公開日】2015年12月30日
【申請日】2015年9月1日