基于粗精二級分光結構的非穩(wěn)環(huán)境瞬態(tài)溫度測量裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于光學精密測試領域，具體涉及一種基于粗精二級分光結構的非穩(wěn)環(huán)境瞬態(tài)溫度測量裝置。
【背景技術】
[0002]在工業(yè)生產、醫(yī)學治療等許多領域，都涉及到溫度的探測，而在許多場合下溫度并非保持恒定，相反它正是隨時間快速地變化，這種情況下的溫度即瞬態(tài)溫度。對瞬態(tài)溫度的實時監(jiān)測，是及時了解系統(tǒng)內部實時工作狀態(tài)和各種參數相互作用的重要手段。
[0003]目前溫度測量按照原理分類，可以分為接觸式測溫和非接觸式測溫兩大類。
[0004]接觸式測溫方法主要是將熱電偶、光纖等感溫元件直接置于被測溫度場或介質中來測量溫度，這種方法不受火焰的黑度、熱物性參數等因素的影響，具有使用方便，經濟耐用等優(yōu)點。但是，對于燃燒等具有瞬態(tài)脈沖特性的對象，接觸式測溫方法難以作為真正的溫度場的測量手段，主要原因在于接觸式測溫裝置的動態(tài)特性不夠理想，在測量上有一定的時間滯后，難以及時反應出溫度的快速變化，在對高溫、高速等離子體測量中會產生導熱滯后，難以及時反應出溫度的快速變化，無法實現超快速的瞬態(tài)測溫要求。
[0005]在非接觸式測溫方法中，光譜法是目前公認的測量輻射溫度最準確有效的方法，因此近年來國內外的研究集中于對光譜法進行改進從而適應不同環(huán)境下的溫度測量，如基于激光技術的光譜測溫法和基于多路波長通道的光譜測溫法?；诩す饧夹g的光譜測溫法包括可調諧二極管激光吸收光譜法、激光相關反斯托克斯-拉曼散射光譜測溫法以及基于多普勒光譜學的相干成像光譜法等?？烧{諧二極管激光吸收光譜法(TDLAS)主要分為波長掃描直接吸收法和波長調制吸收法。波長掃描直接吸收法是通過掃描選定的吸收線，利用獲得的吸收峰實現對吸收介質相關的測量；波長調制吸收法是基于鎖相檢測的原理，能夠有效的抑制其他頻段噪聲對測量的影響。TDLAS法測溫的主要缺點是在于測量靈敏度低，易受背景噪聲的干擾，不能適應惡劣環(huán)境下對溫度測試的要求。激光相關反斯托克斯-拉曼散射光譜測溫法(CARS)是基于非線性光學四波混頻的相干拉曼原理，它利用火焰中產生的某些氣體(如C0，N0等)吸收激光的某些特征波長后會產生一種特征光譜，通過對該光譜的提取進行溫度測量。但目前CARS法研究還只是起步階段，其測量的準確性尚不能確定，有待深入研究，因此無法滿足高精度測溫的要求?；诙嗥绽展庾V學的相干成像光譜法的原理是主要基于等離子體光譜線形狀和與之作為光源通過干涉系統(tǒng)后得到的干涉條紋為一對傅里葉變換對為基礎，根據光譜在高溫下產生光譜展寬導致干涉條紋對比度下降這一物理特性，從而恢復所測等離子體溫度場的分布情況。但是該方法的缺點在于，對外界振動、噪聲等因素的抗干擾性很差，且外界溫度的波動會使其引入很大的誤差，因此該法同樣無法適應惡劣環(huán)境下的溫度測量?；诙嗦凡ㄩL通道的光譜測溫法包括雙色法、三基色法等。雙色法是基于固體熱輻射的測溫方法，其測量原理是通過測出火焰發(fā)射出的輻射光在某兩個波長上的強度，然后利用輻射學建立的兩個強度與溫度的方程，小區(qū)一個代表輻射率的未知因子，計算出所要的溫度。雙色法通過感知測量對象(如火焰)自身的發(fā)光強度感知溫度，實現非接觸式測量，對光路要求低，測試簡單。但雙色法存在兩個缺陷:1.對特征光譜的定位和提取分辨率不高，所提取到的兩個工作波長范圍較寬，大大影響測量精度；2.波長通道少，只設立兩個波長通道提取兩個工作波長，引入的強度與溫度的方程過少，計算擬合精度過低，很難保證最終的測量精度。三基色法通過分析測量對象所輻射出的光譜的色彩圖像來獲取其溫度，具體原理是:測量對象(如燃燒火焰)輻射出的光譜具有特定的色彩，這些色彩所對應的溫度具有唯一性，因此只需要用準確的方法記錄下具有這些色彩的圖像，然后對這些圖像進行分析，便可獲得測量對象的溫度及其分布。三基色測溫法所需要的光路和光學元件較少，但在其工作時，必須提供可供熱輻射光譜傳播的通道，測試環(huán)境的一些惡劣因素，如煙熏、燃燒灰燼的影響等，會使這個通道產生局部污染而造成透射率均勻性減弱，這就降低了溫度測量的精度。
[0006]除了以上所述雙色法、三基色法之外，常見的基于多路波長通道的光譜測溫法如翟洋等人提出了“多光譜瞬態(tài)測溫計用于動力發(fā)射系統(tǒng)火焰測試”(2011年7月《應用光學》第32卷第4期)。其公開了一種瞬態(tài)測溫裝置，即多光譜瞬態(tài)測溫計，將用于對準目標以及采集目標光譜信號的前置光學機構、用于分離提取多路特征光譜信號的光柵分光機構與用于處理特征光譜信號得到測溫結果的信號處理系統(tǒng)集成于一體，利用反射式閃耀光柵與兩塊非對稱安置的球面反射鏡組成的不對稱的C-T式光柵單色儀結構作為分光機構，對多個波長下的特征光譜進行提取，最終將光譜信號處理后輸入計算機分析得到溫度測試結果。這一裝置的缺點在于:將起到探頭作用的前置光學機構與光柵分光機構、信號處理系統(tǒng)所組成的精密測量部分集成裝配在一起，在實際測量時，測試現場產生的振動將導致事先裝調好的分光機構各光學元件的姿態(tài)、位置發(fā)生變化，影響特征光譜的精確提??；測試現場的電磁輻射、溫度變化等不利因素將對信號處理系統(tǒng)的光電探測器件造成干擾，使其不能在一個穩(wěn)定的狀態(tài)下工作，給測量結果帶來很大的偶然誤差。該裝置采用普通反射式閃耀光柵和兩塊球面鏡來組成C-T式分光機構，缺點在于:反射式閃耀光柵的衍射效率只能達到75%左右，對目標光譜的能量利用率不夠，會使得最終采集到的特征光譜信號過于微弱，增大對其探測的難度；另外，由于在利用球面反射鏡進行準直、聚焦時存在較大的像差，導致了接收靶面上各特征光譜的彌散斑尺寸較大，若相鄰兩根特征光譜的波長相隔較近，其彌散斑的位置也會相應的相隔很近，甚至會出現不同特征光譜的彌散斑重合的情況，導致特征光譜無法被提取。當特征光譜的彌散斑尺寸較大時，用來提取特征光譜信號的光纖尺寸就得增加，相應地所提取到的光譜帶寬就得增加，這樣就造成了光譜分辨率的下降。另外，在該裝置所采取的系統(tǒng)結構下，當入射光的光譜范圍過寬時，經過光柵分光后，短波長的光與長波長的光之間的角度會很大，這樣第二塊球面反射鏡所需的接收面尺寸就得很大。理論上可以通過增加第二塊球面鏡的口徑來獲得較大的接收面尺寸接收寬光譜范圍的入射光，但考慮到大口徑球面鏡進行實際加工時的難度與成本，這樣做可行性并不高。因此出于分光機構中第二塊球面鏡的尺寸限制，這種系統(tǒng)結構僅能對較窄的波長范圍內的一些元素的特征譜線進行分離提取，這就限制了其測量對象的范圍。

【發(fā)明內容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種基于粗精二級分光結構的非穩(wěn)環(huán)境瞬態(tài)溫度測量裝置，對存在強電磁輻射、振動、溫差變化快等惡劣因素的非穩(wěn)定環(huán)境中的對象的特征光譜信號進行提取，進而實現對目標瞬態(tài)溫度的測量。
[0008]實現本發(fā)明目的的技術解決方案為:一種基于粗精二級分光結構的非穩(wěn)環(huán)境瞬態(tài)溫度測量裝置，包括前置光學機構、傳導光纖、分光機構和信號采集與處理模塊，傳導光纖一端與前置光學機構連接，另一端與分光機構連接，分光機構再與信號采集與處理模塊連接;
所述前置光學機構包括準直物鏡、分光鏡和CCD，沿光軸依次設置準直物鏡和分光鏡，目標發(fā)射的光譜經準直物鏡會聚后，進入分光鏡，經分光鏡分為反射光和透射光，反射光進入CCD，CCD的靶面等效地位于準直物鏡的焦面處，利用它可以在測量時方便地觀察并對準遠處的目標，透射光進入傳導光纖的一端，從傳導光纖另一端射出，進入分光機構。
[0009]所述分光機構包括第一分光棱鏡、第二分光棱鏡、第一二元光柵、第二二元光柵、第三二元光柵、第一離軸拋物面反射鏡、第二離軸拋物面反射鏡、第三離軸拋物面反射鏡、第四離軸拋物面反射鏡、第五離軸拋物面反射鏡、第六離軸拋物面反射鏡、第一接收靶面、第二接收靶面和第三接收靶面；共光軸依次設置傳導光纖出射端、第一分光棱鏡第二分光棱鏡，從傳導光纖出射端射出的光，經第一分光棱鏡根據譜段不同，分為紅外、可見光譜段的第一透射光和紫外光譜段的第一反射光，第一反射光射入第三離軸拋物面反射鏡，經第三離軸拋物面反射鏡準直后射入第二二元光柵，第二二元光柵將不同波長的光譜分開后射入第四離軸拋物面反射鏡，經第四離軸拋物面反射鏡聚焦，由第二接收靶面提取經第四離軸拋物面反射鏡聚焦后的特征光譜信號；第一透射光射入第二分光棱鏡，經第二分光棱鏡根據譜