以閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 固態(tài)物品損耗程度檢測(cè)。
【背景技術(shù)】
[0002]在實(shí)際生產(chǎn)、使用過程中，有各種檢測(cè)物品、零部件的損耗程度的方法和裝置，但未見利用閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明依據(jù)與物品同步損耗的閉合電路組損傷狀態(tài)檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度。
[0004]工作原理
如圖1所示，裝置由閉合電路組和數(shù)據(jù)處理器組成。閉合電路組由若干閉合電路組成，各閉合電路頂端從基準(zhǔn)點(diǎn)0由0開始按設(shè)定數(shù)值間距沿直線依次排列。將適宜的閉合電路組基準(zhǔn)點(diǎn)0和固態(tài)物品損耗極限點(diǎn)重合按物品損耗方向與物品復(fù)合一體；閉合電路組接入具有監(jiān)測(cè)、存儲(chǔ)、通信功能的數(shù)據(jù)處理器；當(dāng)物品被損耗，閉合電路組沿?fù)p耗方向依次被損毀、斷路，依據(jù)監(jiān)測(cè)的最后被損毀閉合電路頂端數(shù)值和閉合電路組總數(shù)值比較，可對(duì)應(yīng)檢測(cè)出物品損耗程度。
[0005]有益效果
本發(fā)明應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，平面、球面、多角度、多端面等固態(tài)物品損耗檢測(cè)都可使用。
【附圖說明】
[0006]圖1為本發(fā)明工作示意圖。舉例:如圖1所示，閉合電路組由1#、2#、3#、4#4個(gè)閉合電路組成，各電路頂端間距1，按物品損耗方向與物品復(fù)合一體。物品開始使用后，當(dāng)數(shù)據(jù)處理器監(jiān)測(cè)到4#閉合電路斷路，可判定物品發(fā)生了 0-25%的損耗；當(dāng)數(shù)據(jù)處理器監(jiān)測(cè)到3#閉合電路斷路，可判定物品發(fā)生了 25-50%的損耗；依次類推。閉合電路數(shù)量越多，檢測(cè)損耗精度越高。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種以閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置，其特征在于:依據(jù)與物品同步損耗閉合電路組損傷狀態(tài)檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的以閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置，其特征在于:至少一個(gè)閉合電路組基準(zhǔn)點(diǎn)0和固態(tài)物品損耗極限點(diǎn)重合按物品損耗方向與物品復(fù)合一體。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的以閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置，其特征在于:裝置中的閉合電路組和數(shù)據(jù)處理器可做成一體式或分離式；數(shù)據(jù)處理器可用無線或有線通信方式傳出檢測(cè)數(shù)據(jù)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種以閉合電路組檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度的方法和裝置，依據(jù)基準(zhǔn)點(diǎn)0和固態(tài)物品損耗極限點(diǎn)重合沿物品損耗方向與物品復(fù)合一體、與物品同步損耗的閉合電路組損傷狀態(tài)檢測(cè)固態(tài)物品損耗程度。
【IPC分類】G01N27/00, G01R31/02
【公開號(hào)】CN105301053
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510597543
【發(fā)明人】薛驥, 薛多多
【申請(qǐng)人】薛驥
【公開日】2016年2月3日
【申請(qǐng)日】2015年9月20日