Soc芯片的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試驗證領(lǐng)域，更具體地涉及一種S0C芯片的測試方法及測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]S0C芯片設(shè)計完后最重要的環(huán)節(jié)在于驗證，驗證的主要任務(wù)是確保S0C芯片符合設(shè)計要求，保證設(shè)計的正確性。
[0003]在小規(guī)模S0C芯片的驗證方法中，基本上都是先設(shè)定固定的場景，再在固定場景中產(chǎn)生激勵信號，再將激勵信號直接灌入進DUT (待測設(shè)備)中，然后通過芯片端口來檢查芯片功能是否正確。這種直接向量測試(Direct Vector Test)運用在小的系統(tǒng)的中，能獲得不錯的覆蓋率。
[0004]而在中大規(guī)模S0C芯片的驗證方法中，目前常用的驗證方法是VMM (Verificat1nMethodology Manual)。它是一種事務(wù)級(Transact1n Level)的驗證方法。VMM驗證系統(tǒng)的架構(gòu)如圖1所示，通過配置生成器和驅(qū)動器的約束條件來約束生成器產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，然后將測試數(shù)據(jù)灌入DUT中，并通過檢查器對結(jié)果進行自動比較。VMM驗證方法可以實現(xiàn)受約束的隨機驗證(CRV，Constrained Random Verificat1n)。CRV是一種在設(shè)定的約束條件下進行隨機的方法，它可以覆蓋很多測試案例，特別是直接向量測試不能包含的那些意外的測試案例。測試結(jié)束的條件是以覆蓋率檢查器輸出的覆蓋率來確定的。當功能覆蓋率、代碼覆蓋率均達到測試開始前設(shè)定的閾值以后停止隨機驗證。在自動比較過程中，如果遇到錯誤，則會在輸出測試文件中打印出錯誤信息并停止仿真。VMM驗證方法由于采用了繼承基類的方式來擴展事務(wù)，所以VMM驗證方法具有很好的移植性。而且可以在測試結(jié)果文件中實時地查看當前仿真進度。VMM驗證方法實現(xiàn)了驗證方法從信號級向事務(wù)級的轉(zhuǎn)變，這大大簡易了中大規(guī)模的S0C芯片的驗證。
[0005]但是，直接向量測試(direct vector test)驗證方法要求事先必須設(shè)計出芯片的各種工作場景，驗證人員需要直接處理非常低層次的信號級信息。采用這種驗證方法，驗證人員工作量很大，并且一些意外場景、錯誤處理場景不可能一一考慮和驗證到，很容易導致驗證不全面。而VMM驗證方法的數(shù)據(jù)交互和控制比較復雜，對多媒體芯片來說，操作待驗證S0C芯片的方法相當復雜，不方便控制仿真流程，易用性低，而且因為其無法加入設(shè)備驅(qū)動，故無法驗證復雜的應用場景和升級成系統(tǒng)級驗證。
[0006]因此，有必要提供一種改進的S0C芯片測試方法來克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的是提供一種S0C芯片的測試方法，本發(fā)明的S0C芯片的測試方法能夠很好地幫助驗證工程師針對S0C芯片進行測試驗證。在本發(fā)明實施例中驗證工程師并不需要了解底層硬件的具體實施，驗證工程師所編寫的系統(tǒng)測試程序能夠很好地移植到其它項目中，簡化了測試過程，通用性強。
[0008]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種S0C芯片的測試方法，其包括以下步驟:a.編寫對應的測試程序，并初始化測試環(huán)境；b.加載測試程序至中央處理器；C.測試數(shù)據(jù)發(fā)生器根據(jù)加載的測試程序在系統(tǒng)函數(shù)庫中調(diào)用對應的系統(tǒng)函數(shù)并生成測試事務(wù)列表；d.根據(jù)事務(wù)列表測試待測SOC芯片判斷待測SOC芯片的測試覆蓋率。
[0009]較佳地，所述步驟初始化測試環(huán)境具體為，根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議初始化待測S0C芯片中的寄存器，且根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議配置測試程序的描述符。
[0010]較佳地，所述描述符包括系統(tǒng)描述符、設(shè)備描述符及中斷描述符。
[0011]較佳地，所述測試程序內(nèi)的變量名及函數(shù)名的命名規(guī)則符合統(tǒng)一的規(guī)則。
[0012]較佳地，所述統(tǒng)一的規(guī)則包括微軟命名規(guī)則與linux命名規(guī)則。
[0013]較佳地，所述測試事務(wù)列表為能被VMM結(jié)構(gòu)的功能層識別的事務(wù)列表。
[0014]較佳地，在所述中央處理器內(nèi)預設(shè)有設(shè)定閾值，所述步驟判斷待測S0C芯片的測試覆蓋率具體為:當覆蓋率小于設(shè)定閾值時重復步驟b-d ;當覆蓋率大于或等于設(shè)定閾值時，結(jié)束測試。
[0015]較佳地，所述測試程序、系統(tǒng)函數(shù)庫均預先存儲于一固定存儲設(shè)備中。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的S0C芯片的測試方法由于采用了抽象化的事物列表來隨機產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)能夠很好地幫助驗證工程師針對S0C設(shè)計系統(tǒng)進行驗證，驗證工程師可以用靈活的高級語言如C/C++來編寫測試程序，且在本發(fā)明實施例中驗證工程師并不需要了解底層硬件的具體實施，從而驗證工程師所編寫的測試程序能夠很好地移植到其它項目中。
[0017]通過以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實施例。
【附圖說明】
[0018]圖1為本發(fā)明S0C芯片的測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0019]現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實施例，附圖中類似的元件標號代表類似的元件。如上所述，本發(fā)明提供了一種S0C芯片的測試方法，本發(fā)明的S0C芯片的測試方法能夠很好地幫助驗證工程師針對S0C芯片進行測試驗證。在本發(fā)明實施例中驗證工程師并不需要了解底層硬件的具體實施，驗證工程師所編寫的系統(tǒng)測試程序能夠很好地移植到其它項目中，簡化了測試過程，通用性強。
[0020]請參考圖1，圖1為本發(fā)明S0C芯片的測試方法的流程圖，如圖所示，本發(fā)明SOCK片的測試方法具體包括如下步驟:
[0021]步驟S101，編寫對應的測試程序，并初始化測試環(huán)境；在本步驟中，始化測試環(huán)境具體為:根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議初始化待測S0C芯片中的寄存器，且根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議配置測試程序的描述符，以為后續(xù)測試步驟做準備。其中，所述描述符包括系統(tǒng)描述符、設(shè)備描述符及中斷描述符，當然在本發(fā)明的【具體實施方式】中，并不限于這幾類描述符，其它可能用到的描述符均需進行配置。另外，所述測試程序內(nèi)的變量名、函數(shù)名的命名規(guī)則符合統(tǒng)一的規(guī)則，所述統(tǒng)一的規(guī)則包括微軟命名規(guī)則、linux命名規(guī)則；也即是，所述測試程序內(nèi)的變量名、函數(shù)名的命名規(guī)則均符合微軟命名規(guī)則，或均符合linux命名規(guī)則，以保證系統(tǒng)函數(shù)配置器能夠準確的調(diào)用系統(tǒng)函數(shù)；再有，所述設(shè)計文檔是指對待測SOC芯片進行測試的具體項目，該測試的具體項目在測試之前已編輯好并生成所述設(shè)計文檔。
[0022]步驟S102，加載測試程序至中央處理器；在本步驟中，所述中央處理器根據(jù)加載的測試程序而產(chǎn)生相應的測試命令，并將所述測試命令發(fā)送至待測S0C芯片，以在后續(xù)步驟中對待測S0C進行測試；其中，在所述中央處理器內(nèi)預設(shè)有設(shè)定閾值；所述設(shè)定閾值的取值可以根據(jù)具體的待測S0C芯片而設(shè)定，以便于測試不同的S0C芯片。
[0023]步驟S103，測試數(shù)據(jù)發(fā)生器根據(jù)加載的測試程序在系統(tǒng)函數(shù)庫中調(diào)用對應的系統(tǒng)函數(shù)并生成測試事務(wù)列表；在本步驟中，將隨機組合測試命令，產(chǎn)生事物列表；所述測試事務(wù)列表為能被VMM結(jié)構(gòu)的功能層識別的事務(wù)列表。且，其中，所述測試程序、系統(tǒng)函數(shù)庫均預先存儲于一固定存儲設(shè)備中。
[0024]步驟S104，根據(jù)事務(wù)列表測試待測S0C芯片；在本步驟中，所述事務(wù)列表中還包括有測試順序，其中，測試順序包括:順序執(zhí)行、倒序執(zhí)行及隨機執(zhí)行；在運行動作測試列表時，具體是按順序執(zhí)行、倒序執(zhí)行還是隨機執(zhí)行可由測試人員在測試開始前進行指定。
[0025]步驟S105，判斷待測S0C芯片的測試覆蓋率；在本步驟中，當判斷測試覆蓋率小于設(shè)定閾值時重復執(zhí)行步驟S102-S104，直到測試覆蓋率大于或等于設(shè)定閾值；而當判測試斷覆蓋率大于或等于設(shè)定閾值時，結(jié)束測試；從而保證了測試的覆蓋率達到設(shè)定目標，以確保測試的準確性。
[0026]本發(fā)明的S0C芯片的測試方法由于采用了抽象化的事物列表來隨機產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)能夠很好地幫助驗證工程師針對S0C設(shè)計系統(tǒng)進行驗證，驗證工程師可以用靈活的高級語言如C/C++來編寫測試程序，且在本發(fā)明實施例中驗證工程師并不需要了解底層硬件的具體實施，從而驗證工程師所編寫的測試程序能夠很好地移植到其它項目中，簡化了測試過程，通用性強；而且當測試覆蓋率達不到設(shè)定閾值時，將反復對待測S0C芯片進行測試，保證了測試的準確性。
[0027]以上結(jié)合最佳實施例對本發(fā)明進行了描述，但本發(fā)明并不局限于以上揭示的實施例，而應當涵蓋各種根據(jù)本發(fā)明的本質(zhì)進行的修改、等效組合。
【主權(quán)項】
1.一種SOC芯片的測試方法，其特征在于，包括以下步驟: a.編寫對應的測試程序，并初始化測試環(huán)境； b.加載測試程序至中央處理器； c.測試數(shù)據(jù)發(fā)生器根據(jù)加載的測試程序在系統(tǒng)函數(shù)庫中調(diào)用對應的系統(tǒng)函數(shù)并生成測試事務(wù)列表； d.根據(jù)事務(wù)列表測試待測S0C芯片； e.判斷待測S0C芯片的測試覆蓋率。2.如權(quán)利要求1所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述步驟初始化測試環(huán)境具體為，根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議初始化待測S0C芯片中的寄存器，且根據(jù)設(shè)計文檔和USB3.0協(xié)議配置測試程序的描述符。3.如權(quán)利要求2所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述描述符包括系統(tǒng)描述符、設(shè)備描述符及中斷描述符。4.如權(quán)利要求1所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述測試程序內(nèi)的變量名及函數(shù)名的命名規(guī)則符合統(tǒng)一的規(guī)則。5.如權(quán)利要求4所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述統(tǒng)一的規(guī)則包括微軟命名規(guī)則與1 inux命名規(guī)則。6.如權(quán)利要求1所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述測試事務(wù)列表為能被VMM結(jié)構(gòu)的功能層識別的事務(wù)列表。7.如權(quán)利要求1所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，在所述中央處理器內(nèi)預設(shè)有設(shè)定閾值，所述步驟判斷待測S0C芯片的測試覆蓋率具體為: 當覆蓋率小于設(shè)定閾值時重復步驟b-d ； 當覆蓋率大于或等于設(shè)定閾值時，結(jié)束測試。8.如權(quán)利要求1所述的S0C芯片的測試方法，其特征在于，所述測試程序、系統(tǒng)函數(shù)庫均預先存儲于一固定存儲設(shè)備中。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種SOC芯片的測試方法，其包括以下步驟：a.編寫對應的測試程序，并初始化測試環(huán)境；b.加載測試程序至中央處理器；c.測試數(shù)據(jù)發(fā)生器根據(jù)加載的測試程序在系統(tǒng)函數(shù)庫中調(diào)用對應的系統(tǒng)函數(shù)并生成測試事務(wù)列表；d.根據(jù)事務(wù)列表測試待測SOC芯片；e.判斷待測SOC芯片的測試覆蓋率。本發(fā)明的SOC芯片的測試方法能夠很好地幫助驗證工程師針對SOC芯片進行測試驗證。在本發(fā)明實施例中驗證工程師并不需要了解底層硬件的具體實施，驗證工程師所編寫的系統(tǒng)測試程序能夠很好地移植到其它項目中，簡化了測試過程，通用性強。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN105301480
【申請?zhí)枴緾N201510800344
【發(fā)明人】舒鵬
【申請人】四川和芯微電子股份有限公司
【公開日】2016年2月3日
【申請日】2015年11月19日