可以例如是處理器。相位測量單元228和230分別確定采樣器212和214以及216和218之間的相位差。將相位差發(fā)送到處理器232并且處理器232確定相位差的平均值并基于平均值計算定時校正?？商鎿Q地，相位測量單元228和230可以是處理器232的一部分。或者，相位測量單元228和230可以位于與處理器232分離的單個處理器中。
[0018]一旦已經確定了定時校正，測試和測量儀器就使用該校正來對所測量的數(shù)據信號的定時進行校正。這允許將所測量的數(shù)據信號置于適當?shù)墨@取次序中。
[0019]圖2中所示的系統(tǒng)的優(yōu)點在于:當延遲在采樣器中的每一個之間為45度時，可以完全去除抖動對時鐘相位的依賴性。這消除了變化并將總體抖動減少約40%。盡管以上系統(tǒng)由于其最準確而是優(yōu)選的，但是其需要測試和測量儀器內的兩個附加模數(shù)轉換器。
[0020]可能優(yōu)選的是使用兩個ADC以避免對于附加模數(shù)轉換器(ADC)的需要。圖3描繪了使用僅兩個ADC的所公開的技術的可替換實施例。
[0021]如圖3中所見，該系統(tǒng)也包括針對時鐘信號302的輸入300。同樣使用拆分器332將時鐘信號302拆分成四個時鐘信號304，306, 308和310。每一個時鐘信號304，306, 308和310由相應的采樣器312，314，316和318接收，如以上關于圖2討論的那樣。與關于圖2討論的實施例相同，每一個采樣器被選通器334選通成45度異相。
[0022]然而，通過求和器320將來自采樣器312的模擬輸出和來自采樣器316的模擬輸出求和在一起，并且通過求和器322將來自采樣器314的模擬輸出和來自采樣器318的模擬輸出求和在一起，而不是如以上關于圖2所討論的，將采樣器312，314，316和318的輸出輸入到ADC中。
[0023]然后分別通過ADC 324和326對來自求和器320和322的輸出中的每一個進行數(shù)字轉換。將來自ADC 324和326的輸出輸入到相位測量單元328。相位測量單元328確定求和器320的輸出與求和器322的輸出之間的相位差。然后，可以經由處理器330計算定時校正。再次，相位測量單元338可以位于處理器330內。
[0024]如以上提到的，定時誤差校正系統(tǒng)包括處理器和存儲用于實現(xiàn)測試和測量儀器的以上討論的處理器的可執(zhí)行指令的存儲器(未示出)。體現(xiàn)在計算機可讀介質上的計算機可讀代碼在被執(zhí)行時使計算機執(zhí)行任何以上描述的操作。如在此所使用的，計算機是可以執(zhí)行代碼的任何設備。微處理器、可編程邏輯器件、多處理器系統(tǒng)、數(shù)字信號處理器、個人計算機等都是這樣的計算機的示例。在一些實施例中，計算機可讀介質可以是被配置成以非暫時性方式存儲計算機可讀代碼的有形計算機可讀介質。
[0025]已經在其優(yōu)選實施例中描述和說明了所公開的技術的原理，應當顯而易見的是，在不脫離這樣的原理的情況下，可以在布置和細節(jié)方面修改所公開的技術。我們要求保護落入所附權利要求的精神和范圍內的所有修改和變型。
【主權項】
1.一種用于校正測試和測量儀器中的定時誤差的方法，包括: 接收時鐘信號； 將時鐘信號拆分成第一時鐘信號、第二時鐘信號、第三時鐘信號和第四時鐘信號；將第一時鐘信號路由至第一采樣器，將第二時鐘信號路由至第二采樣器，將第三時鐘信號路由至第三采樣器，并且將第四時鐘信號路由至第四采樣器； 在第一采樣器處以第一相位對第一時鐘信號采樣，在第二采樣器處以從第一相位偏移90度的第二相位對第二時鐘信號采樣，在第三采樣器處以從第一相位偏移45度的第三相位對第三時鐘信號采樣，并且在第四采樣器處以從第三相位偏移90度的第四相位對第四時鐘信號采樣； 將來自采樣器的輸出中的每一個數(shù)字化；以及 從數(shù)字化輸出基于數(shù)字化輸出計算定時校正。2.權利要求1的方法，其中在數(shù)字化之前，對來自第一采樣器和第三采樣器的輸出進行求和，并且對來自第二采樣器和第四采樣器的輸出進行求和。3.權利要求1的方法，其中計算時間校正包括: 計算第一采樣器與第二采樣器之間的第一相位測量， 計算第三采樣器與第四采樣器之間的第二相位測量，以及 對第一和第二相位測量求平均。4.權利要求1的方法，還包括基于所計算的定時校正來修改數(shù)據信號的定時。5.一種供測試和測量儀器中使用的定時誤差校正系統(tǒng)，包括: 被配置成接收時鐘信號的時鐘信號輸入； 被配置成將時鐘信號拆分成四個時鐘信號的拆分器； 四個采樣器，每一個采樣器被配置成接收所述四個時鐘信號之一且被配置成輸出經采樣的信號； 被配置成從所述四個采樣器接收輸出的經采樣的信號的至少兩個模數(shù)轉換器；以及 被配置成基于所述四個采樣器的數(shù)字化輸出計算定時校正誤差的處理器。6.權利要求5的定時誤差校正系統(tǒng)，其中所述四個采樣器中的每一個采樣器被選通成從其它采樣器中的至少一個偏移45度。7.權利要求5的定時誤差校正系統(tǒng)，還包括四個模數(shù)轉換器，每一個模數(shù)轉換器被配置成從所述四個采樣器接收四個輸出之一，其中處理器被配置成通過計算第一采樣器與第二采樣器之間的第一相位測量、計算第三采樣器與第四采樣器之間的第二相位測量并對第一和第二相位測量求平均來計算定時校正誤差。8.權利要求5的定時誤差校正系統(tǒng)，還包括: 被配置成對來自第一采樣器的輸出和來自第三采樣器的輸出進行求和的第一求和器; 被配置成對來自第二采樣器的輸出和來自第四采樣器的輸出進行求和的第二求和器， 其中來自第一求和器和第二求和器的輸出各自被發(fā)送到至少兩個模數(shù)轉換器。9.權利要求5的定時誤差校正系統(tǒng)，其中處理器還被配置成基于所計算的定時校正來校正數(shù)據信號的定時。
【專利摘要】本發(fā)明涉及用于改進的相位基準性能的利用自適應相移的雙正交。一種用于校正測試和測量儀器中的定時誤差的方法。該方法包括在四個采樣器中的每一個處接收時鐘信號。在第一采樣器處以第一相位對第一時鐘信號采樣，在第二采樣器處以從第一相位偏移90度的第二相位對第二時鐘信號采樣，在第三采樣器處以從第一相位偏移45度的第三相位對第三時鐘信號采樣，并且在第四采樣器處以從第三相位偏移90度的第四相位對第四時鐘信號采樣。將來自采樣器的輸出中的每一個數(shù)字化并且從數(shù)字化輸出基于數(shù)字化輸出計算定時校正。
【IPC分類】G01R25/00, G01R35/00
【公開號】CN105319523
【申請?zhí)枴緾N201510453820
【發(fā)明人】J.P.P.維姆, K.M.恩根哈德特, L.J.多博斯
【申請人】特克特朗尼克公司
【公開日】2016年2月10日
【申請日】2015年7月29日
【公告號】EP2985616A2, EP2985616A3, US20160033309