一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]電纜在電氣連接、電信號(hào)的傳輸和控制中有著不可替代的作用，其導(dǎo)通絕緣性能的好壞關(guān)系到系統(tǒng)能否正常運(yùn)行。
[0003]電纜生產(chǎn)完成后對(duì)其測(cè)試只能通過(guò)兩端的電連接器實(shí)現(xiàn)，直接用萬(wàn)用表表筆或兆歐表測(cè)量端接觸電連接器會(huì)對(duì)電連接器造成損壞，所以，傳統(tǒng)的導(dǎo)通絕緣測(cè)試方法是將電連接器上的所有點(diǎn)引出至測(cè)試盒面板上的接線柱陣列，用萬(wàn)用表或兆歐表在接線柱上逐點(diǎn)測(cè)試。該方法繁瑣，操作復(fù)雜，效率低，電纜接點(diǎn)數(shù)越多，測(cè)試效率越低。
[0004]專(zhuān)利CN101701994A，名稱(chēng)為《一種低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測(cè)試方法》公開(kāi)了一種電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試方法，該方法在傳統(tǒng)的接線柱陣列上分別串接兩位開(kāi)關(guān)陣列，接至一個(gè)公共測(cè)試端。通過(guò)接線柱陣列及開(kāi)關(guān)陣列的匹配選擇，完成電纜絕緣特性測(cè)試；導(dǎo)通測(cè)試是將相鄰兩根導(dǎo)線短接，利用萬(wàn)用表測(cè)試低頻阻抗特性。此方法提高了測(cè)試效率，但操作時(shí)需在接線柱陣列上逐個(gè)移動(dòng)，并配合開(kāi)關(guān)選擇，操作不夠簡(jiǎn)便。
[0005]專(zhuān)利CN202305638U，名稱(chēng)為《一種繼電器陣列式導(dǎo)通絕緣測(cè)試電路》公開(kāi)了一種導(dǎo)通絕緣測(cè)試電路，該裝置將人工點(diǎn)對(duì)點(diǎn)測(cè)試過(guò)程轉(zhuǎn)換為可以受計(jì)算機(jī)控制的測(cè)試過(guò)程，減少測(cè)試時(shí)間，但該裝置電路復(fù)雜，結(jié)構(gòu)龐大，不適合外場(chǎng)測(cè)試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置及方法，該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠，成本低，操作簡(jiǎn)便，測(cè)試效率高，適合實(shí)驗(yàn)室及現(xiàn)場(chǎng)電纜測(cè)試需求。
[0007]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置包括若干個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)，所有的三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)的中點(diǎn)均與所述測(cè)試裝置對(duì)外接插件接點(diǎn)Yl相連接；所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)的一側(cè)接點(diǎn)連接至公共測(cè)試端XI，另一端接點(diǎn)接至公共測(cè)試端X2。
[0008]所述的測(cè)試裝置包括85個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)。
[0009]所述的三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)的型號(hào)為KN4A-203-M。
[0010]一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通測(cè)試方法，該方法具體包括如下步驟:
[0011]步驟1、將被測(cè)電纜與上述三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置相連接，并將設(shè)為電阻檔的萬(wàn)用表兩測(cè)試表筆分別與該測(cè)試裝置的公共端相連接；
[0012]步驟2、依據(jù)被測(cè)電纜的電纜圖，利用三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置進(jìn)行導(dǎo)通測(cè)試。
[0013]所述的步驟I具體為:將被測(cè)電纜總插頭一端通過(guò)轉(zhuǎn)接電纜與上述測(cè)試裝置對(duì)外接插件接點(diǎn)Yl相連接，并將被測(cè)電纜的另一端分支插頭安裝短路插頭；初始設(shè)置所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)在懸空位置，將萬(wàn)用表兩測(cè)試表筆分別連接測(cè)試公共端X1、X2，設(shè)置萬(wàn)用表為電阻檔。
[0014]所述的步驟2具體為:
[0015]根據(jù)被測(cè)電纜的電纜圖，選擇功能和長(zhǎng)度相同所對(duì)應(yīng)的三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)進(jìn)行兩兩測(cè)試，將其中一個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)撥至測(cè)試公共端Xi —側(cè)，另一個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)撥至測(cè)試公共端X2 —側(cè)，形成測(cè)試回路，觀察萬(wàn)用表數(shù)值，測(cè)試完成后，將三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)撥回懸空位置；按照被測(cè)電纜的電纜圖依次兩兩測(cè)試，即完成被測(cè)電纜的導(dǎo)通測(cè)試；
[0016]若被測(cè)電纜中存在空點(diǎn)，跳過(guò)該點(diǎn)；若電纜中插件中存在多個(gè)點(diǎn)跨接，兩兩測(cè)試這些跨接點(diǎn)之間的阻值，可測(cè)試跨接線的導(dǎo)通，測(cè)試這些跨接點(diǎn)與其他非跨接點(diǎn)，可測(cè)試電纜導(dǎo)線的導(dǎo)通。
[0017]一種三位開(kāi)關(guān)陣列絕緣測(cè)試方法，該方法具體包括如下步驟:
[0018]步驟1、將被測(cè)電纜與上述三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置相連接，并將兆歐表正表筆與該測(cè)試裝置的公共測(cè)試端相連接，負(fù)表筆與被測(cè)電纜接插件外殼以及另一公共測(cè)試端相連接；
[0019]步驟2、利用兆歐表完成被測(cè)電纜中導(dǎo)線與殼體絕緣測(cè)試以及被測(cè)導(dǎo)線之間絕緣測(cè)試。
[0020]所述的步驟I具體為:將被測(cè)電纜總插頭一端通過(guò)轉(zhuǎn)接電纜與上述測(cè)試裝置對(duì)外接插件接點(diǎn)Yl相連接；初始設(shè)置所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)置于測(cè)試公共端Xi —側(cè)，并將兆歐表正表筆連接公共測(cè)試端XI，負(fù)表筆與被測(cè)電纜接插件外殼以及公共測(cè)試端X2相連接。
[0021]所述的步驟2具體為:
[0022]步驟2.1、將兆歐表設(shè)置為輸出電壓狀態(tài)，觀察兆歐表在負(fù)表筆與被測(cè)電纜接插件外殼連接時(shí)的絕緣阻值是否滿(mǎn)足技術(shù)要求，完成被測(cè)電纜中所有導(dǎo)線與殼體絕緣測(cè)試；
[0023]步驟2.2、將兆歐表負(fù)表筆與上述測(cè)試裝置中的公共測(cè)試端X2相連接，逐個(gè)依次將三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)從公共測(cè)試端Xl —側(cè)撥動(dòng)到公共測(cè)試端X2，觀察兆歐表絕緣阻值是否滿(mǎn)足技術(shù)要求，完成電纜導(dǎo)線之間絕緣測(cè)試；
[0024]步驟2.3、若被測(cè)電纜中存在空點(diǎn)，三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)初始設(shè)置中該點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)處于懸空位置；若被測(cè)電纜中存在多個(gè)點(diǎn)跨接，則三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)初始設(shè)置中多個(gè)跨接點(diǎn)中任意一個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)撥至公共測(cè)試端Xi側(cè)，其余懸空。
[0025]本發(fā)明的顯著效果在于:本發(fā)明所述的一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置及方法，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低方便攜帶；采用雙刀冗余設(shè)計(jì)，可靠性高；同時(shí)操作簡(jiǎn)便、效率高克服了傳統(tǒng)測(cè)試方法需逐個(gè)在面板上進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)操作；該裝置通用性強(qiáng)，可以直接安裝多個(gè)不同型號(hào)的接插件，并配置多種規(guī)格的轉(zhuǎn)接電纜，具有很強(qiáng)的通用性。
【附圖說(shuō)明】
[0026]圖1為本發(fā)明所述的一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置電路結(jié)構(gòu)圖；
[0027]圖2為利用本發(fā)明所述的三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置進(jìn)行導(dǎo)通測(cè)試的連接不意圖；
[0028]圖3為利用本發(fā)明所述的三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置進(jìn)行絕緣測(cè)試的連接示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0030]如圖1所述，一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置包括若干個(gè)三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)，例如包括85個(gè)型號(hào)為KN4A-203-M的三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)，所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)的中點(diǎn)連接至測(cè)試裝置對(duì)外接插件接點(diǎn)Y1，所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)一側(cè)接點(diǎn)接至公共測(cè)試端XI，另一側(cè)接點(diǎn)接至公共測(cè)試端X2。
[0031]如圖2所示，一種三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通測(cè)試方法，該方法具體包括如下步驟:
[0032]步驟1、將被測(cè)電纜與三位開(kāi)關(guān)陣列導(dǎo)通絕緣測(cè)試裝置相連接，并將設(shè)為電阻檔的萬(wàn)用表兩測(cè)試表筆分別與該測(cè)試裝置的公共端相連接；
[0033]將被測(cè)電纜總插頭一端通過(guò)轉(zhuǎn)接電纜與上述測(cè)試裝置對(duì)外接插件接點(diǎn)Yl相連接，并將被測(cè)電纜的另一端分支插頭安裝短路插頭；初始設(shè)置所有三位鎖定雙刀開(kāi)關(guān)在懸空位置，將萬(wàn)用表兩測(cè)試表筆分