一種密封槽深度測量裝置的測量方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及工件密封槽測量技術，特別涉及一種密封槽深度測量裝置的測量方法。
【背景技術】
[0002]機械制造中，由于密封槽深度加工不準確，使用后致密封圈早期磨損、密封效果差、影響壽命、喪失密封功能。現(xiàn)有測量技術中，多用卡尺類量檢具檢測密封槽深度，由于測量人員技能水平以及量檢具自身的精度所限，對檢測有嚴格要求的密封槽深度，顯得精度不足，誤差較大。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明所要解決的技術問題是，針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種密封槽深度測量裝置的測量方法，以達到對工件密封槽的深度精準測量的目的。
[0004]為解決上述技術問題，本發(fā)明的技術方案是:一種密封槽深度測量裝置的測量方法，所述的密封槽深度測量裝置包括定位柱、測量筒、千分表，所述的定位柱一端設有開口，定位柱另一端設有與定位柱側壁連接為一體的端壁，定位柱的開口與端壁之間形成腔體，所述的測量筒包括活動桿，所述的活動桿上伸出有置于所述定位柱腔體內(nèi)的活塞體，所述的活塞體的內(nèi)端面與定位柱的端壁之間通過彈簧連接，所述的活動桿的上端穿過所述的定位柱的端壁伸出，所述的千分表的測量頭設置在該活動桿伸出端的上方并與其接觸，所述的定位柱的開口端側壁端面形成的環(huán)形端面與待測工件的環(huán)形密封槽形狀相適應，在彈簧自然狀態(tài)下，所述的活塞體的外端面與定位柱的開口端側壁端面處于同一水平面上，所述的測量裝置還包括千分表對零凸臺，所述的千分表對零凸臺包括底座、由底座上端面伸出的凸環(huán)，所述的凸環(huán)的環(huán)形外壁與所述的定位柱的開口端的環(huán)形內(nèi)壁形狀相適應，所述的凸環(huán)的厚度與待測工件的密封槽深度相同，所述的千分表對零凸臺中部設有貫穿凸環(huán)、底座的通孔，所述的千分表連接在支架上，所述的方法包括以下步驟:
[0005]a)將定位柱開口端部卡在千分表對零凸臺的凸環(huán)外壁，凸環(huán)頂起活塞體，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，把千分表校為零值；
[0006]b)撤下定位柱，彈簧復位，活塞體的外端面與定位柱的開口端側壁端面重新處于同一水平面上；
[0007]c)將定位柱開口端部卡在待測工件的密封槽內(nèi)，活塞體被工件的端面頂起，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，讀出千分表的讀數(shù)，該讀數(shù)即為工件密封槽的深度和標準件的偏差值。
[0008]本發(fā)明采用上述方法，具有以下優(yōu)點:1、用定位柱的開口端環(huán)形端面與活塞體下端面平面貼合接觸，定位精度高，定位柱沿測量筒內(nèi)壁上下滑移，避免了現(xiàn)有測量中因人為因素使測頭偏斜致測量不準確；采用千分表讀數(shù)，數(shù)值精確度更高；2、千分表可用千分表對零凸臺校準，消除千分表自身誤差，保持長期的準確性；3、活塞體與定位柱的腔體構成活塞結構，當彈簧被壓縮時，腔體內(nèi)的空氣也被壓縮，增加的壓縮抵抗力，提高了測量準確性的同是也能夠提尚彈貪回復力。
【附圖說明】
[0009]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細的說明；
[0010]圖1為本發(fā)明中密封槽深度測量裝置的結構示意圖；
[0011]在圖1中，1、定位柱；2、千分表；3、活動桿；4、活塞體；5、彈簧；6、待測工件；7、底座；8、凸環(huán)；9、支架。
【具體實施方式】
[0012]如圖1所示一種密封槽深度測量裝置的測量方法，密封槽測量裝置包括定位柱1、測量筒、千分表2，定位柱1 一端設有開口，定位柱1另一端設有與定位柱1側壁連接為一體的端壁，定位柱1的開口與端壁之間形成腔體，測量筒包括活動桿3，活動桿3上伸出有置于定位柱1腔體內(nèi)的活塞體4，活塞體4的內(nèi)端面與定位柱1的端壁之間通過彈簧5連接，活動桿3的上端穿過定位柱1的端壁伸出，千分表2的測量頭設置在該活動桿3伸出端的上方并與其接觸，定位柱1的開口端側壁端面形成的環(huán)形端面與待測工件6的環(huán)形密封槽形狀相適應；在彈簧5自然狀態(tài)下，活塞體4的外端面與定位柱1的開口端側壁端面處于同一水平面上。
[0013]測量裝置還包括千分表對零凸臺，千分表對零凸臺包括底座7、由底座7上端面伸出的凸環(huán)8，凸環(huán)8的環(huán)形外壁與定位柱1的開口端的環(huán)形內(nèi)壁形狀相適應，凸環(huán)8的厚度與待測工件6的密封槽深度相同。千分表對零凸臺中部設有貫穿凸環(huán)8、底座7的通孔。千分表2連接在支架9上。
[0014]密封槽深度測量裝置的測量方法包括以下步驟:
[0015]a)將定位柱1開口端部卡在千分表對零凸臺的凸環(huán)8外壁，活動桿3的下端伸入貫穿凸環(huán)8、底座7的通孔中，凸環(huán)8頂起活塞體4，彈簧5收縮，活塞體4帶動活動桿3向上移動，進而推動千分表2測量頭，把千分表2校為零值；
[0016]b)撤下定位柱1，彈簧5復位，活塞體4的外端面與定位柱1的開口端側壁端面重新處于同一水平面上；
[0017]c)將定位柱1開口端部卡在待測工件6的密封槽內(nèi)，活塞體4被待測工件6的端面頂起，彈簧5收縮，活塞體4帶動活動桿3向上移動，進而推動千分表2測量頭，讀出千分表2的讀數(shù)，該讀數(shù)即為待測工件6密封槽的深度和標準件的偏差值。
[0018]用定位柱1的開口端環(huán)形端面與活塞體4下端面平面貼合接觸，定位精度高，定位柱1沿測量筒內(nèi)壁上下滑移，避免了現(xiàn)有測量中因人為因素使測頭偏斜致測量不準確；采用千分表2讀數(shù)，數(shù)值精確度更高。千分表2可用千分表對零凸臺校準，消除千分表2自身誤差，保持長期的準確性；活塞體4與定位柱1的腔體構成活塞結構，當彈簧5被壓縮時，腔體內(nèi)的空氣也被壓縮，增加的壓縮抵抗力，提高了測量準確性的同是也能夠提高彈簧5回復力。
[0019]上面結合附圖對本發(fā)明進行了示例性描述，顯然本發(fā)明具體實現(xiàn)并不受上述方式的限制，只要采用了本發(fā)明的技術方案進行的各種改進，或未經(jīng)改進直接應用于其它場合的，均在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權項】
1.一種密封槽深度測量裝置的測量方法，所述的密封槽深度測量裝置，包括定位柱(1)、測量筒、千分表(2)，所述的定位柱(1) 一端設有開口，定位柱(1)另一端設有與定位柱(1)側壁連接為一體的端壁，定位柱(1)的開口與端壁之間形成腔體，所述的密封槽深度測量筒還包括活動桿(3)，所述的活動桿(3)上伸出有置于所述定位柱(1)腔體內(nèi)的活塞體(4)，所述的活塞體(4)的內(nèi)端面與定位柱(1)的端壁之間通過彈簧(5)連接，所述的活動桿(3)的上端穿過所述的定位柱(1)的端壁伸出，所述的千分表(2)的測量頭設置在該活動桿(3)伸出端的上方并與其接觸，所述的定位柱(1)的開口端側壁端面形成的環(huán)形端面與待測工件(6)的環(huán)形密封槽形狀相適應，在彈簧(5)自然狀態(tài)下，所述的活塞體(4)的外端面與定位柱(1)的開口端側壁端面處于同一水平面上，所述的測量裝置還包括千分表對零凸臺，所述的千分表對零凸臺包括底座(7)、由底座(7)上端面伸出的凸環(huán)(8)，所述的凸環(huán)(8)的環(huán)形外壁與所述的定位柱(1)的開口端的環(huán)形內(nèi)壁形狀相適應，所述的凸環(huán)(8)的厚度與待測工件出)的密封槽深度相同，所述的千分表對零凸臺中部設有貫穿凸環(huán)(8)、底座(7)的通孔，所述的千分表(2)連接在支架(9)上，其特征在于:所述的方法包括以下步驟: a)將定位柱開口端部卡在千分表對零凸臺的凸環(huán)外壁，凸環(huán)頂起活塞體，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，把千分表校為零值； b)撤下定位柱，彈簧復位，活塞體的外端面與定位柱的開口端側壁端面重新處于同一水平面上； c)將定位柱開口端部卡在待測工件的密封槽內(nèi)，活塞體被工件的端面頂起，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，讀出千分表的讀數(shù)，該讀數(shù)即為工件密封槽的深度和標準件的偏差值。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種密封槽深度測量裝置的測量方法，該方法步驟為：將定位柱開口端部卡在千分表對零凸臺的凸環(huán)外壁，凸環(huán)頂起活塞體，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，把千分表校為零值；將定位柱開口端部卡在待測工件的密封槽內(nèi)，活塞體被工件的端面頂起，彈簧收縮，活塞體帶動活動桿向上移動，進而推動千分表測量頭，讀出千分表的讀數(shù)，該讀數(shù)即為工件密封槽的深度和標準件的偏差值。本發(fā)明具有以下優(yōu)點：1、用定位柱的開口端環(huán)形端面與活塞體下端面平面貼合接觸，定位精度高，定位柱沿測量筒內(nèi)壁上下滑移，避免了現(xiàn)有測量中因人為因素使測頭偏斜致測量不準確；采用千分表讀數(shù)，數(shù)值精確度更高。
【IPC分類】G01B5/18
【公開號】CN105352411
【申請?zhí)枴緾N201510693085
【發(fā)明人】張紹平, 劉星, 張雪雁
【申請人】蕪湖恒隆汽車轉向系統(tǒng)有限公司
【公開日】2016年2月24日
【申請日】2015年10月20日