一種微電阻測量設(shè)備及測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電阻測量設(shè)備，具體涉及一種用于對微小電阻進(jìn)行測量的微電阻測量設(shè)備及測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子產(chǎn)品領(lǐng)域，為了保證出廠產(chǎn)品的良率，在產(chǎn)品生產(chǎn)完成后，還需要對產(chǎn)品的電阻值進(jìn)行測量。純金屬電阻值精密測量一般采用傳統(tǒng)的四聯(lián)回路設(shè)備進(jìn)行測量，但是在測量的過程中，傳統(tǒng)的測量設(shè)備對測量點的位置選取不精確，探針的壓力難以控制，其可能會對測量的電阻值產(chǎn)生影響。由于測量產(chǎn)品的電阻值十分微小，只有幾毫歐或零點幾毫歐，為了提高其測量精確度，故一種微電阻測量設(shè)備及測量方法亟待提出。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出了一種微電阻測量設(shè)備及測量方法，該設(shè)備與方法可以快速有效對產(chǎn)品進(jìn)行電阻值的測量，分辨出合格與不合格的產(chǎn)品，減少工人的操作復(fù)雜度，提高其檢測效率。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0005]—種電阻測量設(shè)備，電阻測量設(shè)備包括:滑動平臺、控制裝置以及設(shè)置于滑動平臺上可沿XYZ軸三個方向運動的微電阻測試計，微電阻測試計上設(shè)有一組或多組探針。
[0006]本發(fā)明一種微電阻測量設(shè)備采用滑動平臺上的微電阻測試計對產(chǎn)品進(jìn)行測量?？刂蒲b置控制微電阻測試計沿XY軸運動，可以準(zhǔn)確有效地選取產(chǎn)品上的測量點進(jìn)行測量，同時降低了工作人員的操作復(fù)雜度。而控制裝置控制微電阻測試計沿Z軸運動，可以有效控制微電阻測試計上的探針與產(chǎn)品測量點的壓力，防止兩者接觸不良或探針對產(chǎn)品壓力過大造成損傷，保證探針對產(chǎn)品的測量更精確。
[0007]在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，還可做如下改進(jìn):
[0008]作為優(yōu)選的方案，在滑動平臺上設(shè)置有:Y軸水平組件，包括Υ軸滑塊、Υ軸滑軌以及Υ軸驅(qū)動裝置，Υ軸驅(qū)動裝置驅(qū)動Υ軸滑塊沿Υ軸滑軌運動；χ軸水平組件，設(shè)置于Υ軸滑塊上，包括X軸滑塊、X軸滑軌以及X軸驅(qū)動裝置，X軸驅(qū)動裝置驅(qū)動X軸滑塊沿X軸滑軌運動；ζ軸垂直組件，設(shè)置于X軸滑塊上，包括Ζ軸滑塊、Ζ軸滑軌以及Ζ軸驅(qū)動裝置，微電阻測試計設(shè)置于Ζ軸滑塊上，Ζ軸驅(qū)動裝置驅(qū)動Ζ軸滑塊沿Ζ軸滑軌運動。
[0009]采用上述優(yōu)選的方案，結(jié)構(gòu)簡單，成本低。
[0010]作為優(yōu)選的方案，電阻測量設(shè)備還包括:設(shè)置于滑動平臺上的用于承載或運輸產(chǎn)品的載具。
[0011 ] 采用上述優(yōu)選的方案，便于對產(chǎn)品進(jìn)行承載或運輸。
[0012]作為優(yōu)選的方案，電阻測量設(shè)備還包括溫度傳感器，溫度傳感器與控制裝置電連接。
[0013]采用上述優(yōu)選的方案，溫度傳感器對微電阻測試計對產(chǎn)品進(jìn)行測量時的環(huán)境溫度進(jìn)行測量，對微電阻測試計測量的產(chǎn)品的電阻值進(jìn)行溫度補(bǔ)償，消除環(huán)境溫度對產(chǎn)品電阻的影響，使其檢測更精確。
[0014]作為優(yōu)選的方案，電阻測量設(shè)備還包括調(diào)零母板。
[0015]采用上述優(yōu)選的方案，調(diào)零母板的表面鍍有貴金屬，如:金、銀。傳統(tǒng)的四聯(lián)回路設(shè)備，需要工作人員將每組探針進(jìn)行接觸短接來實現(xiàn)，操作復(fù)雜，一個工作人員難以實現(xiàn)。而本申請采用阻值無限小的調(diào)零母板對微電阻測試計進(jìn)行調(diào)零，操作更便捷。
[0016]作為優(yōu)選的方案，調(diào)零母板水平設(shè)置于Z軸滑軌內(nèi)部空腔中，且調(diào)零母板與母板驅(qū)動裝置連接，母板驅(qū)動裝置驅(qū)動調(diào)零母板運動。
[0017]采用上述優(yōu)選的方案，降低工作人員的操作復(fù)雜度。
[0018]作為優(yōu)選的方案，調(diào)零母板包括正面和背面，正面為金屬檢測面，背面上設(shè)有卡槽，卡槽內(nèi)鉸接有用于支撐調(diào)零模板的支撐腳。
[0019]采用上述優(yōu)選的方案，支撐腳對調(diào)零模板進(jìn)行良好的支撐，保證其調(diào)零更有效。
[0020]一種微電阻測量方法，利用微電阻測量設(shè)備進(jìn)行測量，微電阻測量方法具體包括以下步驟:
[0021]1)利用調(diào)零母板將每組探針進(jìn)行調(diào)零；
[0022]2)將產(chǎn)品設(shè)置于載具上；
[0023]3)控制裝置控制微電阻測試計沿X軸和Y軸兩個方向進(jìn)行運動，到達(dá)產(chǎn)品的上方；
[0024]4)控制裝置控制微電阻測試計沿Z軸向下運動，微電阻測試計的探針與產(chǎn)品的測量點接觸，得到產(chǎn)品的第一電阻值；
[0025]5)溫度傳感器對產(chǎn)品的所處溫度進(jìn)行檢測，并將檢測得到的溫度信號傳遞于控制裝置；
[0026]6)控制裝置對溫度信號進(jìn)行分析，并對第一電阻值進(jìn)行合理補(bǔ)償，得到第二電阻值；
[0027]7)控制裝置對第二電阻值進(jìn)行分析，判斷該產(chǎn)品質(zhì)量是否合格；
[0028]8)重復(fù)步驟3)-步驟7)，選取產(chǎn)品上的不同測量點進(jìn)行測量。
[0029]本發(fā)明一種微電阻測量設(shè)備其可以有效實現(xiàn)對產(chǎn)品電阻值的測量，操作便捷，測量精確。
[0030]作為優(yōu)選的方案，步驟1)具體包括以下步驟:
[0031]1.1)母板驅(qū)動裝置驅(qū)動調(diào)零母板從Z軸滑軌內(nèi)部空腔中伸出；
[0032]1.2)控制裝置控制微電阻測試計沿Z軸方向向下運動，微電阻測試計的每組探針與調(diào)零母板接觸；
[0033]1.3)控制裝置進(jìn)行調(diào)零。
[0034]采用上述優(yōu)選的方案，降低操作人員的勞動強(qiáng)度，檢測效率更高。
[0035]作為優(yōu)選的方案，步驟1.1)還包括:母板驅(qū)動裝置驅(qū)動調(diào)零母板從Z軸滑軌內(nèi)部空腔中伸出；伸出后，工作人員將調(diào)零母板背面的支撐腳轉(zhuǎn)出，對調(diào)零母板進(jìn)行支撐。
[0036]采用上述優(yōu)選的方案，支撐腳對調(diào)零母板進(jìn)行良好的支撐，保證其調(diào)零更有效。
【附圖說明】
[0037]圖1為本發(fā)明實施例提供的微電阻測量設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0038]圖2為本發(fā)明實施例提供的Z軸垂直組件、微電阻測試計以及調(diào)零母板的主視圖。
[0039]圖3為本發(fā)明實施例提供的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)示意圖。
[0040]圖4為本發(fā)明實施例提供的產(chǎn)品俯視圖。
[0041]圖5為本發(fā)明實施例提供的微電阻測量設(shè)備的側(cè)視圖之一。
[0042]圖6為本發(fā)明實施例提供的微電阻測量設(shè)備的側(cè)視圖之二。
[0043]圖7為本發(fā)明實施例提供的微電阻測量設(shè)備的側(cè)視圖之三。
[0044]圖8為本發(fā)明實施例提供的調(diào)零母板背面的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0045]其中:1滑動平臺、11Y軸水平組件、111Y軸滑塊、112Y軸滑軌、12X軸水平組件、121X軸滑塊、122X軸滑軌、13Z軸垂直組件、131Z軸滑塊、132Z軸滑軌、133Z軸驅(qū)動裝置、2微電阻測試計、21探針、3載具、4調(diào)零母板、41卡槽、42支撐腳。
【具體實施方式】
[0046]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實施方式。
[0047]為了達(dá)到本發(fā)明的目的，一種電阻測量設(shè)備及測量方法的其中一些實施例中，
[0048]如圖1和2所示，一種電阻測量設(shè)備，電阻測量設(shè)備包括:滑動平臺1、控制裝置、設(shè)置于滑動平臺1上可沿XYZ軸三個方向運動的微電阻測試計2、用于承載或運輸產(chǎn)品的載具3、溫度傳感器4以及調(diào)零母板5 ;微電阻測試計2上設(shè)有一組四個探針21 ;載具3設(shè)置于滑動平臺1上；溫度傳感器(圖中未示出)與控制裝置電連接；調(diào)零母板4用于對微電阻測試計2進(jìn)行調(diào)零。
[0049]在滑動平臺1上設(shè)置有:Y軸水平組件11、Χ軸水平組件12以及Ζ軸垂直組件13。Υ軸水平組件11包括Υ軸滑塊111、Υ軸滑軌112以及Υ軸驅(qū)動裝置(圖中未示出)，Υ軸驅(qū)動裝置驅(qū)動Υ軸滑塊111沿Υ軸滑軌112運動。X軸水平組件12設(shè)置于Υ軸滑塊111上，包括X軸滑塊121、X軸滑軌122以及X軸驅(qū)動裝置(圖中未示出)，X軸驅(qū)動裝置驅(qū)動X軸滑塊121沿X軸滑軌122運動。Ζ軸垂直組件13設(shè)置于X軸滑塊121上，包括Ζ軸滑塊131、Ζ軸滑軌132以及Ζ軸驅(qū)動裝置133，微電阻測試計2設(shè)置于Ζ軸滑塊131上，Ζ軸驅(qū)動裝置133驅(qū)動Ζ軸滑塊131沿Ζ軸滑軌132運動。
[0050]如圖3和4所示，為