一種功放柵壓的調(diào)節(jié)方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無線通信領(lǐng)域中的射頻功率放大器，尤其涉及一種功放柵壓的調(diào)節(jié)方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]射頻功率放大器單元/模塊是無線通信設(shè)備的主要組成部分，其中，功放管靜態(tài)工作點(diǎn)的合理與否是其正常工作的必要條件，靜態(tài)工作點(diǎn)是通過功放管的柵極電壓大小來進(jìn)行調(diào)節(jié)的。
[0003]功放管的柵壓調(diào)節(jié)有兩種方法:
[0004]一、通過手動(dòng)旋轉(zhuǎn)電位器來調(diào)節(jié)分壓電路，使得分配到功放管的柵極處的電壓達(dá)到所需電壓。但是，這種方式存在穩(wěn)定性差、可生產(chǎn)性差、人為干預(yù)因素較多等不利因素而已被慢慢淘汰；
[0005]二、通過單片機(jī)(MCU)的軟件運(yùn)行，控制數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)的輸出，使得DAC輸出到功放管柵極處的電壓達(dá)到所需電壓。這種方式由于自動(dòng)化程度高、可生產(chǎn)性好、人為干預(yù)因素少等特點(diǎn)得到了普遍應(yīng)用。
[0006]但是，所述第二種實(shí)現(xiàn)方法也存在一些問題:軟件可能會出現(xiàn)異常，比如:程序跑飛或程序錯(cuò)誤等導(dǎo)致DAC的輸出異常。另外，支持軟件所需的硬件，包括MCU、DAC等受外界干擾，使得輸出到功放管的柵壓異常。這些異常將導(dǎo)致射頻功率放大器單元/模塊工作狀態(tài)不正常，嚴(yán)重時(shí)會直接導(dǎo)致功放管的損傷、甚至燒毀，整個(gè)系統(tǒng)也將無法正常工作。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]為解決現(xiàn)有存在的技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種功放柵壓的調(diào)節(jié)方法和裝置。
[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種功放柵壓的調(diào)節(jié)方法，該方法包括:
[0009]系統(tǒng)運(yùn)行過程中，獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值，并將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，如果超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述DAC輸出到功放管的柵壓值恢復(fù)設(shè)置為初始值；或者，
[0010]如果所述外界環(huán)境參數(shù)超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述外界環(huán)境參數(shù)恢復(fù)設(shè)置為正常值。
[0011]其中，所述獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值為:
[0012]對所述外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值進(jìn)行間隔采樣，所述間隔的時(shí)間相同或者不同。
[0013]其中，所述將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，包括:
[0014]基于所述對外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值的間隔采樣獲取的數(shù)值，并利用預(yù)設(shè)的門限值分別對所述外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值進(jìn)行趨勢判斷和上限判斷。
[0015]優(yōu)選的，該方法還包括:
[0016]在所述DAC與功放管之間設(shè)置分壓電阻，所述分壓電阻一端接地，另一端與功放管的柵極相連。
[0017]優(yōu)選的，該方法還包括:
[0018]在所述DAC與功放管之間設(shè)置穩(wěn)壓二極管，所述穩(wěn)壓二極管正極接地，負(fù)極與功放管的柵極相連。
[0019]優(yōu)選的，該方法還包括:
[0020]在所述DAC與功放管之間設(shè)置電壓比較器，所述電壓比較器的兩個(gè)輸入電壓分別為DAC輸出的參考電壓以及到達(dá)功放管的柵極電壓，輸出端與MCU相連。
[0021]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種功放柵壓的調(diào)節(jié)裝置，包括:MCU、DAC和功放管；所述MCU包括:獲取模塊、比較模塊和運(yùn)行模塊；其中，
[0022]所述獲取模塊，用于系統(tǒng)運(yùn)行過程中，獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值；
[0023]所述比較模塊，用于將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，并將所述比較結(jié)果通知所述運(yùn)行模塊；
[0024]所述運(yùn)行模塊，用于確定所述比較結(jié)果超過預(yù)設(shè)的門限值時(shí)，將所述DAC輸出到功放管的柵壓值恢復(fù)設(shè)置為初始值；或者，用于確定所述外界環(huán)境參數(shù)超過預(yù)設(shè)的門限值時(shí)，將所述外界環(huán)境參數(shù)恢復(fù)設(shè)置為正常值。
[0025]優(yōu)選的，該裝置還包括:所述DAC與所述功放管之間設(shè)置的分壓電阻，所述分壓電阻一端接地，另一端與所述功放管的柵極相連。
[0026]優(yōu)選的，該裝置還包括:所述DAC與所述功放管之間設(shè)置的穩(wěn)壓二極管，所述穩(wěn)壓二極管正極接地，負(fù)極與所述功放管的柵極相連。
[0027]優(yōu)選的，該裝置還包括:所述DAC與功放管之間設(shè)置的電壓比較器，所述電壓比較器的兩個(gè)輸入端分別與DAC以及功放管的柵極相連，輸出端與MCU相連。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例提供的功放柵壓的調(diào)節(jié)方法和裝置，系統(tǒng)運(yùn)行過程中，獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值，并將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，如果超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述DAC輸出到功放管的柵壓值恢復(fù)設(shè)置為初始值；或者，如果所述外界環(huán)境參數(shù)超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述外界環(huán)境參數(shù)恢復(fù)設(shè)置為正常值。本發(fā)明實(shí)施例根據(jù)外界環(huán)境的變化和/或DAC輸出到功放管的柵壓值的變化自動(dòng)調(diào)整DAC輸出到功放管的柵壓，使得射頻功率放大器單元/模塊的功放管的柵極電壓工作在正常工作范圍，避免在設(shè)備出現(xiàn)異常時(shí)，或硬件受到外界干擾或其他異常時(shí)功放管的柵極電壓出現(xiàn)異常，從而保證系統(tǒng)的正常工作。
【附圖說明】
[0029]在附圖(其不一定是按比例繪制的)中，相似的附圖標(biāo)記可在不同的視圖中描述相似的部件。具有不同字母后綴的相似附圖標(biāo)記可表示相似部件的不同示例。附圖以示例而非限制的方式大體示出了本文中所討論的各個(gè)實(shí)施例。
[0030]圖1為本發(fā)明實(shí)施例所述功放柵壓的調(diào)節(jié)方法流程示意圖；
[0031]圖2為本發(fā)明實(shí)施例所述設(shè)置有分壓電阻的柵壓調(diào)節(jié)電路示意圖；
[0032]圖3為本發(fā)明實(shí)施例所述設(shè)置有穩(wěn)壓二極管的柵壓調(diào)節(jié)電路示意圖；
[0033]圖4為本發(fā)明實(shí)施例所述設(shè)置有電壓比較器的柵壓調(diào)節(jié)電路示意圖；
[0034]圖5為本發(fā)明實(shí)施例所述的功放柵壓調(diào)節(jié)裝置中的MCU的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0035]本發(fā)明的實(shí)施例中，系統(tǒng)運(yùn)行過程中，獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值，并將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，如果超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述DAC輸出到功放管的柵壓值恢復(fù)設(shè)置為初始值；或者，如果所述外界環(huán)境參數(shù)超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述外界環(huán)境參數(shù)恢復(fù)設(shè)置為正常值。
[0036]下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0037]圖1為本發(fā)明實(shí)施例所述功放柵壓的調(diào)節(jié)方法流程示意圖，如圖1所示，該方法包括:
[0038]步驟101:系統(tǒng)運(yùn)行過程中，獲取外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值；
[0039]具體的，在系統(tǒng)運(yùn)行過程中，可通過內(nèi)部(單板中)的多個(gè)傳感器或系統(tǒng)內(nèi)部通信獲取外界環(huán)境參數(shù)，例如:溫度參數(shù)、頻率參數(shù)、功率參數(shù)、載波形式參數(shù)，如:幾載波，以及信號質(zhì)量參數(shù)等，對于環(huán)境參數(shù)，可采用如下采樣方法:對外界環(huán)境參數(shù)進(jìn)行間隔采樣，所述間隔的時(shí)間相同或者不同。對于DAC輸出到功放管的柵壓值，也可采用間隔采樣的方法進(jìn)行獲取，間隔的時(shí)間相同或者不同。
[0040]這里，進(jìn)行外界環(huán)境參數(shù)的獲取時(shí)，例如對溫度進(jìn)行采樣時(shí)，可在同一時(shí)刻對多個(gè)傳感器進(jìn)行溫度測量。
[0041]步驟102:將所述外界環(huán)境參數(shù)和/或所述柵壓值與預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行比較，如果超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述DAC輸出到功放管的柵壓值恢復(fù)設(shè)置為初始值；或者，如果所述外界環(huán)境參數(shù)超過預(yù)設(shè)的門限值，則將所述外界環(huán)境參數(shù)恢復(fù)設(shè)置為正常值；
[0042]這里，基于上述對外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值的間隔采樣獲取的數(shù)值，并利用預(yù)設(shè)的門限值分別對所述外界環(huán)境參數(shù)和/或DAC輸出到功放管的柵壓值進(jìn)行趨勢判斷和上限判斷，具體的，
[0043]對于利用預(yù)設(shè)的門限值進(jìn)行的趨勢判斷，為:對相鄰或不同間隔間的外界環(huán)境的采樣數(shù)值進(jìn)行做差處理，將差值與預(yù)設(shè)的門限值，如:已