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用于檢測壓板缺陷的設(shè)備及方法

文檔序號:9726284閱讀:717來源:國知局
用于檢測壓板缺陷的設(shè)備及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明大體設(shè)及一種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備及方法。更具體地,本發(fā)明設(shè)及一 種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備及方法,用于利用在制造該板的壓力加工期間發(fā)出的彈性波信 號確定對應(yīng)的板是否是有缺陷的。
【背景技術(shù)】
[0002] 為了評估材料或產(chǎn)品的堅固性,經(jīng)常使用不會影響材料或形狀W及尺寸的無損檢 查。無損檢查的例子包括肉眼檢查、超聲波檢查、福射檢查和聲檢查。在上面所列的例子中, 肉眼檢查是運樣一種方法,其用于通過獨立的視覺檢查檢驗是否有異常,例如是否有缺陷 或元件是否變形,并且用于通過檢查員利用如放大鏡之類的設(shè)備觀察檢查對象來確定是否 存在缺陷。肉眼檢查不需要很多檢查裝置,因而可W簡單地執(zhí)行該方法;然而,該方法需要 檢查員具有足夠的知識和能力W執(zhí)行該檢查。利用肉眼檢查能夠確定壓板是否是有缺陷 的,并且通過站在用于反射W預(yù)定速度經(jīng)過的檢測對象的上下表面的兩個反射鏡前面的檢 查員交替地監(jiān)測該兩個反射鏡,來檢查檢測對象是否是有缺陷的。
[0003] 此外,超聲波檢查利用施加于檢測對象的超聲波束在出現(xiàn)內(nèi)部缺陷之處反射的特 性,來檢查檢測對象的內(nèi)部是否是有缺陷的??蒞利用反射的超聲波能量的強度和反射時 間來獲得關(guān)于是否存在缺陷及缺陷的位置的信息。
[0004] 另一方面,經(jīng)常利用使用X射線或放射性同位素檢查產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷的福射檢查 來檢測焊接區(qū)或鑄件的缺陷,或者根據(jù)通過福射照射檢測對象獲得的射線攝影圖像上福射 強度的變化來檢查缺陷。雖然福射檢查是在韓國最常使用的無損檢查技術(shù),但是在用于缺 陷檢測的檢查期間發(fā)射的福射量是5mSv,對應(yīng)于醫(yī)院中X射線檢查所使用的福射的50倍。因 此,在檢測期間檢查員有暴露在福射中的風(fēng)險,因此需要特別注意。
[0005] 最后,聲檢查利用在固體材料變形或破壞時產(chǎn)生的彈性波信號來檢查缺陷。在聲 檢查中,一邊在將彈性應(yīng)力施加于檢測對象一邊檢查是否有缺陷??蒞將多個聲發(fā)射傳感 器安裝在檢測對象中,經(jīng)由收集的信號評估裂紋起始部位,并且可W解釋各種信息項,如裂 紋的形狀或程度。特別地,聲檢查與其他無損檢查相比能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍的檢查,并且還能夠 實現(xiàn)在設(shè)備或結(jié)構(gòu)使用時的檢查。此外,聲檢查能夠?qū)崿F(xiàn)實時測量,并且檢測缺陷位置。然 而,通過聲發(fā)射傳感器收集的信號需要依賴于檢查者的經(jīng)驗進行解釋,并且本底噪聲的處 理特別影響檢查精度。
[0006] 上面【背景技術(shù)】章節(jié)中公開的信息僅用于增進對本發(fā)明背景的理解,因此,其包含 不構(gòu)成在本國中對本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明致力于提供一種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備和方法,優(yōu)點在于:使用在制造 該板的壓力加工期間發(fā)射的彈性波信號來確定是否存在對應(yīng)板的缺陷。
[000引根據(jù)本發(fā)明的實施方式,一種用于檢測壓板缺陷的設(shè)備,所述設(shè)備包括:聲發(fā)射傳 感器單元,所述聲發(fā)射傳感器單元配置成檢測在壓力加工期間從作為檢測對象的所述壓板 發(fā)射的至少一個彈性波信號;周期測量器,所述周期測量器配置成測量作為在至少一個檢 測到的信號之中具有大于闊值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的區(qū)段的周期;W及缺陷存在確 定單元,所述缺陷存在確定單元配置成當測量出的周期大于第一參考值時確定在所述壓板 中產(chǎn)生了缺陷,W及當測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于正常狀態(tài),其中 所述第二參考值小于所述第一參考值。
[0009] 可W使用從多個作為比較對象的壓板預(yù)先測量的周期值,確定所述第一參考值和 所述第二參考值,并且所述第一參考值和第二參考值可W是指所述比較對象中產(chǎn)生缺陷的 壓板的周期和所述比較對象中處于正常狀態(tài)的壓板的周期的分布上的邊界線的值。
[0010] 所述設(shè)備還可W包括:提取器,所述提取器配置成從至少一個檢測信號提?。篿)具 有大于闊值電壓的輸出電壓的脈沖數(shù)、ii)作為具有大于闊值電壓的輸出電壓的脈沖的面 積總和的能量、W及iii)在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率中的至少一個參數(shù)。
[0011] 所述缺陷存在確定單元可W進一步配置成當測量出的周期具有所述第一參考值 和第二參考值之間的值時,使用所提取的至少一個參數(shù)確定所述壓板是否是有缺陷的。
[0012] 所述缺陷存在確定單元可W進一步配置成:當在所提取的參數(shù)中所述脈沖數(shù)和所 述能量大于參考數(shù)時,確定在對應(yīng)壓板中產(chǎn)生了缺陷,W及當在所述周期期間產(chǎn)生的平均 頻率低于參考數(shù)時確定在對應(yīng)壓板中產(chǎn)生了缺陷。
[0013] 另外,根據(jù)本發(fā)明的實施方式,一種用于使用壓板缺陷檢測設(shè)備檢測缺陷的方法, 所述方法包括W下步驟:檢測在壓力加工期間從作為檢測對象的壓板發(fā)射的至少一個彈性 波信號;測量作為在至少一個檢測到的信號之中具有大于闊值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn) 的區(qū)段的周期;當測量出的周期大于第一參考值時確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷;W及當 測量出的周期小于第二參考值時確定所述壓板處于正常狀態(tài),所述第二參考值小于所述第 一參考值。
[0014] 可W使用從多個作為比較對象的壓板預(yù)先測量的周期值,確定所述第一參考值和 所述第二參考值,并且所述第一參考值和第二參考值可W是指所述比較對象中產(chǎn)生缺陷的 壓板的周期和所述比較對象中處于正常狀態(tài)的壓板的周期的分布上的邊界線的值。
[0015] 所述方法還可W包括W下步驟:從至少一個檢測信號提取:i)具有大于闊值電壓 的輸出電壓的脈沖數(shù)、ii)作為具有大于闊值電壓的輸出電壓的脈沖的面積總和的能量、W 及iii)在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率中的至少一個參數(shù)。
[0016] 確定產(chǎn)生了缺陷的步驟可W包括:當測量出的周期具有所述第一參考值和第二參 考值之間的值時,使用所提取的至少一個參數(shù)確定所述壓板是否是有缺陷的。
[0017] 確定產(chǎn)生了缺陷的步驟還可W包括:當在所提取的參數(shù)中所述脈沖數(shù)和所述能量 大于參考數(shù)時,確定在對應(yīng)壓板中產(chǎn)生了缺陷;W及當在所述周期期間產(chǎn)生的平均頻率低 于參考數(shù)時確定在對應(yīng)壓板中產(chǎn)生了缺陷。
[0018] 另外,根據(jù)本發(fā)明的實施方式,一種包含用于檢測壓板的缺陷的程序指令的非暫 時性計算機可讀介質(zhì),所述計算機可讀介質(zhì)包括:測量作為在至少一個彈性波信號之中具 有大于闊值電壓的電壓的連續(xù)信號出現(xiàn)的區(qū)段的周期的程序指令,所述至少一個彈性波信 號在壓力加工期間從作為檢測對象檢測的壓板發(fā)射來;當測量出的周期大于第一參考值時 確定在所述壓板中產(chǎn)生了缺陷的程序指令;W及當測量出的周期小于第二參考值時確定所 述壓板處于正常狀態(tài)的程序指令,所述第二參考值小于所述第一參考值。
[0019] 因此,根據(jù)本發(fā)明,使用用于檢測壓板的缺陷的設(shè)備和方法,來簡單地檢測在壓力 加工期間產(chǎn)生的缺陷,并且關(guān)于缺陷確定不明確的檢測對象,使用參數(shù)更精確地確定是否 產(chǎn)生缺陷。
【附圖說明】
[0020] 圖1是表示根據(jù)本發(fā)明實施方式的壓板缺陷檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。
[0021] 圖2是解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的用于檢測壓板缺陷方法的流程圖。
[0022] 圖3是表示在根據(jù)本發(fā)明實施方式的操作S210中所接收的信號的圖。
[0023] 圖4是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的操作S220和S250的圖。
[0024] 圖5是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的操作S230和S240的圖。
[0025] 圖6A和圖6B是用于解釋根據(jù)本發(fā)明實施方式的操作S260的圖 [00%]附圖標記說明
[0027] 100:壓板缺陷檢測設(shè)備
[002引110:聲發(fā)射傳感器單元
[0029] 120:周期測量器
[0030] 130:缺陷存在確定單元
[003。 140:提取器
【具體實施方式】
[0032] 下文中參照附圖更全面地描述本發(fā)明,其中表示本發(fā)明的示范性實施方式。本領(lǐng) 域技術(shù)人員可W認識到,所描述的實施方式可W在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下W 不同的方式改進。因此,將附圖及描述認為實質(zhì)上是說明性的,而非限制性的。貫穿說明書, 相同的附圖標記指示相同的元件。
[0033] 在此使用的術(shù)語僅用于描述特定實施方式的目的,而非是為了限制本發(fā)明。如在 此使用的,單數(shù)形式"一"、"一個"和"該"也包括復(fù)數(shù)形式,除非上下文清楚另有指示??蒞 進一步理解:在本說明書中使用的術(shù)語"包括"和/或"包含"指定規(guī)定特征、整數(shù)、步驟、操 作、元件和/或組件的存在,但不排除一個或多個其他特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件和/ 或其組合的存在或增加。如在此使用的,術(shù)語"和/或"包括一個或多個相關(guān)所列項的任意和 所有組合。
[0034] 可W理解,可W通過至少一個控制單元執(zhí)行一個或多個下面的方法或其方面。術(shù) 語"控制單元"指的是包括存儲器和處
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