色譜數(shù)據(jù)處理裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種顯示判定在色譜的峰中是否含有雜質(zhì)的結(jié)果的數(shù)據(jù)處理裝置，所 述色譜是對包含經(jīng)色譜儀，特別是經(jīng)液相色譜儀(LC)的管柱分離的成分的試料或通過流動 注射(flow injection)法而導(dǎo)入的試料進(jìn)行分光分析而獲得。
【背景技術(shù)】
[0002] 在使用光電二極管陣列(Photo Diode Array，PDA)檢測器等多通道型檢測器作為 檢測器的液相色譜儀中，通過以試料向移動相的注入時(shí)點(diǎn)為基點(diǎn)，對來自管柱的溶出液反 復(fù)獲取吸光度光譜，可獲得具有時(shí)間、波長及吸光度的三個維度的三維色譜數(shù)據(jù)。圖9是這 種三維色譜數(shù)據(jù)的示意圖。通過從所述三維色譜數(shù)據(jù)之中提取特定波長下的時(shí)間-吸光度 數(shù)據(jù)，可以制作所述特定波長下的色譜(波長色譜）。并且，通過從所述三維色譜數(shù)據(jù)之中提 取在特定時(shí)點(diǎn)的波長-吸光度數(shù)據(jù)，也可以制作在所述時(shí)點(diǎn)的吸光度光譜。
[0003] 在這樣的液相色譜儀中，進(jìn)行已知的目標(biāo)成分的定量分析時(shí)，通常是求出與所述 目標(biāo)成分相對應(yīng)的吸收波長下的波長色譜，對所述色譜中出現(xiàn)的來源于目標(biāo)成分的峰的面 積(或高度)對照校準(zhǔn)曲線而算出定量值。
[0004]在如上所述對目標(biāo)成分進(jìn)行定量時(shí)，如果波長色譜中出現(xiàn)的峰只來源于所述目標(biāo) 成分，則不存在問題。但是，峰不一定來源于單一成分（目標(biāo)成分），而經(jīng)常存在含有分析者 不想要的雜質(zhì)（即，目標(biāo)成分以外的成分）的情況。因此，從先前以來，進(jìn)行調(diào)查色譜中所出 現(xiàn)的某個峰是否只來源于目標(biāo)成分或者是否含有雜質(zhì)的峰純度判定處理。
[0005] 例如在專利文獻(xiàn)1及2中，揭示了從具有時(shí)間、波長及吸光度的三個維度的三維色 譜數(shù)據(jù)獲得的色譜中的峰純度判定處理的方法。
[0006] 在專利文獻(xiàn)1所揭示的方法中，將與目標(biāo)成分相對應(yīng)的吸收波長下的波長色譜中 目標(biāo)峰的峰頂點(diǎn)所對應(yīng)的時(shí)間T0下的吸光度光譜設(shè)為S0(A)，將其前后的任意的時(shí)間T下的 吸光度光譜設(shè)為S(A)，通過以下的（1)式，算出S0(A)與S(A)的一致度P。
[0007] [數(shù)式 1]
[0008]
[0009] 然后，如圖10所示，以一致度P如果為1.0~0.8則稱為綠色，如果為0.8~0.6則稱 為黃色，如果為0.6以下則稱為橙色的方式，利用與其峰頂點(diǎn)的一致度P所對應(yīng)的顏色（圖中 以影線來表現(xiàn))沿時(shí)間軸方向?qū)⒛繕?biāo)峰加以分割顯示。當(dāng)目標(biāo)峰只來源于目標(biāo)成分時(shí)，如圖 10(a)所示，一致度P在峰頂點(diǎn)附近高，越遠(yuǎn)離峰頂點(diǎn)越低，所述經(jīng)分割顯示的形狀夾著峰的 中心軸而大致成左右對稱。與此相對，當(dāng)在目標(biāo)峰的峰頂點(diǎn)之前或之后存在其它峰時(shí)（即， 當(dāng)目標(biāo)峰含有雜質(zhì)時(shí)），包含其它峰的時(shí)間范圍的一致度P下降，因此在目標(biāo)峰的峰頂點(diǎn)之 前或之后一致度P不同。例如在圖10(b)所示的示例中，夾著峰頂點(diǎn)，與左側(cè)相比右側(cè)(時(shí)間 上為后側(cè)）的一致度P較低，經(jīng)分割顯示的形狀呈左右非對稱。由此，可判斷為在其附近的時(shí) 間范圍內(nèi)含有雜質(zhì)的可能性高（以下，將所述方法稱為"一致度判定法"）。
[0010] 在專利文獻(xiàn)2所揭示的方法中，利用三維色譜數(shù)據(jù)制作與目標(biāo)成分相對應(yīng)的吸收 波長下的波長色譜，在所述波長色譜中的來源于目標(biāo)成分的目標(biāo)峰的起點(diǎn)至終點(diǎn)的時(shí)間范 圍內(nèi)，針對各時(shí)點(diǎn)的吸光度光譜求出目標(biāo)成分的吸光度光譜的極大或極小吸收波長下的微 分系數(shù)。當(dāng)在目標(biāo)峰中只含有目標(biāo)成分時(shí)所述微分系數(shù)為零，而當(dāng)在目標(biāo)峰中含有雜質(zhì)時(shí) 所述微分系數(shù)則成為零以外的值。因此，揭示了如下方法:制作表示所述微分系數(shù)的時(shí)間變 化的色譜（以下，將所述色譜稱為"微分色譜"），當(dāng)在所述波形中出現(xiàn)峰時(shí)（圖11的虛線）判 定為含有雜質(zhì)（以下，將所述方法稱為"微分光譜法"）。
[0011] 現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn) [0012]專利文獻(xiàn)
[0013] 專利文獻(xiàn)1:日本專利第2936700號公報(bào)
[0014] 專利文獻(xiàn)2:國際公開W02013/035639號 [0015]非專利文獻(xiàn)
[0016]非專利文獻(xiàn)1:水戶康敬、北岡光夫著《島津HPLC用光電二極管陣列UV-VIS檢測器 SH)-M6A》島津評論第46卷第1期，21-28頁，1989

【發(fā)明內(nèi)容】

[0017]發(fā)明所要解決的問題
[0018] 在專利文獻(xiàn)1所述的一致度判定法中，以在與目標(biāo)峰的峰頂點(diǎn)相對應(yīng)的時(shí)間To下 的吸光度光譜為基準(zhǔn)，計(jì)算出與峰頂點(diǎn)的前后的吸光度光譜的一致度P。因此，當(dāng)在緊鄰峰 頂點(diǎn)的附近存在雜質(zhì)峰時(shí)，無法正確地判定雜質(zhì)的存在。
[0019] 另一方面，在專利文獻(xiàn)2所述的微分光譜法中，當(dāng)在目標(biāo)成分的吸光度光譜的微分 值為零的波長下雜質(zhì)的吸光度光譜的微分值也為零時(shí)，在微分色譜中不會出現(xiàn)雜質(zhì)的峰， 因此無法檢測雜質(zhì)。
[0020] 如上所述，已提出有若干個判定在目標(biāo)峰中是否含有雜質(zhì)的方法，但是根據(jù)目標(biāo) 成分的吸收波長與雜質(zhì)的吸收波長的關(guān)系，有時(shí)無法正確地檢測雜質(zhì)的存在。
[0021] 再者，在這里，是列舉將其中一者設(shè)為目標(biāo)成分，將另一者設(shè)為雜質(zhì)的情況為例進(jìn) 行說明，但是也可以替換成在包含兩個以上的目標(biāo)成分的試料的色譜中，判定目標(biāo)峰中所 含的成分為單一成分還是多個成分的情況。
[0022] 本發(fā)明是為了解決所述問題而完成的，其目的在于提供一種可容易地判定在來源 于目標(biāo)成分的目標(biāo)峰中是否含有雜質(zhì)的色譜數(shù)據(jù)處理裝置。
[0023]解決問題的技術(shù)手段
[0024]為了解決所述問題而完成的本發(fā)明的色譜數(shù)據(jù)處理裝置的特征在于包括：
[0025] a)三維數(shù)據(jù)存儲部，存儲將時(shí)間、波長及吸光度作為維度的三維色譜數(shù)據(jù)；
[0026] b)波長色譜制作部，從所述三維色譜數(shù)據(jù)之中，提取目標(biāo)成分的吸收波長即特定 波長下的數(shù)據(jù)，制作表示所述特定波長下的時(shí)間與吸光度的關(guān)系的波長色譜；
[0027] c)峰檢測部，對所制作的所述波長色譜的峰進(jìn)行檢測；
[0028] d)雜質(zhì)檢測部，利用基于所述三維色譜數(shù)據(jù)的兩個以上的檢測方法，檢測在檢測 到的所述峰中有無雜質(zhì)；以及
[0029] e)顯示部，將通過所述兩個以上的檢測方法而獲得的用于雜質(zhì)檢測的曲線圖與所 述波長色譜重合地加以顯示。
[0030] 再者，在這里所謂的"兩個以上的檢測方法"中，包括檢測原理相同但所使用的參 數(shù)不同的情況。具體而言，例如，當(dāng)如下所述，在微分光譜法中所使用的波長(微分波長)不 同時(shí)，作為不同的檢測方法來處理。
[0031] 根據(jù)本發(fā)明的色譜數(shù)據(jù)處理裝置，目標(biāo)成分的吸收波長即特定波長下的峰中的雜 質(zhì)的有無是通過利用兩個以上的檢測方法對所存儲的三維色譜數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析來進(jìn)行 檢測，將作為其結(jié)果而制作的兩個以上的用于雜質(zhì)檢測的曲線圖與所述特定波長下的色譜 重合地顯示在顯示部中。在這里，所述兩個以上的曲線圖既可以全部同時(shí)與特定波長色譜 重疊顯示，也可以設(shè)為通過操作員的指定來使任意的兩個以上的曲線圖重疊顯示。
[0032]本發(fā)明的色譜數(shù)據(jù)處理裝置理想的是更包括：
[0033] f)輸入部，用于選擇在所述雜質(zhì)檢測部中使用的所述兩個以上的檢測方法，或者 輸入在所述兩個以上的檢測方法中設(shè)定的參數(shù)(以下，稱為"設(shè)定參數(shù)"）。
[0034]所述兩個以上的檢測方法理想的是選自于由一致度判定法、微分光譜法、純凈度 判定法所組成的群組。如上所述，一致度判定法是計(jì)算在所述波長色譜中的目標(biāo)峰的峰頂 點(diǎn)所對應(yīng)的時(shí)間To下的吸光度光譜、與在其前后的任意的時(shí)間T下的吸光度光譜的一致度 的方法。微分光譜法是針對吸光度光譜求出目標(biāo)成分的極大或極小吸收波長下的波長方向 上的微分系數(shù)，當(dāng)在表示所述微分系數(shù)的時(shí)間變化的微分色譜的波形中出現(xiàn)峰時(shí)判定為含 有雜質(zhì)的方法。純凈度判定法的詳細(xì)情況將在后文描述，它是通過對所述目標(biāo)峰上的光譜 與參考光譜的相似度和考慮到噪聲成分的相似度的閾值進(jìn)行比較來判定雜質(zhì)的有無的方 法。
[0035]并且，設(shè)定參數(shù)例如是用于制作波長色譜的目標(biāo)成分的一個吸收波長即特定波 長、或微分光譜法中所需要的目標(biāo)成分的極大或極小吸收波長等。
[0036]發(fā)明的效果
[0037] 根據(jù)本發(fā)明的色譜數(shù)據(jù)處理裝置，利用兩個以上的檢測方法來檢測雜質(zhì)的有無， 將其結(jié)果獲得的用于檢測兩個以上的雜質(zhì)的有無的曲線圖與目標(biāo)成分的吸收波長即特定 波長的波長色譜重合地顯示在顯示部中。即使在利用一個檢測方法未檢測到雜質(zhì)的存在的 情況下，有時(shí)通過其它檢測方法也可以辨識出雜質(zhì)的存在，因此能夠更可靠地進(jìn)行在目標(biāo) 色譜峰中是否存在雜質(zhì)的判斷。
【附圖說明】
[0038] 圖1是包含本發(fā)明的第1實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置的液相色譜儀的概略構(gòu)成圖。 [0039]圖2是表示同實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置中的峰純度判定處理動作的流程圖。
[0040] 圖3是表示同實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置中的制作用于雜質(zhì)檢測的曲線圖的動作 的流程圖。
[0041] 圖4是表示純凈度判定法中的用于檢測有無雜質(zhì)的曲線圖（純凈度曲線）的一例的 圖。
[0042]圖5是表示第1實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置的處理結(jié)束后的顯示部的顯示的一例 的圖。
[0043] 圖6是表示第2實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置中的峰純度判定處理動作的流程圖。
[0044] 圖7是表示同實(shí)施例的色譜數(shù)據(jù)處理裝置中的制作用于雜質(zhì)檢測的曲線圖的動作 的流程圖。
[0045]圖8是表示同實(shí)施例的色譜數(shù)