三角形等。磁性底座3通過連接桿2與立方體I的第四面固定連接，第四面與第二面12相對。
[0030]利用該輔助裝置進行點云拼接時，包括如下步驟:
[0031]定位步驟:將產(chǎn)品4放置在工作臺5上，產(chǎn)品4上被工作臺5遮擋的部位為遮蔽部位；將磁性底座3吸附在產(chǎn)品4上，使第一面11、第二面12以及第三面13位于掃描范圍內(nèi)。
[0032]作為一個實施例，如圖2所示，產(chǎn)品4為立方體狀，其底面為A面(即遮蔽部位)，右側面為B面，頂面為C面，左側面為D面，后側面為E面，前側面為F面。此時，立方體I的第一面11為頂面，第二面12為右側面，第三面13為前側面。
[0033]第一檢測步驟:使三維掃描儀掃描產(chǎn)品4上暴露于工作臺5之外的表面以及第一面
I1、第二面12以及第三面13(包括凸臺111、凸臺121以及凸臺131)，形成第一點云數(shù)據(jù)。
[0034]旋轉步驟:將產(chǎn)品4和輔助裝置一起旋轉一定的角度，使產(chǎn)品4的遮蔽部位暴露于工作臺5之外，并且第一面11、第二面12以及第三面13位于掃描范圍內(nèi)。
[0035]優(yōu)選地，將產(chǎn)品4和輔助裝置一起水平翻轉180°。如圖3所述，旋轉后，產(chǎn)品4的A面(遮蔽部位)朝上，暴露于工作臺5外，同時B面、D面、E面、F面也暴露于工作臺5外，C面與工作臺接觸，未暴露于工作臺5外。此時，立方體I的第一面11為底面，第二面12為右側面，第三面13為后側面。
[0036]第二檢測步驟:使三維掃描儀掃描遮蔽部位的表面以及第一面11、第二面13以及第三面13(包括凸臺111、凸臺121以及凸臺131)，形成第二點云數(shù)據(jù)；如圖3所示，在該步驟中，檢測產(chǎn)品4的A面以及第一面11、第二面13以及第三面13。
[0037]拼接步驟:在第一云數(shù)據(jù)和第二云數(shù)據(jù)中尋找第一面11、第二面13以及第三面13上的共同點的數(shù)據(jù)作為參考，從而將第一點數(shù)據(jù)和第二點數(shù)據(jù)拼接起來。優(yōu)選地，選擇凸臺
II1、凸臺121以及凸臺131上的共同點的數(shù)據(jù)作為參考。優(yōu)選地，選擇凸臺111的凸臺面、凸臺121的凸臺面、凸臺131的凸臺面的圓心(對圓形而言)或幾何中心(對正方形、長方形或三角形而言，如中心、中心等)的數(shù)據(jù)作為參考。
[0038]本發(fā)明無需對已掃描部位進行二次掃描，而是對體積較小的立方體的三個面進行二次掃描，由于掃描面積小，可使效率提高50%左右;利用立方體上的凸臺作為參考點對點云進行拼接，很容易找到參考點，并且由于凸臺面的形狀規(guī)則，參考點的點云數(shù)據(jù)穩(wěn)定，大大降低了點云拼接的誤差;該輔助裝置結構簡單，成本低廉，操作方便快捷。
[0039]前述對本發(fā)明的具體示例性實施方案的描述是為了說明和例證的目的。這些描述并非想將本發(fā)明限定為所公開的精確形式，并且很顯然，根據(jù)上述教導，可以進行很多改變和變化。對示例性實施例進行選擇和描述的目的在于解釋本發(fā)明的特定原理及其實際應用，從而使得本領域的技術人員能夠?qū)崿F(xiàn)并利用本發(fā)明的各種不同的示例性實施方案以及各種不同的選擇和改變。本發(fā)明的范圍意在由權利要求書及其等同形式所限定。
【主權項】
1.一種三維掃描儀的點云拼接的輔助裝置，其特征在于，所述輔助裝置包括: 立方體，所述立方體上的三個相互垂直的平面分別為第一面、第二面和第三面；以及 磁性底座，所述磁性底座通過連接桿與所述立方體的第四面固定連接，所述第四面與所述第二面相對，并且所述磁性底座與產(chǎn)品吸附在一起。2.根據(jù)權利要求1所述的三維掃描的點云拼接的輔助裝置，其特征在于，所述第一面、所述第二面和所述第三面上分別設有兩個凸臺。3.根據(jù)權利要求2所述的三維掃描的點云拼接的輔助裝置，其特征在于，所述凸臺的凸臺面為圓形、正方形或長方形。4.一種三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，包括如下步驟: 準備步驟:準備輔助裝置，所述輔助裝置包括固定連接的立方體和磁性底座，所述立方體上的三個相互垂直的平面分別為第一面、第二面和第三面； 定位步驟:將產(chǎn)品放置在工作臺上，所述產(chǎn)品上被所述工作臺遮擋的部位為遮蔽部位；將所述磁性底座吸附在產(chǎn)品上，使所述第一面、所述第二面以及所述第三面位于掃描范圍內(nèi)； 第一檢測步驟:使所述三維掃描儀掃描所述產(chǎn)品上暴露于所述工作臺之外的表面以及所述第一面、所述第二面以及所述第三面，形成第一點云數(shù)據(jù)； 旋轉步驟:將所述產(chǎn)品和所述輔助裝置一起旋轉一定的角度，使所述遮蔽部位暴露于所述工作臺之外，并且所述第一面、所述第二面以及所述第三面位于掃描范圍內(nèi)； 第二檢測步驟:使所述三維掃描儀掃描所述遮蔽部位的表面以及所述第一面、所述第二面以及所述第三面，形成第二點云數(shù)據(jù)； 拼接步驟:在所述第一云數(shù)據(jù)和所述第二云數(shù)據(jù)中尋找所述第一面、所述第二面以及所述第三面上的共同點的數(shù)據(jù)作為參考，從而將所述第一點數(shù)據(jù)和所述第二點數(shù)據(jù)拼接起來。5.根據(jù)權利要求4所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述旋轉步驟中，將所述產(chǎn)品和所述輔助裝置水平旋轉180°。6.根據(jù)權利要求4或5所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述第一面、所述第二面和所述第三面上分別設有兩個凸臺，所述拼接步驟中，在所述第一云數(shù)據(jù)和所述第二云數(shù)據(jù)中尋找所述第一面、所述第二面和所述第三面的凸臺上的共同點的數(shù)據(jù)作為參考，從而將所述第一點數(shù)據(jù)和所述第二點數(shù)據(jù)拼接起來。7.根據(jù)權利要求6所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述凸臺的凸臺面為圓形。8.根據(jù)權利要求7所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述拼接步驟中，在所述第一云數(shù)據(jù)和所述第二云數(shù)據(jù)中尋找所述第一面、所述第二面以及所述第三面的凸臺的凸臺面的圓心的數(shù)據(jù)作為參考，從而將所述第一點數(shù)據(jù)和所述第二點數(shù)據(jù)拼接起來。9.根據(jù)權利要求6所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述凸臺的凸臺面為正方形或長方形。10.根據(jù)權利要求9所述的三維掃描儀的點云拼接方法，其特征在于，所述拼接步驟中，在所述第一云數(shù)據(jù)和所述第二云數(shù)據(jù)中尋找所述第一面、所述第二面以及所述第三面的凸臺的凸臺面的中心的數(shù)據(jù)作為參考，從而將所述第一點數(shù)據(jù)和所述第二點數(shù)據(jù)拼接起來。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種三維掃描儀的點云拼接的輔助裝置及其拼接方法，輔助裝置包括：立方體，立方體上的三個相互垂直的平面分別為第一面、第二面和第三面；磁性底座，磁性底座通過連接桿與立方體的第四面固定連接，第四面與第二面相對，并且磁性底座與產(chǎn)品吸附在一起。本發(fā)明無需對已掃描部位進行二次掃描，而是對體積較小的立方體的三個面進行二次掃描，可使效率提高50％左右；利用立方體上的凸臺作為參考點對點云進行拼接，很容易找到參考點，并且由于凸臺面的形狀規(guī)則，參考點的點云數(shù)據(jù)穩(wěn)定，大大降低了點云拼接的誤差；該輔助裝置結構簡單，成本低廉，操作方便快捷。
【IPC分類】G01B11/24
【公開號】CN105571519
【申請?zhí)枴緾N201610092220
【發(fā)明人】劉家杰, 龐建召, 寧文通, 滕倫生, 寧忠
【申請人】廣西玉柴機器股份有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2016年2月19日