一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及方法，所述繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試模塊和測(cè)試儀，所述測(cè)試模塊發(fā)送測(cè)試參數(shù)和控制指令至所述測(cè)試儀；所述測(cè)試儀輸出測(cè)試信號(hào)并接收被測(cè)裝置的動(dòng)作反饋信號(hào)，將所述測(cè)試儀輸出的測(cè)試信號(hào)、預(yù)期動(dòng)作結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，實(shí)現(xiàn)繼電保護(hù)測(cè)試；所述測(cè)試模塊，用于基于邏輯圖元庫(kù)構(gòu)建測(cè)試邏輯圖，并根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo)準(zhǔn)化邏輯測(cè)試狀態(tài)序列。本發(fā)明提供的系統(tǒng)使用戶可以簡(jiǎn)單、直觀、準(zhǔn)確地建立測(cè)試邏輯模型從而進(jìn)行復(fù)雜的功能及邏輯關(guān)系的專業(yè)測(cè)試，是繼電保護(hù)測(cè)試在專業(yè)化、標(biāo)準(zhǔn)化上的發(fā)展方向。
【專利說明】
-種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及一種繼電保護(hù)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的系統(tǒng)及方法，具體講設(shè)及一種基于邏輯 圖的繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 繼電保護(hù)邏輯圖是將保護(hù)功能通過邏輯輸入（如啟動(dòng)元件、方向元件等）、邏輯輸 出、與Π 、或口、非Π 、時(shí)間元件、邏輯直線等進(jìn)行描述的一種圖示方法，其特點(diǎn)是可W將復(fù) 雜的邏輯結(jié)構(gòu)清晰直觀的呈現(xiàn)出來(lái)。
[0003] 狀態(tài)序列是將一個(gè)完整的實(shí)驗(yàn)過程劃分為若干個(gè)連續(xù)獨(dú)立的狀態(tài)，每個(gè)狀態(tài)通過 一系列參數(shù)描述該狀態(tài)的各種信息（如電壓、電流、頻率、開入量、開出量、持續(xù)時(shí)間、進(jìn)入 下一狀態(tài)的觸發(fā)條件等）。繼電保護(hù)測(cè)試軟件已廣泛采用運(yùn)一方式來(lái)模擬電力系統(tǒng)故障W 考核保護(hù)裝置的動(dòng)作邏輯是否正確和滿足技術(shù)要求。
[0004] 基于圖形化平臺(tái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)信息的可視化分析已經(jīng)成為電力上層應(yīng)用系統(tǒng)的發(fā)展 趨勢(shì)，同樣在測(cè)試領(lǐng)域也是如此。當(dāng)前的測(cè)試軟件通過狀態(tài)序列方式、模板測(cè)試、專項(xiàng)功能 檢測(cè)方式已能滿足大多數(shù)功能檢測(cè)的需要，且操作簡(jiǎn)便、用戶界面友好。但對(duì)于復(fù)雜邏輯的 專業(yè)檢測(cè)，W上測(cè)試方式都需要檢測(cè)人員對(duì)手冊(cè)中的保護(hù)邏輯圖進(jìn)行詳盡分析后提取檢測(cè) 要素才能創(chuàng)建測(cè)試，且運(yùn)個(gè)提取過程對(duì)于越復(fù)雜的保護(hù)邏輯難度越大，很容易出現(xiàn)分析上 的疏漏。特別是對(duì)于復(fù)雜邏輯進(jìn)行全面檢測(cè)時(shí)工作量巨大。
[0005] 繪制保護(hù)邏輯圖需要建立包含邏輯元件圖形和相關(guān)屬性數(shù)據(jù)的邏輯圖元庫(kù)。矢量 圖形文件中的圖形元素稱為對(duì)象，即圖元。每個(gè)圖元是可獨(dú)立存在的實(shí)體，具有顏色、大小、 形狀及位置等屬性，可在清晰度不變的同時(shí)，反復(fù)移動(dòng)和改變屬性?；谏鲜鰞?yōu)點(diǎn)，選擇矢 量圖形作為邏輯圖顯示模塊的繪圖形式。
[0006] 繪制邏輯圖所需圖形元件包括：邏輯輸入（如啟動(dòng)元件、方向元件等）、邏輯輸出、 與口、或口、非Π 、時(shí)間元件、邏輯直線等。軟件中將它們各自封裝W便進(jìn)行邏輯運(yùn)算。
[0007] 繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)通常由測(cè)試軟件和測(cè)試儀兩部分構(gòu)成，測(cè)試軟件運(yùn)行于外部電 腦并將包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信息的測(cè)試程序發(fā)送給測(cè)試儀，測(cè)試儀在測(cè)試程序的控制 下輸出測(cè)試信號(hào)（數(shù)字報(bào)文或模擬量）同時(shí)接收被試裝置的動(dòng)作反饋信號(hào)，W此實(shí)現(xiàn)一個(gè) 完整的測(cè)試過程來(lái)考核保護(hù)裝置的動(dòng)作行為。測(cè)試軟件的功能為：獲取測(cè)試參數(shù)、控制測(cè)試 信號(hào)輸出、處理測(cè)試數(shù)據(jù)、評(píng)估測(cè)試結(jié)果、創(chuàng)建測(cè)試報(bào)告。測(cè)試儀的功能為：產(chǎn)生并輸出測(cè)試 信號(hào)（電流、電壓、開關(guān)量）、測(cè)試保護(hù)響應(yīng)（模擬量和開關(guān)量）、為被試設(shè)備提供直流電源 等。
[0008] 傳統(tǒng)的繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)需要用戶根據(jù)保護(hù)邏輯進(jìn)行分析后通過狀態(tài)序列建立 測(cè)試程序。狀態(tài)序列的優(yōu)點(diǎn)是可W對(duì)整個(gè)試驗(yàn)的輸出狀態(tài)進(jìn)行明確清晰的規(guī)定，而缺點(diǎn)是 與保護(hù)邏輯無(wú)法建立直觀聯(lián)系，需要測(cè)試人員提取檢測(cè)要素后才能創(chuàng)建測(cè)試。
[0009] 針對(duì)上述問題，需要提供一種基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 為克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)及 方法。
[0011] 實(shí)現(xiàn)上述目的所采用的解決方案為：
[0012] 一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)，所述繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試模塊和測(cè)試儀，所述測(cè) 試模塊發(fā)送測(cè)試參數(shù)和控制指令至所述測(cè)試儀；
[0013] 所述測(cè)試儀輸出包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信息的測(cè)試程序給被測(cè)裝置并接收其 動(dòng)作反饋信號(hào)，將所述測(cè)試儀輸出的測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比 對(duì)，實(shí)現(xiàn)繼電保護(hù)測(cè)試；
[0014] 所述測(cè)試模塊，用于基于邏輯圖元庫(kù)構(gòu)建測(cè)試邏輯圖，并根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo) 準(zhǔn)化邏輯測(cè)試狀態(tài)序列。
[0015] 優(yōu)選地，所述測(cè)試模塊包括邏輯圖元庫(kù)、邏輯繪圖子模塊和轉(zhuǎn)換子模塊；
[0016] 所述邏輯圖元庫(kù)，用于存儲(chǔ)邏輯關(guān)系元件；
[0017] 所述邏輯繪圖子模塊，用于根據(jù)測(cè)試需要繪制所述邏輯圖；
[0018] 所述轉(zhuǎn)換子模塊，用于根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo)準(zhǔn)化的包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信 息的測(cè)試程序，將所述邏輯測(cè)試程序W狀態(tài)序列的格式輸出。
[0019] 優(yōu)選地，所述測(cè)試模塊將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀；
[0020] 控制所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；
[0021] 將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置；
[0022] 所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送 給所述測(cè)試儀；
[0023] 所述測(cè)試儀將所述測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，完成 測(cè)試。
[0024] 一種基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試方法，所述方法包括W下步驟：
[0025] I、邏輯圖元繪制工具繪制邏輯元件，構(gòu)建邏輯圖元庫(kù)；
[0026] II、基于所述邏輯圖元庫(kù)，根據(jù)保護(hù)手冊(cè)的邏輯圖繪制邏輯圖并設(shè)置測(cè)試參數(shù)；
[0027] III、將所述邏輯圖轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化的邏輯測(cè)試程序，將所述邏輯測(cè)試程序W狀態(tài)序 列的格式輸出；
[002引 IV、將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給測(cè)試儀，控制測(cè)試儀對(duì)被測(cè)裝置輸出測(cè)試信號(hào)，同 時(shí)接收被測(cè)裝置的動(dòng)作反饋信號(hào)完成測(cè)試。
[0029] 優(yōu)選地，所述步驟II中，所述測(cè)試參數(shù)包括：配置信息、保護(hù)功能類別、系統(tǒng)模型、 系統(tǒng)參數(shù)和保護(hù)定值。
[0030] 優(yōu)選地，所述步驟IV包括：將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀；
[0031] 所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；
[0032] 將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置；
[0033] 所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送 給所述測(cè)試儀；
[0034] 所述測(cè)試儀比對(duì)所述測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果、所述動(dòng)作反饋信號(hào)，完成測(cè)試。
[0035] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的方案具有W下優(yōu)異效果：
[0036] 1、本發(fā)明提供的系統(tǒng)直接將保護(hù)邏輯與測(cè)試邏輯圖進(jìn)行聯(lián)系。傳統(tǒng)測(cè)試程序的創(chuàng) 建過程要求檢測(cè)人員對(duì)手冊(cè)中的保護(hù)邏輯圖進(jìn)行詳盡分析后提取檢測(cè)要素才能創(chuàng)建測(cè)試， 本發(fā)明通過構(gòu)建邏輯圖自動(dòng)完成測(cè)試分析，與傳統(tǒng)測(cè)試方法相比大大減少了人為分析錯(cuò)誤 的可能性，且測(cè)試過程更加清晰、直觀，可對(duì)復(fù)雜保護(hù)邏輯進(jìn)行全面準(zhǔn)確的考核。
[0037] 2、本發(fā)明提供的系統(tǒng)中，基于標(biāo)準(zhǔn)化保護(hù)邏輯圖構(gòu)建的測(cè)試模型保證了用戶獲得 測(cè)試程序的準(zhǔn)確性和唯一性；特別是對(duì)于考核驗(yàn)證復(fù)雜邏輯關(guān)系的專業(yè)測(cè)試，傳統(tǒng)的測(cè)試 方法不僅工作量大，而且容易出現(xiàn)參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤和邏輯分析上的疏漏；從保護(hù)功能的邏輯 圖出發(fā)，則使測(cè)試邏輯對(duì)象更加準(zhǔn)確，測(cè)試過程也更加直觀清晰，減少了人為分析錯(cuò)誤的可 能，使對(duì)復(fù)雜保護(hù)邏輯進(jìn)行全面考核變得更加簡(jiǎn)單有效。
[0038] 3、本發(fā)明提供的系統(tǒng)使用戶可W簡(jiǎn)單、直觀、準(zhǔn)確地建立測(cè)試邏輯模型從而進(jìn)行 復(fù)雜的功能及邏輯關(guān)系的專業(yè)測(cè)試，是繼電保護(hù)測(cè)試在專業(yè)化、標(biāo)準(zhǔn)化上的發(fā)展方向。
【附圖說明】
[0039] 圖1為本發(fā)明提供的繼電保護(hù)測(cè)試流程圖； W40] 圖2為本發(fā)明提供的測(cè)試程序創(chuàng)建過程對(duì)比圖；
[0041] 圖3為本實(shí)施例中"220kV主變高壓側(cè)復(fù)壓閉鎖方向過流后備保護(hù)"邏輯框圖；
[0042] 圖4為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中"負(fù)序電壓閉鎖過流"邏輯模塊設(shè)置示意圖；
[0043] 圖5為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中"低電壓閉鎖過流"邏輯模塊設(shè)置示意圖； W44] 圖6為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中"過流元件動(dòng)作"邏輯模塊設(shè)置示意圖；
[0045] 圖7為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中編輯名稱與添加備注操作示意圖；
[0046] 圖8為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中保護(hù)功能壓板及控制字邏輯模塊設(shè)置示意圖；
[0047] 圖9為本實(shí)施例中保護(hù)邏輯框圖中"過流保護(hù)控制字投入"邏輯模塊設(shè)置示意圖；
[0048] 圖10為本實(shí)施例中邏輯功能第一組測(cè)試示意圖（邏輯路徑及預(yù)期結(jié)果）；
[0049] 圖11為本實(shí)施例中邏輯功能第二組測(cè)試示意圖（邏輯路徑及預(yù)期結(jié)果）；
[0050] 圖12為本實(shí)施例中邏輯功能第Ξ組測(cè)試示意圖（邏輯路徑及預(yù)期結(jié)果）；
[0051] 圖13為本實(shí)施例中邏輯功能第四組測(cè)試示意圖（邏輯路徑及預(yù)期結(jié)果）；
[0052] 圖14為本實(shí)施例中基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)示意圖（被測(cè)試對(duì)象分為光 數(shù)字保護(hù)裝置和傳統(tǒng)保護(hù)裝置）。
【具體實(shí)施方式】
[0053] 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】做進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0054] 本發(fā)明提供一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)，所述繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試模塊和測(cè)試 儀，所述測(cè)試模塊發(fā)送測(cè)試參數(shù)和控制指令至所述測(cè)試儀；
[0055] 所述測(cè)試儀輸出包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信息的測(cè)試程序給被測(cè)裝置并接收其 動(dòng)作反饋信號(hào)，將所述測(cè)試儀輸出的測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比 對(duì)，實(shí)現(xiàn)繼電保護(hù)測(cè)試；
[0056] 所述測(cè)試模塊，用于基于邏輯圖元庫(kù)構(gòu)建測(cè)試邏輯圖，并根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo) 準(zhǔn)化邏輯測(cè)試狀態(tài)序列。
[0057] 所述測(cè)試模塊包括邏輯圖元庫(kù)、邏輯繪圖子模塊和轉(zhuǎn)換子模塊；所述邏輯圖元庫(kù)， 用于存儲(chǔ)邏輯關(guān)系元件；所述邏輯繪圖子模塊，用于根據(jù)測(cè)試需要繪制所述邏輯圖；所述 轉(zhuǎn)換子模塊，用于根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo)準(zhǔn)化的邏輯測(cè)試程序（包含測(cè)試參數(shù)及控制指令 信息），將所述邏輯測(cè)試程序W狀態(tài)序列的格式輸出。
[0058] 所述測(cè)試模塊將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀；所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試 程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置；所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn) 生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送給所述測(cè)試儀；所述測(cè)試儀比對(duì)所述測(cè)試信 號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果、所述動(dòng)作反饋信號(hào)，完成測(cè)試。
[0059] 本發(fā)明還提供一種基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試方法，如圖1所示，圖1為本發(fā)明提 供的繼電保護(hù)測(cè)試流程圖；包括W下步驟： W60] I、邏輯圖元繪制工具繪制邏輯元件，構(gòu)建邏輯圖元庫(kù)；
[0061] II、基于所述邏輯圖元庫(kù)，根據(jù)保護(hù)手冊(cè)的邏輯圖繪制邏輯框圖并設(shè)置相關(guān)測(cè)試 參數(shù)；
[0062] III、將所述邏輯圖轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化的邏輯測(cè)試程序，將所述邏輯測(cè)試程序W狀態(tài)序 列的格式輸出；
[0063] IV、將所述包含相關(guān)測(cè)試參數(shù)及控制指令信息邏輯測(cè)試程序發(fā)送給測(cè)試儀，并控 制其輸出測(cè)試信號(hào)給被試裝置，完成測(cè)試。
[0064] 步驟II中，所述測(cè)試參數(shù)包括：配置信息、保護(hù)功能類別、系統(tǒng)模型、系統(tǒng)參數(shù)和 保護(hù)定值。 W65] 步驟IV包括：
[0066] 將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀；
[0067] 所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；
[0068] 將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置；
[0069] 所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送 給所述測(cè)試儀；
[0070] 所述測(cè)試儀將所述測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，完成 測(cè)試。
[0071] 提供一具體實(shí)施例，W實(shí)現(xiàn)"220kV主變高壓側(cè)復(fù)合電壓閉鎖方向過流后備保護(hù)" 測(cè)試功能為例，在完成邏輯圖元構(gòu)建的基礎(chǔ)上，包括W下步驟： 陽(yáng)0巧步驟一、根據(jù)手冊(cè)，構(gòu)建邏輯圖。
[0073] 1、依據(jù)被測(cè)試保護(hù)設(shè)備手冊(cè)提供的邏輯圖，通過測(cè)試模塊進(jìn)行構(gòu)建。構(gòu)建的邏輯 圖如圖3所示。
[0074] 圖6中，左側(cè)的保護(hù)輸入量對(duì)應(yīng)測(cè)試儀的輸出信號(hào)（如交流電氣量信號(hào)）。例如 "過流元件動(dòng)作"可與保護(hù)測(cè)試儀輸出至保護(hù)裝置的Ξ相交流電流對(duì)應(yīng)，如"過流元件動(dòng)作" 條件滿足（W"l"表示），即給保護(hù)測(cè)試儀指令，輸出特定的電流信號(hào)。
[0075] 對(duì)整個(gè)保護(hù)邏輯中的某一"或"邏輯關(guān)系進(jìn)行考核（見圖10中箭頭所標(biāo)記的邏 輯口模塊1")，根據(jù)已構(gòu)建的完整邏輯圖可知當(dāng)滿足"低電壓閉鎖過流"條件（ 表示）且"負(fù)序電壓閉鎖過流"條件不滿足（表示）時(shí)，經(jīng)"或"邏輯輸出結(jié)果應(yīng)為 "1"(如圖10所示）。當(dāng)且僅當(dāng)兩個(gè)輸入條件均不滿足（即均為"0")時(shí)，經(jīng)"或"邏輯輸 出結(jié)果才為"0"(如圖13所示）。由于測(cè)試結(jié)果只能W測(cè)試儀是否收到保護(hù)裝置的跳閩反 饋信號(hào)作為最終反映形式，所w必須將待考核的"或"邏輯關(guān)系模塊的輸出結(jié)果與整個(gè)保護(hù) 邏輯最終的輸出結(jié)果建立對(duì)應(yīng)關(guān)系，運(yùn)也是測(cè)試程序?qū)崿F(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)?；赪上測(cè)試邏輯， 測(cè)試模塊通過計(jì)算自動(dòng)生成圖10~圖13所示的所有邏輯條件進(jìn)行測(cè)試。左側(cè)為"1"的保 護(hù)輸入量對(duì)應(yīng)于裝置壓板投入或保護(hù)測(cè)試儀向保護(hù)裝置輸出的模擬電氣量信號(hào)（繼電保 護(hù)測(cè)試儀可根據(jù)輸出指令輸出特定幅值、相位的交流量和直流量）。
[0076] 如說明書為PDF電子文檔格式，測(cè)試模塊可識(shí)別PDF截圖并自動(dòng)生成邏輯圖，可極 大減輕用戶工作量。
[0077] 2、對(duì)邏輯圖中各保護(hù)元件的具體參數(shù)和實(shí)現(xiàn)方式進(jìn)行確認(rèn)。 陽(yáng)07引如圖4所示，W "負(fù)序電壓閉鎖過流"元件為例，具體為：
[0079] 選擇左側(cè)"負(fù)序電壓閉鎖過流"邏輯模塊進(jìn)行模式和參數(shù)設(shè)置：
[0080] 1)定義"模塊類型"負(fù)序電壓動(dòng)作元件模塊"；
[0081] 2)定義"元件動(dòng)作模式"高于定值動(dòng)作"；
[0082] 扣定義"邏輯定義":將"高于定值動(dòng)作"定義為"0"，即"滿足閉鎖條件，保護(hù)不 動(dòng)作"時(shí)為"1"。
[0083] 4)選擇"變化方式"階梯遞變"；
[0084] 5)選擇"故障量構(gòu)建方式"，包括：采用Ξ相對(duì)稱純負(fù)序故障量、采用序分量疊加 構(gòu)建故障量（即輸入正序分量、零序分量的限制范圍和負(fù)序分量定值，可自動(dòng)計(jì)算出施加 相量的變化參數(shù)）。運(yùn)里選擇"采用Ξ相對(duì)稱純負(fù)序故障量"。
[00財(cái)如圖5所示，低電壓閉鎖過流"元件為例，具體為：
[0086] 選擇左側(cè)"低電壓閉鎖過流"邏輯模塊進(jìn)行模式和參數(shù)設(shè)置：
[0087] 1)定義"模塊類型"低電壓動(dòng)作元件模塊"；
[0088] 2)定義"元件動(dòng)作模式"低于定值動(dòng)作"；
[0089] 3)定義"邏輯定義":將"低于定值動(dòng)作"定義為"0"，即"滿足閉鎖條件，保護(hù)不動(dòng) 作"時(shí)為"1"。
[0090] 3)選擇"變化方式"階梯遞變"；
[0091] 4)選擇"故障量構(gòu)建方式"，包括：采用Ξ相對(duì)稱純正序故障量、采用序分量疊加 構(gòu)建故障量（即輸入負(fù)序分量、零序分量的限制范圍和正序分量定值，可自動(dòng)計(jì)算出施加 相量的變化參數(shù)）。運(yùn)里選擇"采用Ξ相對(duì)稱純正序故障量"。
[0092] 如圖6所示，W "過流元件動(dòng)作"保護(hù)元件為例，具體為：
[0093] 選擇左側(cè)"過流元件動(dòng)作"邏輯模塊后可進(jìn)行模式和參數(shù)設(shè)置：
[0094] 1)定義"模塊類型"動(dòng)作元件模塊"；
[0095] 2)定義"元件動(dòng)作模式"高于定值動(dòng)作"；
[0096] 3)選擇"變化方式"階梯遞變"；
[0097] 4)選擇"故障量構(gòu)建方式"，包括：采用Ξ相對(duì)稱純正序故障量、采用序分量疊加 構(gòu)建故障量（即輸入負(fù)序分量、零序分量的限制范圍和正序分量定值，可自動(dòng)計(jì)算出施加 相量的變化參數(shù)）。運(yùn)里選擇"采用Ξ相對(duì)稱純正序故障量"。
[009引"過流保護(hù)啟動(dòng)元件"、叩T斷線"、"方向判別滿足"邏輯模塊的設(shè)置與上面方法類 似，在此省略。
[0099] 還可W對(duì)框圖中各部分的名稱進(jìn)行編輯并添加備注。如圖7所示，可將"低電壓閉 鎖過流"備注為"高于低電壓定值時(shí)閉鎖過流保護(hù)，低于低電壓定值時(shí)開放過流保護(hù)"。
[0100] 如圖8所示，用戶需對(duì)保護(hù)功能壓板及控制字進(jìn)行定義。過流保護(hù)控制字投 入"邏輯模塊為例，如圖9所示，具體為： 陽(yáng)101] 選擇邏輯圖中位于左側(cè)的"過流保護(hù)控制字投入"邏輯模塊后進(jìn)行模式和參數(shù)設(shè) 置（圖9中箭頭所指）： 陽(yáng)102] 1)定義"模塊類型"壓板及控制字模塊"；
[0103] 2)確定"1/0定義"1"定義為"投入過流保護(hù)"，"0"定義為"退出過流保護(hù)"， 陽(yáng)104]如如有SCD文件，可將控制字進(jìn)行關(guān)聯(lián)；
[01化]其他保護(hù)功能壓板及控制字同上操作。核對(duì)確認(rèn)后將試驗(yàn)參數(shù)（包括邏輯圖及框 圖中各模塊定義和相關(guān)變量參數(shù)）提交至轉(zhuǎn)換子模塊；所述轉(zhuǎn)換子模塊解析計(jì)算邏輯圖生 成試驗(yàn)測(cè)試程序，過程如下： 陽(yáng)106] 1)標(biāo)準(zhǔn)化。對(duì)用戶編輯的框圖調(diào)整各部分模塊為標(biāo)準(zhǔn)化格式。
[0107] 2)解析計(jì)算?；诳茖W(xué)試驗(yàn)遵循的"單一變量原則"，對(duì)由最基本的"與口"、"或 口"構(gòu)成的邏輯圖進(jìn)行解析計(jì)算，生成邏輯矩陣并與模塊參數(shù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)。
[0108] 3)生成測(cè)試程序，測(cè)試依然W標(biāo)準(zhǔn)化邏輯圖的形式體現(xiàn)，每個(gè)模塊中的測(cè)試參數(shù) 可根據(jù)測(cè)試需要由用戶實(shí)現(xiàn)手動(dòng)編輯調(diào)整，將所述測(cè)試程序W狀態(tài)序列格式輸出。
[0109] 標(biāo)準(zhǔn)化邏輯圖中相應(yīng)模塊可實(shí)現(xiàn)邏輯功能驗(yàn)證或定值準(zhǔn)確度測(cè)試，具體實(shí)現(xiàn)過程 如下：
[0110] 1)邏輯功能的驗(yàn)證。如圖10~13所示，選擇任一邏輯模塊，邏輯圖會(huì)顯示邏輯路 徑并顯示預(yù)期結(jié)果?？煽框?yàn)證某一邏輯關(guān)系，須對(duì)若干組試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行考核，W驗(yàn)證"低電 壓閉鎖元件"與"負(fù)序電壓閉鎖元件"的"或口 "邏輯模塊為例進(jìn)行說明（圖10~13中箭 頭所指），四組測(cè)試均符合預(yù)期結(jié)果時(shí)才能判定為"或邏輯"正確。 陽(yáng)111] 2)定值準(zhǔn)確度測(cè)試。
[0112] 如下表1-4所示，試驗(yàn)方案W表格矩陣形式顯示一整組狀態(tài)序列，作為保護(hù)測(cè)試 儀的測(cè)試參數(shù)。 陽(yáng)11引
陽(yáng)116] 表2 陽(yáng)117]
陽(yáng)120] 表4 陽(yáng)12U W考核"220kV主變高壓側(cè)復(fù)壓閉鎖方向過流后備保護(hù)"中的"低電壓定值"為例。 將被測(cè)試裝置的"低電壓定值"整定為"線電壓70V"，"過流定值"整定為"1A"，"指向母線 控制字"整定為"0"即指向變壓器。 陽(yáng)122] 如圖14所示，W上由計(jì)算解析后生成的邏輯測(cè)試程序（包含測(cè)試參數(shù)及控制指令 信息）發(fā)送至保護(hù)測(cè)試儀并控制其輸出測(cè)試信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。根據(jù)被測(cè)試設(shè)備的不同，測(cè)試 儀分為數(shù)字式保護(hù)測(cè)試儀和傳統(tǒng)保護(hù)測(cè)試儀。其具體連接如下：
[0123] 1、裝載基于邏輯圖測(cè)試模塊的服務(wù)器、數(shù)字式保護(hù)測(cè)試儀和光數(shù)字保護(hù)裝置（被 試裝置）通過W太網(wǎng)連接至交換機(jī)，數(shù)字式保護(hù)測(cè)試儀與被試裝置間通過光纖連接。
[0124] 2、裝載基于邏輯圖測(cè)試模塊的服務(wù)器與傳統(tǒng)保護(hù)測(cè)試儀通過W太網(wǎng)連接，傳統(tǒng)保 護(hù)測(cè)試儀與被試裝置間通過電纜連接。
[0125] 最后應(yīng)當(dāng)說明的是：W上實(shí)施例僅用于說明本申請(qǐng)的技術(shù)方案而非對(duì)其保護(hù)范 圍的限制，盡管參照上述實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)進(jìn)行了詳細(xì)的說明，所本領(lǐng)域技術(shù)人員閱讀本申 請(qǐng)后依然可對(duì)申請(qǐng)的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行種種變更、修改或者等同替換，但運(yùn)些變更、修改或 者等同替換，均在申請(qǐng)待批的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)，所述繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試模塊和測(cè)試儀，其特征在 于： 所述測(cè)試模塊發(fā)送測(cè)試參數(shù)和控制指令至所述測(cè)試儀； 所述測(cè)試儀輸出包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信息的測(cè)試程序給被測(cè)裝置并接收其動(dòng)作 反饋信號(hào)，將所述測(cè)試儀輸出的測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，實(shí) 現(xiàn)繼電保護(hù)測(cè)試； 所述測(cè)試模塊，用于基于邏輯圖元庫(kù)構(gòu)建測(cè)試邏輯圖，并根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo)準(zhǔn)化 邏輯測(cè)試狀態(tài)序列。2. 如權(quán)利要求1所述的一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述測(cè)試模塊包括邏輯 圖元庫(kù)、邏輯繪圖子模塊和轉(zhuǎn)換子模塊； 所述邏輯圖元庫(kù)，用于存儲(chǔ)邏輯關(guān)系元件； 所述邏輯繪圖子模塊，用于根據(jù)測(cè)試需要繪制所述邏輯圖； 所述轉(zhuǎn)換子模塊，用于根據(jù)所述邏輯圖生成標(biāo)準(zhǔn)化的包含測(cè)試參數(shù)及控制指令信息的 測(cè)試程序，將所述邏輯測(cè)試程序以狀態(tài)序列的格式輸出。3. 如權(quán)利要求1所述的一種繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述測(cè)試模塊將所述邏 輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀； 控制所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)； 將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置； 所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送給所 述測(cè)試儀； 所述測(cè)試儀將所述測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果與所述動(dòng)作反饋信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，完成測(cè)試。4. 一種基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟： I、 邏輯圖元繪制工具繪制邏輯元件，構(gòu)建邏輯圖元庫(kù)； II、 基于所述邏輯圖元庫(kù)，根據(jù)保護(hù)手冊(cè)的邏輯圖繪制邏輯圖并設(shè)置測(cè)試參數(shù)； III、 將所述邏輯圖轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化的邏輯測(cè)試程序，將所述邏輯測(cè)試程序以狀態(tài)序列的 格式輸出； IV、 將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給測(cè)試儀，控制測(cè)試儀對(duì)被測(cè)裝置輸出測(cè)試信號(hào)，同時(shí)接 收被測(cè)裝置的動(dòng)作反饋信號(hào)完成測(cè)試。5. 如權(quán)利要求5所述的基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試方法，其特征在于：所述步驟II 中，所述測(cè)試參數(shù)包括：配置信息、保護(hù)功能類別、系統(tǒng)模型、系統(tǒng)參數(shù)和保護(hù)定值。6. 如權(quán)利要求5所述的基于邏輯圖的繼電保護(hù)測(cè)試方法，其特征在于：所述步驟IV包 括：將所述邏輯測(cè)試程序發(fā)送給所述測(cè)試儀； 所述測(cè)試儀根據(jù)所述測(cè)試程序產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)； 將所述測(cè)試信號(hào)發(fā)送給被測(cè)裝置； 所述被測(cè)裝置根據(jù)所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生動(dòng)作反饋信號(hào)，并將所述動(dòng)作反饋信號(hào)發(fā)送給所 述測(cè)試儀； 所述測(cè)試儀比對(duì)所述測(cè)試信號(hào)、測(cè)試預(yù)期結(jié)果、所述動(dòng)作反饋信號(hào)，完成測(cè)試。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK105823940SQ201510011984
【公開日】2016年8月3日
【申請(qǐng)日】2015年1月9日
【發(fā)明人】王劍宇, 張曉莉, 艾淑云, 周澤昕, 劉慧海, 唐翼, 趙穎科, 盛小蘭, 晁輝
【申請(qǐng)人】國(guó)家電網(wǎng)公司, 中國(guó)電力科學(xué)研究院