接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備及液晶盒測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備及液晶盒測試方法，接觸測試裝置，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，所述接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置；所述接觸檢測裝置的檢測端與所述探測裝置的探測端平齊，當(dāng)所述探測裝置的探測端與所述待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。本發(fā)明提供的接觸測試裝置能夠根據(jù)提示信號獲知探測裝置和待測區(qū)域是否接觸良好，從而避免了因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
【專利說明】
接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備及液晶盒測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備及液晶盒測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]面板測試Celltest是產(chǎn)品在面板Cell工程完成后進(jìn)行的檢測，有著十分重要的意義?，F(xiàn)有的檢測方法是將信號通過夾具上的探針加載到glass上的測試Pad，進(jìn)而傳遞信號，根據(jù)顯示畫面可判斷出面板是否存在缺陷。然而，如果夾具上的探針跟測試pad接觸不好，就無法準(zhǔn)確判斷面板是否有問題。例如，當(dāng)采用現(xiàn)有的檢測方法檢測到面板有問題時，很有可能會是這樣一種狀況:面板本身沒有問題，檢測結(jié)果是由于探針和測試pad接觸不良導(dǎo)致的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明提供一種接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備及液晶盒測試方法，能夠根據(jù)提示信號獲知探測裝置和待測區(qū)域是否接觸良好，從而避免了因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案:
[0005]第一方面，本發(fā)明提供了一種接觸測試裝置，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，所述接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置;所述接觸檢測裝置的檢測端與所述探測裝置的探測端平齊，當(dāng)所述探測裝置的探測端與所述待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0006]優(yōu)選地，所述接觸檢測裝置包括金屬柱狀結(jié)構(gòu)。
[0007]優(yōu)選地，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩內(nèi)且與所述金屬檢測罩絕緣。
[0008]優(yōu)選地，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩的中心。
[0009]優(yōu)選地，所述金屬檢測罩與所述待測區(qū)域接觸的表面為圓形表面，所述圓形表面的面積等于所述待測區(qū)域內(nèi)切圓的面積。
[0010]優(yōu)選地，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩外。
[0011]優(yōu)選地，所述金屬檢測罩為金屬柱形檢測罩、金屬圓臺檢測罩、金屬錐形檢測罩和金屬棱錐檢測罩中的任意一種。
[0012]優(yōu)選地，所述信號提示裝置包括信號提示燈。
[0013]優(yōu)選地，所述接觸測試裝置還包括:第一檢測線、第二檢測線和第三檢測線，所述探測裝置的非探測端通過所述第一檢測線與所述信號提示裝置的一端相連，所述信號提示裝置的另一端通過所述第二檢測線與所述電源裝置的一端相連，所述電源裝置的另一端通過所述第三檢測線與所述接觸檢測裝置的非檢測端相連。
[0014]第二方面，本發(fā)明還提供了一種液晶盒測試設(shè)備，包括待測試的液晶盒、設(shè)置在所述液晶盒上的待測區(qū)域、用于向所述液晶盒傳輸測試信號的探測裝置和如上面所述的接觸測試裝置。
[0015]優(yōu)選地，所述液晶盒上設(shè)置有多個待測區(qū)域，所述液晶盒測試設(shè)備還包括多個探測裝置以及多個接觸測試裝置;其中，所述探測裝置與所述待測區(qū)域一一對應(yīng)，所述探測裝置與所述待接觸測試裝置一一對應(yīng)；
[0016]每個探測裝置與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸時，與該探測裝置對應(yīng)的待測區(qū)域以及與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的接觸檢測裝置、信號提示裝置以及電源裝置會和該探測裝置形成獨(dú)立閉合回路，以使與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0017]優(yōu)選地，所述液晶盒測試設(shè)備還包括用于固定所述多個探測裝置的載體。
[0018]優(yōu)選地，所述液晶盒測試設(shè)備還包括信號轉(zhuǎn)接板，所述信號轉(zhuǎn)接板與所述探測裝置相連，用于向所述探測裝置傳輸測試信號。
[0019]優(yōu)選地，所述液晶盒測試設(shè)備還包括:底座以及與所述底座相適配的卡接裝置，所述待測試的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接裝置上承載有所述探測裝置以及所述接觸測試裝置。
[0020]第三方面，本發(fā)明還提供了一種應(yīng)用如上面所述的液晶盒測試設(shè)備的液晶盒測試方法，包括:
[0021 ]使探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸；
[0022]若確定所述探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，則向所述探測裝置傳輸預(yù)設(shè)測試信號，以對所述液晶盒進(jìn)行測試。
[0023]優(yōu)選地，在所述確定所述探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功之前，所述方法還包括:
[0024]判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功。
[0025]優(yōu)選地，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括:
[0026]若所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域，則判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功；
[0027]若所述液晶盒上有多個待測區(qū)域，則判斷與所述多個待測區(qū)域一一對應(yīng)的探測裝置是否均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功，當(dāng)每個探測裝置均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功時，確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。
[0028]優(yōu)選地，當(dāng)所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括:判斷與所述探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功；
[0029]當(dāng)所述液晶盒上有多個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括:
[0030]判斷與每個探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否均發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。
[0031]由上述技術(shù)方案可知，本發(fā)明所述的接觸測試裝置，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置;其中，接觸檢測裝置的檢測端與探測裝置的探測端平齊，當(dāng)探測裝置的探測端與待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號?？梢?，當(dāng)接觸測試裝置未發(fā)出接觸成功的提示信號時，表示探測裝置與所述待測區(qū)域接觸不良，進(jìn)而可以提醒相關(guān)人員采取一定的措施保證探測裝置與待測區(qū)域的正常接觸，然后再進(jìn)行相關(guān)測試信號的傳遞以判斷面板是否存在缺陷，這樣可以避免由于探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的誤判情況的發(fā)生。由此可知，本實(shí)施例提供的接觸測試裝置能夠根據(jù)提示信號獲知探測裝置(如探針)和待測區(qū)域(如液晶板上的cell test pad)是否接觸良好，從而避免了因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
【附圖說明】
[0032]為了更清楚地說明本實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0033]圖1是實(shí)施例二提供的接觸測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034]圖2是實(shí)施例二提供的探測裝置與待測區(qū)域接觸良好以及接觸不好時的示意圖；
[0035]圖3是實(shí)施例三提供的接觸測試裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖(探測裝置位于金屬檢測罩內(nèi))；
[0036]圖4是實(shí)施例三提供的探測裝置與待測區(qū)域接觸良好以及接觸不好時的示意圖；
[0037]圖5是探測裝置位于金屬檢測罩中心時兩者之間的位置關(guān)系示意圖；
[0038]圖6是本發(fā)明其他實(shí)施例提供的接觸測試裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖(探測裝置位于金屬檢測罩外)；
[0039]圖7是實(shí)施例三提供的接觸測試裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖(帶有檢測線)；
[0040]圖8是實(shí)施例四提供的液晶盒測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0041 ]圖9是帶有多個待測區(qū)域的液晶盒的示意圖；
[0042]圖10是實(shí)施例五提供的液晶盒測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0043]圖11是等效電路圖；
[0044]圖12是面板測試Celltest夾具的俯視圖；
[0045]圖13是實(shí)施例六提供的液晶盒測試方法的流程圖；
[0046]圖14是實(shí)施例六提供的液晶盒測試方法的另一種流程圖；
[0047]其中，100表示探測裝置;200表示待測區(qū)域；I表示采用金屬柱狀結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置；I’表示采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置；101表示探測裝置100的探測端；102表示探測裝置100的非探測端；11表示采用金屬柱狀結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置的檢測端；11’表示采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置的檢測端；12 ’表示采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置的非檢測端;2表示電源裝置;3表示信號提示裝置;4表示第一檢測線；5表示第二檢測線;6表示第三檢測線；7表示載體;8表示信號轉(zhuǎn)接板;a表示對位螺釘;b表示下壓把手。
【具體實(shí)施方式】
[0048]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0049]面板測試Celltest是產(chǎn)品在面板Cell工程完成后進(jìn)行的檢測，有著十分重要的意義。其檢測方法是將信號通過夾具上的探針加載到面板上的測試Pad，進(jìn)而傳遞信號，根據(jù)顯示畫面可判斷出面板是否存在缺陷?，F(xiàn)有開發(fā)的產(chǎn)品由于其設(shè)計(jì)特點(diǎn)一般采用制作方便快捷的cell test夾具對面板進(jìn)行檢測。夾具按照設(shè)計(jì)圖紙?zhí)崆爸谱?，但是在?shí)際運(yùn)用過程中，由于制作誤差或者工藝過程中出現(xiàn)一些問題，比如封框膠溢出等導(dǎo)致面板對位不準(zhǔn)確，從而使夾具的探針跟測試Pad接觸不好，導(dǎo)致畫面顯示跟預(yù)期存在差異，從而無法準(zhǔn)確判斷面板是否有問題?；谶@一問題，本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種接觸測試裝置，該接觸測試裝置能夠自動檢測cell test夾具與面板測試Pad接觸是否良好，并能給出提示信號，這樣就可以大大提高cell test的準(zhǔn)確率。
[0050]下面將通過實(shí)施一至實(shí)施六具體介紹本發(fā)明提供的接觸測試裝置、液晶盒測試設(shè)備以及液晶盒測試方法。
[0051 ] 實(shí)施例一
[0052]本發(fā)明實(shí)施例一提供了一種接觸測試裝置，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，所述接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置;所述接觸檢測裝置的檢測端與所述探測裝置的探測端平齊，當(dāng)所述探測裝置的探測端與所述待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0053]本實(shí)施例所述的接觸測試裝置，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置;其中，接觸檢測裝置的檢測端與探測裝置的探測端平齊，當(dāng)探測裝置的探測端與待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號?？梢姡?dāng)接觸測試裝置未發(fā)出接觸成功的提示信號時，表示探測裝置與所述待測區(qū)域接觸不良，進(jìn)而可以提醒相關(guān)人員采取一定的措施保證探測裝置與待測區(qū)域的正常接觸，然后再進(jìn)行相關(guān)測試信號的傳遞以判斷面板是否存在缺陷，這樣可以避免由于探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的誤判情況的發(fā)生。由此可知，本實(shí)施例提供的接觸測試裝置能夠根據(jù)提示信號獲知探測裝置(如探針)和待測區(qū)域(如液晶板上的cell test pad)是否接觸良好，從而避免了因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
[0054]實(shí)施例二
[0055]本發(fā)明實(shí)施例二中給出上述接觸測試裝置中的接觸檢測裝置的一種具體實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)，具體介紹如下。
[0056]在本實(shí)施例中，所述接觸檢測裝置可以采用金屬柱狀結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)。參見圖1，圖1中，100表示探測裝置;200表示待測區(qū)域;I表示采用金屬柱狀結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置;2表示電源裝置;3表示信號提示裝置;101表示探測裝置100的探測端，11表示接觸檢測裝置I的檢測端;
[0057]如圖1所示，本實(shí)施例中接觸檢測裝置I和探測裝置100的結(jié)構(gòu)類似，接觸檢測裝置I可以采用金屬柱狀結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)，例如金屬探針、金屬柱狀筆等。實(shí)際應(yīng)用中，探測裝置100—般采用金屬探針或金屬棒實(shí)現(xiàn)。圖1所示的探測裝置100采用金屬棒實(shí)現(xiàn)。
[0058]從圖中可以看出，所述接觸檢測裝置I的檢測端11與所述探測裝置100的探測端101平齊，當(dāng)所述探測裝置的探測端101與所述待測區(qū)域200接觸時，所述探測裝置100、所述接觸檢測裝置1、所述待測區(qū)域200、所述信號提示裝置3和所述電源裝置2形成閉合回路，以使所述信號指示裝置3發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0059]參見圖1和2，當(dāng)探測裝置100的探測端101與待測區(qū)域200接觸良好時，接觸檢測裝置I，電源裝置2、信號提示裝置3、待測區(qū)域200和探測裝置100組成的閉合回路處于通路狀態(tài)，信號提示裝置3發(fā)出接觸成功的提示信號，表示探測裝置100與待測區(qū)域200接觸良好；若探測裝置100的探測端101偏離待測區(qū)域200(參見圖2)，這時接觸檢測裝置I，電源裝置2、信號提示裝置3、待測區(qū)域200和探測裝置100組成的回路處于斷路的狀態(tài)，信號提示裝置3不會發(fā)出接觸成功的提示信號，此時表明探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不好，倘若此時通過探測裝置100向待測區(qū)域200傳輸測試信號，則肯定會得出待測區(qū)域200有品質(zhì)問題的測試結(jié)果。然而實(shí)際上，待測區(qū)域200很可能并沒有問題，只是由于探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不良。因此，在對待測區(qū)域200進(jìn)行真正測試之前，可采用本實(shí)施例所述的接觸測試裝置進(jìn)行接觸測試，來確定探測裝置100與待測區(qū)域200是否接觸良好。當(dāng)探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不好時，應(yīng)及時調(diào)整探測裝置100，使探測裝置100與待測區(qū)域200接觸，并重新采用本實(shí)施例所述的接觸測試裝置進(jìn)行接觸測試，當(dāng)確定探測裝置100與待測區(qū)域200接觸良好時，再通過探測裝置100向待測區(qū)域200傳輸測試信號，對待測區(qū)域200進(jìn)行品質(zhì)測試，以避免因接觸不好導(dǎo)致的誤判情況。另外，本實(shí)施例所述的接觸測試裝置不但結(jié)構(gòu)簡單，造價成本低，而且較為實(shí)用，可以大大提高cell檢測的準(zhǔn)確率。
[0060]這里應(yīng)該理解，在進(jìn)行接觸測試時，所述接觸檢測裝置I的檢測端11應(yīng)始終與所述待測區(qū)域200保持接觸，以保證當(dāng)信號指示裝置3未發(fā)出接觸成功的提示信號時，可以直接確定是因探測裝置100的探測端101未與待測區(qū)域200正常接觸導(dǎo)致的。
[0061]但是在實(shí)際應(yīng)用時，卻常常無法保證所述接觸檢測裝置I的檢測端11始終與所述待測區(qū)域200接觸(實(shí)施起來較為麻煩或無法實(shí)施)，鑒于此，本實(shí)施例提供的接觸測試裝置可能會存在以下問題:
[0062]a.當(dāng)探測裝置100與待測區(qū)域200接觸良好時，而接觸檢測裝置I與待測區(qū)域200接觸不好，信號指示裝置不會發(fā)出接觸成功的提示信號，此時容易讓相關(guān)人員誤認(rèn)為是因探測裝置100沒有與待測區(qū)域200接觸良好引起的。
[0063]b.當(dāng)接觸檢測裝置I和探測裝置100均未與待測區(qū)域200接觸良好時，信號指示裝置不會發(fā)出接觸成功的提示信號，此時相關(guān)人員無法確定是該調(diào)整接觸檢測裝置I還是調(diào)整探測裝置100。
[0064]為了解決這一問題，本發(fā)明實(shí)施例三給出了上述接觸檢測裝置的另一種具體實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)。
[0065]實(shí)施例三
[0066]本發(fā)明實(shí)施例三中給出上述接觸測試裝置中的接觸檢測裝置的另一種具體實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)，具體介紹如下。
[0067]在實(shí)施例中，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩內(nèi)且與所述金屬檢測罩絕緣。參見圖3，圖3中，100表示探測裝置;200表示待測區(qū)域;I’表示采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)的接觸檢測裝置;2表示電源裝置;3表示信號提示裝置；101表示探測裝置100的探測端，11’表示接觸檢測裝置I，的檢測端；
[0068]如圖3所示，本實(shí)施例中接觸檢測裝置I采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)，其中，金屬檢測罩的形狀不限。例如可以為金屬柱形檢測罩、金屬圓臺檢測罩、金屬錐形檢測罩和金屬棱錐檢測罩中的任意一種。圖3所示的金屬檢測罩為金屬圓臺檢測罩。實(shí)際應(yīng)用中，探測裝置100—般采用金屬探針實(shí)現(xiàn)。
[0069]從圖中可以看出，所述接觸檢測裝置I’的檢測端11’與所述探測裝置100的探測端101平齊，探測裝置位于所述接觸檢測裝置I’(金屬檢測罩)內(nèi)且與所述金屬檢測罩絕緣，當(dāng)所述探測裝置的探測端101與所述待測區(qū)域200接觸時，所述金屬檢測罩的檢測端11’也與所述待測區(qū)域200接觸，所述探測裝置100、所述接觸檢測裝置I’、所述待測區(qū)域200、所述信號提示裝置3和所述電源裝置2形成閉合回路，以使所述信號指示裝置3發(fā)出接觸成功的提不信號。
[0070]參見圖3和4，當(dāng)探測裝置100的探測端101與待測區(qū)域200接觸良好時，接觸檢測裝置I’，電源裝置2、信號提示裝置3、待測區(qū)域200和探測裝置100組成的閉合回路處于通路狀態(tài)，信號提示裝置3發(fā)出接觸成功的提示信號，表示探測裝置100與待測區(qū)域200接觸良好；若探測裝置100的探測端101偏離待測區(qū)域200(參見圖4)，這時接觸檢測裝置I’，電源裝置
2、信號提示裝置3、待測區(qū)域200和探測裝置100組成的回路處于斷路的狀態(tài)，信號提示裝置3不會發(fā)出接觸成功的提示信號，此時表明探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不好，倘若此時通過探測裝置100向待測區(qū)域200傳輸測試信號，則肯定會得出待測區(qū)域200有品質(zhì)問題的測試結(jié)果。然而實(shí)際上，待測區(qū)域200很可能并沒有問題，只是由于探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不良。因此，在對待測區(qū)域200進(jìn)行真正測試之前，可采用本實(shí)施例所述的接觸測試裝置進(jìn)行接觸測試，來確定探測裝置100與待測區(qū)域200是否接觸良好。當(dāng)探測裝置100與待測區(qū)域200接觸不好時，應(yīng)及時調(diào)整探測裝置100，使探測裝置100與待測區(qū)域200接觸，并重新采用本實(shí)施例所述的接觸測試裝置進(jìn)行接觸測試，當(dāng)確定探測裝置100與待測區(qū)域200接觸良好時，再通過探測裝置100向待測區(qū)域200傳輸測試信號，對待測區(qū)域200進(jìn)行品質(zhì)測試，以避免因接觸不好導(dǎo)致的誤判情況。另外，本實(shí)施例所述的接觸測試裝置不但結(jié)構(gòu)簡單，造價成本低，而且較為實(shí)用，可以大大提高cell檢測的準(zhǔn)確率。
[0071 ]從本實(shí)施例可以看出，為了避免出現(xiàn)上述實(shí)施例二描述的問題，本實(shí)施例的接觸檢測裝置采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)，并使得探測裝置位于所述金屬檢測罩內(nèi)且與所述金屬檢測罩絕緣。因?yàn)檫@樣可以保證金屬檢測罩與待測區(qū)域的接觸，因而在進(jìn)行接觸測試時，假若信號提示裝置未發(fā)出提示信號，則可以直接確定是探測裝置與待測區(qū)域沒有接觸良好。
[0072]優(yōu)選地，為了能夠?qū)崿F(xiàn)探測裝置100與待測區(qū)域200更好的接觸，所述探測裝置100位于所述金屬檢測罩I’的中心。參見圖5，圖5示出了探測裝置100位于所述金屬檢測罩I’的中心時的俯視圖和剖面圖。
[0073]優(yōu)選地，為了避免因金屬檢測罩I’的面積過大或者是待測區(qū)域200的面積過大，導(dǎo)致接觸檢測失去意義，相應(yīng)地，所述金屬檢測罩I’與所述待測區(qū)域200接觸的表面為圓形表面，所述圓形表面的面積等于所述待測區(qū)域200內(nèi)切圓的面積。對于面板cell來說，所述待測區(qū)域200為cell test pad，所述待測區(qū)域200的形狀一般為圓形或多邊形。
[0074]在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，參見圖6，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩外。實(shí)際上，該種實(shí)現(xiàn)方式和上述實(shí)施例二的實(shí)現(xiàn)方式類似，只是采用了金屬檢測罩代替上述實(shí)施例二中的金屬柱狀結(jié)構(gòu)。
[0075]參見圖7，優(yōu)選地，所述接觸測試裝置還包括:第一檢測線4、第二檢測線5和第三檢測線6，所述探測裝置100的非探測端102通過所述第一檢測線4與所述信號提示裝置3的一端相連，所述信號提示裝置3的另一端通過所述第二檢測線5與所述電源裝置2的一端相連，所述電源裝置2的另一端通過所述第三檢測線6與所述接觸檢測裝置I’的非檢測端12’相連。
[0076]優(yōu)選地，為了使得提示效果更好或更為直觀，所述信號提示裝置3可以采用信號提示燈實(shí)現(xiàn)，當(dāng)然可以采用音樂盒、播放器等其他可以用于進(jìn)行信號提示的裝置實(shí)現(xiàn)。
[0077]從上面內(nèi)容可知，本實(shí)施例在現(xiàn)有的探測裝置基礎(chǔ)之上增加了金屬檢測罩，其中，探測裝置與金屬檢測罩不接觸，且探測裝置與金屬檢測罩的下端面平齊。本實(shí)施例利用探測裝置、待測區(qū)域、信號提示裝置、電源裝置和金屬檢測罩組成了一個回路，當(dāng)探測裝置與待測區(qū)域接觸時，所述檢測罩、電源裝置、信號提示裝置和探測裝置形成閉合回路，信號提示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。假設(shè)信號提示裝置沒有發(fā)出接觸成功的提示信號，則表明探測裝置與待測區(qū)域接觸不好，從而可以根據(jù)信號提示裝置發(fā)出的提示信號判斷探測裝置是否與待測區(qū)域正常接觸，進(jìn)而能夠有效防止cell測試中的誤判，并且能夠精確知道是哪個探測裝置沒有接觸好，從而準(zhǔn)確判斷畫面出現(xiàn)的不良是否是面板本身的原因。本實(shí)施例提供的接觸測試裝置可以大大提高cell檢測的準(zhǔn)確率。
[0078]實(shí)施例四
[0079]本發(fā)明實(shí)施例四提供了一種液晶盒測試設(shè)備，該液晶盒測試設(shè)備包括:待測試的液晶盒、設(shè)置在所述液晶盒上的待測區(qū)域、用于向所述液晶盒傳輸測試信號的探測裝置和如上述實(shí)施例一至實(shí)施例三任一實(shí)施例所述的接觸測試裝置。
[0080]圖8示出了實(shí)施例四提供的液晶盒測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖8，其中300表示待測試的液晶盒;200表示設(shè)置在所述待測試液晶盒300上的待測區(qū)域;100表示用于向所述待測試液晶盒300傳輸測試信號的探測裝置;在圖8所示的示例中，所述接觸測試裝置由金屬檢測罩I’、電源裝置2、信號提示裝置3、第一檢測線4、第二檢測線5和第三檢測線6組成。其中，設(shè)置在待測試的液晶盒300上的待測區(qū)域200的大小一般為零點(diǎn)幾毫米，其相對于待測試的液晶盒300來幾乎不容易看到，本實(shí)施例的圖8以及下面圖9、圖10均為了突出描述待測區(qū)域，因此將其畫的較大，圖8?圖10所示并不代表待測試的液晶盒300和待測區(qū)域200的真實(shí)大小比例。
[0081]從圖8可以看出，當(dāng)所述探測裝置100與所述待測區(qū)域200接觸時，所述探測裝置100待測區(qū)域200、金屬檢測罩I’、電源裝置2、信號提示裝置3、第一檢測線4、第二檢測線5和第三檢測線6組成的接觸測試裝置形成閉合回路，以使信號提示裝置3發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0082]本實(shí)施例提供的液晶盒測試設(shè)備，由于包含了上述實(shí)施例所述的接觸測試裝置，因此在對液晶盒進(jìn)行cell測試之前，可以利用本實(shí)施例所述的液晶盒測試設(shè)備，預(yù)先判斷探測裝置(如探針)是否與液晶盒上的待測區(qū)域(如cell test pad)正常接觸，當(dāng)確定探針與cel I test pad沒有正常接觸時，應(yīng)該及時調(diào)整探針的位置，使得探針與cel I test pad接觸，然后再進(jìn)行cell測試過程，以避免因探針與cell test pad接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
[0083]實(shí)施例五
[0084]本實(shí)施例五給出了當(dāng)待測試液晶盒上有多個待測區(qū)域200時，上述液晶盒測試設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)。例如，如圖9所示，待測試液晶盒面板左右下方共有6個待測區(qū)域200。所述待測區(qū)域200可采用cell test pad實(shí)現(xiàn)，cell test pad一般為Gate金屬層。
[0085]在本實(shí)施例中，液晶盒上設(shè)置有多個待測區(qū)域，所述液晶盒測試設(shè)備還包括多個探測裝置以及多個接觸測試裝置;其中，所述探測裝置與所述待測區(qū)域一一對應(yīng)，所述探測裝置與所述待接觸測試裝置一一對應(yīng)；
[0086]每個探測裝置與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸時，與該探測裝置對應(yīng)的待測區(qū)域以及與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的接觸檢測裝置、信號提示裝置以及電源裝置會和該探測裝置形成獨(dú)立閉合回路，以使與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。
[0087]圖10示出了實(shí)施例五提供的液晶盒測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖10，300表示待測試的液晶盒;200表示設(shè)置在所述待測試液晶盒300上的待測區(qū)域；100表示用于向所述待測試液晶盒300傳輸測試信號的探測裝置;在圖10所示的例子中，所述接觸測試裝置由金屬檢測罩I’、電源裝置2、信號提示裝置3、第一檢測線4、第二檢測線5和第三檢測線6組成。
[0088]從圖10可以看出，每一個待測區(qū)域200對應(yīng)一個探測裝置100，相應(yīng)地，每一個探測裝置100應(yīng)該對應(yīng)一個接觸測試裝置，接觸測試裝置用于檢測對應(yīng)的探測裝置100是否與對應(yīng)的待測區(qū)域200接觸。
[0089]在圖10所示的結(jié)構(gòu)中，每個探測裝置100與對應(yīng)的接觸測試裝置組成了獨(dú)立的回路，即每個接觸測試裝置只用來測試相應(yīng)的探測裝置與對應(yīng)待測區(qū)域的接觸狀態(tài)。圖10中三個探測裝置100以及三個對應(yīng)的接觸測試裝置之間的等效電路圖可見參見圖11。優(yōu)選地，各接觸測試裝置中的第二檢測線5并聯(lián)接入接觸測試裝置中的電源裝置2的一端，各接觸測試裝置中第三檢測線6并聯(lián)接入電源裝置2的另一端。
[0090]在本實(shí)施例中，信號提示裝置3采用信號提示燈實(shí)現(xiàn)，接觸檢測裝置采用金屬檢測罩實(shí)現(xiàn)，探測裝置100采用探針實(shí)現(xiàn)，所述待測區(qū)域200采用cell test pad實(shí)現(xiàn)。其中，探針與金屬檢測罩不接觸，且探針與金屬檢測罩的下端面平齊。當(dāng)探針與cell test pad 200接觸良好時，金屬檢測罩，電源裝置2和信號提示燈、探針以及待測區(qū)域200組成的閉合回路處于通路狀態(tài)，信號提示燈亮，提示接觸良好;若某個探針偏離cell test pad的位置，這時金屬檢測罩，電源裝置2和信號提示燈、探針以及cell test pad組成的回路處于斷路的狀態(tài)，信號提示燈不亮，表明該探針接觸不好，從而能夠有效的防止測試誤差，并且能精確知道是哪個探針沒有接觸好，從而準(zhǔn)確判斷畫面出現(xiàn)的不良是否是面板本身的原因。另外，本實(shí)施例所述的液晶盒測試設(shè)備不但結(jié)構(gòu)簡單，造價成本低，而且較為實(shí)用，可以大大提高cell檢測的準(zhǔn)確率。
[0091]為了使得探測裝置能夠穩(wěn)定地與待測區(qū)域接觸，優(yōu)選地，參見圖10，所述液晶盒測試設(shè)備還包括用于固定所述多個探測裝置的載體7。從圖10可以看出，多個探測裝置100均固定在載體7上，這樣可以保證探測裝置100穩(wěn)定地與待測區(qū)域200接觸。
[0092]優(yōu)選地，參見圖10，所述液晶盒測試設(shè)備還包括信號轉(zhuǎn)接板8，所述信號轉(zhuǎn)接板8與所述探測裝置100相連，用于向所述探測裝置100傳輸測試信號。
[0093]優(yōu)選地，為了能夠很好地固定液晶盒以及探測裝置和接觸測試裝置，所述液晶盒測試設(shè)備還包括:底座(圖中未示出)以及與所述底座相適配的卡接裝置(圖中未示出)，所述待測試的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接裝置上承載有所述探測裝置以及所述接觸測試裝置。
[0094]下面結(jié)合圖12給出面板cell測試的詳細(xì)過程。面板測試Celltest夾具的俯視圖如圖12所示。在進(jìn)行測試時，面板cell通過測試平臺上的六個對位螺釘a固定，信號經(jīng)過夾具上的探針傳遞，通過下壓把手b，探針與cell test pad接觸，給面板輸入測試信號，根據(jù)顯示畫面可判斷出面板是否存在缺陷。本實(shí)施例在原有每個探針上增加一個金屬檢測罩，該金屬檢測罩不與探針接觸，探針位于金屬檢測罩的中心。每個探針對應(yīng)的金屬檢測罩分別連接一條第三檢測線，這些第三檢測線并聯(lián)接入電源裝置的負(fù)極。探針各連接一條第一檢測線，這些第一檢測線通過與一個小功率電源裝置和一個信號提示燈串聯(lián)之后連接到電源裝置的正極，等效電路圖如圖11所示。通過這種設(shè)計(jì)，當(dāng)探針與cell test pad接觸良好時，金屬檢測罩，小功率電源裝置和信號提示燈、探針以及cell test pad組成的回路處于通路狀態(tài)，指示燈亮，提示接觸良好;當(dāng)只要有一個探針偏離cell test pad的位置，這時與該探針對應(yīng)的金屬檢測罩，小功率電源裝置、信號提示燈以及cell test pad組成的回路處于斷路的狀態(tài)，信號提示燈不亮，表明該探針接觸不好，從而可以根據(jù)信號提示燈的狀態(tài)判斷探針是否與cell test pad正常接觸，進(jìn)而能夠有效防止cell測試中的誤判，并且能精確知道是哪個探針沒有接觸好，從而準(zhǔn)確判斷畫面出現(xiàn)的不良是否是面板本身的原因。
[0095]從上面描述可知，本實(shí)施例在現(xiàn)有的探針基礎(chǔ)之上增加了一個金屬檢測罩，探針與金屬檢測罩不接觸，且探針與檢測罩的下端面平齊。本實(shí)施例利用探針、信號提示燈、電源裝置、金屬檢測罩以及待測區(qū)域(cell test pad)組成了一個回路，當(dāng)探針與cell testpad接觸時，金屬檢測罩、電源裝置、信號提示燈、探針和cell test pad形成回路，信號提示燈被點(diǎn)亮。假設(shè)信號提示燈沒有被點(diǎn)亮，則表明探針與cell test pad接觸不好，從而可以根據(jù)信號提示燈的狀態(tài)判斷探針是否與cell test pad正常接觸，進(jìn)而能夠有效防止cell測試中的誤判，并且能夠精確知道是哪個探測裝置沒有與cell test pad接觸好，從而準(zhǔn)確判斷畫面出現(xiàn)的不良是否是面板本身的原因。本實(shí)施例提供的接觸測試裝置可以大大提高面板cell檢測的準(zhǔn)確率。
[0096]實(shí)施例六
[0097]本實(shí)施例六提供了一種應(yīng)用上述實(shí)施例所述的液晶盒測試設(shè)備的液晶盒測試方法，參見圖13，該液晶盒測試方法具體包括如下步驟:
[0098]步驟101:使探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸。
[0099]步驟102:若確定所述探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，則向所述探測裝置傳輸預(yù)設(shè)測試信號，以對所述液晶盒進(jìn)行測試。
[0100]本實(shí)施例所述的液晶盒測試方法，在對液晶盒進(jìn)行正式測試之前，先確定探測裝置是否與待測區(qū)域接觸成功，若確定探測裝置與待測區(qū)域接觸成功，則向探測裝置傳輸預(yù)設(shè)測試信號，以對所述液晶盒進(jìn)行測試。相對于現(xiàn)有技術(shù)直接對液晶盒進(jìn)行測試的方法，本實(shí)施例所述的測試方法可以避免因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
[0101]優(yōu)選地，參見圖14，在所述確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功之前，所述液晶盒測試方法還包括下述步驟102’:
[0102]步驟102’:判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功。
[0103]優(yōu)選地，所述步驟102’判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功，包括:
[0104]若所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域，則判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功；
[0105]若所述液晶盒上有多個待測區(qū)域，則判斷與所述多個待測區(qū)域一一對應(yīng)的探測裝置是否均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功，當(dāng)每個探測裝置均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功時，確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。
[0106]優(yōu)選地，當(dāng)所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功，包括:判斷與所述探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功；
[0107]當(dāng)所述液晶盒上有多個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括:
[0108]判斷與每個探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否均發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。
[0109]可見，本實(shí)施例所述的液晶盒測試方法，在對液晶盒進(jìn)行測試之前，可以先判斷探測裝置是否與待測區(qū)域接觸成功，當(dāng)液晶盒中有多個待測區(qū)域時，需要判斷每個探測裝置是否與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功，只有當(dāng)每個探測裝置均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功時，才對液晶盒進(jìn)行測試，以避免因探測裝置與待測區(qū)域接觸不良導(dǎo)致的對顯示面板品質(zhì)造成誤判情況的發(fā)生。
[0110]以上實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種接觸測試裝置，其特征在于，用于對探測裝置與待測區(qū)域是否接觸進(jìn)行測試，所述接觸測試裝置包括接觸檢測裝置、信號提示裝置和電源裝置;所述接觸檢測裝置的檢測端與所述探測裝置的探測端平齊，當(dāng)所述探測裝置的探測端與所述待測區(qū)域接觸時，所述探測裝置、所述接觸檢測裝置、所述待測區(qū)域、所述信號提示裝置和所述電源裝置形成閉合回路，以使所述信號指示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述接觸檢測裝置包括金屬柱狀結(jié)構(gòu)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩內(nèi)且與所述金屬檢測罩絕緣。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩的中心。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述金屬檢測罩與所述待測區(qū)域接觸的表面為圓形表面，所述圓形表面的面積等于所述待測區(qū)域內(nèi)切圓的面積。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述接觸檢測裝置包括金屬檢測罩，所述探測裝置位于所述金屬檢測罩外。7.根據(jù)權(quán)利要求3?6任一項(xiàng)中所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述金屬檢測罩為金屬柱形檢測罩、金屬圓臺檢測罩、金屬錐形檢測罩和金屬棱錐檢測罩中的任意一種。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述信號提示裝置包括信號提示燈。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的接觸測試裝置，其特征在于，所述接觸測試裝置還包括:第一檢測線、第二檢測線和第三檢測線，所述探測裝置的非探測端通過所述第一檢測線與所述信號提示裝置的一端相連，所述信號提示裝置的另一端通過所述第二檢測線與所述電源裝置的一端相連，所述電源裝置的另一端通過所述第三檢測線與所述接觸檢測裝置的非檢測端相連。10.—種液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，包括待測試的液晶盒、設(shè)置在所述液晶盒上的待測區(qū)域、用于向所述液晶盒傳輸測試信號的探測裝置和如權(quán)利要求1?9中任一項(xiàng)所述的接觸測試裝置。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述液晶盒上設(shè)置有多個待測區(qū)域，所述液晶盒測試設(shè)備還包括多個探測裝置以及多個接觸測試裝置;其中，所述探測裝置與所述待測區(qū)域一一對應(yīng)，所述探測裝置與所述待接觸測試裝置一一對應(yīng)； 每個探測裝置與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸時，與該探測裝置對應(yīng)的待測區(qū)域以及與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的接觸檢測裝置、信號提示裝置以及電源裝置會和該探測裝置形成獨(dú)立閉合回路，以使與該探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置發(fā)出接觸成功的提示信號。12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述液晶盒測試設(shè)備還包括用于固定所述多個探測裝置的載體。13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述液晶盒測試設(shè)備還包括信號轉(zhuǎn)接板，所述信號轉(zhuǎn)接板與所述探測裝置相連，用于向所述探測裝置傳輸測試信號。14.根據(jù)權(quán)利要求10?13中任一項(xiàng)所述的液晶盒測試設(shè)備，其特征在于，所述液晶盒測試設(shè)備還包括:底座以及與所述底座相適配的卡接裝置，所述待測試的液晶盒固定在所述底座上，所述卡接裝置上承載有所述探測裝置以及所述接觸測試裝置。15.—種應(yīng)用如權(quán)利要求10?14中任一項(xiàng)所述的液晶盒測試設(shè)備的液晶盒測試方法，其特征在于，包括: 使探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸； 若確定所述探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，則向所述探測裝置傳輸預(yù)設(shè)測試信號，以對所述液晶盒進(jìn)行測試。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的液晶盒測試方法，其特征在于，在所述確定所述探測裝置與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功之前，所述方法還包括: 判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的液晶盒測試方法，其特征在于，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括: 若所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域，則判斷所述探測裝置是否與所述待測區(qū)域接觸成功； 若所述液晶盒上有多個待測區(qū)域，則判斷與所述多個待測區(qū)域一一對應(yīng)的探測裝置是否均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功，當(dāng)每個探測裝置均與對應(yīng)的待測區(qū)域接觸成功時，確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的液晶盒測試方法，其特征在于，當(dāng)所述液晶盒上只有一個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括:判斷與所述探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功； 當(dāng)所述液晶盒上有多個待測區(qū)域時，所述判斷所述探測裝置是否與液晶盒上的待測區(qū)域接觸成功，包括: 判斷與每個探測裝置對應(yīng)的接觸測試裝置中的信號提示裝置是否均發(fā)出接觸成功的提示信號，若是，則確定所述探測裝置與所述待測區(qū)域接觸成功。
【文檔編號】G02F1/13GK105823958SQ201610145052
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2016年3月14日
【發(fā)明人】魏燕, 徐智強(qiáng)
【申請人】京東方科技集團(tuán)股份有限公司