三維全向電磁場探頭及電磁檢測設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種三維全向電磁場探頭及電磁檢測設(shè)備，該三維全向電磁場探頭包括：固定部、電場探頭和磁場探頭，電場探頭和磁場探頭均固定連接在固定部上；電場探頭包括第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器，第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器兩兩正交；磁場探頭包括第一線圈、第二線圈和第三線圈，第一線圈、第二線圈和第三線圈所在平面兩兩正交，并且，第一平行板電容器與第一線圈相對布置，第二平行板電容器與第二線圈相對布置，第三平行板電容器與第三線圈相對布置。本發(fā)明將電場探頭和磁場探頭集成于一體，可在一個三維全向電磁場探頭中同時實現(xiàn)電場和磁場的測量，不需要更換探頭，使用方便。
【專利說明】
三維全向電磁場探頭及電磁檢測設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及電磁場測量技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種三維全向電磁場探頭及電磁檢測設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]電磁輻射檢測儀可用于電場、磁場輻射檢測。電磁輻射檢測儀適用于居家、辦公室、戶外、工業(yè)場所等場所。
[0003]現(xiàn)有的電磁輻射檢測儀在測量低頻電磁場時，需要通過一個獨立的低頻電場測量探頭和一個獨立的低頻磁場測量探頭分別進(jìn)行低頻電場和磁場的測量。測量電場時，需要將低頻電場測量探頭與電磁輻射檢測儀的主機連接，測量磁場時，需要將低頻磁場測量探頭與電磁輻射檢測儀的主機連接，因此，測量時，常常需要更換探頭進(jìn)行測量，使用不方便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種三維全向電磁場探頭及電磁檢測設(shè)備，以解決現(xiàn)有技術(shù)中的電磁輻射檢測儀在測量電磁場時需要更換探頭帶來的不便的技術(shù)問題。
[0005]本發(fā)明提供一種三維全向電磁場探頭，其中，包括:固定部、電場探頭和磁場探頭，電場探頭和磁場探頭均固定連接在所述固定部上;所述電場探頭包括第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器，所述第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器兩兩正交;所述磁場探頭包括第一線圈、第二線圈和第三線圈，第一線圈、第二線圈和第三線圈所在平面兩兩正交，并且，所述第一平行板電容器與所述第一線圈相對布置，所述第二平行板電容器與所述第二線圈相對布置，所述第三平行板電容器與所述第三線圈相對布置。
[0006]進(jìn)一步地，所述固定部為長方體形的固定盒，所述固定盒包括兩個相對布置的兩個第一面，兩個相對布置的第二面，以及兩個相對布置的第三面;所述第一面、第二面和第三面兩兩正交；
[0007]所述第一平行板電容器與所述第一線圈相對安裝在兩個所述第一面上，所述第二平行板電容器與所述第二線圈相對安裝在兩個所述第二面上，所述第三平行板電容器與所述第三線圈相對安裝在兩個所述第三面上。
[0008]進(jìn)一步地，所述固定盒由金屬制成。
[0009]進(jìn)一步地，所述電場探頭還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻，所述第一電場取樣電阻與所述第一平行板電容器串聯(lián)，所述第二電場取樣電阻與所述第二平行板電容器串聯(lián)，所述第三電場取樣電阻與所述第三平行板電容器串聯(lián)；
[0010]所述磁場探頭還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻，所述第一線圈與所述第一磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第二線圈與所述第二磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第三線圈與所述第三磁場取樣電阻串聯(lián)。
[0011]進(jìn)一步地，所述第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器均包括靠近所述固定盒的第一極板、遠(yuǎn)離所述固定盒的第二極板以及位于所述第一極板和所述第二極板之間的絕緣介質(zhì)，其中，三個所述第一極板相互連接。
[0012]進(jìn)一步地，三個所述第二極板外均設(shè)有絕緣保護層。
[0013]進(jìn)一步地，所述第一線圈、所述第二線圈和所述第三線圈均為多匝。
[0014]進(jìn)一步地，所述三維全向電磁場探頭還包括三個線圈固定盤，三個所述線圈固定盤均與所述固定部固定連接，所述第一線圈、所述第二線圈和所述第三線圈分別纏繞在對應(yīng)的所述線圈固定盤上。本發(fā)明還提供一種電磁檢測設(shè)備，其中包括:主機以及根據(jù)本發(fā)明所述的三維全向電磁場探頭，所述主機與所述三維全向電磁場探頭連接。
[0015]進(jìn)一步地，所述三維全向電磁場探頭還包括:設(shè)置于所述固定盒內(nèi)并依次連接的運算放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)據(jù)處理器，其中，所述運算放大器分別與所述磁場探頭和所述電場探頭連接，所述數(shù)據(jù)處理器與所述主機通過光纖通信。
[O 016 ]本發(fā)明提供的三維全向電磁場探頭，將電場探頭和磁場探頭分別固定在固定部上，將電場探頭和磁場探頭集成于一體，可在一個三維全向電磁場探頭中同時實現(xiàn)電場和磁場的測量，實現(xiàn)電場探頭和磁場探頭一體化。測量時，通過兩兩正交的第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器來測量電場，通過兩兩正交的第一線圈、第二線圈和第三線圈來測量磁場，不需要更換探頭，使用方便，并且結(jié)構(gòu)緊湊。
【附圖說明】
[0017]為了更清楚地說明本發(fā)明【具體實施方式】或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對【具體實施方式】或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施方式，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1為本發(fā)明實施例提供的三維全向電磁場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖2為本發(fā)明一種實施例的電場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖3為本發(fā)明另一種實施例的電場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021 ]圖4為本發(fā)明實施例的平行板電容器的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖5為本發(fā)明實施例的磁場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖6為本發(fā)明實施例的電磁檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]附圖標(biāo)記:
[0025]I 一固定部；2—電場探頭；
[0026]3—磁場探頭；4 一線圈固定盤；
[0027]5—支撐柱；6 —運算放大器；
[0028]7 —模數(shù)轉(zhuǎn)換器；8—數(shù)據(jù)處理器；
[0029]9 —主機；
[0030]21 —第一平行板電容器；22 —第二平行板電容器；
[0031]23 —第三平行板電容器；
[0032]31—第一線圈；32—第二線圈；
[0033]33—第三線圈；
[0034]2a—第一極板；2b—第二極板；
[0035]2c—絕緣介質(zhì)；2d—引線。
【具體實施方式】
[0036]下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0037]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，術(shù)語“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。此外，術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。其中，術(shù)語“第一位置”和“第二位置”為兩個不同的位置。
[0038]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接;可以是機械連接，也可以是電連接;可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0039]圖1為本發(fā)明實施例提供的三維全向電磁場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明一種實施例的電場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明另一種實施例的電場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本發(fā)明實施例的平行板電容器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明實施例的磁場探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0040]本發(fā)明提供一種三維全向電磁場探頭，如圖1至圖5所示，該三維全向電磁場探頭包括:固定部1、電場探頭2和磁場探頭3，電場探頭2和磁場探頭3均固定連接在所述固定部I上;所述電場探頭2包括第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23，所述第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23兩兩正交;所述磁場探頭3包括第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33，第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33所在平面兩兩正交，并且，所述第一平行板電容器21與所述第一線圈31相對布置，所述第二平行板電容器22與所述第二線圈32相對布置，所述第三平行板電容器23與所述第三線圈33相對布置。
[0041]如圖2所示，在空間坐標(biāo)系中，X軸、Y軸和Z軸兩兩正交，為了方面描述，在本實施例中，第一平行板電容器21垂直于X軸，第二平行板電容器22垂直于Y軸，第三平行板電容器23垂直于Z軸。第一線圈31所在平面垂直于X軸，第二線圈32所在平面垂直于Y軸，第三線圈33所在平面垂直于Z軸。
[0042]三維全向電磁場探頭的作用是將待測磁場、電場變換為與之成正比的電壓信號。其中，電場探頭2能感受電場強度并轉(zhuǎn)換成電信號輸出，磁場探頭3能感受磁場強度并轉(zhuǎn)化為電信號輸出。
[0043]本發(fā)明提供的三維全向電磁場探頭，將電場探頭2和磁場探頭3分別固定在固定部I上，將電場探頭2和磁場探頭3集成于一體，可在一個三維全向電磁場探頭中同時實現(xiàn)電場和磁場的測量，實現(xiàn)電場探頭2和磁場探頭3—體化。測量時，通過兩兩正交的第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23來測量電場，通過兩兩正交的第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33來測量磁場，不需要更換探頭，使用方便，并且結(jié)構(gòu)緊湊。
[0044]其中，所述固定部I可以為各種用于安裝固定電場探頭2和磁場探頭3的結(jié)構(gòu)，例如固定支架、固定盒等。只要保證第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23空間正交，第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33所在平面正交即可。
[0045]優(yōu)選地，所述固定部I為長方體形的固定盒，如圖1和圖5所示，所述固定盒包括兩個相對布置的兩個第一面，兩個相對布置的第二面，以及兩個相對布置的第三面;所述第一面、第二面和第三面兩兩正交;所述第一平行板電容器21與所述第一線圈31相對安裝在兩個所述第一面上，所述第二平行板電容器22與所述第二線圈32相對安裝在兩個所述第二面上，所述第三平行板電容器23與所述第三線圈33相對安裝在兩個所述第三面上。安裝時，只需將第一平行板電容器21、第二平行板電容器22、第三平行板電容器23、第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33分別安裝在固定盒的六個面上，即可保證所述第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23兩兩正交，并且第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33所在平面兩兩正交。因此，本實施例中的固定盒方便安裝。三個所述平行板電容器固定設(shè)置在所述固定盒的三個正交的表面上，三個所述線圈固定設(shè)置在所述固定盒的剩余三個正交的表面上，從而使用一個長方體形的固定盒便可將電場探頭2和磁場探頭3方便地集成在一起。
[0046]優(yōu)選地，所述固定盒由金屬制成(例如金屬盒采用銅或者鋁制成)，使得固定盒具有屏蔽作用，能夠保護固定盒內(nèi)的部件不受干擾。在測量大場強時，通過固定盒的屏蔽作用，保護固定盒內(nèi)的部件不受到被測場的影響，提高測量的準(zhǔn)確性。
[0047]進(jìn)一步地，所述電場探頭2還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻(第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻以下簡稱電場取樣電阻)，所述第一電場取樣電阻與所述第一平行板電容器21串聯(lián)，所述第二電場取樣電阻與所述第二平行板電容器22串聯(lián)，所述第三電場取樣電阻與所述第三平行板電容器23串聯(lián)。變化的電場(即被測電場)會使第一平行板電容器21、第二平行板電容器22、第三平行板電容器23的極板上的感應(yīng)電荷產(chǎn)生移動，感應(yīng)電荷的移動就形成了感應(yīng)電流，感應(yīng)電流通過第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻便形成電壓。實現(xiàn)電場探頭2感受電場強度并轉(zhuǎn)換成電信號輸出的作用。分別測量第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻兩端電壓即可獲知電場強度。
[0048]進(jìn)一步地，所述磁場探頭3還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻(第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻以下可以簡稱為磁場取樣電阻)，所述第一線圈31與所述第一磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第二線圈32與所述第二磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第三線圈33與所述第三磁場取樣電阻串聯(lián)。被測磁場使第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33中分別產(chǎn)生電流，電流經(jīng)過第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻形成電壓，實現(xiàn)了磁場探頭3感受磁場強度并轉(zhuǎn)化為電信號輸出的作用。分別測量第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻的兩端電壓即可獲知磁場強度。
[0049]此外，固定盒上設(shè)有多個細(xì)小的縫隙，第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33的兩端分別通過細(xì)小的縫隙接入固定盒內(nèi)的第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻。如圖3所示，第一平行板電容器21的兩個極板、第二平行板電容器22的兩個極板、第三平行板電容器23的兩個極板(即下文描述的第一極板2a和第二極板2b)分別連接引線2d，引線2d通過細(xì)小的縫隙接入固定盒內(nèi)的第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻。
[0050]本發(fā)明通過由金屬制成的具有屏蔽功能的固定盒，一方面，能夠?qū)⑸鲜鏊龅娜与娮?取樣電阻包括上述所述的電場取樣電阻和磁場取樣電阻)方便地安裝在固定盒內(nèi)，避免取樣電阻懸空設(shè)置;另一方面，還能避免取樣電阻兩端的電壓受到被測電磁場的干擾，確保測得的取樣電阻的兩端的電壓值為真實電壓值，從而提高對電場測量和磁場測量的準(zhǔn)確性。
[0051]此外，參考圖6，所述三維全向電磁場探頭還包括設(shè)置于所述固定盒內(nèi)并依次連接的運算放大器6、模數(shù)轉(zhuǎn)換器7和數(shù)據(jù)處理器8，其中，所述運算放大器6分別與所述磁場探頭3和所述電場探頭2連接。具體地，所述運算放大器6用于放大磁場取樣電阻兩端的電信號，以及放大電場取樣電阻兩端的電信號。在本實施例中，磁場探頭3和電場探頭2檢測空間環(huán)境的電磁信號，信號取樣后，通過運算放大器6將該電磁信號進(jìn)行放大，放大后的信號經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器7(A/D)轉(zhuǎn)換得到數(shù)字信號，經(jīng)過數(shù)據(jù)處理器8的數(shù)據(jù)處理后得到電磁場強值，最后以數(shù)字量的形式顯示出來。
[0052]此外，所述三維全向電磁場探頭還可以包括電池，所述電池與運算放大器6、模數(shù)轉(zhuǎn)換器7和數(shù)據(jù)處理器8連接，從而為運算放大器6、模數(shù)轉(zhuǎn)換器7和數(shù)據(jù)處理器8供電。
[0053]優(yōu)選地，參見圖4，所述第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23均包括靠近所述固定盒的第一極板2a、遠(yuǎn)離所述固定盒的第二極板2b以及位于所述第一極板2a和所述第二極板2b之間的絕緣介質(zhì)2c，其中，三個所述第一極板2a相互連接，使得三個所述第一極板2a可以作為一個參考極板，方便測量。此外，三個第一極板2a固定彼此連接后能夠方便地固定在固定盒上。
[0054]優(yōu)選地，第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23的頂角連接在一起，如圖3中所示，第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23共同形成一個頂點，以使整個電場探頭2的結(jié)構(gòu)更緊湊。
[0055]具體地，三個所述第一極板2a可以焊接在一起，使三個所述第一極板2a作為一個參考電極。此外，也可以通過導(dǎo)線將三個所述第一極板2a連接起來。
[0056]具體地，第一極板2a和第二極板2b上的金屬層可以為銅。第一極板2a和第二極板2b的絕緣介質(zhì)2c可以為空氣，塑料等介質(zhì)。優(yōu)選地，所述絕緣介質(zhì)2c為環(huán)氧玻璃布層壓板，方便加工，在環(huán)氧玻璃布層壓板的兩個相對的表面分別覆蓋金屬層即可制成本發(fā)明中的平行板電容器。環(huán)氧玻璃布層壓板能夠?qū)⒌谝粯O板2a和第二極板2b固定連接起來。
[0057]進(jìn)一步地，三個所述第二極板2b外均設(shè)有絕緣保護層。絕緣保護層能夠避免在使用時，第二極板2b與其他金屬體碰撞，降低干擾，提高測量的精確性。
[0058]第一平行板電容器21、第二平行板電容器22和第三平行板電容器23的表面積越大，則測量的精度越高。
[0059]所述第一線圈31、所述第二線圈32和所述第三線圈33可以分別為單匝或者多匝。優(yōu)選地，所述第一線圈31、所述第二線圈32和所述第三線圈33均為多匝，提高靈敏度，保證測量精度。
[0060] 進(jìn)一步地，如圖5所示，所述三維全向電磁場探頭還包括三個線圈固定盤4，三個所述線圈固定盤4均與所述固定部I固定連接，三個線圈固定盤4與三個線圈(即第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33)——對應(yīng)設(shè)置;第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33分別纏繞在對應(yīng)的所述線圈固定盤4上。線圈固定盤4方便固定第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33ο
[0061 ]具體地，參見圖5，固定盒的與第一線圈31、第二線圈32和第三線圈33連接的三個表面上分別設(shè)有支撐柱5，線圈固定盤4固定在所述支撐柱5上。
[0062]本發(fā)明還提供一種電磁檢測設(shè)備，如圖1至圖6所示，所述電磁檢測設(shè)備包括:主機9以及根據(jù)本發(fā)明所述的三維全向電磁場探頭，所述主機9與所述三維全向電磁場探頭連接。
[0063]其中，所述三維全向電磁場探頭還包括:設(shè)置于所述固定盒內(nèi)并依次連接的運算放大器6、模數(shù)轉(zhuǎn)換器7和數(shù)據(jù)處理器8，其中，所述運算放大器6分別與所述磁場探頭3和所述電場探頭2連接，所述數(shù)據(jù)處理器8與所述主機9通過光纖通信。數(shù)據(jù)處理器8通過光纖與主機9進(jìn)行通信，將測量結(jié)果輸出到主機9進(jìn)行顯示，保證了三維全向電磁場探頭的懸浮體型設(shè)計，即三維全向電磁場探頭懸浮在待測量電磁場中，從而避免由于人手持探頭而對測量結(jié)構(gòu)產(chǎn)生干擾，確保測量的準(zhǔn)確度。
[0064]所述主機9包括顯示屏，所述顯示屏與所述數(shù)據(jù)處理器8連接，顯示屏用于顯示處理處理器8傳輸?shù)臏y量結(jié)果。
[0065]在本實施例中，電磁檢測設(shè)備還包括絕緣支架，所述絕緣支架放置于待測電磁場中，所述三維全向電磁場探頭的固定部I固定設(shè)置在所述絕緣支架上，三維全向電磁場探頭通過光纖與主機9連接。
[0066]其中，絕緣支架可以為三腳架。
[0067]在本發(fā)明的另一個實施例中，上述所述的運算放大器6、模數(shù)轉(zhuǎn)換器7和數(shù)據(jù)處理器8還可以安裝在主機9內(nèi)。使用者可以根據(jù)實際情況進(jìn)行安裝。
[0068]本文所述的低頻指頻率范圍包括但不僅限于IHz— 400kHz，在低頻范圍，電磁輻射控制限值要求分別測量低頻電場及低頻磁場。
[0069]在本發(fā)明中，該三維全向電磁場探頭的測量范圍為IHz— 30MHz，即該三維全向電磁場探頭可適用于低頻(IHz — 400kHz)、中頻以及部分高頻的電磁場測量。優(yōu)選用于低頻電磁場進(jìn)行測量，測量快捷方便。
[0070]最后應(yīng)說明的是:以上各實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制;盡管參照前述各實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種三維全向電磁場探頭，其特征在于，包括:固定部、電場探頭和磁場探頭，電場探頭和磁場探頭均固定連接在所述固定部上;所述電場探頭包括第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器，所述第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器兩兩正交;所述磁場探頭包括第一線圈、第二線圈和第三線圈，第一線圈、第二線圈和第三線圈所在平面兩兩正交，并且，所述第一平行板電容器與所述第一線圈相對布置，所述第二平行板電容器與所述第二線圈相對布置，所述第三平行板電容器與所述第三線圈相對布置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述固定部為長方體形的固定盒，所述固定盒包括兩個相對布置的兩個第一面，兩個相對布置的第二面，以及兩個相對布置的第三面;所述第一面、第二面和第三面兩兩正交； 所述第一平行板電容器與所述第一線圈相對安裝在兩個所述第一面上，所述第二平行板電容器與所述第二線圈相對安裝在兩個所述第二面上，所述第三平行板電容器與所述第三線圈相對安裝在兩個所述第三面上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述固定盒由金屬制成。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述電場探頭還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一電場取樣電阻、第二電場取樣電阻和第三電場取樣電阻，所述第一電場取樣電阻與所述第一平行板電容器串聯(lián)，所述第二電場取樣電阻與所述第二平行板電容器串聯(lián)，所述第三電場取樣電阻與所述第三平行板電容器串聯(lián)； 所述磁場探頭還包括均位于所述固定盒內(nèi)的第一磁場取樣電阻、第二磁場取樣電阻和第三磁場取樣電阻，所述第一線圈與所述第一磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第二線圈與所述第二磁場取樣電阻串聯(lián)，所述第三線圈與所述第三磁場取樣電阻串聯(lián)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述第一平行板電容器、第二平行板電容器和第三平行板電容器均包括靠近所述固定盒的第一極板、遠(yuǎn)離所述固定盒的第二極板以及位于所述第一極板和所述第二極板之間的絕緣介質(zhì)，其中，三個所述第一極板相互連接。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，三個所述第二極板外均設(shè)有絕緣保護層。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述第一線圈、所述第二線圈和所述第三線圈均為多匝。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維全向電磁場探頭，其特征在于，所述三維全向電磁場探頭還包括三個線圈固定盤，三個所述線圈固定盤均與所述固定部固定連接，所述第一線圈、所述第二線圈和所述第三線圈分別纏繞在對應(yīng)的所述線圈固定盤上。9.一種電磁檢測設(shè)備，其特征在于，包括:主機以及根據(jù)權(quán)利要求1 一 8中任一項所述的三維全向電磁場探頭，所述主機與所述三維全向電磁場探頭連接。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電磁檢測設(shè)備，其特征在于，所述三維全向電磁場探頭還包括:設(shè)置于所述固定盒內(nèi)并依次連接的運算放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)據(jù)處理器，其中，所述運算放大器分別與所述磁場探頭和所述電場探頭連接，所述數(shù)據(jù)處理器與所述主機通過光纖通信。
【文檔編號】G01R29/08GK105842545SQ201610318314
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年5月12日
【發(fā)明人】陸德堅, 張立垚
【申請人】北京森馥科技股份有限公司