阻抗測試裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，包括：切換安裝機構(gòu)；至少三個探針，所述探針為接地探針或信號探針，所述探針安裝于所述切換安裝機構(gòu)上，且部分或全部所述探針受所述切換安裝機構(gòu)驅(qū)動，而可在測試位置與非測試位置之間切換；且所述切換安裝機構(gòu)每次驅(qū)動被選兩所述探針以一所述信號探針與另一所述信號探針的組合方式或以一所述信號探針與一所述接地探針的組合方式到達所述測試位置，其余非被選所述探針切換至所述非測試位置。上述的阻抗測試裝置，可實現(xiàn)在使用被選兩探針進行阻抗測試時，非被選的探針遠離待測電路板進而避免與待測電路板的其他地方接觸，不會對測試產(chǎn)生干涉，保證測試結(jié)果的準確性，同時防止造成短路而使測量儀器損壞。
【專利說明】
阻抗測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本發(fā)明涉及阻抗測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種阻抗測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著通信技術(shù)的不斷進步，通信速率越來越高，越來越多的用戶對PCB板走線提出阻抗控制和信號頻率的要求。阻抗測試通常包括單端阻抗測試和差分阻抗測試，其中單端阻抗測試一般通過單端阻抗探針組件來進行測試，差分阻抗測試一般通過差分阻抗探針組件來進行測試。所述單端阻抗探針組件通常包括一個信號探針和一個接地探針，所述差分阻抗探針組件通常包括兩個信號探針。
[0003]由于進行不同的阻抗測試需要切換不同的阻抗探針組件，因此，現(xiàn)有的阻抗測試裝置通常包括四個探針，分別為三個信號探針和一個接地探針，其中兩個信號探針構(gòu)成差分探針組件，一個信號探針和一個接地探針構(gòu)成單端探針組件。這種阻抗測試裝置雖然既有單端探針組件可以進行單端阻抗測試，又有差分探針組件可以進行差分阻抗測試，但是在測試時兩種探針組件之間易互相干涉，影響測試結(jié)果，且包含的探針較多，使用成本高。
[0004]中國專利文獻CN102288826B公開了一種二合一特性阻抗探頭，包括外殼和置于外殼內(nèi)的阻抗電路板，阻抗電路板上設(shè)有伸出外殼的第一探針、第二探針和第三探針，第一探針和第二探針分別與阻抗電路板上的兩根差分信號線連接，為信號探針，第三探針與地平面連接，為接地探針，第一探針和第二探針中的任意一根均與第三探針共同構(gòu)成單端阻抗測試探頭，第一探針、第二探針和第三探針共同構(gòu)成差分阻抗測試探頭。該現(xiàn)有技術(shù)雖然在同一個探頭上同時集成了單端阻抗測試功能和差分阻抗測試功能，但當使用第一探針和第二探針的其中一個與第三探針組成單端阻抗測試探頭來進行單端阻抗測試時，沒被使用的那個探針由于與被使用兩個探針同處于測試位置，從而易與阻抗電路板的其他地方接觸，對測試進行干涉，影響測試結(jié)果，甚至造成短路，導(dǎo)致測量儀器損壞；當使用第一探針、第二探針和第三探針共同構(gòu)成的差分阻抗測試探頭來進行差分阻抗測試時，只需要第一探針和第二探針這兩個差分信號探針即可完成差分阻抗測試，如果使用第三探針，則需要使第三探針保持接地;但是，在該現(xiàn)有技術(shù)中，三個探針的相對位置關(guān)系始終保持不變，所以在使用第一探針和第二探針與電路板上的對應(yīng)位置接觸進行差分阻抗測試時，第三探針與第二探針、第三探針同處于測試位置，依然易與阻抗電路板的其他地方接觸，對測試進行干涉，影響測試結(jié)果，甚至造成短路，導(dǎo)致測量儀器損壞。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]因此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的具有三個及以上探針的阻抗測試裝置當使用其中兩個針進行一種阻抗測試時，沒被使用的那個探針易對阻抗測試進行干涉，影響測試結(jié)果，甚至造成短路導(dǎo)致測量儀器損壞的缺陷，從而提供一種當使用其中兩個針進行一種阻抗測試時，沒被使用的那個探針不會對阻抗測試產(chǎn)生干涉、測試結(jié)果較準確、不會造成短路的具有三個及以上探針的阻抗測試裝置。
[0006]本發(fā)明的一種阻抗測試裝置，包括:
[0007]切換安裝機構(gòu)；
[0008]至少三個探針，所述探針為接地探針或信號探針，所述探針安裝于所述切換安裝機構(gòu)上，且部分或全部所述探針受所述切換安裝機構(gòu)驅(qū)動，而可在測試位置與非測試位置之間切換;且所述切換安裝機構(gòu)每次驅(qū)動被選兩所述探針以一所述信號探針與另一所述信號探針的組合方式或以一所述信號探針與一所述接地探針的組合方式到達所述測試位置，其余非被選所述探針切換至所述非測試位置。
[0009]所述探針通過直線往返移動的方式在所述測試位置與所述非測試位置之間切換。
[0010]所述切換安裝機構(gòu)包括:
[0011]安裝座；
[0012]活動支架，相對所述安裝座豎直設(shè)置且可相對所述安裝座沿豎直方向往復(fù)移動；其下端安裝有所述探針；
[0013]動力裝置，設(shè)置在所述安裝座與所述活動支架之間，驅(qū)動所述活動支架相對所述安裝座移動。
[0014]所述動力裝置包括使所述活動支架相對所述安裝座向上或向下移動的可控作用力裝置;及偏壓力施加在所述活動支架上驅(qū)使所述活動支架向另一方向移動的偏壓件。
[0015]所述可控作用力裝置為電磁裝置。
[0016]所述電磁裝置包括設(shè)置在所述活動支架及所述安裝座之一上的線圈或電磁吸盤，及設(shè)置在另一個上的鐵磁性部件。
[0017]所述偏壓件的所述偏壓力為趨向所述測試位置的作用力。
[0018]所述偏壓力通過設(shè)置在所述活動支架與所述安裝座之間的壓力彈簧施加。
[0019]所述安裝座具有固定支架，所述固定支架設(shè)置有對所述活動支架的移動進行導(dǎo)向的第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)。
[0020]所述固定支架為管狀結(jié)構(gòu)，所述活動支架的上端沿孔深方向直線往返移動地插設(shè)于所述管狀結(jié)構(gòu)的限位孔內(nèi)，所述第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)為設(shè)于所述固定支架與所述活動支架之間的鍵槽結(jié)構(gòu)。
[0021 ]所述切換安裝機構(gòu)上安裝有三根探針，分別為第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探針為接地探針，所述第二探針和所述第三探針均為信號探針。
[0022]所述第一探針、所述第二探針和所述第三探針在同一豎直面內(nèi)共面設(shè)置；
[0023]所述第二探針設(shè)置于所述第一探針和所述第三探針之間，且定位于測試位置;所述第一探針、所述第三探針均分別可在測試位置與非測試位置之間切換。
[0024]所述第一探針的針尖、所述第三探針的針尖均傾斜靠近所述第二探針的針尖設(shè)置。
[0025]所述第二探針相對于所述第一探針、所述第三探針之間的距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。
[0026]所述阻抗測試裝置還包括:
[0027]驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動所述第二探針滑動；
[0028]第二導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，設(shè)置于所述切換安裝機構(gòu)上，引導(dǎo)所述第二探針靠近所述第一探針、遠離所述第三探針滑動或靠近所述第三探針、遠離所述第一探針滑動。
[0029]部分或全部所述探針之間的相對距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。
[0030]所述探針包括探針內(nèi)導(dǎo)體和包覆在所述探針內(nèi)導(dǎo)體外的屏蔽層，所述屏蔽層上設(shè)有導(dǎo)電彈性元件；
[0031]處于測試位置的被選兩所述探針上的所述導(dǎo)電彈性元件在各自的彈力的作用下分別與同一所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)緊密接觸。
[0032]本發(fā)明技術(shù)方案，具有如下優(yōu)點:
[0033]1.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，包括:切換安裝機構(gòu)；至少三個探針，所述探針為接地探針或信號探針，所述探針安裝于所述切換安裝機構(gòu)上，且部分或全部所述探針受所述切換安裝機構(gòu)驅(qū)動，而可在測試位置與非測試位置之間切換;且所述切換安裝機構(gòu)每次驅(qū)動被選兩所述探針以一所述信號探針與另一所述信號探針的組合方式或以一所述信號探針與一所述接地探針的組合方式到達所述測試位置，其余非被選所述探針切換至所述非測試位置。上述的阻抗測試裝置，當需要用被選兩探針進行阻抗測試時，只需要使被選兩探針處于測試位置，將非被選探針切換至非測試位置，即可實現(xiàn)在使用被選兩探針進行阻抗測試時，非被選的探針遠離待測電路板進而避免與待測電路板的其他地方接觸，不會對測試產(chǎn)生干涉，保證測試結(jié)果的準確性，同時防止造成短路而使測量儀器損壞。
[0034]2.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述切換安裝機構(gòu)包括:安裝座;活動支架，相對所述安裝座豎直設(shè)置且可相對所述安裝座沿豎直方向往復(fù)移動;其下端安裝有所述探針；動力裝置，設(shè)置在所述安裝座與所述活動支架之間，驅(qū)動所述活動支架相對所述安裝座移動。上述切換安裝機構(gòu)，通過動力裝置控制安裝于活動支架的探針在測試位置與非測試位置之間的切換，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，切換狀態(tài)穩(wěn)定。
[0035]3.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述偏壓力通過設(shè)置在所述活動支架與所述安裝座之間的壓力彈簧施加。壓力彈簧可在施加所述偏壓力的同時，在探針測試時兼具對探針的緩沖作用，防止探針與電路板間的接觸過硬而損壞電路板。
[0036]4.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述安裝座具有固定支架，所述固定支架設(shè)置有對所述活動支架的移動進行導(dǎo)向的第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)。第一導(dǎo)向機構(gòu)可以引導(dǎo)活動支架在豎直方向直線往返移動。
[0037]5.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述切換安裝機構(gòu)上安裝有三根探針，分別為第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探針為接地探針，所述第二探針和所述第三探針均為信號探針。在阻抗測試裝置中設(shè)置三根探針，其中一根為接地探針，另外兩個為信號探針，通過對探針在測試位置與非測試位置之間進行切換，實現(xiàn)當接地探針與信號探針處于測試位置構(gòu)成單端阻抗測試時，另外一根信號探針；同理，當兩個信號探針處于測試位置構(gòu)成差分阻抗測試時，接地探針處于非切換位置而避免與待測試的電路板接觸，保證測試結(jié)果。本發(fā)明的阻抗測試裝置可以實現(xiàn)只設(shè)置三根探針就可以完成單端阻抗測試和差分阻抗測試兩種測試，相比于現(xiàn)有需要四根才能實現(xiàn)單端阻抗測試和差分阻抗測試兩種測試，本發(fā)明的阻抗測試裝置可以減少探針數(shù)量，節(jié)約成本，且避免測試時非測試探針的干涉，保證測試結(jié)果的準確性同時防止短路損壞測量儀器。
[0038]6.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述第一探針的針尖、所述第三探針的針尖均傾斜靠近所述第二探針的針尖設(shè)置。這樣可以使得第一探針與第二探針構(gòu)成的單端阻抗測試、第二探針與第三探針構(gòu)成的差分阻抗測試這兩種阻抗測試都能實現(xiàn)在最小間距的檢測，提尚檢測范圍。
[0039]7.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述第二探針相對于所述第一探針、所述第三探針之間的距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。這樣使得構(gòu)成單端阻抗測試的第一探針和第二探針之間的間距、構(gòu)成差分阻抗測試的第二探針和第三探針之間的間距都可以隨電路板上待測位置處間距的大小靈活調(diào)節(jié)，不僅提高了阻抗測試范圍，還使得阻抗測試更靈活更便捷。
[0040]8.本發(fā)明提供的阻抗測試裝置，所述探針包括探針內(nèi)導(dǎo)體和包覆在所述探針內(nèi)導(dǎo)體外的屏蔽層，所述屏蔽層上設(shè)有導(dǎo)電彈性元件;處于測試位置的被選兩所述探針上的所述導(dǎo)電彈性元件在各自的彈力的作用下分別與同一所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)緊密接觸。本發(fā)明的阻抗測試裝置，通過所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)，及在探針的屏蔽層設(shè)置導(dǎo)電彈性元件，所述導(dǎo)電彈性元件在自身彈力的作用下與導(dǎo)體結(jié)構(gòu)能夠時刻保持緊密接觸，使處于測試位置的被選兩個探針的屏蔽層之間通過導(dǎo)體結(jié)構(gòu)實現(xiàn)良好的電連通，可以有效避免高頻信號失真，保證阻抗測試結(jié)果的準確性。
【附圖說明】
[0041 ]為了更清楚地說明本發(fā)明【具體實施方式】或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對【具體實施方式】或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施方式，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0042]圖1為本發(fā)明的第一種實施方式中提供的阻抗測試裝置的主視圖；
[0043]圖2為圖1所示的阻抗測試裝置的另一狀態(tài)的主視圖；
[0044]圖3為圖1所示的阻抗測試裝置的其中一根處于測試位置的探針與導(dǎo)體結(jié)構(gòu)接觸的側(cè)視剖視圖；
[0045]圖4為圖1所示的阻抗測試裝置的第一探針、第二探針與導(dǎo)體結(jié)構(gòu)接觸的主視剖視圖；
[0046]附圖標記說明:
[0047]1-安裝座，2-固定支架，21-限位孔，3-活動支架，4_電磁裝置，5_壓力彈簧，6_第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，61-鍵槽結(jié)構(gòu)，7-驅(qū)動裝置，8-探針內(nèi)導(dǎo)體，9-屏蔽層，10-第一探針，20-第二探針，30-第三探針，100-導(dǎo)電彈性元件，200-導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。
【具體實施方式】
[0048]下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0049]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。
[0050]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接;可以是機械連接，也可以是電連接;可以是直接連接，也可以通過中間媒介間接連接，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0051]此外，下面所描述的本發(fā)明不同實施方式中所涉及的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互結(jié)合。
[0052]如圖1和圖2所示，本實施例的一種阻抗測試裝置，包括:
[0053]切換安裝機構(gòu)；
[0054]至少三個探針，所述探針為接地探針或信號探針，所述探針安裝于所述切換安裝機構(gòu)上，且部分或全部所述探針受所述切換安裝機構(gòu)驅(qū)動，而可在測試位置與非測試位置之間切換;且所述切換安裝機構(gòu)每次驅(qū)動被選兩所述探針以一所述信號探針與另一所述信號探針的組合方式或以一所述信號探針與一所述接地探針的組合方式到達所述測試位置，其余非被選所述探針切換至所述非測試位置。
[0055]上述的阻抗測試裝置，當需要用被選兩探針進行阻抗測試時，只需要使被選兩探針處于測試位置，將非被選探針切換至非測試位置，即可實現(xiàn)在使用被選兩探針進行阻抗測試時，非被選的探針遠離待測電路板進而避免與待測電路板的其他地方接觸，不會對測試產(chǎn)生干涉，保證測試結(jié)果的準確性，同時防止造成短路而使測量儀器損壞。
[0056]所述探針的在所述測試位置與所述非測試位置之間的具體切換形式可以有多種，在本實施例中，所述探針通過直線往返移動的方式在所述測試位置與所述非測試位置之間切換。
[0057]所述切換安裝機構(gòu)的具體結(jié)構(gòu)形式可以有多種，作為一種具體的實施方式，所述切換安裝機構(gòu)包括:
[0058]安裝座I;
[0059]活動支架3，相對所述安裝座I豎直設(shè)置且可相對所述安裝座I沿豎直方向往復(fù)移動;其下端安裝有所述探針；
[0060]動力裝置，設(shè)置在所述安裝座I與所述活動支架3之間，驅(qū)動所述活動支架3相對所述安裝座I移動。
[0061]上述切換安裝機構(gòu)，通過動力裝置控制安裝于活動支架3的探針在測試位置與非測試位置之間的切換，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，切換狀態(tài)穩(wěn)定。
[0062]所述動力裝置的具體形式可以有多種，在本實施例中，所述動力裝置包括使所述活動支架3相對所述安裝座I向上或向下移動的可控作用力裝置;及偏壓力施加在所述活動支架3上驅(qū)使所述活動支架3向另一方向移動的偏壓件。
[0063]作為一種具體的實施方式，所述可控作用力裝置為電磁裝置4。
[0064]所述電磁裝置4的具體形式可以有多種，例如，所述電磁裝置4包括設(shè)置在所述活動支架3及所述安裝座I之一上的線圈或電磁吸盤，及設(shè)置在另一個上的鐵磁性部件。所述線圈或電磁吸盤通電時產(chǎn)生和所述鐵磁性部件相互吸引的磁吸力，使所述活動支架3向靠近所述安裝座1、遠離所述測試位置的方向移動。
[0065]進一步地，所述偏壓件的所述偏壓力為趨向所述測試位置的作用力。
[0066]作為一種具體的實施方式，所述偏壓力通過設(shè)置在所述活動支架3與所述安裝座I之間的壓力彈簧5施加。壓力彈簧5可在施加所述偏壓力的同時，在探針測試時兼具對探針的緩沖作用，防止探針與電路板間的接觸過硬而損壞電路板。
[0067]所述偏壓力通過設(shè)置在所述活動支架3與所述安裝座I之間的壓力彈簧5施加。
[0068]作為一種具體的實施方式，所述安裝座I具有固定支架2，所述固定支架2設(shè)置有對所述活動支架3的移動進行導(dǎo)向的第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)6。第一導(dǎo)向機構(gòu)6可以引導(dǎo)活動支架3在豎直方向直線往返移動。
[0069]具體地，在本實施例中，所述固定支架2為管狀結(jié)構(gòu)，所述活動支架3的上端沿孔深方向直線往返移動地插設(shè)于所述管狀結(jié)構(gòu)的限位孔21內(nèi)，所述第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)6為設(shè)于所述固定支架2與所述活動支架3之間的鍵槽結(jié)構(gòu)61。
[0070]所述鍵槽結(jié)構(gòu)61的具體結(jié)構(gòu)形式可以有多種，例如可以為設(shè)于活動支架3/固定支架2的花鍵與設(shè)于固定支架2/活動支架3的花鍵槽配合的結(jié)構(gòu)形式，也可以為設(shè)于活動支架3/固定支架2的平鍵與設(shè)于固定支架2/活動支架3的平鍵槽配合的結(jié)構(gòu)形式，還可以為設(shè)于活動支架3/固定支架2的導(dǎo)軌與設(shè)于固定支架2/活動支架3的導(dǎo)軌槽配合的結(jié)構(gòu)形式等。在本實施例中，所述鍵槽結(jié)構(gòu)61為設(shè)于活動支架3的花鍵與設(shè)于固定支架2的花鍵槽配合的結(jié)構(gòu)形式。
[0071]在本實施例中，所述線圈或電磁吸盤設(shè)置于所述固定支架2上，所述鐵磁性部件設(shè)置于所述活動支架3上。所述壓力彈簧5—端抵接于所述活動支架3，另一端抵接于所述固定支架2。
[0072]作為一種改進的實施方式，部分或全部所述探針之間的相對距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。這樣使得構(gòu)成單端阻抗測試的接地探針和信號探針之間的間距、構(gòu)成差分阻抗測試的兩個信號探針之間的間距都可以隨電路板上待測位置處間距的大小靈活調(diào)節(jié)，不僅提高了阻抗測試范圍，還使得阻抗測試更靈活更便捷。
[0073]切換安裝機構(gòu)上可以安裝至少三根探針，作為一種改進的實施方式，在本實施例中，所述切換安裝機構(gòu)上安裝有三根探針，分別為第一探針10、第二探針20和第三探針30，所述第一探針10為接地探針，所述第二探針20和所述第三探針30均為信號探針。在阻抗測試裝置中設(shè)置三根探針，其中一根為接地探針，另外兩個為信號探針，通過對探針在測試位置與非測試位置之間進行切換，實現(xiàn)當接地探針與信號探針處于測試位置構(gòu)成單端阻抗測試時，另外一根信號探針；同理，當兩個信號探針處于測試位置構(gòu)成差分阻抗測試時，接地探針處于非切換位置而避免與待測試的電路板接觸，保證測試結(jié)果。本實施例的阻抗測試裝置可以實現(xiàn)只設(shè)置三根探針就可以完成單端阻抗測試和差分阻抗測試兩種測試，相比于現(xiàn)有需要四根才能實現(xiàn)單端阻抗測試和差分阻抗測試兩種測試，本實施例的阻抗測試裝置可以減少探針數(shù)量，節(jié)約成本，且避免測試時非測試探針的干涉，保證測試結(jié)果的準確性同時防止短路損壞測量儀器。
[0074]各個探針可以共面設(shè)置也可以不共面設(shè)置，作為一種改進的實施方式，在本實施例中，所述第一探針1、所述第二探針20及所述第三探針30在同一豎直面內(nèi)共面設(shè)置，所述第二探針20設(shè)置于所述第一探針10和所述第三探針30之間，且定位于測試位置;所述第一探針10、所述第三探針30均分別可在測試位置與非測試位置之間切換。其中，圖1所示為第二探針20和第三探針30處于測試位置，第一探針10處于非測試位置的狀態(tài)；圖2所示為進行測試之前，第一探針10或第三探針30還沒有被切換到非測試位置的狀態(tài)。
[0075]作為一種改進的實施方式，所述第一探針10的針尖、所述第三探針30的針尖均傾斜靠近所述第二探針20的針尖設(shè)置。這樣可以使得第一探針10與第二探針20構(gòu)成的單端阻抗測試、第二探針20與第三探針30構(gòu)成的差分阻抗測試這兩種阻抗測試都能實現(xiàn)在最小間距的測試，提高測試范圍。
[0076]作為一種改進的實施方式，所述第二探針20相對于所述第一探針10、所述第三探針30之間的距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。這樣使得構(gòu)成單端阻抗測試的第一探針10和第二探針20之間的間距、構(gòu)成差分阻抗測試的第二探針20和第三探針30之間的間距都可以隨電路板上待測位置處間距的大小靈活調(diào)節(jié)，不僅提高了阻抗測試范圍，還使得阻抗測試更靈活更便捷。
[0077]實現(xiàn)第二探針20相對于第一探針10、第三探針30之間的距離可調(diào)的方式可以有多種，作為一種具體的實施方式，所述阻抗測試裝置還包括:
[0078]驅(qū)動裝置7，用于驅(qū)動所述第二探針20滑動；
[0079]第二導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，設(shè)置于所述切換安裝機構(gòu)上，引導(dǎo)所述第二探針20靠近所述第一探針10、遠離所述第三探針30滑動或靠近所述第三探針30、遠離所述第一探針10滑動。
[0080]在本實施例中，
[0081 ]與所述第二探針20對應(yīng)設(shè)置的所述固定支架2為滑動支架；
[0082]所述滑動支架一端與所述驅(qū)動裝置7連接且在靠近所述安裝座I的位置處形成有滑槽，另一端安裝有所述第二探針20，可在所述驅(qū)動裝置7的驅(qū)動下帶動所述第二探針20滑動；
[0083]所述第二導(dǎo)向結(jié)構(gòu)為滑軌，平行設(shè)置于所述安裝座I上，與所述滑槽配合引導(dǎo)所述第二探針20沿一個平行于所述安裝座I的方向靠近所述第一探針10、遠離所述第三探針30滑動或靠近所述第三探針30、遠離所述第一探針10滑動。
[0084]具體地，在本實施例中，所述驅(qū)動裝置7包括電機和絲杠，絲杠一端與電機連接，另一端與滑動支架螺紋連接。
[0085]作為一種改進的實施方式，如圖3和圖4所示，所述探針包括探針內(nèi)導(dǎo)體8和包覆在所述探針內(nèi)導(dǎo)體8外的屏蔽層9，所述屏蔽層9上設(shè)有導(dǎo)電彈性元件100;
[0086]處于測試位置的被選兩所述探針上的所述導(dǎo)電彈性元件100在各自的彈力的作用下分別與同一所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)200緊密接觸。
[0087]其中，圖4所示為處于測試位置的被選第一探針10和第二探針20與同一導(dǎo)體結(jié)構(gòu)200緊密接觸的狀態(tài)。
[0088]本實施例的阻抗測試裝置，通過所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)200，及在探針的屏蔽層9設(shè)置導(dǎo)電彈性元件100，所述導(dǎo)電彈性元件100在自身彈力的作用下與導(dǎo)體結(jié)構(gòu)200能夠時刻保持緊密接觸，使處于測試位置的被選兩個探針的屏蔽層9之間通過導(dǎo)體結(jié)構(gòu)200實現(xiàn)良好的電連通，可以有效避免高頻信號失真，保證阻抗測試結(jié)果的準確性。
[0089]顯然，上述實施例僅僅是為清楚地說明所作的舉例，而并非對實施方式的限定。對于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護范圍之中。
【主權(quán)項】
1.一種阻抗測試裝置，其特征在于，包括: 切換安裝機構(gòu)； 至少三個探針，所述探針為接地探針或信號探針，所述探針安裝于所述切換安裝機構(gòu)上，且部分或全部所述探針受所述切換安裝機構(gòu)驅(qū)動，而可在測試位置與非測試位置之間切換;且所述切換安裝機構(gòu)每次驅(qū)動被選兩所述探針以一所述信號探針與另一所述信號探針的組合方式或以一所述信號探針與一所述接地探針的組合方式到達所述測試位置，其余非被選所述探針切換至所述非測試位置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述探針通過直線往返移動的方式在所述測試位置與所述非測試位置之間切換。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述切換安裝機構(gòu)包括: 安裝座(I); 活動支架(3)，相對所述安裝座(I)豎直設(shè)置且可相對所述安裝座(I)沿豎直方向往復(fù)移動;其下端安裝有所述探針； 動力裝置，設(shè)置在所述安裝座(I)與所述活動支架(3)之間，驅(qū)動所述活動支架(3)相對所述安裝座(I)移動。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述動力裝置包括使所述活動支架(3)相對所述安裝座(I)向上或向下移動的可控作用力裝置;及偏壓力施加在所述活動支架(3)上驅(qū)使所述活動支架(3)向另一方向移動的偏壓件。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述可控作用力裝置為電磁裝置⑷。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述電磁裝置(4)包括設(shè)置在所述活動支架(3)及所述安裝座(I)之一上的線圈或電磁吸盤，及設(shè)置在另一個上的鐵磁性部件。7.根據(jù)權(quán)利要求4-6中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述偏壓件的所述偏壓力為趨向所述測試位置的作用力。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述偏壓力通過設(shè)置在所述活動支架(3)與所述安裝座(I)之間的壓力彈簧(5)施加。9.根據(jù)權(quán)利要求3-8中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述安裝座(I)具有固定支架(2)，所述固定支架(2)設(shè)置有對所述活動支架(3)的移動進行導(dǎo)向的第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)(6) ο10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述固定支架(2)為管狀結(jié)構(gòu)，所述活動支架(3)的上端沿孔深方向直線往返移動地插設(shè)于所述管狀結(jié)構(gòu)的限位孔(21)內(nèi)，所述第一導(dǎo)向結(jié)構(gòu)(6)為設(shè)于所述固定支架(2)與所述活動支架(3)之間的鍵槽結(jié)構(gòu)(61)。11.根據(jù)權(quán)利要求1-10中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述切換安裝機構(gòu)上安裝有三根探針，分別為第一探針(10)、第二探針(20)和第三探針(30)，所述第一探針(10)為接地探針，所述第二探針(20)和所述第三探針(30)均為信號探針。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的阻抗測試裝置，其特征在于， 所述第一探針(10)、所述第二探針(20)和所述第三探針(30)在同一豎直面內(nèi)共面設(shè) 置； 所述第二探針(20)設(shè)置于所述第一探針(10)和所述第三探針(30)之間，且定位于測試位置;所述第一探針(10)、所述第三探針(30)均分別可在測試位置與非測試位置之間切換。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述第一探針(10)的針尖、所述第三探針(30)的針尖均傾斜靠近所述第二探針(20)的針尖設(shè)置。14.根據(jù)權(quán)利要求11-13中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述第二探針(20)相對于所述第一探針(10)、所述第三探針(30)之間的距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的阻抗測試裝置，其特征在于，所述阻抗測試裝置還包括: 驅(qū)動裝置(7)，用于驅(qū)動所述第二探針(20)滑動； 第二導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，設(shè)置于所述切換安裝機構(gòu)上，引導(dǎo)所述第二探針(20)靠近所述第一探針(10)、遠離所述第三探針(30)滑動或靠近所述第三探針(30)、遠離所述第一探針(10)滑動。16.根據(jù)權(quán)利要求1-10中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于，部分或全部所述探針之間的相對距離可調(diào)地設(shè)置在所述切換安裝機構(gòu)上。17.根據(jù)權(quán)利要求1-16中任一項所述的阻抗測試裝置，其特征在于， 所述探針包括探針內(nèi)導(dǎo)體(8)和包覆在所述探針內(nèi)導(dǎo)體(8)外的屏蔽層(9)，所述屏蔽層(9)上設(shè)有導(dǎo)電彈性元件(100); 處于測試位置的被選兩所述探針上的所述導(dǎo)電彈性元件(100)在各自的彈力的作用下分別與同一所述導(dǎo)體結(jié)構(gòu)(200)緊密接觸。
【文檔編號】G01R1/073GK105938160SQ201610463590
【公開日】2016年9月14日
【申請日】2016年6月23日
【發(fā)明人】黃韜
【申請人】南京協(xié)辰電子科技有限公司