一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明屬于光纖技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及的是一種提高性能指標(biāo)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀。本發(fā)明由窄帶光源1，寬帶光源2，第一波分復(fù)用器3，光纖隔離器4，第一光纖耦合器5，第二波分復(fù)用器6，光電探測(cè)器7，信號(hào)處理單元8，三端口光纖環(huán)形器9，第一光電探測(cè)器10，第二光電探測(cè)器11，差分器12，信號(hào)處理單元13，第二光纖耦合器14，可調(diào)衰減器15，標(biāo)定參考器件16，光程掃描器17，光纖連接器18，待測(cè)光纖器件19組成。本發(fā)明能夠完成后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲特性的測(cè)試與分析，以達(dá)到提高光學(xué)系統(tǒng)性能指標(biāo)、發(fā)現(xiàn)其本身所存在的缺陷的目的。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明屬于光纖技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及的是一種可用于測(cè)試光纖器件及光纖系統(tǒng)中隨機(jī)分布的微小缺陷帶來(lái)的隨機(jī)匹配相干噪聲，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)光纖、Y型波導(dǎo)器件、光纖耦合器、光纖陀螺環(huán)以及光纖陀螺系統(tǒng)等光纖器件及光纖系統(tǒng)進(jìn)行隨機(jī)匹配相干噪聲分析以提高其性能指標(biāo)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]光纖白光干涉技術(shù)與方法是光纖技術(shù)領(lǐng)域中獨(dú)具特色的一種測(cè)量方法和傳感技術(shù)。該項(xiàng)專(zhuān)門(mén)技術(shù)在寬譜光干涉特性研究，絕對(duì)形變光纖傳感測(cè)量，光波導(dǎo)器件的結(jié)構(gòu)及其對(duì)光波反射特性參量的檢測(cè)，光纖陀螺環(huán)中光偏振態(tài)橫向耦合測(cè)量與評(píng)估，尤其是在醫(yī)學(xué)臨床診斷的組織結(jié)構(gòu)形態(tài)的光學(xué)層析技術(shù)等方面，都具有廣泛的應(yīng)用。
[0003]高精度光纖陀螺通常是由光源、光纖耦合器、Y波導(dǎo)器件、保偏光纖環(huán)和探測(cè)器等主要部件搭建成光纖干涉儀而構(gòu)成的。要實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的高精度運(yùn)行，必須保證上述主要光學(xué)元器件的性能指標(biāo)滿(mǎn)足陀螺高精度測(cè)量的需求。為此，需要對(duì)其使用的保偏光纖、光纖耦合器以及光纖陀螺環(huán)的性能進(jìn)行測(cè)試，以此評(píng)估相關(guān)器件的穩(wěn)定性和噪聲譜特性及其對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)對(duì)光波導(dǎo)器件的特性測(cè)試，1994年美國(guó)海軍實(shí)驗(yàn)室的MatthewN.McLandrich ,Donald J.Albares ,和Stephen A.Pappert 公開(kāi)了一種基于 Miche I son 干涉儀結(jié)構(gòu)的后向反射式測(cè)量系統(tǒng)(美國(guó)專(zhuān)利:專(zhuān)利號(hào)5341205)。1995年美國(guó)H-P公司W(wǎng)ayneV.Sorin和Douglas M.Baney公開(kāi)了一種基于Michelson干涉儀結(jié)構(gòu)的光程自相關(guān)器(美國(guó)專(zhuān)利:專(zhuān)利號(hào)5557400)。它基于非平衡Michelson干涉儀結(jié)構(gòu)，利用光信號(hào)在Michelson干涉儀固定臂和可變掃描臂之間形成的光程差與光纖傳感器的前后兩個(gè)端面反射光信號(hào)的光程差之間的匹配實(shí)現(xiàn)光學(xué)自相關(guān)，獲得傳感器的白光干涉信號(hào)。該相關(guān)器由一個(gè)3dB光纖耦合器組成，入射光波注入后，該光波經(jīng)過(guò)2 X 2光纖耦合器后被分成兩路，一路經(jīng)過(guò)固定長(zhǎng)度光纖后經(jīng)過(guò)其尾端反射器返回輸出；另一路經(jīng)過(guò)連接在光纖端的光學(xué)準(zhǔn)直器后，被可移動(dòng)的反射掃描鏡反射回來(lái)，形成光程可調(diào)的光波后到達(dá)輸出端。Michelson干涉儀型光纖光程相關(guān)器的優(yōu)點(diǎn)是構(gòu)造簡(jiǎn)單，使用的器件少。但缺點(diǎn)是有一半的光功率會(huì)返回光源，會(huì)造成光源的不穩(wěn)定。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種光纖器件系統(tǒng)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀。
[0006]本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0007]—種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀，由窄帶光源I，寬帶光源2，第一波分復(fù)用器3，光纖隔離器4，第一光纖耦合器5，第二波分復(fù)用器6，光電探測(cè)器7，信號(hào)處理單元8，三端口光纖環(huán)形器9，第一光電探測(cè)器10，第二光電探測(cè)器11，差分器12，信號(hào)處理單元13，第二光纖耦合器14，可調(diào)衰減器15，標(biāo)定參考器件16，光程掃描器17，光纖連接器18，待測(cè)光纖器件19組成，窄帶光源與寬帶光源分別從第一波分復(fù)用器的兩個(gè)端口輸入，第一波分復(fù)用器的輸出端與光纖隔離器相連，光纖隔離器的輸出端連接到第一光纖耦合器的端口 i，第一光纖親合器的端口 j、端口 k連接一個(gè)光程掃描器，第一光纖親合器的端口m連接到第二波分復(fù)用器，第二波分復(fù)用器的輸出分別接到光電探測(cè)器和三端口光纖環(huán)形器的端口 a，光電探測(cè)器輸出接到信號(hào)處理單元，三端口環(huán)形器的端口 b與第二光纖耦合器的端口 e相連，第二光纖耦合器的端口 f與光纖連接器相連接，端口 g與標(biāo)定參考器件相連，端口 h與可調(diào)衰減器相連，三端口光纖環(huán)形器的端口 c和可調(diào)衰減器分別與第一光電探測(cè)器、第二光電探測(cè)器相連，其輸出再經(jīng)過(guò)一個(gè)差分器后與信號(hào)處理單元相連，光纖連接器輸出與待測(cè)光纖器件相連接。
[0008]所述的窄帶光源、寬帶光源輸出光信號(hào)波長(zhǎng)不同，窄帶光源I用于測(cè)定光程掃描器17中反射鏡位置，窄帶光源I輸出的光經(jīng)波分復(fù)用器3、光纖隔離器4、光纖耦合器5和光程掃描器17，再經(jīng)過(guò)光纖耦合器5和波分復(fù)用器6輸出到光電探測(cè)器7，經(jīng)過(guò)信號(hào)處理單元8處理后得到光程掃描器17的反射鏡位置;光源2為其余測(cè)試系統(tǒng)的光源，即第一光纖耦合器5、第二光纖耦合器14以及三端口環(huán)形器9的中心波長(zhǎng)和光源2波長(zhǎng)相同。
[0009]所采用的光程掃描器是Fizeau干涉儀結(jié)構(gòu)。
[0010]所采用的光程掃描器是Michelson空間光程匹配掃描裝置。
[0011]所采用的光程掃描器是Mach-Zehnder空間光程掃描裝置。
[0012]所述的寬帶光源采用脈沖光的形式。
[0013]本發(fā)明的有益效果在于:
[0014]本發(fā)明所提供的測(cè)試儀能夠解決保偏光纖、光纖陀螺環(huán)、Y波導(dǎo)器件、光纖耦合器以及由他們組成的光學(xué)系統(tǒng)的后向散射匹配相干噪聲測(cè)試問(wèn)題，特別是:(I)由于光纖環(huán)以及其他光學(xué)器件尾纖長(zhǎng)度及其焊點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)引入的匹配相干噪聲；(2)由于溫度變化導(dǎo)致光纖環(huán)中等效光程差的累積變化引入的后向散射光程匹配相干噪聲;這兩項(xiàng)通常是無(wú)法評(píng)估與測(cè)量的。本發(fā)明通過(guò)克服在先技術(shù)的不足，能夠完成上述后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲特性的測(cè)試與分析，以達(dá)到提高光學(xué)系統(tǒng)性能指標(biāo)、發(fā)現(xiàn)其本身所存在的缺陷的目的。其獨(dú)特性是其它光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)所不能替代的。
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1是光纖器件系統(tǒng)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖2是該測(cè)試系統(tǒng)的一種簡(jiǎn)化形式的測(cè)量原理示意圖。
[0017]圖3是該測(cè)試系統(tǒng)中光程掃描器17采用Michelson空間光程匹配掃描方式組成測(cè)量原理示意圖。
[0018]圖4是該測(cè)試系統(tǒng)中光程掃描器17采用Mach-Zehnder空間光程匹配掃描方式組成的測(cè)量原理示意圖。
[0019]圖5是描述光纖中隨機(jī)分布的缺陷所形成的兩類(lèi)隨機(jī)相關(guān)諧振腔，圖中(a)是Fizeau干涉儀構(gòu)成的光學(xué)腔(C)在光纖中的等效形式，同理(b)是Fabry-Perot干涉儀構(gòu)成的光學(xué)腔(d)在光纖中的等效形式。
[0020]圖6是使用該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試一個(gè)光纖陀螺環(huán)的測(cè)量原理示意圖。
[0021]圖7是對(duì)于長(zhǎng)程光學(xué)系統(tǒng)獲得分布式后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試結(jié)果示意圖。
[0022]圖8是使用該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試一段單模保偏光纖的測(cè)量原理示意圖。
[0023]圖9是使用該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試一個(gè)Y波導(dǎo)器件的測(cè)量原理示意圖。
[0024]圖10是使用該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試一個(gè)全光纖陀螺系統(tǒng)的測(cè)量原理示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]下面結(jié)合附圖實(shí)施舉例對(duì)本發(fā)明做更詳細(xì)地描述:
[0026]圖1中測(cè)量裝置是由窄帶光源I;寬帶光源2(與光源I的波長(zhǎng)不同)；波分復(fù)用器3;光纖隔離器4;光纖耦合器5;波分復(fù)用器6;光電探測(cè)器7;信號(hào)處理單元8;三端口光纖環(huán)形器9;光電探測(cè)器10;光電探測(cè)器11;差分器12;信號(hào)處理單元13;光纖耦合器14;可調(diào)衰減器15;標(biāo)定參考器件16;光程掃描器17;光纖連接器18;待測(cè)光纖器件19等部分組成。
[0027]本發(fā)明公開(kāi)了一種光纖器件系統(tǒng)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀，其主要特征是:該測(cè)量裝置是由窄帶光源I;寬帶光源2(與光源I的波長(zhǎng)不同)；波分復(fù)用器3;光纖隔離器4;光纖耦合器5;波分復(fù)用器6;光電探測(cè)器7 ;信號(hào)處理單元8;三端口光纖環(huán)形器9;光電探測(cè)器10;光電探測(cè)器11;差分器12;信號(hào)處理單元13;光纖耦合器14;可調(diào)衰減器15;標(biāo)定參考器件16;光程掃描器17;光纖連接器18;待測(cè)光纖器件19等部分組成。本發(fā)明所給出的測(cè)量裝置能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量光纖器件或者光纖系統(tǒng)中由于材料不均勻以及生產(chǎn)過(guò)程中的隨機(jī)因素導(dǎo)致的微小缺陷對(duì)光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生的相干噪聲，對(duì)其進(jìn)行評(píng)估。可用于光纖陀螺研制和生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行測(cè)試與分析，也可用于對(duì)全光纖陀螺系統(tǒng)中的光纖耦合器、光纖以及光纖陀螺環(huán)的噪聲特性進(jìn)行測(cè)試與分析。
[0028]本發(fā)明可用于測(cè)試光纖器件及光纖系統(tǒng)中隨機(jī)分布的微小缺陷帶來(lái)的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲的測(cè)量與評(píng)估，這種微小缺陷是光纖器件和光纖系統(tǒng)的光路內(nèi)部由于材料的不均勻性、光纖的焊接以及生產(chǎn)過(guò)程中的隨機(jī)因素造成的。本發(fā)明即可用于光纖陀螺系統(tǒng)研制和生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行測(cè)試與分析其后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲特性，也可用于對(duì)光纖陀螺系統(tǒng)中的光纖、光纖耦合器、Y波導(dǎo)器件、以及光纖陀螺環(huán)器件的后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲特性的測(cè)試。
[0029]任何光器件內(nèi)部都會(huì)存在隨機(jī)分布的缺陷，例如:光纖在制造過(guò)程中由于材料的不均勻而導(dǎo)致的隨機(jī)分布缺陷，而這些隨機(jī)分布的缺陷點(diǎn)除了會(huì)產(chǎn)生瑞利散射噪聲外，還會(huì)導(dǎo)致相關(guān)噪聲。這種隨機(jī)缺陷散射相關(guān)噪聲產(chǎn)生的機(jī)理是:光器件內(nèi)部任意散射點(diǎn)為中心，可與其緊鄰的散射點(diǎn)構(gòu)成兩類(lèi)隨機(jī)相關(guān)諧振腔，所形成的光學(xué)腔主要是Fizeau干涉腔或光纖Fabry-Perot干涉腔，如圖5所示。事實(shí)上，F(xiàn) i zeau干涉是Fabry-Perot干涉的一階近似，對(duì)于微小缺陷導(dǎo)致的后向散射相干噪聲，由于等效反射系數(shù)一般都非常小，因而噪聲貢獻(xiàn)主要來(lái)自于一階Fizeau干涉光程匹配相干。
[0030]本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:該測(cè)試儀是由窄帶光源I;寬帶光源2(與光源I的波長(zhǎng)不同)；波分復(fù)用器3;光纖隔離器4;光纖耦合器5;波分復(fù)用器6;光電探測(cè)器7;信號(hào)處理單元8;三端口光纖環(huán)形器9;光電探測(cè)器10;光電探測(cè)器11;差分器12;信號(hào)處理單元13;光纖耦合器14;可調(diào)衰減器15;標(biāo)定參考器件16;光程掃描器17;光纖連接器18;待測(cè)光纖器件19等部分組成。窄帶光源I與寬帶光源2分別從波分復(fù)用器3的兩個(gè)端口輸入，波分復(fù)用器3的輸出端與光纖隔離器4相連;光纖隔離器4的輸出端連接到光纖耦合器5的端口 i，光纖耦合器5的端口 j、端口 k連接一個(gè)光程掃描器17，光纖親合器5的端口 m連接到波分復(fù)用器6，波分復(fù)用器6的輸出分別接到光電探測(cè)器7和三端口光纖環(huán)形器9的端口 a，光電探測(cè)器7輸出接到信號(hào)處理單元8;三端口環(huán)形器9的端口 b與光纖耦合器14的端口 e相連，光纖耦合器14的端口 f與光纖連接器18相連接，端口 g與標(biāo)定參考器件16相連，端口h與可調(diào)衰減器15相連;三端口光纖環(huán)形器9的端口 c和可調(diào)衰減器15分別與光電探測(cè)器10、11相連，其輸出再經(jīng)過(guò)一個(gè)差分器12后與信號(hào)處理單元13相連;光纖連接器18輸出與待測(cè)光纖器件19相連接。
[0031]在測(cè)試過(guò)程中，為了消除瑞利散射的累計(jì)信號(hào)對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，系統(tǒng)采用了差動(dòng)探測(cè)光路的結(jié)構(gòu)，一方面消除了瑞利散射作為直流非相干強(qiáng)度噪聲的影響，另一方面，也實(shí)現(xiàn)了匹配干涉信號(hào)的倍增。
[0032]當(dāng)光路中的有關(guān)光纖器件都采用保偏光器件時(shí)，可構(gòu)成全偏振測(cè)試系統(tǒng)，這有利于實(shí)現(xiàn)對(duì)保偏式光纖陀螺系統(tǒng)的測(cè)試。
[0033]基于光時(shí)域反射測(cè)量技術(shù)(OTDR)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)程光纖器件(包括光纖陀螺環(huán)以及全光纖陀螺系統(tǒng)等)測(cè)量，為此，當(dāng)本發(fā)明中的寬帶光源2以脈沖形式工作時(shí)，通過(guò)對(duì)時(shí)序信號(hào)的分析與處理，可實(shí)現(xiàn)待測(cè)光學(xué)系統(tǒng)沿著傳輸光程的分布式后向散射匹配相干噪聲特性的測(cè)量。具體實(shí)現(xiàn)原理如圖6和圖7所示:圖中的光源2發(fā)射脈沖光，經(jīng)過(guò)波分復(fù)用器3、光纖隔離器4后進(jìn)入光纖親合器5，分成兩個(gè)相干光脈沖，經(jīng)過(guò)光程掃描器17后形成光程差，兩個(gè)相干光脈沖再經(jīng)過(guò)波分復(fù)用器6、三端口環(huán)形器9進(jìn)入光纖耦合器14，進(jìn)入標(biāo)定參考器件16和待測(cè)器件19中(二者內(nèi)部各有兩個(gè)脈沖光)，沿著向前傳輸?shù)膬蓚€(gè)脈沖光由于待測(cè)器件19(或標(biāo)定參考器件16)內(nèi)部的不均勻分布會(huì)發(fā)生瑞利散射，這兩個(gè)脈沖光的后向瑞利散射光將沿著光纖傳回，經(jīng)過(guò)光纖耦合器14進(jìn)入差分信號(hào)檢測(cè)裝置，得到光程補(bǔ)償?shù)膬蓚€(gè)后向散射光脈沖，在滿(mǎn)足相位匹配的條件下發(fā)生干涉。其中的一路經(jīng)過(guò)三端口光纖環(huán)形器9(損耗約IdB)的一臂后被光電探測(cè)器10所接收；另外一路經(jīng)過(guò)可調(diào)衰減器后被光電探測(cè)器11所接收，由于兩探測(cè)器所接收到的信號(hào)是由2X2光纖耦合器14兩個(gè)端口輸出，所以其相位恰好相反，通過(guò)可調(diào)衰減器15使兩路光信號(hào)大小達(dá)到平衡，這時(shí)經(jīng)過(guò)差分器12以及信號(hào)處理單元13處理后，與干涉測(cè)量無(wú)關(guān)的平均強(qiáng)度信號(hào)被抵消，而兩路干涉信號(hào)卻差動(dòng)得到放大。通過(guò)調(diào)整光程掃描器17兩臂的光程差，即可掃描待測(cè)器件內(nèi)部的不同距離處的散射點(diǎn)，即材料分布不均勻處或者有缺陷的地方。最后在信號(hào)檢測(cè)單元13可得到測(cè)試結(jié)果，如圖7中所示，橫坐標(biāo)為傳播距離，縱坐標(biāo)為后向散射信號(hào)功率取對(duì)數(shù)，曲線上的尖峰即為待測(cè)器件中有缺陷的地方。
[0034]將需要測(cè)試的光學(xué)元器件或光學(xué)系統(tǒng)作為待測(cè)單元19連接到本測(cè)試系統(tǒng)的光路中的，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)器件的測(cè)試與評(píng)估。
[0035]實(shí)施例一:為了對(duì)光纖陀螺環(huán)的特性實(shí)施測(cè)試，將其串聯(lián)到測(cè)試系統(tǒng)中的待測(cè)器件19的位置，如圖6、圖7所示，將該待測(cè)的光纖陀螺環(huán)的一端與光纖連接器18端□相連，就能實(shí)現(xiàn)該光纖陀螺環(huán)噪聲特性的測(cè)量。
[0036]實(shí)施例二:為了對(duì)單模保偏光纖的特性實(shí)施測(cè)試，我們將該單模光纖串聯(lián)到測(cè)試系統(tǒng)中的待測(cè)器件19位置，如圖8所示，將該待測(cè)光纖與光纖連接器18的端□相連，就能實(shí)現(xiàn)該光纖的后向散射匹配相干噪聲特性的測(cè)量。
[0037]實(shí)施例三:為了對(duì)Y波導(dǎo)器件的特性實(shí)施測(cè)試，將其串聯(lián)到測(cè)試系統(tǒng)中的待測(cè)器件19的位置，如圖9所示，將Y波導(dǎo)器件與光纖連接器18的端口相連，就能實(shí)現(xiàn)該Y波導(dǎo)器件的后向散射匹配相干噪聲特性的測(cè)量。
[0038]實(shí)施例四:為了對(duì)全光纖陀螺系統(tǒng)的特性實(shí)施測(cè)試，將其測(cè)試系統(tǒng)中的待測(cè)器件19的位置，如圖10所示，將該全光纖陀螺系統(tǒng)的一端與光纖連接器18的端口相連，就能實(shí)現(xiàn)該全光纖陀螺系統(tǒng)后向散射匹配相干噪聲特性的測(cè)量。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀，由窄帶光源(I)，寬帶光源(2)，第一波分復(fù)用器(3)，光纖隔離器(4)，第一光纖耦合器(5)，第二波分復(fù)用器(6)，光電探測(cè)器(7)，信號(hào)處理單元(8)，三端口光纖環(huán)形器(9)，第一光電探測(cè)器(10)，第二光電探測(cè)器(11)，差分器(12)，信號(hào)處理單元(13)，第二光纖耦合器(14)，可調(diào)衰減器(15)，標(biāo)定參考器件(16)，光程掃描器(17)，光纖連接器(18)，待測(cè)光纖器件(19)組成，其特征在于:窄帶光源與寬帶光源分別從第一波分復(fù)用器的兩個(gè)端口輸入，第一波分復(fù)用器的輸出端與光纖隔離器相連，光纖隔離器的輸出端連接到第一光纖耦合器的端口 i，第一光纖耦合器的端口 j、端口 k連接一個(gè)光程掃描器，第一光纖耦合器的端口 m連接到第二波分復(fù)用器，第二波分復(fù)用器的輸出分別接到光電探測(cè)器和三端口光纖環(huán)形器的端口 a，光電探測(cè)器輸出接到信號(hào)處理單元，三端口環(huán)形器的端口 b與第二光纖耦合器的端口 e相連，第二光纖耦合器的端口 f與光纖連接器相連接，端口 g與標(biāo)定參考器件相連，端口 h與可調(diào)衰減器相連，三端口光纖環(huán)形器的端口 c和可調(diào)衰減器分別與第一光電探測(cè)器、第二光電探測(cè)器相連，其輸出再經(jīng)過(guò)一個(gè)差分器后與信號(hào)處理單元相連，光纖連接器輸出與待測(cè)光纖器件相連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀該測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述的窄帶光源、寬帶光源輸出光信號(hào)波長(zhǎng)不同，窄帶光源I用于測(cè)定光程掃描器(17)中反射鏡位置，窄帶光源(I)輸出的光經(jīng)波分復(fù)用器(3)、光纖隔離器(4)、光纖耦合器(5)和光程掃描器(17)，再經(jīng)過(guò)光纖耦合器(5)和波分復(fù)用器(6)輸出到光電探測(cè)器(7)，經(jīng)過(guò)信號(hào)處理單元(8)處理后得到光程掃描器(17)的反射鏡位置;光源(2)為其余測(cè)試系統(tǒng)的光源，即第一光纖耦合器(5)、第二光纖耦合器(14)以及三端口環(huán)形器(9)的中心波長(zhǎng)和光源(2)波長(zhǎng)相同。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀該測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所采用的光程掃描器是Fizeau干涉儀結(jié)構(gòu)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀該測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所采用的光程掃描器是Michelson空間光程匹配掃描裝置。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀該測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所采用的光程掃描器是Mach-Zehnder空間光程掃描裝置。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種后向散射隨機(jī)匹配相干噪聲測(cè)試儀該測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述的寬帶光源采用脈沖光的形式。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK105954004SQ201610201528
【公開(kāi)日】2016年9月21日
【申請(qǐng)日】2016年4月1日
【發(fā)明人】苑立波, 李文超, 苑勇貴, 楊軍
【申請(qǐng)人】哈爾濱工程大學(xué)