用于捕獲在自動測試設(shè)備(ate)上的測試期間由無線芯片發(fā)射的緊密接近電磁輻射的波導(dǎo)的制作方法
【專利摘要】測試裝置具有用作波導(dǎo)的柔性塑料線纜。被測試設(shè)備(DUT)是工作在30?300GHz的極高頻率(EHF)頻帶中的小收發(fā)器和天線。DUT收發(fā)器的尺寸非常小，限制所發(fā)出的電磁輻射的功率以使得緊密接近通信被使用。用于接收的包絡(luò)可以只從DUT收發(fā)器延伸大約一厘米，大約與測試插座的尺寸相同。槽被形成在測試插座中緊密接近天線的地方。槽接收塑料波導(dǎo)的端部。槽延伸至DUT收發(fā)器的包絡(luò)中以使得緊密接近輻射被塑料波導(dǎo)捕獲。該波導(dǎo)具有高相對介電常數(shù)和反射性金屬強(qiáng)以使得輻射可以被運(yùn)載至在包絡(luò)外部的接收器。
【專利說明】
用于捕獲在自動測試設(shè)備(ATE)上的測試期間由無線芯片發(fā)射的緊密接近電磁輻射的波導(dǎo)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及測試系統(tǒng)，并且更具體地涉及測量由設(shè)備發(fā)出的電磁輻射的測試器。
【背景技術(shù)】
[0002]無線通信設(shè)備通常具有驅(qū)動天線的發(fā)射器芯片。天線可以被集成在發(fā)射器芯片內(nèi)部，但是更常見地是發(fā)射器芯片和天線被集成到模塊或其它設(shè)備上。
[0003]已經(jīng)開發(fā)了各種自動測試設(shè)備(ATE)以測試諸如發(fā)射器芯片之類的芯片。ATE可以被連接到喇叭天線上以直接測量由天線發(fā)出的電磁輻射。
[0004]圖1示出了被連接到ATE以測試來自收發(fā)器的被發(fā)射電磁輻射的喇叭天線。接口板被連接在ATE 128與被測試設(shè)備(DUT)收發(fā)器100之間，該DUT收發(fā)器100可以被置于接口板120上的插座(未被顯示)中。
[0005]在測試期間，ATE128或其它測試儀器發(fā)出激勵或輸入信號，這些信號通過接口板120被路由到DUT收發(fā)器100的輸入。來自DUT收發(fā)器100的電子輸出通過接口板120被路由到ATE 128，該ATE 128可以執(zhí)行諸如針對短路、開路、電源電流、編程寄存器、模式和接收器的各種電測試以及其它功能。但是，DUT收發(fā)器100的主要功能是驅(qū)動天線(未被顯示)以發(fā)出諸如射頻(RF)波之類的電磁輻射。天線可以作為與收發(fā)器集成電路(IC) 一起形成DUT收發(fā)器100的模塊的一部分。
[0006]當(dāng)ATE128激活DUT收發(fā)器100發(fā)射信號時，電磁輻射波144從DUT收發(fā)器100中的天線處被發(fā)射。這些波144傳播遠(yuǎn)離DUT收發(fā)器100。天線的被輻射的信號強(qiáng)度和物理幾何形狀使得電磁輻射波144具有一般可以被描述為具有包絡(luò)114的圖案，其中包絡(luò)114內(nèi)的輻射強(qiáng)度在例如可被接收器檢測的閾值量以上。包絡(luò)114可以是圍繞DUT收發(fā)器100的自由空間包絡(luò)或者可以通過例如被放在收發(fā)器附近的金屬、塑料或散射材料的結(jié)構(gòu)被修改。
[0007]喇叭天線102可以被放在包絡(luò)114內(nèi)以接收這些波144。喇叭天線102具有形狀像喇叭的張開的金屬側(cè)面，允許喇叭天線102收集電磁輻射。在喇叭的附近的檢測器接收從喇叭的張開側(cè)面彈開并進(jìn)入喇叭的后面的電磁輻射。這個檢測器將電磁輻射轉(zhuǎn)換為被發(fā)送給ATE 128的電信號以評估從DUT收發(fā)器100發(fā)出的電磁輻射的強(qiáng)度。
[0008]喇叭天線對于300MHz以上的無線電波特別有用。但是，它們往往尺寸很大且笨重。通常，DUT收發(fā)器100比喇叭天線102要小得多。物理上將大喇叭天線102放在DUT收發(fā)器100附近在很多測試環(huán)境下是很具挑戰(zhàn)性的或者是不可能的。因而使用大喇叭天線可能不現(xiàn)實(shí)。
[0009]圖2示出了測試環(huán)境中的輻射腔體。一些DUT收發(fā)器100可以利用非常小的功率進(jìn)行發(fā)射。接口板120上的DUT收發(fā)器104利用非常低的功率進(jìn)行發(fā)射以使得所發(fā)出的電磁輻射波144形成較小的包絡(luò)116。由于來自DUT發(fā)射器104的小輻射功率和喇叭天線1 2的實(shí)際尺寸，喇叭天線102可能不能完全接收被發(fā)射的信號。輻射腔體122幫助容納輻射并將其引導(dǎo)至喇叭天線102。輻射腔體122還阻止不想要的噪聲輻射到達(dá)喇叭天線102。噪聲輻射可能在ATE測試環(huán)境中由被發(fā)送至接口板120或者ATE 128內(nèi)或周圍的高速信號產(chǎn)生。
[0010]輻射腔體122中的開口被放在DUT收發(fā)器104上以接收較小的包絡(luò)116。電磁輻射波144可以從輻射腔體122的金屬化壁彈開，直到波144到達(dá)喇叭天線102。在喇叭天線102附近的檢測器將這些電磁輻射波轉(zhuǎn)換為被發(fā)送至ATE 128以進(jìn)行評估的電信號。
[0011]雖然輻射腔體122可以擴(kuò)展喇叭天線102的范圍，但是仍然存在由于DUT收發(fā)器104的小輻射功率所造成的限制。最終到達(dá)在喇叭天線102的附近的檢測器的電磁輻射波144的量可能太低以至于不能準(zhǔn)確地測量來自DUT收發(fā)器104的所發(fā)出的輻射。電磁輻射可能由于輻射腔體122內(nèi)的不理想腔體壁的多次彈開而被過多地衰減。輻射腔體122可能太長或者太笨重以至于不能用在測試環(huán)境中。
[0012]當(dāng)被優(yōu)化用于米至千米范圍內(nèi)的距離上的通信的典型的RF接收器不與發(fā)射器緊密接近(0.1mm至20_)處時，該接收器不太可能能夠準(zhǔn)確地接收非常低功率的信號。接收器應(yīng)當(dāng)最優(yōu)地與低功率發(fā)射器緊密接近地被放置。最優(yōu)放置可以是從0.1mm至20_。由于很多測試裝置(fixture)都很大且笨重，通常尺寸遠(yuǎn)大于20mm，阻礙接收器物理上被放在與正在測試裝置中被測試的DUT發(fā)射器足夠近的地方，所以這是個問題。
[0013]具有更長波長的較低頻率與較高頻率信號相比具有更大的近場區(qū)域。因而，通常結(jié)合射頻標(biāo)識(RFID)使用的無線電波具有大約幾米的近場區(qū)域，但是數(shù)據(jù)速率被無線電頻率限制為大概幾kHz到幾MHz。因而，RFID系統(tǒng)往往發(fā)射少量的數(shù)據(jù)，例如標(biāo)識符。
[0014]希望能無線地發(fā)射要求高數(shù)據(jù)速率的視頻及其它數(shù)據(jù)。RFID受無線電波的低頻的過度限制。受讓人已開發(fā)了使用極高頻率(EHF)電磁輻射而不使用射頻(RF)電磁輻射的無線通信系統(tǒng)。EHF輻射具有30GHz到300GHz范圍內(nèi)的頻率。這個更高的頻率允許數(shù)據(jù)速率比利用MHz范圍內(nèi)的RF傳輸快1000倍。但是，輻射波長比用于當(dāng)前RFID系統(tǒng)的輻射波長小得多。
[0015]喇叭天線102可能太笨重以至于不能被放在DUT收發(fā)器104的l-2cm距離內(nèi)。喇叭天線102還可能對發(fā)射器造成不希望有的負(fù)載效應(yīng)并且可能甚至?xí)破渌l(fā)射的頻率。因而，測試EHF收發(fā)器是有問題的?？梢詮睦缬糜贒UT收發(fā)器104中的小型IC驅(qū)動的天線發(fā)射的能量的量可能非常小，使得典型的接收器不能在大于20mm的距離處完全地獲取被發(fā)射的信號。
[0016]需要一種收集和檢測電磁輻射的測試系統(tǒng)。需要一種能夠?qū)⑼鶃碛贒UT的輻射引導(dǎo)至測試裝置以外的位置處的測試裝置。需要一種可以收集少量輻射的測試方法，所述少量輻射只能在發(fā)射天線的幾厘米距離內(nèi)被檢測到。需要一種收集從發(fā)射器發(fā)出的少量輻射的低成本方法。還需要一種可以被添加到ATE的EHF近場輻射收集器。
【附圖說明】
[0017]圖1示出了被連接到ATE以對從收發(fā)器發(fā)出的電磁輻射進(jìn)行測試的喇叭天線。
[0018]圖2示出了測試環(huán)境中的輻射腔體。
[0019]圖3示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器發(fā)出的緊密接近電磁輻射。
[0020]圖4示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器向下發(fā)出的緊密接近電磁輻射。
[0021]圖5示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器向側(cè)面發(fā)出的緊密接近電磁輻射。
[0022]圖6是用于測試DUT收發(fā)器的測試裝置的三維透視圖。
[0023]圖7A-B示出了在測試裝置中被切割出以捕獲來自DUT收發(fā)器的向上引導(dǎo)的緊密接近輻射的槽。
[0024]圖8A-B示出了在測試裝置中被切割出以捕獲來自DUT收發(fā)器的向下引導(dǎo)的緊密接近輻射的槽。
[0025]圖9示出了用于捕獲來自多發(fā)射器DUT的緊密接近發(fā)射的并行測試裝置。
[0026]圖10示出了用于捕獲來自多個DUT收發(fā)器的緊密接近發(fā)射的并行測試裝置。
[0027]圖11示出了用于捕獲來自多個DUT收發(fā)器的緊密接近發(fā)射并將所捕獲的發(fā)射合并入天線喇叭中的并行測試裝置。
[0028]圖12示出了空間上將所捕獲的輻射復(fù)用到喇叭天線中的天線喇叭陣列。
[0029]圖13A-B示出了測試固件中的周期性的緊密接近引向器。
【具體實(shí)施方式】
[0030]本發(fā)明涉及緊密接近測試的改進(jìn)。以下描述被呈現(xiàn)以允許本領(lǐng)域普通技術(shù)人員制作并使用如特定申請及其要求的上下文中所提供的本發(fā)明。對優(yōu)選實(shí)施例的各種修改對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說將是很明顯的，并且這里所限定的總體原則可以被應(yīng)用于其它實(shí)施例。因此，本發(fā)明不希望被局限于所示出和描述的特定實(shí)施例，而是要依據(jù)與這里所公開的原理和新特征一致的最寬的范圍。
[0031]發(fā)明人已意識到塑料波導(dǎo)可以被用于捕獲來自近場包絡(luò)內(nèi)的EHF電磁輻射并將該輻射運(yùn)送給檢測器或接收器。具有高相對介電常數(shù)(介電常數(shù)為2.0或更大)和EHF頻帶內(nèi)的低損耗特性的塑料材料可以被選擇以使得與通過空氣相比波被運(yùn)載更長的距離。諸如低密度聚乙烯(LDPE)之類的塑料材料具有這樣的特性。塑料波導(dǎo)的波導(dǎo)壁可以例如通過沉積被涂覆鋁或其它金屬，以將EHF波反射回塑料材料中。塑料還可以用較低介電常數(shù)的材料環(huán)繞，例如泡沫。波導(dǎo)的塑料材料可以是柔性的，允許其用作運(yùn)載EHF輻射的線纜。
[0032]允許對通常緊密接近(例如在0.1mm與2cm之間)的發(fā)射器和接收器進(jìn)行測試。緊密接近通信使得在通過空氣運(yùn)載時接收和發(fā)射天線被置于距離彼此0.1mm與2cm之間。這個
0.1mm到2cm的距離范圍可以使用外部組件被修改，例如電磁透鏡塑料、耗散材料和反射材料。
[0033]圖3示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器發(fā)出的緊密接近電磁福射C3DUT收發(fā)器10包括天線12，該天線利用EHF信號被驅(qū)動并福射出電磁福射。該電磁輻射可以是定向的和/或被極化，生成來自天線12的緊密接近輻射的包絡(luò)14。在該示例中，天線12將發(fā)出物向上引導(dǎo)至塑料波導(dǎo)中。
[0034]插座活塞24在DUT收發(fā)器10上向下按壓以保持DUT收發(fā)器10被按壓到插座基底22中以使得DUT收發(fā)器10上的接觸引腳16與插座基底22上的接觸引腳吻合。由ATE 18或另一測試設(shè)備或測試控制器生成的電信號通過接口板20和接觸引腳16驅(qū)動DUT收發(fā)器10。當(dāng)被激活時，DUT收發(fā)器10生成EHF頻帶中的電信號，這些電信號通過天線12被運(yùn)載以生成EHF電磁輻射。插座活塞24或插座基底22可以阻擋、衰減、引導(dǎo)或改變由DUT收發(fā)器10生成的電磁輻射。輻射可被阻擋或者引導(dǎo)繞過插座活塞24或插座基座22中的諸如夾持件、彈簧和螺絲釘之類的金屬部件。
[0035]槽26被切割、鉆取或以其它方式被形成在插座活塞24中，其尺寸使得塑料波導(dǎo)40的端部可以被插入到槽26中。理想地，槽26直接在DUT收發(fā)器10中的天線12上面或者與天線12對其以使得被插入槽26中的塑料波導(dǎo)40的端部在包絡(luò)14內(nèi)并且面向天線12。由于緊密接近發(fā)射大部分在包絡(luò)14內(nèi)，所以這些緊密接近發(fā)射中的一些被塑料波導(dǎo)40的端部捕獲。EHF電磁輻射波44通過塑料波導(dǎo)40傳播。塑料波導(dǎo)40可以是柔性的，以使得其可以彎曲，允許EHF電磁輻射波在塑料波導(dǎo)40被放置的地方被引導(dǎo)。塑料波導(dǎo)40的金屬化壁包含在塑料波導(dǎo)40內(nèi)的電磁輻射，但是一些信號衰落可能發(fā)生。
[0036]由于塑料波導(dǎo)40中的塑料材料的相對介電常數(shù)(Er)高于空氣的相對介電常數(shù)，所以電磁輻射沿塑料波導(dǎo)40被更加集中。被集中的輻射被塑料波導(dǎo)引導(dǎo)，允許輻射沿塑料波導(dǎo)40比通過空氣傳播更大的距離。例如，具有相對介電常數(shù)4的塑料材料可以被選擇用于塑料波導(dǎo)40，使得EHF輻射將被更加集中。塑料波導(dǎo)40的金屬化壁包含允許其傳播更大距離的集中福射。
[0037]塑料波導(dǎo)40的長度可以長達(dá)若干米，與可能只有2cm的緊密接近包絡(luò)14相對比。因而塑料波導(dǎo)40允許緊密接近電磁輻射被運(yùn)載到比緊密接近包絡(luò)遠(yuǎn)得多的地方。這個結(jié)果允許輻射檢測器被放置為相對遠(yuǎn)離DUT收發(fā)器10、插座基底22和插座活塞24，可以相對較大且笨重。
[0038]塑料波導(dǎo)40的另一端被引導(dǎo)至已知為良好的收發(fā)器30內(nèi)的接收器天線32上。已知為良好的收發(fā)器30可以是已通過測試并且被已知為功能正常的或者“良好”的DUT收發(fā)器10的“金牌”示例。接口板34將已知為良好的收發(fā)器30連接到ATE 28。當(dāng)電磁輻射波44沿塑料波導(dǎo)40傳播并被引導(dǎo)至接收器天線32上時，電磁信號在接收器天線32上被檢測到，所述電磁信號被檢測、放大并被已知為良好的收發(fā)器30輸出給ATE 28oATE 28可以將來自已知為良好的收發(fā)器30的這些輸出信號與預(yù)期數(shù)據(jù)模式進(jìn)行比較，或者與DUT收發(fā)器10被指示發(fā)射的數(shù)據(jù)模式進(jìn)行比較。數(shù)據(jù)不匹配可以指示DUT收發(fā)器10有故障，而匹配來自已知為良好的收發(fā)器30的數(shù)據(jù)指示DUT收發(fā)器10良好。
[0039]塑料波導(dǎo)40的末端可以通過夾持件、槽或其它裝置被保持在接收器天線32上的適當(dāng)位置處。在測試一批DUT收發(fā)器10期間，已知為良好的收發(fā)器30沒有被替換，但是DUT收發(fā)器10在每個測試過程之后被替換，被測試的DUT收發(fā)器10被分類到良好收發(fā)器群組或壞收發(fā)器群組中。
[0040]圖4示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器向下發(fā)出的緊密接近電磁輻射。DUT收發(fā)器10包括天線12，該天線12利用EHF信號來驅(qū)動并輻射出電磁輻射。輻射可以是定向的和/或被極化的，產(chǎn)生來自天線12的緊密接近輻射的包絡(luò)14。在該示例中，天線12向下而非向上引導(dǎo)發(fā)射，如圖3中的示例中所示。
[0041 ]由于在圖4的示例中包絡(luò)14從DUT收發(fā)器10被向下引導(dǎo)，槽46被形成在插座基底22中而非插座活塞24中。從天線12發(fā)出的電磁輻射可以在接觸引腳16周圍通過并進(jìn)入塑料波導(dǎo)40的末端。
[0042]雖然塑料波導(dǎo)40可以是柔性的，但是其可能不能像槽46那樣做出90度的彎曲。塑料波導(dǎo)40可以被迫插入槽46的水平部分，直到其末端到達(dá)DUT收發(fā)器10下面的槽46的垂直部分。被插入到槽46中的塑料波導(dǎo)40的末端可以不是金屬化的，或者去除其金屬化，使得被發(fā)射到槽46的垂直部分中的來自天線12的電磁輻射可以進(jìn)入塑料波導(dǎo)40。所捕獲的輻射跟隨具有更高相對介電常數(shù)的區(qū)域，例如塑料波導(dǎo)40中的塑料，并反射離開導(dǎo)電表面，例如金屬化的塑料波導(dǎo)40的外壁。
[0043]槽46的垂直和水平部分可以與金屬化的斜面結(jié)合以使得從天線12向下垂直移動的輻射被反射90度到水平槽46中并且到達(dá)塑料波導(dǎo)40中。在一些應(yīng)用中，輻射能夠順著水平與垂直部分之間的彎曲部分，而不使用斜面拐角。
[0044]來自塑料波導(dǎo)40的所收集的輻射被引導(dǎo)至已知為良好的收發(fā)器30的接收器天線上。ATE 28隨后將來自已知為良好的收發(fā)器30的接收的數(shù)據(jù)與由DUT收發(fā)器10發(fā)出的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。
[0045]圖5示出了具有塑料波導(dǎo)的測試系統(tǒng)，該塑料波導(dǎo)捕獲從DUT收發(fā)器側(cè)面發(fā)出的緊密接近電磁輻射。DUT收發(fā)器10包括利用EHF信號驅(qū)動的天線12。在該示例中，天線12將發(fā)射水平地引導(dǎo)至DUT收發(fā)器10的側(cè)面以外，而不是如圖3的示例中所示地向上引導(dǎo)。
[0046]槽48被切割出或形成在插座基底22的側(cè)面上，例如通過在插座基底22中鉆出小洞。電磁輻射被天線12發(fā)射到DUT收發(fā)器10的側(cè)面以外，使得包絡(luò)14具有總體上的水平而非垂直取向。被插入到槽48中的塑料波導(dǎo)40的末端在包絡(luò)14內(nèi)并且從而捕獲從側(cè)面引導(dǎo)的天線12發(fā)出的緊密接近輻射。一旦被捕獲，電磁輻射波44沿塑料波導(dǎo)40傳播直到被引導(dǎo)至已知為良好的收發(fā)器30中的接收器天線32上。
[0047]圖6是用于測試DUT收發(fā)器的測試裝置的三維透視圖。插座活塞24能夠例如通過被升高和減低或者通過繞鉸鏈旋轉(zhuǎn)而打開和關(guān)閉，以允許進(jìn)入DUT腔室90。當(dāng)插座活塞24打開時，DUT收發(fā)器10(未被示出)被放到DUT腔室90中。然后插座活塞24被降低至插座基底22上以將DUT收發(fā)器10按壓到DUT腔室90中，使得接觸引腳16與DUT腔室90內(nèi)部的接觸墊片吻合。一旦測試完成，插座活塞24被再次打開，允許DUT收發(fā)器10被移除并且另一 DUT收發(fā)器10被放入DUT腔室90中進(jìn)行測試。
[0048]圖7A-7B示出了在測試裝置中被切割出以捕獲來自DUT收發(fā)器的向上的緊密接近輻射的槽。在圖7A中，塑料波導(dǎo)40的端部被插入插座活塞24的槽26中。在圖7B中，槽26中的塑料波導(dǎo)40收集來自在插座活塞24與插座基底22之間的DUT腔室90中的DUT收發(fā)器10(未被示出)的電磁輻射。
[0049]圖8A-B示出了在測試裝置中被切割出以捕獲來自DUT收發(fā)器的向下的緊密接近輻射的槽。在圖8A中，塑料波導(dǎo)40的端部被插入插座基底22的槽46中。在圖8B中，槽46中的塑料波導(dǎo)40收集來自在插座活塞24與插座基底22之間的DUT腔室90中的DUT收發(fā)器10(未被示出)的電磁輻射。
[0050]圖9示出了用于捕獲來自多發(fā)射器DUT的緊密接近發(fā)射的并行測試裝置。多發(fā)射器DUT 62包含四個收發(fā)器60，每個收發(fā)器具有生成緊密接近EHF電磁輻射的包絡(luò)14的天線(未被示出)。接口板20驅(qū)動電信號從ATE 28到多發(fā)射器DUT 62以激活四個收發(fā)器60發(fā)出輻射。
[0051]四個塑料波導(dǎo)40被提供，每個塑料波導(dǎo)具有在由四個收發(fā)器60中的一個產(chǎn)生的包絡(luò)14內(nèi)部的末端。四個塑料波導(dǎo)40的另外的末端被適配器66合并在一起。適配器66可以是WR-15波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器或者其它類似的轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器將電磁輻射波轉(zhuǎn)換為被應(yīng)用于ATE 28的電信號。四個塑料波導(dǎo)40可以被適配器66合并在一起或者在輸入到適配器66之前被合并。四個收發(fā)器60中的一個可以在某一時刻被ATE 28激活，所收集的輻射被適配器66合并且評估。ATE 28可以是能夠支持60GHz的同軸線ATE或者基于波導(dǎo)的發(fā)射-接收測試系統(tǒng)。
[0052]圖10示出了用于捕獲來自多個DUT收發(fā)器的緊密接近發(fā)射的并行測試裝置。接口板70包含八個測試插座68，每個測試插座可以保持DUT收發(fā)器64以利用來自ATE 28的信號進(jìn)行測試。每個DUT收發(fā)器64具有生成緊密接近EHF電磁輻射的包絡(luò)14的天線(未被示出)。接口板70驅(qū)動電信號從ATE 28到DUT收發(fā)器64以激活收發(fā)器發(fā)出輻射。
[0053]八個塑料波導(dǎo)40被提供，每個塑料波導(dǎo)具有在由八個DUT收發(fā)器64中的一個產(chǎn)生的包絡(luò)14內(nèi)部的末端。八個塑料波導(dǎo)40的另外的末端被適配器66合并在一起或者在適配器66之前被合并。適配器66可以是WR-15波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器或者其它類似的轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器將電磁輻射波轉(zhuǎn)換為被應(yīng)用于ATE 28的電信號。
[0054]八個DUT收發(fā)器64中的一個在某一時刻被ATE28激活，所收集的輻射被適配器66合并且評估。ATE 28可以是能夠支持60GHz的同軸線ATE或者基于波導(dǎo)的發(fā)射-接收測試系統(tǒng)。
[0055]圖11示出了用于捕獲來自多個DUT收發(fā)器的緊密接近發(fā)射并將所捕獲的發(fā)射合并到天線喇叭中的并行測試裝置。接口板70包含八個測試插座68，每個測試插座可以保持DUT收發(fā)器64以利用來自ATE 28的信號進(jìn)行測試。每個DUT收發(fā)器64具有生成緊密接近EHF電磁輻射的包絡(luò)14的天線(未被示出)。接口板70驅(qū)動電信號從ATE 28到DUT收發(fā)器64以激活收發(fā)器發(fā)出福射。
[0056]八個塑料波導(dǎo)40被提供，每個塑料波導(dǎo)具有在由八個DUT收發(fā)器64中的一個產(chǎn)生的包絡(luò)14內(nèi)部的末端。八個塑料波導(dǎo)40的另外的末端分別被應(yīng)用于喇叭陣列76中的天線喇口八74。每個天線喇叭74在該喇叭的較小末端接收所捕獲的來自塑料波導(dǎo)40的輻射，并在天線喇叭74的張開或較大末端中發(fā)射所捕獲的輻射。從八個天線喇叭74發(fā)出的輻射被喇叭天線72收集，該喇叭天線72的張開開口面向天線喇叭74的張開開口。因而，輻射在空間上被面向喇叭天線72的開口的八個天線喇叭74復(fù)用。
[0057]八個DUT收發(fā)器64中的一個在某一時刻被ATE28激活，所收集的輻射被喇叭天線72合并且評估。波導(dǎo)至同軸線適配器(未被示出)可以被放在喇叭天線72之后以向ATE 28提供電信號。ATE 28可以是能夠支持60GHz的同軸線ATE或者基于波導(dǎo)的發(fā)射-接收測試系統(tǒng)。
[0058]圖12示出了在空間上將所捕獲的輻射復(fù)用到喇叭天線中的天線喇叭陣列。天線喇叭74可以具有基于利用多層印刷電路板(PCB)處理過程形成的形狀的金屬化的外表面。每個天線喇叭74的后部被連接到距離DUT收發(fā)器64最遠(yuǎn)的塑料波導(dǎo)40的末端。從塑料波導(dǎo)40收集的輻射被天線喇叭74發(fā)射到喇叭天線72的大開口中。因而，來自八個塑料波導(dǎo)40的輻射被喇叭天線72合并。
[0059]圖13A-B示出了測試裝置中的周期性的緊密接近引向器。金屬微帶88被形成在接口板20的表面上或者附近。這些金屬微帶88用作八木(Yagi)引向器。
[0060]金屬微帶88彼此并行地被放置，并且間隔為從DUT收發(fā)器10中的天線12發(fā)出的電磁福射波44的載波波長的分?jǐn)?shù)。對于60GHz，金屬微帶88可以具有1.25mm的間隔?？梢源嬖诒葓D13A-B中所示的更多的金屬微帶88。
[0061]插座基底22中不需要有槽。包絡(luò)14到達(dá)金屬微帶88中的第一個金屬微帶，然后沿著金屬微帶88的陣列運(yùn)載所發(fā)出的電磁波44。被反射的電磁波45隨后從金屬微帶88中的最后一個金屬微帶被發(fā)送至已知為良好的收發(fā)器30中的接收天線32，所述收發(fā)器30被保持在接口板20上的插座84中。ATE 28可以通過接口板20連接到DUT收發(fā)器10和已知為良好的收發(fā)器30。
[0062]金屬微帶88與電磁輻射波44的傳播方向垂直。波44可以傳播大于包絡(luò)14的l-2cm的距離。塑料波導(dǎo)40的功能被金屬微帶88實(shí)現(xiàn)，所以金屬波導(dǎo)40在該實(shí)施例中是不需要的。
[0063]替代實(shí)施例
[0064]發(fā)明人構(gòu)想了若干個其它實(shí)施例。例如，DUT收發(fā)器10可以具有被集成到與收發(fā)器電路相同的硅或砷化鎵或其它半導(dǎo)體基板上的天線，或者以其它方式被置于與收發(fā)器電路相同的封裝內(nèi)部或外部的天線。不止一個收發(fā)器可以被集成到相同的半導(dǎo)體基板上。天線可以具有在其附近的金屬反射器以在特定方向(例如向上或水平地)上引導(dǎo)電磁輻射。術(shù)語向上、向下、水平、垂直等是相對的術(shù)語并且可以根據(jù)觀察者的參考系而變化。
[0065]雖然已經(jīng)描述了DUT收發(fā)器，但是DUT可以是不包括接收器的發(fā)射器，或者可以是永久性或者暫時性地禁用了接收功能的收發(fā)器。同樣，已知為良好的接收器可以是禁用了其發(fā)射器的收發(fā)器。在圖3-5的示例中，已知為良好的收發(fā)器30被顯示具有向上的接收器天線32，該接收器天線與圖4、5中的DUT收發(fā)器10的天線方向不匹配。當(dāng)測試那些種類的設(shè)備時，底部或側(cè)面天線可以被替換用于圖5、6的示例中的已知為良好的收發(fā)器30中的接收器天線32，或者不匹配的已知為良好的收發(fā)器30可以如圖所示地被使用。不同種類的輻射檢測器可以代替已知為良好的收發(fā)器30;檢測器不需要是與DUT收發(fā)器10完全相同種類的設(shè)備，但是這可能對于簡化測試程序開發(fā)而言是需要的。
[0066]雖然接觸引腳16已經(jīng)被描述用于DUT收發(fā)器10，但是其它互連方式也可以被使用，例如引腳、接合墊片、滾珠或邊緣連接器，這些互連方式可以按柵格、線條、外圍或其它布置方式來布置。插座活塞24可以使用彈簧、夾針、夾持件或其它元件將DUT收發(fā)器10夾在插座基底22上。插座活塞24可以是機(jī)器人系統(tǒng)的一部分。當(dāng)插座活塞24打開時，DUT收發(fā)器10可以被放置就位，然后插座活塞24被關(guān)閉以進(jìn)行測試。機(jī)器人臂可以移動、放置、插入和移除DUT收發(fā)器10。插座基底22和插座活塞24的很多物理配置是可能的。多個DUT收發(fā)器10可以被放在多插座裝置中以進(jìn)行并行測試。
[0067]一些實(shí)施例可以刪除插座活塞24。作為代替，機(jī)器人臂可以將DUT收發(fā)器10放在DUT腔室90中，并且插座基底22可以使得其自己的夾持件、杠桿或其它元件將DUT收發(fā)器10鎖定就位以進(jìn)行測試，而不需要插座活塞24在DUT收發(fā)器10上向下按壓。插座活塞24將DUT收發(fā)器10保持到位的功能因而可以由插座基底22實(shí)現(xiàn)，并且插座基底22可以被認(rèn)為是將插座基底22和插座活塞24集成到同一插座裝置中。
[0068]高溫測試可以通過為插座活塞24或插座基底22添加加熱元件而被支持。一股冷或熱氣流可以被吹到測試裝置上，或者整個測試裝置可以被放在溫度受控的腔體中。
[0069]槽26、46和48可以具有各種形狀和尺寸。塑料或其它材料可以填充槽26、46和48，而不是使塑料波導(dǎo)40被完全按壓到這些槽中。內(nèi)部塑料波導(dǎo)可以被構(gòu)建在插座基底22或插座活塞24中，然后耦合到外部塑料波導(dǎo)40 AHF反射材料可以被置于槽26、46和48的槽壁上以加強(qiáng)波引導(dǎo)屬性?；蛘?，切口或洞可以被鑿入插座基底22或插座活塞24中以允許柔性塑料波導(dǎo)40被插入包絡(luò)14中。
[0070]槽可以是具有圓形截面的洞、具有矩形截面的矩形洞、具有三角形、六邊形或諸如任何多邊形或形狀之類的其它截面的三角形、六邊形或其它洞。槽可以是利用鋸或其它切割設(shè)備做出的切口，或者可以在測試插座的制作期間被形成。測試插座中的已有開口可以被用于槽。當(dāng)測試插座沒有完全覆蓋DUT收發(fā)器并且天線將輻射引導(dǎo)至測試插座的未被覆蓋的部分中時，塑料波導(dǎo)40可以被夾在、粘在或者以其它方式被保持在天線12上的適當(dāng)位置，而不在測試插座中切割出槽，因?yàn)闇y試插座的未被覆蓋的部分用作預(yù)留的接入端口或槽。
[0071]塑料波導(dǎo)40可以是具有高相對介電常數(shù)(介電常數(shù))和低損耗因數(shù)的固態(tài)柔性塑料線纜。塑料材料一般是低成本的，與喇叭天線相比降低了測試設(shè)備的成本。這個線纜的長度和截面面積可以被調(diào)諧到電磁輻射的頻率，例如60GHz。雖然固態(tài)塑料材料的塑料波導(dǎo)40已被描述，但是被填充空氣或其它材料的小腔室也可以被使用。塑料波導(dǎo)40可以完全由同一塑料材料制成，或者可以具有不同的塑料或其它材料的區(qū)域。材料的不連續(xù)性可以因?yàn)楦鞣N目的而策略上被引入，例如為了反射、偏轉(zhuǎn)或分割電磁輻射。雖然塑料波導(dǎo)40的金屬化壁已被描述，但是非金屬化的波導(dǎo)壁或者僅僅是塑料的表面也可以反射足夠用的電磁能量。
[0072]如圖所示的緊密接近輻射包絡(luò)14的形狀和取向被簡化。真實(shí)的輻射模式可能在強(qiáng)度、節(jié)點(diǎn)、相對最大區(qū)和最小區(qū)上有變化，可以彎曲繞過對象或者通過對象(例如插座基底22或插座活塞24的部分)，并且可以按不常見的方式向外擴(kuò)展或變窄。實(shí)際包絡(luò)14可以是不對稱的并且具有奇異的形狀。包絡(luò)14可以利用各種儀器來仿真或測量。
[0073]作為圖9-11的替代，在多個塑料波導(dǎo)40被合并在一起之后，已知為良好的收發(fā)器30(圖3)可以被放置，而不使用適配器66。如果塑料波導(dǎo)40沒有被合并在一起，四個或八個已知為良好的收發(fā)器30也可以被使用。一些其它數(shù)目的DUT收發(fā)器64可以被接口板70測試。多發(fā)射器DUT 62可以包含不同數(shù)目(例如8、2、16等)的收發(fā)器。
[0074]金屬微帶88可以與槽26、46或48或者與塑料波導(dǎo)40組合。例如，槽46可以將更多的電磁輻射引導(dǎo)到金屬微帶88上。金屬微帶88可以終結(jié)于塑料波導(dǎo)40的第一端，塑料波導(dǎo)40隨后將電磁輻射波運(yùn)載到接收器的剩下的距離。天線喇叭74可以用例如通過印刷過程的各種方法制成，并且可以是單獨(dú)的或者被集成到單個基板上。
[0075]雖然已經(jīng)描述了對DUT收發(fā)器10的發(fā)射功能的測試，但是在DUT收發(fā)器10還在插座基底22中時接收功能也可以被測試。更大尺寸且更強(qiáng)力的發(fā)射器可以被使用，該發(fā)射器被ATE 28激活，并且具有可以穿透插座活塞24的大得多的緊密接近包絡(luò)。或者，第二測試裝置可以被創(chuàng)建，該測試裝置使用已知良好的設(shè)備作為進(jìn)入塑料波導(dǎo)40的發(fā)射器，并且使用被置于接口板34上的DUT代替已知為良好的收發(fā)器30?；蛘撸阎獮榱己玫氖瞻l(fā)器30可以被設(shè)置為利用在塑料波導(dǎo)40中在相反方向上傳播的電磁輻射波44進(jìn)行發(fā)射，并且DUT收發(fā)器10被設(shè)置為利用所述電磁輻射波44進(jìn)行接收。
[0076]很多無線連接應(yīng)用需要非常小的形狀因子，例如用于無線連接到塢站的智能電話或平板計(jì)算機(jī)。DUT收發(fā)器10可能需要每個邊小于lcm，而多發(fā)射器DUT 62可能需要在其最長尺寸上小于5cm。一些應(yīng)用可能要求DUT收發(fā)器10的最長尺寸只有0.5cm。針對收發(fā)器和天線的這個小尺寸嚴(yán)重限制可以作為電磁輻射被輻射出的功率量。因而包絡(luò)14的尺寸非常小，例如在近場效應(yīng)消失之前小于2cm。
[0077]本發(fā)明的【背景技術(shù)】部分可以包含關(guān)于本發(fā)明的問題或環(huán)境的背景信息而不是描述其它的現(xiàn)有技術(shù)。因而在【背景技術(shù)】部分中所包含的內(nèi)容不是
【申請人】對現(xiàn)有技術(shù)的認(rèn)可。
[0078]這里所描述的任何方法或處理過程是用機(jī)器實(shí)現(xiàn)的或者計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的并且意圖利用機(jī)器、計(jì)算機(jī)或其它設(shè)備實(shí)現(xiàn)，并且不希望在沒有這樣的機(jī)器幫助的情況下僅僅由人來實(shí)現(xiàn)。所產(chǎn)生的有形結(jié)果可以包括諸如計(jì)算機(jī)監(jiān)視器、投影設(shè)備、聲音生成設(shè)備和相關(guān)的媒體設(shè)備之類的顯示設(shè)備上的報告或其它機(jī)器生成的顯示，并且可以包括同樣是機(jī)器生成的硬拷貝打印。對其它機(jī)器的計(jì)算機(jī)控制是另一種有形結(jié)果。
[0079]所描述的任何優(yōu)點(diǎn)和好處可以不應(yīng)用于本發(fā)明的所有實(shí)施例。當(dāng)單詞“部件”(“means”)在權(quán)利要求要素中被引述時，
【申請人】意圖使該權(quán)利要求要素落在35 USCSect.112, paragraph 6下。通常具有一個或多個單詞的標(biāo)簽在單詞“部件”之前。在單詞“部件”之前的單詞是意圖簡化對權(quán)利要求要素的引用的標(biāo)簽并且不意圖表示結(jié)構(gòu)上的限制。這樣的部件加功能權(quán)利要求意圖不僅涵蓋這里所描述的用于實(shí)現(xiàn)功能的結(jié)構(gòu)及其結(jié)構(gòu)等同物，還涵蓋等同結(jié)構(gòu)。例如，雖然釘子和螺絲釘具有不同的結(jié)構(gòu)，但是由于它們都實(shí)現(xiàn)扣緊的功能所以它們是等同結(jié)構(gòu)。沒有使用單詞“部件”的權(quán)利要求不意圖落在35 USCSect.112, paragraph 6下。信號通常是電信號，但是也可以是例如可以通過光纖線路運(yùn)載的光信號。
[0080]對本發(fā)明的實(shí)施例的以上描述已為了說明和描述的目的而被呈現(xiàn)。不希望是窮盡性的或者將本發(fā)明限制為所公開的確切形式。在以上教導(dǎo)的啟發(fā)下很多修改和變形都是可能的。希望本發(fā)明的范圍不受該詳細(xì)描述的限制，而是由所附權(quán)利要求限定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測試發(fā)出緊密接近電磁輻射的被測試設(shè)備(DUT)的測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括: 在測試期間保持所述DUT的測試插座； 接口板，所述接口板在所述DUT被保持在所述測試插座中時被電連接在測試控制器與所述DUT的電接觸之間； 被形成在所述測試插座中的開口，所述開口延伸到在所述DUT被所述測試控制器測試并被保持在所述測試插座中時由所述DUT產(chǎn)生的電磁輻射的包絡(luò)中； 具有被插入到所述開口中的第一端的塑料波導(dǎo)，所述塑料波導(dǎo)的所述第一端被放置為接收在測試期間由所述DUT發(fā)出的電磁輻射;以及 被放置在所述塑料波導(dǎo)的第二端附近的接收器天線，其中在測試期間由所述DUT發(fā)出的所述電磁輻射被所述塑料波導(dǎo)運(yùn)載并被引導(dǎo)到所述接收器天線上； 其中所述接收器天線在物理上位于所述包絡(luò)外部； 其中所述接收器天線接收在測試期間由所述DUT發(fā)出并且由所述塑料波導(dǎo)運(yùn)載的所述電磁輻射。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT在能夠傳遞所述測試控制器的測試?yán)虝r具有足夠的輻射功率以實(shí)現(xiàn)被置于所述包絡(luò)內(nèi)的接收器天線的可靠接收，但是不具有足夠的輻射功率以實(shí)現(xiàn)被置于所述包絡(luò)外部的接收器天線的可靠接收。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中所述包絡(luò)在其最長的尺寸上小于2厘米； 其中所述DUT具有小于5厘米的最長尺寸； 其中所述DUT中的天線具有小于I厘米的最長尺寸。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT工作在30GHz到300GHz的極高頻率(EHF)區(qū)域中； 其中從所述DUT發(fā)出的所述電磁輻射是具有30GHz與300GHz之間的頻率的EHF輻射， 其中所述DUT是EHF發(fā)射器。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其中所述開口是被切割到所述測試插座中的槽，所述槽的尺寸被確定為接收所述塑料波導(dǎo)，并且其中所述塑料波導(dǎo)的所述第一端被置于所述包絡(luò)內(nèi)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT具有在向上方向上輻射的天線，其中所述包絡(luò)在所述DUT上方； 其中所述塑料波導(dǎo)的所述第一端被置于所述DUT中的天線上面并且面向所述DUT以接收在測試期間由所述DUT中的天線發(fā)出的電磁輻射。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試插座還包括: 被連接到所述接口板的插座基底； 用于在測試期間接收所述DUT的在所述插座基底中的DUT腔室； 位于所述插座基底上面的插座活塞，所述插座活塞在測試期間將所述DUT按壓到所述DUT腔室中； 其中當(dāng)所述DUT具有在向上方向上輻射的天線并且所述包絡(luò)延伸到所述插座活塞中時，所述開口被形成在所述插座活塞中； 其中當(dāng)所述DUT具有在向下方向上輻射的天線并且所述包絡(luò)延伸到所述插座基底中時，所述開口被形成在所述插座基底中。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試系統(tǒng)，其中當(dāng)所述DUT具有在水平方向上輻射的天線并且所述包絡(luò)延伸到所述插座基底的側(cè)面中時，所述開口被水平地形成在所述插座基底的所述側(cè)面中。9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，還包括: 收發(fā)器； 其中所述接收器天線在所述收發(fā)器中； 其中所述塑料波導(dǎo)將由所述DUT發(fā)出的所述電磁輻射引導(dǎo)至所述收發(fā)器中的所述接收器天線中； 其中所述測試控制器將由所述收發(fā)器接收的數(shù)據(jù)與預(yù)定數(shù)據(jù)模式進(jìn)行比較，當(dāng)接收的所述數(shù)據(jù)與所述預(yù)定數(shù)據(jù)模式不匹配時，所述測試控制器指示所述DUT是壞的。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng)，其中所述收發(fā)器包括旨在于在終端用戶系統(tǒng)中與所述DUT配對的設(shè)備類型的已知為良好的收發(fā)器。11.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT是包含EHF收發(fā)器集成電路(IC)和由所述EHF收發(fā)器IC驅(qū)動的天線的模塊。12.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT是包含EHF收發(fā)器電路的集成電路1C，所述EHF收發(fā)器電路與由所述EHF收發(fā)器電路驅(qū)動的天線被集成在相同的半導(dǎo)體基板上。13.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中所述DUT是包含多個收發(fā)器集成電路(IC)的、具有多個天線的模塊，其中每個天線生成針對所述多個收發(fā)器IC中的一個收發(fā)器IC的包絡(luò); 多個所述塑料波導(dǎo)，每個塑料波導(dǎo)具有位于所述DUT的所述多個天線中的不同的一個天線的包絡(luò)中的第一端。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試系統(tǒng)，還包括: 接收所述多個塑料波導(dǎo)的第二端的適配器，所述適配器合并由所述多個塑料波導(dǎo)運(yùn)載的電磁輻射以用于由接收器接收。15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試系統(tǒng)，其中所述塑料波導(dǎo)具有金屬化外壁。16.—種測試裝置，包括: 被測試的多個發(fā)射器設(shè)備，每個發(fā)射器設(shè)備利用在至少30GHz的載波上的編碼數(shù)據(jù)來驅(qū)動天線，每個天線在被所述載波驅(qū)動時生成電磁輻射的包絡(luò)； 其中接收器在被置于所述包絡(luò)外部時不能可靠地接收所述編碼數(shù)據(jù)； 多個塑料波導(dǎo)，每個塑料波導(dǎo)具有位于所述多個發(fā)射器設(shè)備中的不同的一個發(fā)射器設(shè)備的包絡(luò)內(nèi)的第一端，其中所述第一端收集來自所述包絡(luò)內(nèi)的電磁輻射； 其中每個塑料波導(dǎo)由具有針對30GHz信號的至少為2的相對介電常數(shù)的塑料材料制成； 每個塑料波導(dǎo)的第二端，所述第二端不在所述包絡(luò)內(nèi)，其中在所述第一端處捕獲的電磁輻射通過所述塑料波導(dǎo)被運(yùn)載至所述第二端；以及 測試器，所述測試器將從所述塑料波導(dǎo)的第二端處的所述電磁輻射重新生成的數(shù)據(jù)與由所述發(fā)射器設(shè)備發(fā)射的預(yù)期數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，并且當(dāng)重新生成的所述數(shù)據(jù)與所述預(yù)期數(shù)據(jù)不匹配時發(fā)信號通知故障發(fā)射器設(shè)備。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，其中每個塑料波導(dǎo)具有金屬化外壁。18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，其中所述多個塑料波導(dǎo)的第二端被熔接在一起成為合并塑料線纜； 與所述多個發(fā)射器設(shè)備相同類型的接收器設(shè)備，所述接收器具有被置于所述合并塑料線纜的端部處的接收器天線以接收由所述多個塑料波導(dǎo)中的任何塑料波導(dǎo)運(yùn)載的電磁輻射。19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，其中所述多個塑料波導(dǎo)的第二端被熔接在一起成為合并塑料線纜； 被附接到所述合并塑料線纜的端部的波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器，所述波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器將由所述多個塑料波導(dǎo)中的任何塑料波導(dǎo)運(yùn)載的電磁輻射轉(zhuǎn)換為被發(fā)送給所述測試器的電信號。20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，還包括: 多個天線喇叭，每個天線喇叭具有接收來自所述多個塑料波導(dǎo)中的一個塑料波導(dǎo)的電磁輻射的波導(dǎo)端，以及截面面積比所述波導(dǎo)端大的張開端； 喇叭天線，所述喇叭天線具有面向所述多個天線喇叭的張開端的張開端，其中所述喇叭天線收集通過所述多個天線喇叭中的任何天線喇叭被發(fā)送的來自所述多個塑料波導(dǎo)中的任何塑料波導(dǎo)的電磁輻射； 所述喇叭天線的波導(dǎo)端，所述喇叭天線的波導(dǎo)端具有比所述喇叭天線的張開端小的截面面積；以及 被附接到所述喇叭天線的波導(dǎo)端的波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器，所述波導(dǎo)至同軸線轉(zhuǎn)換器將由所述多個塑料波導(dǎo)中的任何塑料波導(dǎo)運(yùn)載的電磁輻射轉(zhuǎn)換為被發(fā)送給所述測試器的電信號。21.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，還包括: 用于在測試期間保持設(shè)備的測試插座； 其中所述多個發(fā)射器設(shè)備被一起集成到多發(fā)射器模塊上，其中所述多發(fā)射器模塊被插入到所述測試插座中。22.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，還包括: 用于在測試期間保持設(shè)備的多個測試插座； 其中所述多個發(fā)射器設(shè)備各自被插入到所述多個測試插座中的不同的一個測試插座中。23.一種用于對從發(fā)射器發(fā)出的電磁輻射進(jìn)行測試的方法，所述方法包括: 在測試器上執(zhí)行測試程序以將激勵信號通過接口板驅(qū)動至被保持在測試插座中的被測試設(shè)備(DUT)發(fā)射器； 響應(yīng)于由所述測試器應(yīng)用的所述激勵信號從所述DUT發(fā)射器上的天線發(fā)出電磁輻射； 其中所述電磁輻射具有至少30GHz的頻率； 其中從所述DUT發(fā)射器上的所述天線發(fā)出的電磁輻射形成包絡(luò)； 其中被置于所述包絡(luò)外部的接收器不能可靠地接收通過所述電磁輻射被編碼的數(shù)據(jù)；使用具有位于所述包絡(luò)內(nèi)的第一端的塑料波導(dǎo)捕獲從所述DUT發(fā)射器中的所述天線發(fā)出的電磁福射中的一些電磁福射； 通過所述塑料波導(dǎo)將在所述塑料波導(dǎo)的第一端處捕獲的電磁輻射運(yùn)送至所述塑料波導(dǎo)的第二端； 將通過所述塑料波導(dǎo)運(yùn)送的電磁輻射引導(dǎo)至接收器上，所述接收器在所述包絡(luò)外部；使用所述接收器生成接收的數(shù)據(jù)，所述接收的數(shù)據(jù)表示通過穿過所述塑料波導(dǎo)被發(fā)送的電磁輻射來編碼的數(shù)據(jù)；以及 將所述接收的數(shù)據(jù)與預(yù)期數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，并且當(dāng)發(fā)生數(shù)據(jù)不匹配時發(fā)信號通知所述DUT發(fā)射器有故障。24.—種用于測試從被測試設(shè)備(DUT)發(fā)出的電磁輻射的測試系統(tǒng)，包括: 在測試期間保持DUT的測試插座； 接口板，所述接口板在所述DUT被保持在所述測試插座中時被電連接在測試控制器與所述DUT的電接觸之間； 被形成在所述接口板上的金屬微帶陣列，所述金屬微帶陣列具有小于或等于在所述DUT被所述測試控制器測試并且被保持在所述測試插座中時由所述DUT產(chǎn)生的電磁輻射的載波的四分之一波長的間隔； 其中所述金屬微帶陣列的金屬微帶中的第一微帶被放置為接收在測試期間由所述DUT發(fā)出的電磁輻射；以及 被放置于所述金屬微帶陣列中的最后的微帶附近的接收器天線，其中在測試期間由所述DUT發(fā)出的電磁輻射由所述金屬微帶陣列運(yùn)載并且被引導(dǎo)至所述接收器天線上； 其中所述接收器天線物理上位于包絡(luò)外部； 其中所述接收器天線接收在測試期間由所述DUT發(fā)出并且由所述金屬微帶陣列運(yùn)載的電磁輻射； 其中所述DUT在能夠傳遞所述測試控制器的測試?yán)虝r具有足夠的輻射功率以實(shí)現(xiàn)被置于所述包絡(luò)內(nèi)的接收器的可靠接收，但是不具有足夠的輻射功率以實(shí)現(xiàn)被置于所述包絡(luò)外部的接收器的可靠接收。25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的測試系統(tǒng)，還包括: 塑料波導(dǎo)，所述塑料波導(dǎo)具有位于所述金屬微帶陣列中的所述最后的微帶附近的第一端，其中所述第一端收集從所述金屬微帶陣列中的所述最后的微帶發(fā)出的電磁輻射，其中所述塑料波導(dǎo)具有在所述接收器天線附近的第二端，所述塑料波導(dǎo)將由所述金屬微帶陣列發(fā)出的電磁輻射運(yùn)載至所述接收器天線。
【文檔編號】G01R31/00GK105980867SQ201380082029
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2013年12月17日
【發(fā)明人】R·艾薩克, B·薩哈德, G·D·麥科馬克, I·A·凱勒斯, F·G·威斯
【申請人】基薩公司