一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及測試方法
【專利摘要】本發(fā)明的一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置包括：一測試光源，測試光源通過轉(zhuǎn)折鏡頭，形成一轉(zhuǎn)折測試光線；以及一測試識別系統(tǒng)，以用于識別轉(zhuǎn)折鏡頭的測試結(jié)果，其中，轉(zhuǎn)折測試光線從轉(zhuǎn)折鏡頭的側(cè)面投射到測試識別系統(tǒng)，通過測試識別系統(tǒng)對轉(zhuǎn)折測試光線的識別，獲取轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角或光軸信息。
【專利說明】
一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種光學(xué)測試裝置及方法，尤其涉及一種應(yīng)用于各種轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角測試方法以及測量各種帶棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡頭光軸的裝置及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著三維成像鏡頭的研發(fā)，使用傳統(tǒng)測試方法對新型鏡頭的性能進行檢測，變得越來越困難，尤其是對于單獨的轉(zhuǎn)折鏡頭來說?，F(xiàn)有的專業(yè)的鏡頭測試普遍采用的是基于Tr1ptics光學(xué)測量系統(tǒng)的檢測方法，但是這種方法針對的是常規(guī)鏡頭的測試，常規(guī)鏡頭中透鏡組呈直線排布，光線從直線型鏡頭的一端進入，沿著同一方向的另一端射出，其中的光路沒有轉(zhuǎn)折過程。在對單獨鏡頭的檢測過程中，常規(guī)測試方法的設(shè)計原理也就是根據(jù)直線型光路，沒有考慮到光路轉(zhuǎn)折過程，因而，難以對轉(zhuǎn)折光路鏡頭進行性能指標的測試，如鏡頭的分辨率、視場角以及光軸。
[0003]更具體地，參考圖1中的常規(guī)鏡頭10’的測試方法，使用一單狹縫光學(xué)系統(tǒng)用于檢測常規(guī)鏡頭10’中的分辨率與視場角。其中，鏡頭的分辨率指的是分辨兩個鄰近點光源的能力，即分辨細微距離的本領(lǐng)，鏡頭的視場角指的是以鏡頭為頂點，被測目標的物象可通過鏡頭的最大范圍的兩條邊緣構(gòu)成的夾角，視場角的大小決定了光學(xué)儀器的視野范圍，如果目標物體超過所述視場角就不會被收在鏡頭中。所述光學(xué)系統(tǒng)包括一準直儀20’以及一圖像采集器30’，通過所述準直儀20’將單狹縫的像成像到無窮遠，由于樣品常規(guī)鏡頭10’中的衍射作用，將會導(dǎo)致像質(zhì)有一定的退化，所述圖像采集器30’以用于采集通過樣品的狹縫圖像，通過傅里葉變換后可以獲知常規(guī)鏡頭10’樣品的分辨率。然后通過所述準直儀20’的旋轉(zhuǎn)，經(jīng)過一離軸角21’，將所述旋轉(zhuǎn)儀轉(zhuǎn)動到一預(yù)設(shè)位置，再將單狹縫的像成像到無窮遠，通過常規(guī)鏡頭10’樣品后，使用所述圖像采集器30’進行采集，對比不同旋轉(zhuǎn)角度圖像采集器30’采集到的狹縫圖像的高度，可以換算出視場角信息。而所述光學(xué)系統(tǒng)針對的是直線型鏡頭，無法實現(xiàn)對轉(zhuǎn)折光路鏡頭的檢測。換句話說，所述圖像采集器30’無法有效檢測到通過轉(zhuǎn)折光路鏡頭的狹縫圖像，也就無法獲知鏡頭樣品的分辨率與視場角。
[0004]鏡頭的實際光軸與其設(shè)計值的吻合程度是評價鏡頭好壞的一個重要指標，其中，鏡頭的光軸本質(zhì)是能保持原入射光線方向的性質(zhì)，在一個理想的透鏡系統(tǒng)中，光軸是指各球面曲率中心的連線，但是在實際的光學(xué)鏡頭中，多個球面中心很難保證絕對正確地位于同一條直線上，當光軸的偏移量較大時，鏡頭的光軸無法保持原入射光線的方向，需要及時進行測試矯正，尤其是對轉(zhuǎn)折鏡頭來說，實際光軸與設(shè)計值的吻合度要求更高。一旦鏡頭光軸偏移量過大，就會大大影響其視場位置，鏡頭的視場角等性能指標也會受此影響。在轉(zhuǎn)折鏡頭組裝前就對帶有透鏡的鏡頭進行光軸的檢測是必不可少的一道測試步驟，直接關(guān)系到后續(xù)成品的質(zhì)量以及良率，如果鏡頭的光軸未合格，盲式組裝完成去檢測視場角、分辨率等一系列指標，視場角的測試可能就會難以通過，這時再進行返修加工就會浪費大量的人力以及物力，增加鏡頭的制造成本以及生產(chǎn)時間。然而目前沒有一種比較簡單、有效以及大批量測量鏡頭光軸的方法，所以，如何克服新型轉(zhuǎn)折鏡頭在測試過程中的各種難題，也就是如何快速測試新型轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角以及光軸成為了本發(fā)明所要致力于解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的主要目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其通過一轉(zhuǎn)折測試光線對各種轉(zhuǎn)折鏡頭的不同光學(xué)性能指標進行有效測試。
[0006]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其以用于解決各種轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角測試以及各種帶棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡頭光軸測量的問題。
[0007]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其提供一測試識別系統(tǒng)，通過所述測試識別系統(tǒng)對所述轉(zhuǎn)折測試光線的識別，獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角或光軸信息。
[0008]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其中基于一第一測試識別系統(tǒng)對一第一轉(zhuǎn)折測試光線的成像識別，得以測試各種所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率能力和視場角。
[0009]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其中基于一第二測試識別系統(tǒng)對一第二轉(zhuǎn)折測試光線的直觀識別，得以測量各種帶有棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸偏移量，從而，快速獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭的實際光軸與設(shè)計值間的偏移角度。
[0010]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其中所述第二測試識別系統(tǒng)配合所述第二轉(zhuǎn)折測試光線的操作簡便，快捷，適合大批量測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸。
[0011]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其中無論是測試轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率、視場角還是測量其光軸，都不需要復(fù)雜地機械制造步驟和裝置，也不需要對轉(zhuǎn)折鏡頭組裝后進行檢測，得以快速對單個轉(zhuǎn)折鏡頭進行測試。
[0012]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其中，當所述第一測試識別系統(tǒng)成像測試時，得以根據(jù)轉(zhuǎn)折鏡頭的成像性能，不需要將所述轉(zhuǎn)折鏡頭準確固定于一圖像傳感器后才能進行測試，便于對單獨的轉(zhuǎn)折鏡頭進行分辨率與視場角等性能測試，縮短所述轉(zhuǎn)折鏡頭的測試時間。
[0013]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其成功提出一個經(jīng)濟有效的方式來解決單狹縫光學(xué)系統(tǒng)無法測試轉(zhuǎn)折鏡頭分辨率與視場角的問題，有助于快速測試單獨轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率與視場角等性能指標。
[0014]本發(fā)明的另一目的在于提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置及方法，其簡化測試步驟、節(jié)省測試時間，有助于提升測試的精密程度和效果。
[0015]從而，為了實現(xiàn)以上提到的目的，本發(fā)明提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，其包括一測試光源，所述測試光源通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭，形成一轉(zhuǎn)折測試光線；以及一測試識別系統(tǒng)，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭的測試結(jié)果，其中，所述轉(zhuǎn)折測試光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的側(cè)面投射到所述測試識別系統(tǒng)。
[0016]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試光源面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一端，所述測試識別系統(tǒng)面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的另一側(cè)端，適于所述轉(zhuǎn)折測試光線的投射方向。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試裝置進一步包括一測試標版，所述測試標版毗鄰所述測試光源，面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭，以用于帶入測試標版信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線。
[0018]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試光源為一紅外光源，所述紅外光源設(shè)于所述測試標版背側(cè)，以用于透過所述測試標版向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射紅外光。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試識別系統(tǒng)包括一圖像采集工裝以及耦接于所述圖像采集工裝的一處理器，以用于對通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭的所述轉(zhuǎn)折測試光線成像識別。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試光源設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭的縱向側(cè)，所述圖像采集工裝設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭的橫向側(cè)，得以使光線從所述測試光源縱向進入所述轉(zhuǎn)折鏡頭，橫向投射到所述圖像采集工裝。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試識別系統(tǒng)包括一光軸測試主體，所述光軸測試主體形成一測試腔，以用于放置所述轉(zhuǎn)折鏡頭；以及一測量結(jié)構(gòu)，所述測量結(jié)構(gòu)設(shè)于所述光軸測試主體，以用于在所述光軸測試主體周圍均勻地形成一系列測量標度，使得所述轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸通過直觀讀取的方式測量。
[0022]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試裝置進一步包括一保持裝置，所述保持裝置包括一鏡頭保持架以及對齊于所述鏡頭保持架的一光源保持架，所述鏡頭保持架以用于安裝所述轉(zhuǎn)折鏡頭，所述光源保持架以用于安裝所述光源發(fā)射器，適于保持所述鏡頭中心與光源中心在同一直線上。
[0023]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試裝置進一步包括一標準棱鏡，以用于安裝在待檢測的所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)折鏡筒中，得以使所述轉(zhuǎn)折鏡筒中的光線轉(zhuǎn)向，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。
[0024]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試光源是一激光發(fā)射器，以用于發(fā)射激光。
[0025]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述光軸測試主體有一基座以及從所述基座向上延伸的一測試壁，其中，所述鏡頭保持架設(shè)于所述基座中心，所述光源保持架從所述測試壁向所述鏡頭保持架延伸，對齊所述鏡頭保持架。
[0026]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測量結(jié)構(gòu)包括一標識部，所述標識部均勻地設(shè)于所述測試壁，以用于在所述測試壁形成一系列測量標度。
[0027]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述轉(zhuǎn)折測試光線從激光入射光線的側(cè)向投射到所述測試壁的標識部，得以直觀識別所述激光出射光線的對應(yīng)刻度。
[0028]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測量結(jié)構(gòu)進一步包括多個突出單元以及對應(yīng)于所述突出單元的多個顯示單元，所述突出單元從所述測試壁向所述測試腔延伸，突出于所述測試壁上的其他標識部，其中，所述顯示單元間隔地設(shè)于所述基座，紙鄰各個所述突出單元，以用于顯示所述突出單元的測量標度。
[0029]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測量結(jié)構(gòu)有一定位線以及一標準線，所述定位線與標準線對稱地設(shè)于所述測試壁的突出單元，其中，所述測試光源設(shè)于所述定位線，正對于所述標準線，所述標準線得以矯正所述測試光源發(fā)射位置。
[0030]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測量結(jié)構(gòu)還有一中心線，所述中心線設(shè)于所述測試壁的中心橫截面處，以用于確認光線投射位置。
[0031]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述顯示單元以所述定位線為原點，依次顯示所述突出單元刻度為 0，30，60，90，120，150，180，210，240，270，300，330。
[0032]—種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試方法，所述測試方法包括步驟:
[0033](A)通過一測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線；
[0034](B)經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭形成一轉(zhuǎn)折測試光線；以及
[0035](C)所述轉(zhuǎn)折測試光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的側(cè)面投射到一測試識別系統(tǒng)，以用于識別所述轉(zhuǎn)折測試光線對所述轉(zhuǎn)折鏡頭傳遞的測試性能，獲取測試信息。
[0036]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試方法進一步包括步驟(D):將所述測試光源面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一端，將所述測試識別系統(tǒng)面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的另一側(cè)端，適于所述轉(zhuǎn)折測試光線的投射方向。
[0037]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟㈧包括步驟(A.1):所述測試光源透過一測試標版向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線，以用于帶入所述測試標版信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線。
[0038]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(C)包括步驟(C.1):通過所述測試識別系統(tǒng)對所述轉(zhuǎn)折測試光線成像識別，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率與視場角。
[0039]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(I)包括步驟(1.1):光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的縱向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)光元件轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的橫向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。
[0040]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(C.1)包括步驟:
[0041](C.1.1)所述轉(zhuǎn)折測試光線橫向投射到所述測試識別系統(tǒng)的一圖像采集工裝，以用于通過拍攝成像的方式，經(jīng)由所述轉(zhuǎn)折鏡頭，采集所述測試標版的圖像信息；以及
[0042](C.1.2)所述圖像采集工裝將所述轉(zhuǎn)折測試光線的圖像信息傳遞于所述測試識別系統(tǒng)的一處理器，以用于處理所采集的圖像信息，得以獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率與視場角的測試結(jié)果。
[0043]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(A)包括步驟(A.a):通過所述測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線，以用于投射激光于所述轉(zhuǎn)折鏡頭。
[0044]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(C)包括步驟(C.a):通過所述測試識別系統(tǒng)直觀識別所述轉(zhuǎn)折測試光線，得以測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸。
[0045]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(A.a)包括步驟:
[0046](A.a.1)將所述測試光源設(shè)于一測試壁的定位線上，以用于發(fā)射激光；
[0047](A.a.2)將一轉(zhuǎn)折鏡筒設(shè)于一測試腔的中心處，對齊所述測試光源，適于所述光源中心與所述鏡頭中在同一直線上；以及
[0048](A.a.3)所述測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)折鏡筒中心投射激光；
[0049]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，在所述步驟(A.a.1)與(A.a.2)之間進一步包括步驟(A.a.4):矯正所述測試光源位置，將所述測試光源從所述定位線向一校準線投射激光，使得所述激光投射到所述校準線的一中心線上，以用于保證所述測試光源的投射方向。
[0050]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(A.a.2)進一步包括步驟:
[0051 ] (A.a.2.1)安裝一標準棱鏡于所述轉(zhuǎn)折鏡筒；以及
[0052](A.a.2.2)放置帶有所述標準棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡筒于一鏡頭保持架，其中，所述鏡頭保持架對齊所述測試光源所在的一光源保持架。
[0053]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(B)包括步驟(B.a):所述測試光源發(fā)射的激光從所述轉(zhuǎn)折鏡筒的橫向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡筒的標準棱鏡反射轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡筒的縱向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。
[0054]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述步驟(C.a)包括步驟(C.a.1):所述轉(zhuǎn)折測試光線從激光入射光線的側(cè)向投射到所述測試壁的一標識部，得以直觀識別所述激光出射光線的對應(yīng)刻度。
[0055]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述測試方法進一步包括步驟(E):比較所述轉(zhuǎn)折鏡筒的設(shè)計值與所述標識部的測量值，得出所述轉(zhuǎn)折鏡筒的實際光軸偏移量。
【附圖說明】
[0056]圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)中的單狹縫光學(xué)系統(tǒng)透視圖。
[0057]圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的模塊示意圖。
[0058]圖3是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的測試轉(zhuǎn)折鏡頭分辨率、視場角的工作透視圖。
[0059]圖4是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的測試轉(zhuǎn)折鏡頭分辨率、視場角的工作示意圖。
[0060]圖5是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的測量轉(zhuǎn)折鏡頭光軸的系統(tǒng)透視圖。
[0061]圖6是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的測量轉(zhuǎn)折鏡頭光軸的工作示意圖。
[0062]圖7是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的轉(zhuǎn)折鏡頭測試流程示意圖。
[0063]圖8是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的轉(zhuǎn)折鏡頭分辨率、視場角測試流程示意圖。
[0064]圖9是根據(jù)本發(fā)明的上述優(yōu)選實施例的轉(zhuǎn)折鏡頭光軸測量流程示意圖。
【具體實施方式】
[0065]根據(jù)本發(fā)明的權(quán)利要求和說明書所公開的內(nèi)容，本發(fā)明的技術(shù)方案具體如下文所述。
[0066]如圖2所示的是應(yīng)用于測試轉(zhuǎn)折鏡頭10的光學(xué)性能，提供一種轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試裝置，所述測試裝置包括一測試光源20，所述測試光源20通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，形成一轉(zhuǎn)折測試光線200 ;以及一測試識別系統(tǒng)30，40，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試結(jié)果，其中，所述轉(zhuǎn)折測試光線200穿過所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的一端從另一側(cè)端投射到所述測試識別系統(tǒng)30，40，通過對所述轉(zhuǎn)折測試光線200進行分析，得以對各種轉(zhuǎn)折鏡頭10的不同光學(xué)性能指標進行有效測試。
[0067]其中，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10是一種新型的三維成像裝置，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10包括一轉(zhuǎn)折鏡筒11以及一轉(zhuǎn)光元件12，所述轉(zhuǎn)光元件12傾斜設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的轉(zhuǎn)折處，以用于將進入所述轉(zhuǎn)折鏡筒11中的投射光進行轉(zhuǎn)向，有助于減少所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的厚度。所述轉(zhuǎn)折鏡筒11包括一系列的透鏡組合，在所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的一端有一射出透鏡111，在所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的另一側(cè)端有一聚光透鏡組112，換句話說，在所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的橫向設(shè)有所述聚光透鏡組112，在所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的縱向設(shè)有所述射出透鏡111，通過所述轉(zhuǎn)光元件12得以將光線從橫向的所述聚光透鏡組112進入，再從縱向的所述射出透鏡111投射出，或者將光線從縱向的所述射出透鏡111進入，再從橫向的所述聚光透鏡組112投射出。
[0068]根據(jù)所述轉(zhuǎn)折鏡頭10設(shè)計的轉(zhuǎn)折測試光線200，得以應(yīng)用于各種轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率、視場角測試以及各種帶有棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡頭10光軸測量，通過所述測試識別系統(tǒng)30，40對所述轉(zhuǎn)折測試光線200的識別，獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率、視場角的測試或光軸測量信息，有效解決傳統(tǒng)測試技術(shù)無法用于新型轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試困難。
[0069]所述測試光源20包括一第一測試光源21以及一第二測試光源22，所述第一測試光源21通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，形成一第一轉(zhuǎn)折測試光線201，所述第二測試光源22通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，形成一第二轉(zhuǎn)折測試光線202。所述識別系統(tǒng)包括一第一測試識別系統(tǒng)30以及一第二測試識別系統(tǒng)40，其中，基于所述第一測試識別系統(tǒng)30對所述第一轉(zhuǎn)折測試光線201的成像識別，得以測試其中所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率和視場角，其中，基于所述第二測試識別系統(tǒng)40對所述第二轉(zhuǎn)折測試光線202的直觀識別，得以測量各種帶有棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸偏移量，從而，快速獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的實際光軸與設(shè)計值的偏移量。
[0070]圖3到圖4所示的是一種測試轉(zhuǎn)折鏡頭10分辨率、視場角的裝置，所述第一測試光源21配合所述第一測試識別系統(tǒng)30，通過拍攝成像的方式獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨能力和視場角的指標。所述測試裝置進一步包括一測試標版212，所述測試標版212毗鄰所述第一測試光源21，面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，以用于帶入測試標版信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線。其中，所述第一測試光源21為一紅外光源211，以用于透過所述測試標版212向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10投射紅外光211，當測試所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率和視場角時，所述測試標版212選擇的是分辨率標版，其中，所述紅外光源211設(shè)于所述測試標版212背側(cè)，所述測試標版212面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的射出透鏡111對準所述測試標版212的中心。所述第一測試識別系統(tǒng)30包括一圖像采集工裝31以及一處理器32，所述圖像采集工裝31設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的側(cè)面，以用于通過直接拍攝地方式，經(jīng)由所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，采集所述測試標版212的圖像，其中，所述圖像采集工裝31耦接于所述處理器32，所述處理器32以用于對所述圖像采集工裝31進行監(jiān)控以及處理所采集的圖像，通過數(shù)據(jù)分析與計算判讀，得以獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率與視場角的測試結(jié)果。
[0071]所述轉(zhuǎn)折鏡頭10獨立地對應(yīng)于所述圖像采集工裝31，得以不經(jīng)過組裝直接對單獨的轉(zhuǎn)折鏡頭10進行測試。其中，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的射出透鏡111向上面對所述測試標版212，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的聚光透鏡組112橫向面對所述圖像采集工裝31，也就是說，所述圖像采集工裝31從所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的橫向延伸，所述測試標版212從所述轉(zhuǎn)折鏡頭10縱向延伸，所述圖像采集工裝31、轉(zhuǎn)折鏡頭10以及測試標版212不在同一方向設(shè)置，根據(jù)所述轉(zhuǎn)折鏡頭10轉(zhuǎn)折設(shè)計，所述圖像采集工裝31與所述第一測試光源21分別面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的轉(zhuǎn)折兩側(cè)，而不在同一直線上，得以滿足所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試需求。
[0072]由于所述轉(zhuǎn)折鏡頭在使用時選擇的是紅外光發(fā)射光線，所述紅外光源211以用于發(fā)出紅外光線，將所述測試標版212的信息帶入所述轉(zhuǎn)折鏡頭10中，通過紅外光檢測得以適應(yīng)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的使用。所述紅外光源211透過所述測試標版212向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10投射紅外光211，所述紅外光211縱向從所述射出透鏡111射入所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，再通過所述轉(zhuǎn)折元件的反射或是折射，改變所述紅外光211的投射方向，所述紅外光211從縱向投射轉(zhuǎn)為橫向投射，經(jīng)過所述聚合透鏡組形成所述轉(zhuǎn)折測試光線200，所述轉(zhuǎn)折測試光線200橫向投射到所述圖像采集工裝31，實現(xiàn)所述轉(zhuǎn)折鏡頭10對所述測試標版212的拍攝成像，通過對圖片進行計算判讀，獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率與視場角。
[0073]當所述第一測試識別系統(tǒng)30成像測試時，得以根據(jù)轉(zhuǎn)折鏡頭10的成像性能，不需要將所述轉(zhuǎn)折鏡頭10準確固定于一圖像傳感器后才能進行測試，便于對單獨的轉(zhuǎn)折鏡頭10進行分辨率與視場角等性能測試，縮短所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試時間。本發(fā)明成功提出一個經(jīng)濟有效的方式來解決單狹縫光學(xué)系統(tǒng)無法測試轉(zhuǎn)折鏡頭10分辨率與視場角的問題，有助于快速測試單獨轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率與視場角等性能指標。
[0074]圖5所示的是一種轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸測量裝置，包括所述第二測試光源22以及配合所述第二測試光源22的所述第二測試識別系統(tǒng)40，通過直觀讀取的方式獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸偏移量。
[0075]所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸測量裝置包括一光軸測試主體41，所述光軸測試主體41形成一測試腔413，以用于放置所述轉(zhuǎn)折鏡頭10 ;—光源發(fā)射器42，所述光源發(fā)射器42提供第二測試光源22于所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，使得所述測試光源20在所述測試腔413中投射，通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭10形成所述第二轉(zhuǎn)折測試光線202 ;以及一測量結(jié)構(gòu)43，所述測量結(jié)構(gòu)43設(shè)于所述光軸測試主體41的一測試壁412，以用于標識所述第二測試光源22從所述測試腔413的一端到另一端的投射位置，得以通過直觀讀取的方式測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸偏移量。
[0076]所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸測量裝置進一步包括一保持裝置44，所述保持裝置44包括一鏡頭保持架441以及對齊所述鏡頭保持架441的一光源保持架442，所述鏡頭保持架441以用于安裝所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，所述光源保持架442以用于安裝所述光源發(fā)射器42，使得所述轉(zhuǎn)折鏡頭10與所述光源發(fā)射器42的中心相對齊。
[0077]所述光軸測試主體41呈圓盤結(jié)構(gòu)，所述測試壁412從所述光軸測試主體41的一基座411外緣向上延伸，環(huán)形設(shè)于所述基座411上。所述測試壁412可以從所述基座411一體延伸，也可以可分離地安裝于所述基座411上，通過不同功能的測試壁412與基座411的組合，得以進行各種鏡頭的不同性能測試，提高所述光軸測試主體41的通用性。
[0078]其中，所述光源保持架442設(shè)于所述光軸測試主體41的測試壁412上，所述鏡頭保持架441設(shè)于所述基座411的圓心位置，對齊所述光源保持架442，使得從所述光源保持架442中射出的光線穿過所述鏡頭保持架441的中心線436，也就是說，所述鏡頭保持架441與光源保持架442在設(shè)計上滿足光源中心與鏡頭中心在同一直線上，有助于保證所述第二測試光源22對準所述鏡頭中心。
[0079]所述測量結(jié)構(gòu)43包括一標識部431，所述標識部431均勻地設(shè)于所述測試壁412，以用于在所述測試壁412上形成一系列測量標度，得以顯示所述第二測試光源22在所述測試腔413中的投射角度；多個突出單元432，所述突出單元432從所述測試壁412上的標識部431間隔地向內(nèi)延伸；以及對應(yīng)于所述突出單元432的多個顯示單元433，所述顯示單元433間隔地設(shè)于所述基座411，毗鄰各個所述突出單元432，以用于顯示所述突出單元432的測量標度，有助于直接讀取所述第二測試光源22的投射角度。
[0080]所述標識部431具有多條標識線，豎直地設(shè)于所述測試壁412的內(nèi)表面，形成所述預(yù)設(shè)測量標度，以用于均勻劃分所述測試壁412，形成360度角刻度，優(yōu)選地，每兩條標識線代表的度數(shù)為6°。其中，所述標識部431設(shè)有一定位線434以及一校準線435，所述定位線434與校準線435分別對稱地設(shè)于所述測試壁412的突出單元432兩側(cè)，以所述定位線434為原點0，所述校準線435對應(yīng)顯示單元433刻度為180，也就是說，所述校準線435位于所述定位線434的正對面，所述定位線434與所述校準線435在同一直線上。從所述定位線434開始，按照順時針方向顯示所述突出單元432的測量標度，所述突出單元432對應(yīng)的顯示單元 433 分別為 O，30，60，90，120，150，180，210，240，270，300，330，根據(jù)不同的需要也可以顯示不同的測量標度。也就是說，每兩個突出單元432代表的度數(shù)為30°，在每兩個突出單元432之間有四條標識線，形成5個測量格，各個測量格代表6°，從O。起算，每30°通過所述突出單元432來突出顯示所述測量標度，以用于顯示縱截面的尺寸刻度，有助于快速、直觀地讀取數(shù)據(jù)。
[0081]值得一提的是，在所述測試壁412的中間設(shè)有一中心線436，所述中心線436位于所述測試壁412的中心橫截面處，以用于判斷所述第二測試光源22投射位置的準確性，確保所述第二測試光源22投射于所述中心線436處，而不偏離所述中心線436，從而，有效讀取所述第二測試光源22的投射角度。
[0082]所述光源保持架442設(shè)于所述定位線434處，所述鏡頭保持架441設(shè)于所述定位線434與校準線435之間的中心位置，其中，所述光源保持架442之間有一預(yù)設(shè)間隔，所述預(yù)設(shè)間隔以用于保持所述光源發(fā)射器42，所述光源發(fā)射器42穿過所述測試壁412，安裝于所述定位線434處的光源保持架442，得以使所述光源發(fā)射器42對齊所述鏡頭保持架441，面向所述校準線435。
[0083]所測鏡頭可以是直線型鏡頭，所述直線型鏡頭是指所有透鏡都在同一直線方向，也可以是轉(zhuǎn)折鏡頭10，當對帶有棱鏡的各種轉(zhuǎn)折鏡頭10進行檢測時，實際檢測的是帶有射出透鏡111與聚光透鏡組112的轉(zhuǎn)折鏡筒11，所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的轉(zhuǎn)光元件12選擇的標準棱鏡121，得以單獨對所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的光軸進行測量，比較所述轉(zhuǎn)折鏡筒11中的透鏡光軸與設(shè)計值的重合性。
[0084]所述標準棱鏡121在測試時，安裝于所述轉(zhuǎn)折鏡筒11中，作為轉(zhuǎn)光元件12來模擬所述轉(zhuǎn)折鏡頭10在實際應(yīng)用中的轉(zhuǎn)折光線，以用于對單獨轉(zhuǎn)折鏡筒11的光軸測量。
[0085]所述光源發(fā)射器42可以選擇的是激光發(fā)射器、激光二極管等，以用于發(fā)射激光221，作為光軸測量的測試光源20，本實施例中選擇的是激光發(fā)射器。其中，所述光源發(fā)射器42安裝于所述光源保持架442中間，也就是所述定位線434的中間，所述光源發(fā)射器42發(fā)射的激光221得以通過所述鏡頭保持架441的中心線436投射到所述校準線435上，當所述鏡頭保持架441上放置帶有所述標準棱鏡121的轉(zhuǎn)折鏡筒11時，所述激光221得以通過所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的中心線436以及所述標準棱鏡121的反射而側(cè)向投射，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線200，即轉(zhuǎn)折測試激光221以一定的轉(zhuǎn)折角度投射到所述測試壁412的標識部431上，所述轉(zhuǎn)折角度決定于所述光軸的所在位置以及所述轉(zhuǎn)光元件12對光線的反射角度。
[0086]在進行所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的光軸測量之前，需要先對所述測試主體進行矯正，確保激光221從O刻度位置打出的光線，最終投射到正對面的180刻度位置，同時，激光221的縱截面方向也剛好在所述中心線436上，有助于提高光軸測試的準確性。
[0087]對所述轉(zhuǎn)折鏡筒11進行光軸測量時，將所述標準棱鏡121安裝到所需測試的轉(zhuǎn)折鏡筒11上，再將所述轉(zhuǎn)折鏡筒11放置在所述測試腔413中心的鏡頭保持架441上。將所述光源發(fā)射器42對準所述轉(zhuǎn)折鏡筒11，向所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的一端發(fā)射所述第二測試光源22，所述第二測試光源22通過所述轉(zhuǎn)折鏡筒11中的標準棱鏡121，形成所述轉(zhuǎn)折測試激光221，所述轉(zhuǎn)折測試激光221經(jīng)過所述標準棱鏡121的反射，從所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的另一側(cè)端向外投射，將所述轉(zhuǎn)折測試激光221投射到所述測試壁412上的標識部431，直觀讀出所述轉(zhuǎn)折測試激光221所對應(yīng)的刻度，與設(shè)計值進行比較，即可得出所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的實際光軸的二維偏移量。
[0088]換句話說，所述光源發(fā)射器42向所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的聚光透鏡組112投射橫向光線，通過所述標準棱鏡121的反射，形成的所述第二轉(zhuǎn)折測試光線202從所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的射出透鏡111縱向投射，投射到所述測試壁412側(cè)面的90或270刻度方向的側(cè)向位置，也就是O到180兩側(cè)的側(cè)向位置，進而確定所述第二轉(zhuǎn)折測試光線202的投射角度，從而，得以快速獲取所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的實際光軸偏移量，如果不達標，需將所述轉(zhuǎn)折鏡筒11進行返修，確保所述轉(zhuǎn)折鏡頭10成品的質(zhì)量達標，其中所述第二測試識別系統(tǒng)40配合所述第二轉(zhuǎn)折測試光線202的操作簡便，快捷，適合大批量測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸。
[0089]其中無論是測試轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率、視場角還是測量其光軸，都不需要復(fù)雜地機械制造步驟和裝置，也不需要對轉(zhuǎn)折鏡頭10組裝后進行檢測，得以快速對單個轉(zhuǎn)折鏡頭10進行測試。從而，有效簡化測試步驟、節(jié)省測試時間，有助于提升測試的精密程度和效果。
[0090]一種轉(zhuǎn)折鏡頭10的測試方法，所述測試方法包括步驟:
[0091](A)通過一測試光源20向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10投射光線；
[0092](B)經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭10形成一轉(zhuǎn)折測試光線200 ;以及
[0093](C)所述轉(zhuǎn)折測試光線200從所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的側(cè)面投射到一測試識別系統(tǒng)30，40，以用于識別所述轉(zhuǎn)折測試光線200對所述轉(zhuǎn)折鏡頭10傳遞的測試性能，獲取測試信息。
[0094]其中，所述測試方法進一步包括步驟(D):將所述測試光源20面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的一端，將所述測試識別系統(tǒng)30，40面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的另一側(cè)端，適于所述轉(zhuǎn)折測試光線200的投射方向。
[0095]其中，所述步驟㈧包括步驟(A.1):所述測試光源20透過一測試標版212向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10投射光線，以用于帶入所述測試標版212信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線200。
[0096]其中，所述步驟(C)包括步驟(C.1):通過所述測試識別系統(tǒng)30對所述轉(zhuǎn)折測試光線200成像識別，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率與視場角。
[0097]其中，所述步驟(B)包括步驟(B.1):光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的縱向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的一轉(zhuǎn)光元件12轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的橫向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線 200。
[0098]其中，所述步驟(C.1)包括步驟:
[0099](C.1.1)所述轉(zhuǎn)折測試光線200橫向投射到所述測試識別系統(tǒng)30的一圖像采集工裝31，以用于通過拍攝成像的方式，經(jīng)由所述轉(zhuǎn)折鏡頭10，采集所述測試標版212的圖像信息；以及
[0100](C.1.2)所述圖像采集工裝31將所述轉(zhuǎn)折測試光線200的圖像信息傳遞于所述測試識別系統(tǒng)30的一處理器32，以用于處理所采集的圖像信息，得以獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的分辨率與視場角的測試結(jié)果。
[0101]其中，所述步驟(A)包括步驟(A.a):通過所述測試光源20向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10投射光線，以用于投射激光221于所述轉(zhuǎn)折鏡頭10。
[0102]其中，所述步驟(C)包括步驟(C.a):通過所述測試識別系統(tǒng)40直觀識別所述轉(zhuǎn)折測試光線200，得以測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸。
[0103]其中，所述步驟(A.a)包括步驟:
[0104](A.a.1)將所述測試光源20設(shè)于一測試壁412的定位線434上，以用于發(fā)射激光221 ；
[0105](A.a.2)將一轉(zhuǎn)折鏡筒11設(shè)于一測試腔413的中心處，對齊所述測試光源20，適于所述光源中心與所述鏡頭中在同一直線上；以及
[0106](A.a.3)所述測試光源20向所述轉(zhuǎn)折鏡頭10的一轉(zhuǎn)折鏡筒11中心投射激光221 ；
[0107]其中，在所述步驟(A.a.1)與(A.a.2)之間進一步包括步驟(A.a.4):矯正所述測試光源20位置，將所述測試光源20從所述定位線434向一校準線435投射激光221，使得所述激光221投射到所述校準線435的一中心線436上，以用于保證所述測試光源20的投射方向。
[0108]其中，所述步驟(A.a.2)進一步包括步驟:
[0109](A.a.2.1)安裝一標準棱鏡121于所述轉(zhuǎn)折鏡筒11 ;以及
[0110](A.a.2.2)放置帶有所述標準棱鏡121的轉(zhuǎn)折鏡筒11于一鏡頭保持架441，其中，所述鏡頭保持架441對齊所述測試光源20所在的一光源保持架442。
[0111]其中，所述步驟(B)包括步驟(B.a):所述測試光源20發(fā)射的激光221從所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的橫向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的標準棱鏡121反射轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的縱向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線200。
[0112]其中，所述步驟(C.a)包括步驟(C.a.1):所述轉(zhuǎn)折測試光線200從激光221入射光線的側(cè)向投射到所述測試壁412的一標識部431，得以直觀識別所述激光221出射光線的對應(yīng)刻度。
[0113]其中，所述測試方法進一步包括步驟(E):比較所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的設(shè)計值與所述標識部431的測量值，得出所述轉(zhuǎn)折鏡筒11的實際光軸偏移量。
[0114]本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)折鏡頭10的光軸測量裝置的制造方法，其包括步驟:
[0115](h)提供一光軸測試主體41 ；
[0116](i)將一測量結(jié)構(gòu)43設(shè)于所述光軸測試主體41，以用于在所述光軸測試主體41周圍均勻地形成一系列測量標度；
[0117](j)將一鏡頭保持架441設(shè)于所述光軸測試主體41的中心，以用于安裝所述轉(zhuǎn)折鏡頭10 ;以及
[0118](k)將一光源保持架442設(shè)于所述光軸測試主體41的一測試壁412，對齊所述鏡頭保持架441，以用于安裝一光源發(fā)射器42，使得所述光源中心與鏡頭中心保持在同一直線上。
[0119]其中，所述步驟(h)包括步驟(h.1):將所述測試壁412從所述光軸測試主體41的一基座411向上延伸，形成一測試腔413，以用于安裝所述轉(zhuǎn)折鏡頭10以及投射光線于其中。
[0120]其中，所述步驟⑴包括步驟:
[0121](1.1)將所述測量結(jié)構(gòu)43的一標識部431均勻地設(shè)于所述測試壁412上；
[0122](1.2)將多個突出單元432從所述測試壁412向所述測試腔413延伸，突出于所述測試壁412上的其余標識部431 ;以及
[0123](1.3)將多個顯示單元433間隔地設(shè)于所述基座411，對應(yīng)于各個所述突出單元432，以用于顯示所述突出單元432的測量標度。
[0124]其中，所述步驟(i)進一步包括步驟(1.4);將一中心線436設(shè)于所述測試壁412的中心橫截面處，以用于確認光線投射位置。
[0125]其中，所述步驟(1.2)包括步驟:
[0126](1.2.1)標定所述測試壁412上對稱的一對突出單元432分別為一定位線434以及一校準線435 ;以及
[0127](1.2.2)將所述光源發(fā)射器42設(shè)于所述定位線434處，以用于發(fā)射激光221，其中，所述校準線435以用于矯正所述光源發(fā)射器42的發(fā)射位置。
[0128]上述內(nèi)容為本發(fā)明的具體實施例的例舉，對于其中未詳盡描述的設(shè)備和結(jié)構(gòu)，應(yīng)當理解為采取本領(lǐng)域已有的通用設(shè)備及通用方法來予以實施。
[0129]同時本發(fā)明上述實施例僅為說明本發(fā)明技術(shù)方案之用，僅為本發(fā)明技術(shù)方案的列舉，并不用于限制本發(fā)明的技術(shù)方案及其保護范圍。采用等同技術(shù)手段、等同設(shè)備等對本發(fā)明權(quán)利要求書及說明書所公開的技術(shù)方案的改進應(yīng)當認為是沒有超出本發(fā)明權(quán)利要求書及說明書所公開的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，其特征在于，包括:一測試光源，所述測試光源通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭，形成一轉(zhuǎn)折測試光線；以及一測試識別系統(tǒng)，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭的測試結(jié)果，其中，所述轉(zhuǎn)折測試光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的側(cè)面投射到所述測試識別系統(tǒng)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試光源面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一端，所述測試識別系統(tǒng)面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的另一側(cè)端，適于所述轉(zhuǎn)折測試光線的投射方向。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，其進一步包括一測試標版，所述測試標版毗鄰所述測試光源，面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭，以用于帶入測試標版信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試光源為一紅外光源，所述紅外光源設(shè)于所述測試標版背側(cè)，以用于透過所述測試標版向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射紅外光。5.根據(jù)權(quán)利要求2到4中任一所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試識別系統(tǒng)包括一圖像采集工裝以及耦接于所述圖像采集工裝的一處理器，以用于對通過所述轉(zhuǎn)折鏡頭的所述轉(zhuǎn)折測試光線成像識別。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試光源設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭的縱向側(cè)，所述圖像采集工裝設(shè)于所述轉(zhuǎn)折鏡頭的橫向側(cè)，得以使光線從所述測試光源縱向進入所述轉(zhuǎn)折鏡頭，橫向投射到所述圖像采集工裝。7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試識別系統(tǒng)包括一光軸測試主體，所述光軸測試主體形成一測試腔，以用于放置所述轉(zhuǎn)折鏡頭；以及一測量結(jié)構(gòu)，所述測量結(jié)構(gòu)設(shè)于所述光軸測試主體，以用于在所述光軸測試主體周圍均勻地形成一系列測量標度，使得所述轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸通過直觀讀取的方式測量。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，其進一步包括一保持裝置，所述保持裝置包括一鏡頭保持架以及對齊于所述鏡頭保持架的一光源保持架，所述鏡頭保持架以用于安裝所述轉(zhuǎn)折鏡頭，所述光源保持架以用于安裝所述光源發(fā)射器，適于保持所述鏡頭中心與光源中心在同一直線上。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，其進一步包括一標準棱鏡，以用于安裝在待檢測的所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)折鏡筒中，得以使所述轉(zhuǎn)折鏡筒中的光線轉(zhuǎn)向，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。10.根據(jù)權(quán)利要求1，2或9中任一所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測試光源是一激光發(fā)射器，以用于發(fā)射激光。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述光軸測試主體有一基座以及從所述基座向上延伸的一測試壁，其中，所述鏡頭保持架設(shè)于所述基座中心，所述光源保持架從所述測試壁向所述鏡頭保持架延伸，對齊所述鏡頭保持架。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述測量結(jié)構(gòu)包括一標識部，所述標識部均勻地設(shè)于所述測試壁，以用于在所述測試壁形成一系列測量標度。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的轉(zhuǎn)折鏡頭的測試裝置，所述轉(zhuǎn)折測試光線從激光入射光線的側(cè)向投射到所述測試壁的標識部，得以直觀識別所述激光出射光線的對應(yīng)刻度。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試裝置，所述測量結(jié)構(gòu)進一步包括多個突出單元以及對應(yīng)于所述突出單元的多個顯示單元，所述突出單元從所述測試壁向所述測試腔延伸，突出于所述測試壁上的其他標識部，其中，所述顯示單元間隔地設(shè)于所述基座，毗鄰各個所述突出單元，以用于顯示所述突出單元的測量標度。15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測試裝置，所述測量結(jié)構(gòu)有一定位線以及一標準線，所述定位線與標準線對稱地設(shè)于所述測試壁的突出單元，其中，所述測試光源設(shè)于所述定位線，正對于所述標準線，所述標準線得以矯正所述測試光源發(fā)射位置。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測試裝置，所述測量結(jié)構(gòu)還有一中心線，所述中心線設(shè)于所述測試壁的中心橫截面處，以用于確認光線投射位置。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，所述顯示單元以所述定位線為原點，依次顯示所述突出單元刻度為 0，30，60，90，120，150，180，210，240，270，300，330。18.一種轉(zhuǎn)折鏡頭的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括步驟: (A)通過一測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線； (B)經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭形成一轉(zhuǎn)折測試光線；以及 (C)所述轉(zhuǎn)折測試光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的側(cè)面投射到一測試識別系統(tǒng)，以用于識別所述轉(zhuǎn)折測試光線對所述轉(zhuǎn)折鏡頭傳遞的測試性能，獲取測試信息。19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的測試方法，其進一步包括步驟(D):將所述測試光源面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一端，將所述測試識別系統(tǒng)面向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的另一側(cè)端，適于所述轉(zhuǎn)折測試光線的投射方向。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的測試方法，所述步驟㈧包括步驟(A.1):所述測試光源透過一測試標版向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線，以用于帶入所述測試標版信息于所述轉(zhuǎn)折測試光線。21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的測試方法，所述步驟(C)包括步驟(C.1):通過所述測試識別系統(tǒng)對所述轉(zhuǎn)折測試光線成像識別，以用于識別所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率與視場角。22.根據(jù)權(quán)利要求18到21中任一所述的測試方法，所述步驟⑶包括步驟(B.1):光線從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的縱向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)光元件轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡頭的橫向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的測試方法，所述步驟(C.1)包括步驟: (C.1.1)所述轉(zhuǎn)折測試光線橫向投射到所述測試識別系統(tǒng)的一圖像采集工裝，以用于通過拍攝成像的方式，經(jīng)由所述轉(zhuǎn)折鏡頭，采集所述測試標版的圖像信息；以及 (C.1.2)所述圖像采集工裝將所述轉(zhuǎn)折測試光線的圖像信息傳遞于所述測試識別系統(tǒng)的一處理器，以用于處理所采集的圖像信息，得以獲取所述轉(zhuǎn)折鏡頭的分辨率與視場角的測試結(jié)果。24.根據(jù)權(quán)利要求18所述的測試方法，所述步驟(A)包括步驟(A.a):通過所述測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭投射光線，以用于投射激光于所述轉(zhuǎn)折鏡頭。25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的測試方法，所述步驟(C)包括步驟(C.a):通過所述測試識別系統(tǒng)直觀識別所述轉(zhuǎn)折測試光線，得以測量所述轉(zhuǎn)折鏡頭的光軸。26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的測試方法，所述步驟(A.a)包括步驟: (A.a.1)將所述測試光源設(shè)于一測試壁的定位線上，以用于發(fā)射激光； (A.a.2)將一轉(zhuǎn)折鏡筒設(shè)于一測試腔的中心處，對齊所述測試光源，適于所述光源中心與所述鏡頭中在同一直線上；以及 (A.a.3)所述測試光源向所述轉(zhuǎn)折鏡頭的一轉(zhuǎn)折鏡筒中心投射激光。27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的測試方法，在所述步驟(A.a.1)與(A.a.2)之間進一步包括步驟(A.a.4):矯正所述測試光源位置，將所述測試光源從所述定位線向一校準線投射激光，使得所述激光投射到所述校準線的一中心線上，以用于保證所述測試光源的投射方向。28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的測試方法，所述步驟(A.a.2)進一步包括步驟: (A.a.2.1)安裝一標準棱鏡于所述轉(zhuǎn)折鏡筒；以及 (A.a.2.2)放置帶有所述標準棱鏡的轉(zhuǎn)折鏡筒于一鏡頭保持架，其中，所述鏡頭保持架對齊所述測試光源所在的一光源保持架。29.根據(jù)權(quán)利要求24到28中任一所述的測試方法，所述步驟⑶包括步驟(B.a):所述測試光源發(fā)射的激光從所述轉(zhuǎn)折鏡筒的橫向進入，經(jīng)所述轉(zhuǎn)折鏡筒的標準棱鏡反射轉(zhuǎn)向，從所述轉(zhuǎn)折鏡筒的縱向射出，形成所述轉(zhuǎn)折測試光線。30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的測試方法，所述步驟(C.a)包括步驟(C.a.1):所述轉(zhuǎn)折測試光線從激光入射光線的側(cè)向投射到所述測試壁的一標識部，得以直觀識別所述激光出射光線的對應(yīng)刻度。31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的測試方法，其進一步包括步驟(E):比較所述轉(zhuǎn)折鏡筒的設(shè)計值與所述標識部的測量值，得出所述轉(zhuǎn)折鏡筒的實際光軸偏移量。
【文檔編號】G01M11/02GK105987806SQ201510052436
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月2日
【發(fā)明人】張扣文, 魯丁, 余志福, 李強, 曾俊杰, 余夢璐
【申請人】寧波舜宇光電信息有限公司