一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明是一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，該裝置包括底座、防靜電海綿基體、長(zhǎng)分隔管、短分隔管、固定皮筋、固定螺釘。通過(guò)上述裝置，可以有效解決電子元器件光學(xué)檢漏測(cè)試時(shí)，被檢器件管腳損傷，及在測(cè)試臺(tái)上的位置不能保證與軟件定位系統(tǒng)所識(shí)別的位置保持完全一致的問(wèn)題，有助于設(shè)計(jì)人員設(shè)計(jì)出操作性強(qiáng)、適應(yīng)性高、可重復(fù)利用的光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，具有良好的實(shí)用價(jià)值和經(jīng)濟(jì)效益。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明是一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，屬于產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]電子元器件是軍工產(chǎn)品和武器裝備中不可缺少的組成部分，其質(zhì)量的好壞直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量。其封裝類(lèi)型多種多樣，陶瓷、玻璃及金屬封裝已開(kāi)始用于高可靠性領(lǐng)域，隨著封裝技術(shù)的發(fā)展，微電子器件的封裝可靠性提出了越來(lái)越高的要求。封裝密封性的好壞直接影響產(chǎn)品的性能，密封性不良輕則改變器件的表面狀態(tài)，使器件性能劣化，重則對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生腐蝕，使元器件出現(xiàn)開(kāi)路的致命失效。為了確定具有內(nèi)空腔的微電子器件和半導(dǎo)體器件封裝的氣密性，電子元器件密封性檢測(cè)尤為重要。
[0003]光學(xué)檢漏技術(shù)是一種新型氣密性檢測(cè)技術(shù)，主要采用數(shù)字全息照相技術(shù)，利用激光干涉原理，實(shí)現(xiàn)封裝器件氣密性全范圍一次檢漏，與傳統(tǒng)電子元器件檢漏技術(shù)相比，具有效率和精度高、重復(fù)性好、易操作等優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)檢漏測(cè)試通過(guò)測(cè)量封裝管殼受壓時(shí)的表面的彈性形變來(lái)計(jì)算器件漏率，其形變的大小直接與器件密封狀態(tài)相對(duì)應(yīng)，檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確與否與被檢測(cè)器件管殼表面形變被測(cè)量到的量有直接關(guān)系。目前，在光學(xué)檢漏試驗(yàn)過(guò)程中，由于被檢樣品放置過(guò)程與檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)樣品放置位置識(shí)別過(guò)程不能同時(shí)進(jìn)行，且呈放樣品的測(cè)試平臺(tái)無(wú)刻度及標(biāo)識(shí)，從而產(chǎn)生以下問(wèn)題:(I)對(duì)于某些直插式器件，比如金屬封裝的晶體管，檢測(cè)時(shí)不能有效固定于測(cè)試平臺(tái)上，通常需要將器件管腳折平置于測(cè)試平臺(tái)上，從而對(duì)器件管腳造成損傷；(2)檢測(cè)系統(tǒng)軟件利用激光干涉對(duì)被檢器件在測(cè)試平臺(tái)上的位置進(jìn)行識(shí)別時(shí)，檢測(cè)人員僅可按照N(行)*M(列)對(duì)軟件識(shí)別位置進(jìn)行有序定位和調(diào)整，不能與被檢器件在測(cè)試臺(tái)上的位置完全一致，從而使得光檢系統(tǒng)檢測(cè)到的被檢器件管殼表面與實(shí)際表面存在偏差，造成檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確，誤差較大。因此，迫切需要為檢測(cè)人員提供一種適用于多種封裝形狀、有空腔的電子元器件、可自由調(diào)節(jié)的操作性強(qiáng)、適應(yīng)性高、可重復(fù)利用的光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明正是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足而設(shè)計(jì)提供了一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，其目的是適用于各種封裝形狀的有空腔的電子元器件的光學(xué)檢漏測(cè)試。
[0005]本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的:
[0006]該種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，其特征在于:該裝置包括一個(gè)長(zhǎng)方形盒狀的底座(I)，該底座(I)的盒狀內(nèi)腔中放置一塊防靜電海綿基體(2)，該底座(I)的盒狀周邊上等間距加工有凹槽，同一邊上相鄰凹槽之間的距離為2mm，相對(duì)的兩條長(zhǎng)邊之間的凹槽內(nèi)夾裝短分隔管(3)并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)長(zhǎng)邊上的短分隔管(3)與長(zhǎng)方形盒狀底座
(I)的短邊平行，相對(duì)的兩條短邊之間的凹槽內(nèi)夾裝長(zhǎng)分隔管(4)并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)短邊上的長(zhǎng)分隔管(4)與長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的長(zhǎng)邊平行，短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)的直徑相同，長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的長(zhǎng)邊比短邊低一個(gè)短分隔管(3)或長(zhǎng)分隔管(4)直徑的高度以避免垂直排列的上下兩層短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)之間出現(xiàn)碰撞，另外，在位于上層排列成行的長(zhǎng)分隔管(4)的兩端通過(guò)一根固定皮筋(5)壓緊，固定皮筋(5)的兩端通過(guò)固定螺釘(6)固定在長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的短邊兩端。
[0007]本發(fā)明裝置中，被檢測(cè)器件管腳插入防靜電海綿基體(2)內(nèi)，保證被檢測(cè)器件管腳不受損傷，且在檢測(cè)過(guò)程中不會(huì)移動(dòng)，該防靜電海綿基體(2)可重復(fù)使用，橫豎、上下兩層成排列狀的短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)在防靜電海綿基體(2)的表面上形成了定位標(biāo)識(shí)，另夕卜，固定皮筋(5)作用是保證成排列狀的短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)檢測(cè)時(shí)不會(huì)移動(dòng)，使擺放在防靜電海綿基體(2)表面上的被檢測(cè)器件的位置可調(diào)并準(zhǔn)確可靠，方便檢測(cè)人員對(duì)被檢器件進(jìn)行有序排放，且檢測(cè)系統(tǒng)可準(zhǔn)確識(shí)別被檢測(cè)器件位置信息，消除光檢系統(tǒng)檢測(cè)到的被檢測(cè)器件管殼表面與實(shí)際表面存在偏差，提高了檢測(cè)精度和檢測(cè)效率。
【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1是本發(fā)明所述裝置的示意圖
【具體實(shí)施方式】
[0009]以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明裝置作進(jìn)一步地詳述:
[0010]參見(jiàn)附圖1所示，該種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置包括一個(gè)長(zhǎng)方形盒狀的底座I，該底座I的盒狀內(nèi)腔中放置一塊防靜電海綿基體2，該底座I的盒狀周邊上等間距加工有凹槽，同一邊上相鄰凹槽之間的距離為2mm，相對(duì)的兩條長(zhǎng)邊之間的凹槽內(nèi)夾裝短分隔管3并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)長(zhǎng)邊上的短分隔管3與長(zhǎng)方形盒狀底座I的短邊平行，相對(duì)的兩條短邊之間的凹槽內(nèi)夾裝長(zhǎng)分隔管4并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)短邊上的長(zhǎng)分隔管4與長(zhǎng)方形盒狀底座I的長(zhǎng)邊平行，短分隔管3和長(zhǎng)分隔管4的直徑相同，長(zhǎng)方形盒狀底座I的長(zhǎng)邊比短邊低一個(gè)短分隔管3或長(zhǎng)分隔管4直徑的高度以避免垂直排列的上下兩層短分隔管3和長(zhǎng)分隔管4之間出現(xiàn)碰撞，另外，在位于上層排列成行的長(zhǎng)分隔管4的兩端通過(guò)一根固定皮筋5壓緊，固定皮筋5的兩端通過(guò)固定螺釘6固定在長(zhǎng)方形盒狀底座I的短邊兩端。
[0011]在使用時(shí)，檢測(cè)人員可以根據(jù)被檢測(cè)器件的數(shù)量及尺寸，確定裝入裝置底座中的長(zhǎng)、短分隔管的數(shù)量，綜合得出定位裝置的最佳使用方案。
[0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明裝置的優(yōu)點(diǎn)是:
[0013]第一，檢測(cè)人員通過(guò)使用光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，可保證被檢器件管腳不受損傷。
[0014]第二，檢測(cè)人員通過(guò)使用光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，可有效解決被檢器件在測(cè)試臺(tái)上的位置不能保證與軟件定位系統(tǒng)所識(shí)別的位置保持完全一致的問(wèn)題。
[0015]第三，光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置可重復(fù)使用。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置，其特征在于:該裝置包括一個(gè)長(zhǎng)方形盒狀的底座(I)，該底座(I)的盒狀內(nèi)腔中放置一塊防靜電海綿基體(2)，該底座(I)的盒狀周邊上等間距加工有凹槽，同一邊上相鄰凹槽之間的距離為2mm，相對(duì)的兩條長(zhǎng)邊之間的凹槽內(nèi)夾裝短分隔管(3)并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)長(zhǎng)邊上的短分隔管(3)與長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的短邊平行，相對(duì)的兩條短邊之間的凹槽內(nèi)夾裝長(zhǎng)分隔管(4)并形成排列，兩端夾裝在相對(duì)短邊上的長(zhǎng)分隔管(4)與長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的長(zhǎng)邊平行，短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)的直徑相同，長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的長(zhǎng)邊比短邊低一個(gè)短分隔管(3)或長(zhǎng)分隔管(4)直徑的高度以避免垂直排列的上下兩層短分隔管(3)和長(zhǎng)分隔管(4)之間出現(xiàn)碰撞，另外，在位于上層排列成行的長(zhǎng)分隔管(4)的兩端通過(guò)一根固定皮筋(5)壓緊，固定皮筋(5)的兩端通過(guò)固定螺釘(6)固定在長(zhǎng)方形盒狀底座(I)的短邊兩端。
【文檔編號(hào)】G01M3/38GK106052980SQ201610465131
【公開(kāi)日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年6月23日
【發(fā)明人】梁媛, 趙辛雨, 蔡良續(xù), 盧曉青
【申請(qǐng)人】中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所