探頭掃描測量機構(gòu)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種探頭掃描測量機構(gòu)及方法，所述探頭掃描測量機構(gòu)用于與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)、直線驅(qū)動機構(gòu)、探頭支架以及測量探頭，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)的輸出軸與所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸連接，所述探頭支架的第一端與所述直線驅(qū)動機構(gòu)連接，所述探頭支架的第二端與所述測量探頭連接。所述探頭掃描測量機構(gòu)及方法無需額外設(shè)計絕緣子的旋轉(zhuǎn)控制，運動控制簡單，可實現(xiàn)對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量。掃描測量結(jié)束以后，可以將探頭支架旋轉(zhuǎn)，使探頭支架貼近絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)側(cè)，結(jié)構(gòu)簡單緊湊、占用體積小、節(jié)省實驗裝置內(nèi)部空間，減少實驗裝置的耗氣量，縮短實驗時間。
【專利說明】
探頭掃描測量機構(gòu)及方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及電力系統(tǒng)中裝置內(nèi)絕緣研究領(lǐng)域，尤其涉及一種探頭掃描測量機構(gòu)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]氣體絕緣裝置是電力系統(tǒng)中應(yīng)用較為廣泛的裝置，相比于傳統(tǒng)敞開式配電裝置，其具有運行可靠、裝置占用空間小、不受外界環(huán)境影響等優(yōu)勢。電力系統(tǒng)的氣體絕緣裝置中，需要用到大量的絕緣件如盆式的支撐絕緣子。氣體絕緣裝置在運行期間，尤其是在直流電壓的作用下，氣體絕緣裝置內(nèi)部的支撐絕緣子表面易積聚大量電荷，導(dǎo)致沿面閃絡(luò)特性下降。因此，需要對支撐絕緣子表面電荷集聚現(xiàn)象進行研究，探究支撐絕緣子表面電荷的分布規(guī)律。傳統(tǒng)的，在針對真型裝置的絕緣子表面電荷測量實驗裝置中，探頭掃描測量機構(gòu)一般是由正交的直線運動機構(gòu)組成，體積較大且運動控制復(fù)雜。安裝在絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)時，較大的探頭掃描測量機構(gòu)會增加實驗裝置的體積，從而增加裝置耗氣量，增加實驗時間。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于此，本發(fā)明在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、占用體積小、運動控制較為簡單的探頭掃描測量機構(gòu)及方法。
[0004]其技術(shù)方案如下:
[0005]一種探頭掃描測量機構(gòu)，用于與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)、直線驅(qū)動機構(gòu)、探頭支架以及測量探頭，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)的輸出軸與所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸連接，所述探頭支架的第一端與所述直線驅(qū)動機構(gòu)連接，所述探頭支架的第二端與所述測量探頭連接。
[0006]在其中一個實施例中，所述探頭掃描測量機構(gòu)還包括探頭旋轉(zhuǎn)座，所述探頭旋轉(zhuǎn)座安裝在所述探頭支架的第二端，所述探頭旋轉(zhuǎn)座能夠沿一 A軸轉(zhuǎn)動，所述測量探頭安裝在所述探頭旋轉(zhuǎn)座上，所述測量探頭能夠沿與A軸相交的另一 B軸轉(zhuǎn)動。
[0007]在其中一個實施例中，所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸的軸線與安裝后的絕緣子的軸線平行，所述A軸平行于所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸的軸線，所述B軸與所述A軸垂直正交。
[0008]在其中一個實施例中，所述探頭支架的第一端與所述測量探頭的測量中心之間的直線連線長度與絕緣子的外緣半徑長度相等。
[0009]在其中一個實施例中，所述探頭支架與絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)壁輪廓相匹配。
[0010]在其中一個實施例中，所述探頭旋轉(zhuǎn)座包括旋轉(zhuǎn)座本體以及驅(qū)動所述旋轉(zhuǎn)座本體沿A軸旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動電機，所述測量探頭包括探頭本體以及驅(qū)動所述探頭本體沿B軸旋轉(zhuǎn)的第二驅(qū)動電機。
[0011]在其中一個實施例中，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)為旋轉(zhuǎn)電機，所述直線驅(qū)動機構(gòu)為直線電機，所述旋轉(zhuǎn)電機、驅(qū)動電機、第一驅(qū)動電機以及第二驅(qū)動電機為伺服電機或步進電機。
[0012]在其中一個實施例中，所述探頭掃描測量機構(gòu)還包括控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)與所述旋轉(zhuǎn)電機、驅(qū)動電機、第一驅(qū)動電機以及第二驅(qū)動電機電性連接。
[0013]—種探頭掃描測量方法，包括以下步驟:
[0014]探頭支架的第一端與絕緣子的外緣的任一點正對，安裝在探頭支架的第二端的測量探頭的測量中心與絕緣子的外緣的另一點相對；
[0015]旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)控制與其輸出軸連接的直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸轉(zhuǎn)動，帶動安裝在直線驅(qū)動機構(gòu)上的探頭支架旋轉(zhuǎn)，使測量探頭從絕緣子的外緣任一點逐漸向內(nèi)圈移動，依次到達每一個測量位置；
[0016]測量探頭每位于一個測量位置時，直線驅(qū)動機構(gòu)沿其運動軸直線運動，控制測量探頭的測量中心與絕緣子的表面保持需要的測量距離，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈，測量探頭完成在該位置時對絕緣子一圈的電荷測量；
[0017]測量探頭移動至絕緣子的中心，完成對絕緣子的全覆蓋掃描測量。
[0018]在其中一個實施例中，測量探頭每位于一個測量位置之后，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈之前，還包括以下步驟:
[0019]安裝在探頭支架與測量探頭之間的探頭旋轉(zhuǎn)座繞一A軸旋轉(zhuǎn)，測量探頭繞與A軸相交的另一 B軸旋轉(zhuǎn)，使測量探頭的測量中心正對絕緣子的待測表面。
[0020]本發(fā)明的有益效果在于:
[0021]所述探頭掃描測量機構(gòu)使用時安裝在絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)部，與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合使用。旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)可帶動直線驅(qū)動機構(gòu)繞運動軸的軸線作旋轉(zhuǎn)運動，直線驅(qū)動機構(gòu)能夠沿其自身的運動軸作直線運動，進而帶動探頭支架運動，實現(xiàn)探頭支架上的測量探頭的運動控制。通過旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)、直線驅(qū)動機構(gòu)的驅(qū)動，測量探頭能夠沿絕緣子的外緣逐漸向絕緣子的內(nèi)圈移動，且測量探頭與絕緣子之間的檢測距離能夠改變，配合旋轉(zhuǎn)裝置對絕緣子的旋轉(zhuǎn)控制，能夠?qū)崿F(xiàn)對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量。所述探頭掃描測量機構(gòu)與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合使用，無需額外設(shè)計絕緣子的旋轉(zhuǎn)控制，運動控制較為簡單，可實現(xiàn)對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量。并且，掃描測量結(jié)束以后，可以將探頭支架旋轉(zhuǎn)，使探頭支架貼近絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)側(cè)，結(jié)構(gòu)簡單緊湊、占用體積小、不會增大實驗裝置的體積，可減少實驗裝置的耗氣量，縮短實驗時間。
[0022]所述探頭掃描測量方法，無需額外控制絕緣子的轉(zhuǎn)動，測量方法較為簡單，能夠有效完成對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量，掃描無盲區(qū)。
【附圖說明】
[0023]圖1為本發(fā)明實施例所述的探頭掃描測量機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2為本發(fā)明實施例所述的探頭掃描測量機構(gòu)的測量運動示意圖；
[0025]圖3為本發(fā)明實施例所述的探頭掃描測量方法的流程示意圖。
[0026]附圖標(biāo)記說明:
[0027]10、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)，110、輸出軸，20、直線驅(qū)動機構(gòu)，210、運動軸，30、探頭支架，40、測量探頭，50、探頭旋轉(zhuǎn)座。
【具體實施方式】
[0028]下面對本發(fā)明的實施例進行詳細說明:
[0029]如圖1所示，一種探頭掃描測量機構(gòu)，用于與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10、直線驅(qū)動機構(gòu)20、探頭支架30以及測量探頭40。所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10的輸出軸110與所述直線驅(qū)動機構(gòu)20的運動軸210連接，所述探頭支架30的第一端與所述直線驅(qū)動機構(gòu)20連接，所述探頭支架30的第二端與所述測量探頭40連接。本實施例中，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)1為旋轉(zhuǎn)電機，所述直線驅(qū)動機構(gòu)20為直線電機，具體的，旋轉(zhuǎn)電機與直線電機可以為伺服電機或步進電機，可實現(xiàn)自動控制且控制精度高。
[0030]所述探頭掃描測量機構(gòu)使用時安裝在絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)部，與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合使用。旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10可帶動直線驅(qū)動機構(gòu)20繞運動軸210的軸線作旋轉(zhuǎn)運動，直線驅(qū)動機構(gòu)20能夠沿其自身的運動軸210作直線運動，進而帶動探頭支架30運動，實現(xiàn)探頭支架30上的測量探頭40的運動控制。通過旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10、直線驅(qū)動機構(gòu)20的驅(qū)動，測量探頭40能夠沿絕緣子的外緣逐漸向絕緣子的內(nèi)圈移動，且測量探頭40與絕緣子之間的檢測距離能夠改變，配合旋轉(zhuǎn)裝置對絕緣子的旋轉(zhuǎn)控制，能夠?qū)崿F(xiàn)對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量。所述探頭掃描測量機構(gòu)與外設(shè)的能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合使用，無需額外設(shè)計絕緣子的旋轉(zhuǎn)控制，結(jié)構(gòu)簡單、運動控制較為簡單，可實現(xiàn)對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量。并且，掃描測量結(jié)束以后，可以進一步將探頭支架30旋轉(zhuǎn)，使探頭支架30貼近絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)側(cè)，結(jié)構(gòu)簡單緊湊、占用體積小、節(jié)省實驗裝置內(nèi)部空間，減少實驗裝置的耗氣量，縮短實驗時間。
[0031]進一步的，所述探頭支架30與絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)壁輪廓相匹配，掃描測量結(jié)束以后，將探頭支架30旋轉(zhuǎn)使其貼近絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)側(cè)時，探頭支架30能夠與腔體外殼的內(nèi)壁較緊密的貼合，進一步節(jié)省空間、減少空間占用。本實施例中，所述探頭支架30呈圓弧形。一般的絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼為氣密金屬罐體，腔體外殼呈圓筒狀，將探頭支架30設(shè)計為圓弧形，能夠與腔體外殼內(nèi)壁貼合，節(jié)省空間。
[0032]所述探頭掃描測量機構(gòu)還包括探頭旋轉(zhuǎn)座50，所述探頭旋轉(zhuǎn)座50安裝在所述探頭支架30的第二端，所述探頭旋轉(zhuǎn)座50能夠沿一 A軸轉(zhuǎn)動，所述測量探頭40安裝在所述探頭旋轉(zhuǎn)座50上，所述測量探頭40能夠沿與A軸相交的另一 B軸轉(zhuǎn)動。通過設(shè)置探頭旋轉(zhuǎn)座50，探頭旋轉(zhuǎn)座50自身能夠繞A軸旋轉(zhuǎn)，測量探頭40的位置會隨著探頭旋轉(zhuǎn)座50的旋轉(zhuǎn)而移動，且測量探頭40自身又能夠繞B軸旋轉(zhuǎn)，進而能夠保證測量探頭40在各個測量位置均正對絕緣子的待測表面，不會出現(xiàn)測量盲區(qū)、測量結(jié)果更加精確。本實施例中，所述直線驅(qū)動機構(gòu)20的運動軸210的軸線與安裝后的絕緣子的軸線平行，所述A軸平行于所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸210的軸線，所述B軸與所述A軸垂直正交。采用上述設(shè)置，一方面能夠簡化測量探頭40的運動控制，測量探頭40通過較為簡單的算法控制即可與絕緣子的表面正對，另一方面，B軸與A軸垂直正交，能夠有效調(diào)整測量探頭40的測量中心位置，使測量探頭40在不同測量位置時能夠始終正對待測絕緣子的表面。
[0033]具體的，所述探頭旋轉(zhuǎn)座50包括旋轉(zhuǎn)座本體以及驅(qū)動所述旋轉(zhuǎn)座本體沿A軸旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動電機，所述測量探頭40包括探頭本體以及驅(qū)動所述探頭本體沿B軸旋轉(zhuǎn)的第二驅(qū)動電機。旋轉(zhuǎn)座本體在第一驅(qū)動電機的驅(qū)動作用下繞A軸旋轉(zhuǎn)，探頭本體在第二驅(qū)動電機的作用下繞B軸旋轉(zhuǎn)。本實施例中，第一驅(qū)動電機、第二驅(qū)動電機為伺服電機或步進電機，可實現(xiàn)自動控制且控制精度高。所述探頭掃描測量機構(gòu)還包括控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)與所述旋轉(zhuǎn)電機、驅(qū)動電機、第一驅(qū)動電機以及第二驅(qū)動電機電性連接?？刂葡到y(tǒng)能夠控制各個電機的旋轉(zhuǎn)或直線運動方向、運動速度、旋轉(zhuǎn)角度或直線移動距離，進而精確控制測量探頭40的運動，實現(xiàn)測量探頭40對絕緣子表面的測量，運動控制較為簡單、控制精度高。
[0034]本實施例中，所述探頭支架30的第一端與所述測量探頭40的測量中心之間的直線連線長度與絕緣子的外緣半徑長度相等。進而，初始安裝本實施例所述的探頭掃描測量機構(gòu)時，可將探頭支架30的第一端與絕緣子的外緣的任一點正對，測量探頭40的測量中心與絕緣子的外緣的另一點正對。當(dāng)測量過程中測量探頭40逐漸向內(nèi)圈移動時，測量探頭40能夠沿著一段中心角為60°的圓弧移動，當(dāng)測量探頭40移動至與絕緣子的中心相對時，即完成了對絕緣子的全覆蓋掃描測量。圖2中示意出了絕緣子的待測投影面，其中R點表示測量探頭40初始設(shè)置位置，O點表示測量結(jié)束時測量探頭40的設(shè)置位置，圓弧RO表示測量過程中測量探頭40的移動軌跡。本實施例的探頭掃描測量機構(gòu)測量時，也可以O(shè)點為測量初始點，以R點為測量終點，測量的順序并不受限制。所述探頭掃描測量機構(gòu)測量路徑規(guī)劃合理，運動控制簡單精確。
[0035]本實施例所述的探頭掃描測量機構(gòu)的工作過程如下:將所述探頭掃描測量機構(gòu)安裝在絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)部，與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合使用，測量探頭40與絕緣子的待測表面相對。將探頭支架30的第一端與絕緣子的外緣的任一點正對，測量探頭40的測量中心與絕緣子的外緣的另一點相對。旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10控制測量探頭40沿著圓弧移動，從絕緣子的外緣任一點逐漸向內(nèi)圈移動，依次到達每一個測量位置。測量探頭40每位于一個測量位置時，直線驅(qū)動機構(gòu)20控制測量探頭40與絕緣子的表面保持需要的測量距離，探頭旋轉(zhuǎn)座50與測量探頭40轉(zhuǎn)動以使測量探頭40正對絕緣子的表面，旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈，測量探頭40完成在該測量位置時對絕緣子一圈的電荷測量。當(dāng)測量探頭40移動至絕緣子的中心時，即完成了對絕緣子的全覆蓋精確掃描測量。
[0036]如圖2、圖3所示，一種探頭掃描測量方法，包括以下步驟:
[0037]S100:探頭支架30的第一端與絕緣子的外緣的任一點正對，安裝在探頭支架30的第二端的測量探頭40的測量中心與絕緣子的外緣的另一點相對；
[0038]S200:旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)10控制與其輸出軸110連接的直線驅(qū)動機構(gòu)20的運動軸210轉(zhuǎn)動，帶動安裝在直線驅(qū)動機構(gòu)20上的探頭支架30旋轉(zhuǎn)，使測量探頭40從絕緣子的外緣任一點逐漸向內(nèi)圈移動，依次到達每一個測量位置；
[0039]S300:測量探頭40每位于一個測量位置時，直線驅(qū)動機構(gòu)20沿其運動軸210直線運動，控制測量探頭40的測量中心與絕緣子的表面保持需要的測量距離，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈，測量探頭40完成在該位置時對絕緣子一圈的電荷測量；
[0040]S400:測量探頭40移動至絕緣子的中心，完成對絕緣子的全覆蓋掃描測量。
[0041 ]所述探頭掃描測量方法，無需額外控制絕緣子的轉(zhuǎn)動，測量方法較為簡單，能夠有效完成對絕緣子表面的全覆蓋掃描測量，掃描無盲區(qū)。
[0042]進一步的，測量探頭40每位于一個測量位置之后，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈之前，還包括以下步驟:安裝在探頭支架30與測量探頭40之間的探頭旋轉(zhuǎn)座50繞一 A軸旋轉(zhuǎn)，測量探頭40繞與A軸相交的另一 B軸旋轉(zhuǎn)，使測量探頭40的測量中心正對絕緣子的待測表面。探頭旋轉(zhuǎn)座50自身能夠繞A軸旋轉(zhuǎn)，測量探頭40的位置會隨著探頭旋轉(zhuǎn)座50的旋轉(zhuǎn)而移動，且測量探頭40自身又能夠繞B軸旋轉(zhuǎn)，進而能夠保證測量探頭40在每個測量位置均正對待測絕緣子的表面，不會出現(xiàn)測量盲區(qū)、測量結(jié)果更加精確。
[0043]以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認為是本說明書記載的范圍。
[0044]以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
【主權(quán)項】
1.一種探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，用于與能夠使絕緣子旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置配合，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)、直線驅(qū)動機構(gòu)、探頭支架以及測量探頭，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)的輸出軸與所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸連接，所述探頭支架的第一端與所述直線驅(qū)動機構(gòu)連接，所述探頭支架的第二端與所述測量探頭連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，還包括探頭旋轉(zhuǎn)座，所述探頭旋轉(zhuǎn)座安裝在所述探頭支架的第二端，所述探頭旋轉(zhuǎn)座能夠沿一 A軸轉(zhuǎn)動，所述測量探頭安裝在所述探頭旋轉(zhuǎn)座上，所述測量探頭能夠沿與A軸相交的另一 B軸轉(zhuǎn)動。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸的軸線與安裝后的絕緣子的軸線平行，所述A軸平行于所述直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸的軸線，所述B軸與所述A軸垂直正交。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，所述探頭支架的第一端與所述測量探頭的測量中心之間的直線連線長度與絕緣子的外緣半徑長度相等。5.根據(jù)權(quán)利要求2-4任一項所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，所述探頭支架與絕緣子表面電荷測量實驗裝置的腔體外殼內(nèi)壁輪廓相匹配。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，所述探頭旋轉(zhuǎn)座包括旋轉(zhuǎn)座本體以及驅(qū)動所述旋轉(zhuǎn)座本體沿A軸旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動電機，所述測量探頭包括探頭本體以及驅(qū)動所述探頭本體沿B軸旋轉(zhuǎn)的第二驅(qū)動電機。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)為旋轉(zhuǎn)電機，所述直線驅(qū)動機構(gòu)為直線電機，所述旋轉(zhuǎn)電機、驅(qū)動電機、第一驅(qū)動電機以及第二驅(qū)動電機為伺服電機或步進電機。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探頭掃描測量機構(gòu)，其特征在于，還包括控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)與所述旋轉(zhuǎn)電機、驅(qū)動電機、第一驅(qū)動電機以及第二驅(qū)動電機電性連接。9.一種探頭掃描測量方法，其特征在于，包括以下步驟: 探頭支架的第一端與絕緣子的外緣的任一點正對，安裝在探頭支架的第二端的測量探頭的測量中心與絕緣子的外緣的另一點相對； 旋轉(zhuǎn)驅(qū)動機構(gòu)控制與其輸出軸連接的直線驅(qū)動機構(gòu)的運動軸轉(zhuǎn)動，帶動安裝在直線驅(qū)動機構(gòu)上的探頭支架旋轉(zhuǎn)，使測量探頭從絕緣子的外緣任一點逐漸向內(nèi)圈移動，依次到達每一個測量位置； 測量探頭每位于一個測量位置時，直線驅(qū)動機構(gòu)沿其運動軸直線運動，控制測量探頭的測量中心與絕緣子的表面保持需要的測量距離，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈，測量探頭完成在該位置時對絕緣子一圈的電荷測量； 測量探頭移動至絕緣子的中心，完成對絕緣子的全覆蓋掃描測量。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的探頭掃描測量方法，其特征在于，測量探頭每位于一個測量位置之后，外設(shè)的旋轉(zhuǎn)裝置控制絕緣子旋轉(zhuǎn)一圈之前，還包括以下步驟: 安裝在探頭支架與測量探頭之間的探頭旋轉(zhuǎn)座繞一 A軸旋轉(zhuǎn)，測量探頭繞與A軸相交的另一 B軸旋轉(zhuǎn)，使測量探頭的測量中心正對絕緣子的待測表面。
【文檔編號】G01R29/24GK106093610SQ201610387707
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月1日 公開號201610387707.1, CN 106093610 A, CN 106093610A, CN 201610387707, CN-A-106093610, CN106093610 A, CN106093610A, CN201610387707, CN201610387707.1
【發(fā)明人】王邸博, 傅明利, 卓然, 田野, 侯帥, 惠寶軍, 唐炬, 潘成
【申請人】南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司, 中國南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司電網(wǎng)技術(shù)研究中心, 武漢大學(xué)