一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)技術(shù)，尤其涉及一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)
目.0
【背景技術(shù)】
[0002]根據(jù)國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，電容在沖擊、振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，如果電容瞬間開(kāi)路或短路的時(shí)間小于規(guī)定的時(shí)間Ttl時(shí)，電容合格；如果電容瞬間開(kāi)路或短路的時(shí)間大于規(guī)定的時(shí)間T ^時(shí)，電容不合格。電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀器是用于測(cè)試電容在沖擊、振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，電容器瞬間開(kāi)路或短路的時(shí)間，并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行判斷，從而確定所測(cè)電容是否合格；電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀主要由直流測(cè)試電壓源、交流測(cè)試電壓源、電容開(kāi)路檢測(cè)電路和電容短路檢測(cè)電路等部分組；直流測(cè)試電壓源提供電容所需的直流電壓；交流測(cè)試電壓源提供幾兆赫茲以下的交流電壓；電容開(kāi)路檢測(cè)電路功能為檢測(cè)出多個(gè)通道的電容開(kāi)路信號(hào)并顯示輸出；電容短路檢測(cè)電路功能為檢測(cè)出多個(gè)通道的電容短路信號(hào)并顯示輸出；工作原理為:電容在沖擊、振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，在電容的兩端同時(shí)加上直流測(cè)試電壓源電壓和交流測(cè)試電壓源電壓，如果電容工作正常，測(cè)試電路能檢測(cè)出其上所加的直流電壓信號(hào)和交流電壓信號(hào)；當(dāng)電容短路時(shí)，兩端所加的直流電壓為0，電容短路檢測(cè)電路檢測(cè)出此短路信號(hào)，并測(cè)出其短路時(shí)間并顯示出來(lái)；由于電容有隔直流通交流的特性，當(dāng)電容開(kāi)路時(shí)，加在其上的交流測(cè)試電壓源信號(hào)處于斷路狀態(tài)，電容開(kāi)路檢測(cè)電路檢測(cè)出此斷路信號(hào)，并測(cè)出其斷路時(shí)間并顯示出來(lái)。
[0003]由于電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀輸出的直流電壓根據(jù)測(cè)試電容耐壓不同，從幾伏到數(shù)千伏連續(xù)可調(diào)，由于電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀工作時(shí)，首先對(duì)要外接的器件進(jìn)行識(shí)別，只有當(dāng)外接的器件為電容元件時(shí)，才輸出交直流信號(hào)，對(duì)電容進(jìn)行測(cè)試。如用通常的函數(shù)或脈沖發(fā)生器作標(biāo)準(zhǔn)對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，儀器無(wú)法識(shí)別，同時(shí)，由于儀器輸出的高電壓很可能損壞儀器；因此現(xiàn)有技術(shù)還沒(méi)有專用的模擬其開(kāi)路或短路的標(biāo)準(zhǔn)儀器對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)；造成對(duì)電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的校準(zhǔn)困難。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題:提供一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)沒(méi)有專用的模擬其開(kāi)路或短路的標(biāo)準(zhǔn)儀器對(duì)電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn)，電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)困難等問(wèn)題。
[0005]本實(shí)用新型技術(shù)方案:
[0006]一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，它包括電容器，NPN型晶體三極管的集電極與PNP型晶體三極管的發(fā)射極短接后引出到接線端B，在接線端B與PNP型晶體三極管的發(fā)射極之間串聯(lián)有電容器，NPN型晶體三極管的發(fā)射極與PNP型晶體三極管的集電極短接后接到接地端GND，NPN型晶體三極管的基極接到接線端A，PNP型晶體三極管的基極接到接線〗而Co
[0007]接線端A、B、和C端均為BNC接頭。
[0008]本實(shí)用新型的有益效果:
[0009]本實(shí)用新型簡(jiǎn)單可靠，方便使用，通過(guò)一個(gè)電容器、一個(gè)NPN型晶體三極管和一個(gè)PNP型晶體三極管即可構(gòu)成整個(gè)校準(zhǔn)裝置，通過(guò)采用脈沖電壓信號(hào)來(lái)控制NPN型晶體三極管和PNP型晶體三極管的飽和和截止，模擬實(shí)現(xiàn)電容器瞬間開(kāi)短路，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的最小短路時(shí)間和最小開(kāi)路時(shí)間的校準(zhǔn)，本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)沒(méi)有專用的模擬其開(kāi)路或短路的標(biāo)準(zhǔn)儀器對(duì)電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn)，電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)困難等問(wèn)題。
[0010]【附圖說(shuō)明】:
[0011]圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2為本實(shí)用新型函數(shù)發(fā)生器或波形發(fā)生器產(chǎn)生的單脈沖電壓信號(hào)示意圖。
[0013]【具體實(shí)施方式】:
[0014]—種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，它包括電容器3，NPN型晶體三極管I的集電極與PNP型晶體三極管2的發(fā)射極短接后引出到接線端B，在接線端B與PNP型晶體三極管2的發(fā)射極之間串聯(lián)有電容器3，NPN型晶體三極管I的發(fā)射極與PNP型晶體三極管2的集電極短接后接到接地端GND，NPN型晶體三極管I的基極接到接線端A，PNP型晶體三極管2的基極接到接線端C。
[0015]接線端A、B、和C端均為BNC接頭。
[0016]一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的校準(zhǔn)方法，它包括電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的短路校準(zhǔn)方法和開(kāi)路校準(zhǔn)方法。
[0017]電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的短路校準(zhǔn)方法包括:
[0018]步驟1、電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀輸出的信號(hào)加到B端；
[0019]步驟2、用一直流穩(wěn)壓電源在C端加入負(fù)低電平，使PNP型晶體三極管2飽和導(dǎo)通，相當(dāng)于短路，PNP型晶體三極管2對(duì)電容3無(wú)影響。
[0020]步驟3、A端加入一單脈沖電壓信號(hào)，33120A型函數(shù)/任意波形發(fā)生器的輸出連接到A端，產(chǎn)生單脈沖電壓信號(hào)；
[0021]步驟4、A端沒(méi)有單脈沖電壓信號(hào)輸出時(shí)，A端為負(fù)低電平，NPN型晶體三極管I截止，對(duì)電容3無(wú)影響，A端電平從負(fù)低電平跳到高電平時(shí)，NPN型晶體三極管I飽和導(dǎo)通，相當(dāng)于電容器3短路，將單脈沖電壓信號(hào)的脈沖寬度T增加，當(dāng)脈沖寬度T的值被檢測(cè)儀器判定超過(guò)規(guī)定的短路時(shí)間Ttl時(shí)，此脈沖寬度T即為電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的最小短路時(shí)間。
[0022]電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的開(kāi)路校準(zhǔn)方法包括:
[0023]步驟1、電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀輸出的信號(hào)加到B端；
[0024]步驟2、用一直流穩(wěn)壓電源在A端加入負(fù)低電平，使NPN型晶體三極管I截止，相當(dāng)于開(kāi)路，NPN型晶體三極管I對(duì)電容3無(wú)影響；
[0025]步驟3、在C端加入一單脈沖電壓信號(hào)，33120A型函數(shù)/任意波形發(fā)生器的輸出連接到C端，產(chǎn)生單脈沖電壓信號(hào)；
[0026]步驟4、C端沒(méi)有單脈沖電壓信號(hào)輸出時(shí)，C端為負(fù)低電平，PNP型晶體三極管2飽和導(dǎo)通，當(dāng)C端電平從負(fù)低電平跳到高電平時(shí)，PNP型晶體三極管2截止，相當(dāng)于電容器3開(kāi)路，將單脈沖電壓信號(hào)的脈沖寬度T增加，脈沖寬度T的值被儀器判定超過(guò)規(guī)定的開(kāi)路時(shí)間Ttl時(shí)，此脈沖寬度T即為電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀的最小開(kāi)路時(shí)間。
[0027]所述高電平為IV，負(fù)的低電平為-1V。
[0028]所述單脈沖電壓信號(hào)為函數(shù)發(fā)生器或波形發(fā)生器產(chǎn)生，本實(shí)施例采用，33120A型函數(shù)/任意波形發(fā)生器，33120A型函數(shù)/任意波形發(fā)生器設(shè)置:按pulse鍵，使其燈亮，幅度 Ampl=2Vpp,直流偏置 offset=0V,高電平 Hilevel=IV,低電平 Lolevel=-1V,周期per1d=100s,脈沖串Burst為Icyc,正脈沖，手動(dòng)觸發(fā)。則每按一次手動(dòng)觸發(fā)時(shí)，33120A型函數(shù)/任意波形發(fā)生器輸出一個(gè)高電平為IV，低電平為-1V的脈沖寬度可調(diào)的單脈沖。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，它包括電容器(3)，其特征在于:NPN型晶體三極管(I)的集電極與PNP型晶體三極管(2 )的發(fā)射極短接后引出到接線端B，在接線端B與PNP型晶體三極管(2)的發(fā)射極之間串聯(lián)有電容器(3)，NPN型晶體三極管(I)的發(fā)射極與PNP型晶體三極管(2)的集電極短接后接到接地端GND，NPN型晶體三極管(I)的基極接到接線端A，PNP型晶體三極管(2)的基極接到接線端C。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，其特征在于:接線端A、B、和C端均為BNC接頭。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，它包括電容器（3），NPN型晶體三極管（1）的集電極與PNP型晶體三極管（2）的發(fā)射極短接后引出到接線端B，在接線端B與PNP型晶體三極管（2）的發(fā)射極之間串聯(lián)有電容器（3），NPN型晶體三極管（1）的發(fā)射極與PNP型晶體三極管（2）的集電極短接后接到接地端GND，NPN型晶體三極管（1）的基極接到接線端A，PNP型晶體三極管（2）的基極接到接線端C；本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有技術(shù)沒(méi)有專用的模擬其開(kāi)路或短路的標(biāo)準(zhǔn)儀器對(duì)電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn)，電容器瞬間開(kāi)短路測(cè)試儀校準(zhǔn)困難等問(wèn)題。
【IPC分類】G01R31-02, G01R35-00
【公開(kāi)號(hào)】CN204302479
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420835549
【發(fā)明人】瞿明生
【申請(qǐng)人】貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所
【公開(kāi)日】2015年4月29日
【申請(qǐng)日】2014年12月25日