一種倒裝led芯片在線檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于倒裝LED芯片測試領(lǐng)域，更具體地，涉及一種倒裝LED芯片在線檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]倒裝LED芯片較之傳統(tǒng)正裝LED芯片，光效和生產(chǎn)成本均有不同程度的改善，倒裝LED芯片的重要性也愈發(fā)突出，同時也對其對應的檢測技術(shù)與設(shè)備提出了新的要求，倒裝LED芯片在線檢測設(shè)備用于完成倒裝LED芯片光電參數(shù)的檢測并按參數(shù)分類生成統(tǒng)一的數(shù)據(jù)文檔，配合LED分選設(shè)備實現(xiàn)對倒裝LED芯片的分類，提升產(chǎn)品附加值。
[0003]現(xiàn)有LED芯片檢測設(shè)備多針對正裝LED芯片，而隨著倒裝LED芯片的大規(guī)模應用，且常用的正裝LED芯片的檢測設(shè)備亦不能簡單照搬過來使用，因此，開發(fā)新的倒裝LED芯片的檢測測試設(shè)備和方法也隨之顯得極為重要，例如現(xiàn)有技術(shù)中的專利文獻CN103149524A公開了一種倒裝LED芯片的測試機及其測試方法，但是該種測試機和測試方法具有如下的技術(shù)缺陷:(I)沒有考慮到如何更好地實現(xiàn)各組成部件的快速配合；(2)沒有考慮到如何提高收光測試的效率和測試精度如何提高。隨著LED行業(yè)的快速發(fā)展和倒裝LED芯片生產(chǎn)技術(shù)的提高，必須研發(fā)更好地針對倒裝LED芯片的快速在線檢測設(shè)備。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進需求，本實用新型提供了一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，由此解決倒裝LED芯片的智能、快速及精確的測試問題。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，按照本實用新型的一個方面，提供了一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其特征在于，該裝置包括:工作臺模塊、收光測試組件、運輸傳輸組件、探針測試平臺、精密對準系統(tǒng)，其中工作臺模塊包括載物臺，其上設(shè)置有用于裝載多個待測試芯片的盤片，所述工作臺模塊設(shè)置于運輸傳輸組件之上，在其帶動運輸作用下實現(xiàn)所述工作臺模塊上待測試芯片的定位；
[0006]收光測試組件其包括積分球組件、光學測試組件；所述積分球組件包括積分球，其在所述待測試倒裝LED芯片完成定位后上升，將所述積分球推動至所述待測芯片的發(fā)光側(cè)并靠近所述盤片；所述光學測試組件用于接收并分析所述積分球收集的待測試的光信號并對其進行分析；
[0007]探針測試平臺設(shè)置于所述工作臺模塊之上，其包括探針座、探針座升降裝置以及探針，其中探針座升降裝置用于帶動所述探針座升降以完成所述探針與所述待測試芯片的接觸和脫離，從而實現(xiàn)通電點亮所述待測試倒裝LED芯片，實現(xiàn)測試。
[0008]進一步地，所述積分球底部還設(shè)置有積分球90°轉(zhuǎn)接頭。
[0009]進一步地，該在線檢測裝置還包括精密對準系統(tǒng)，其包括兩個攝像頭，一個位于掃描區(qū)用于掃描所述待測芯片的位姿，一個位于檢測區(qū)用于實現(xiàn)所述探針測試平臺的所述探針的對準。
[0010]進一步地，所述載物臺為具有載物臺立柱的中空形式，所述積分球模塊置于中空部分；所述工作臺模塊上還包括有旋轉(zhuǎn)軸電機，其傳動皮帶纏繞所述載物臺的底部，用于控制其旋轉(zhuǎn)運動，從而調(diào)整所述待測芯片的位姿。
[0011]進一步地，所述掃描的位姿信息包括從所述掃描區(qū)到所述測試區(qū)的每塊所述待測試的倒裝LED芯片對應的運輸傳輸組件和所述旋轉(zhuǎn)軸電機的運動坐標。
[0012]進一步地，所述運輸傳輸組件包括X軸模塊和Y軸模塊，從而實現(xiàn)X/Y兩個軸向的運動，其中X軸模塊包括X軸導軌、X軸基座以及驅(qū)動所述X軸基座沿所述X軸導軌往復運動的驅(qū)動裝置；其中Y軸模塊包括Y軸導軌、Y軸基座以及驅(qū)動所述Y軸基座沿所述Y軸導軌往復運動的驅(qū)動裝置，所述Y軸模塊設(shè)置于所述X軸基座上。
[0013]進一步地，所述工作臺模塊設(shè)置于所述Y軸基座上。
[0014]進一步地，所述在線檢測裝置設(shè)置于一底座上，其上設(shè)置有一個支架，所述運輸傳輸組件設(shè)置于所述底座上且位于所述支架下，所述探針測試平臺設(shè)置于所述支架上。
[0015]總體而言，通過本實用新型所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比，能夠取得下列有益效果:
[0016](I)按照本實用新型實現(xiàn)的機械結(jié)構(gòu)，能夠成功解決倒裝LED芯片電極和發(fā)光面不同側(cè)的問題；
[0017](2)同時，本實用新型采用精密圖像運動控制技術(shù)，實現(xiàn)工作臺高速精密定位，加快芯片檢測效率。
[0018]總之，采用本實用新型的設(shè)計，具有設(shè)計巧妙、定位精度高、整機穩(wěn)定性好等突出特點。
【附圖說明】
[0019]圖1是按照本實用新型實現(xiàn)的倒裝LED芯片的在線檢測設(shè)備的總體示意圖；
[0020]圖2是按照本實用新型實現(xiàn)的倒裝LED芯片的在線檢測設(shè)備的局部示意圖；
[0021]圖3是按照本實用新型實現(xiàn)的倒裝LED芯片的在線檢測設(shè)備的整體結(jié)構(gòu)的俯視圖。
[0022]在所有附圖中，相同的附圖標記用來表示相同的元件或結(jié)構(gòu)，其中:
[0023]1-工作臺模塊2-收光測試組件3-運輸傳輸組件4-探針測試平臺5-精密對準系統(tǒng)6-石英玻璃7-掃描區(qū)8-檢測區(qū)9-底座10-支架11-載物臺111-盤片112-載物臺立柱12-旋轉(zhuǎn)軸電機21-積分球組件211-積分球模塊212-積分球夾具213-積分球升降裝置2131-氣缸固定板2132-推進氣缸2111-積分球2112-積分球90°轉(zhuǎn)接頭22-光學測試組件221-亮度探頭222-光纖223-遮光片31-X軸模塊32-Y軸模塊311-X軸基座312-X軸導軌313-X軸驅(qū)動裝置321-Y軸基座322-Y軸導軌323-Y軸驅(qū)動裝置41-探針座42-探針座升降裝置43-探針
【具體實施方式】
[0024]為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。此外，下面所描述的本實用新型各個實施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0025]本實用新型提供一種倒裝LED芯片檢測本實用新型的倒裝LED芯片在線檢測裝置包括:
[0026]工作臺模塊1、收光測試組件2、運輸傳輸組件3以及探針測試平臺4，
[0027]其中工作臺模塊I包括載物臺11、旋轉(zhuǎn)軸電機12 ；
[0028]其中收光測試組件2包括積分球模塊21和光學測試組件22，其中積分球模塊21包括積分球模塊211、積分球夾具212、積分球升降裝置213 ;
[0029]其中積分球模塊211包括積分球2111、積分球90°轉(zhuǎn)接頭2112 ;光學測試組件22包括亮度探頭221、光纖222以及后續(xù)的光學參數(shù)分析裝置；積分球升降裝置213包括氣缸固定板2131、推進氣缸2132 ；
[0030]運輸傳輸組件3包括X軸模塊31、Y軸模塊32 ;其中X軸模塊31包括X軸基座311、X軸導軌312，以及驅(qū)動所述X軸基座311沿X軸導軌312往復運動的X軸驅(qū)動裝置313，該X軸驅(qū)動裝置可為電機等；Y軸模塊32包括Y軸基座321、Y軸導軌322，以及驅(qū)動所述Y軸基座321沿Y軸導軌322往復運動的X軸驅(qū)動裝置323，該Y軸驅(qū)動裝置可為電機等。
[0031]其中探針測試平臺4包括探針座41、探針座升降裝置42、探針43 ;探針座升降裝置42可控制探針座41上下移動，從而控制探針43與待測試倒裝LED芯片的引腳接觸和脫離，而探針座41可給探針43通電，從而實現(xiàn)LED芯片的通電點亮狀態(tài)下的光學參數(shù)測試。
[0032]精密對準系統(tǒng)5包括兩個視覺系統(tǒng)，一個位于掃描區(qū)7、一個位于檢測區(qū)8 ;
[0033]本實用新型中所涉及的倒裝LED芯片在線檢測裝置的整體設(shè)置情況如下:
[0034]本實用新型的倒裝LED芯片LED在線檢測裝置設(shè)置于一底座9上，底座上設(shè)置一支架10 ;運輸傳輸組件3用于裝載待測試的LED倒裝LED芯片，其設(shè)置于支架10的下方，收光測試組件2設(shè)置于Y軸模塊32的Y軸基座321上，探針測試平臺4設(shè)置于支架10上。
[0035]設(shè)置于支架10下的運輸傳輸組件3的運動將載物臺11運輸?shù)綑z測區(qū)，設(shè)置于支架10上的探針測試平臺4控制探針43與待測試的LED倒裝LED芯片的引腳接觸，通電點亮LED發(fā)光芯片，設(shè)置于底座9上的收光測試組件3對準待測試倒裝LED芯片的發(fā)光側(cè)，進而對其光學參數(shù)進行檢測。
[0036]其中載物臺11設(shè)置于Y軸基座321上，可在Y軸驅(qū)動