一種光分路器用芯片角度檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型專利涉及一種光分路器用芯片角度檢測裝置，尤其是能識別角度準確精確度。適用于石英材質(zhì)材料角度檢測。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，光分路器的使用越來越廣。芯片加工要求角度要達到98度，角度達不到要求就無法精確地與光纖陣列，單根進行對接，芯片為石英材質(zhì)，常規(guī)的石英基材角度測量儀器都依賴于進口設(shè)備。價格高，測試誤差較大，而本檢測設(shè)備完全自主設(shè)計，設(shè)備簡單，制造成本低廉，精確度高，便于操作等優(yōu)點。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]為了滿足光分路器用芯片在研磨后的角度測試準確，所設(shè)計的一種簡便紅光測檢測器，傳統(tǒng)的測試儀器目前全部依賴進口，價格高，設(shè)備維護費用大，不便于大規(guī)模的推廣，此測試儀器結(jié)構(gòu)簡單，檢測精度高，檢測方便。
[0004]本實用新型涉及一種光分路器用芯片角度檢測裝置，所述裝置包括光源、反射區(qū)標、產(chǎn)品測試臺；
[0005]光源和反射區(qū)標位于產(chǎn)品測試臺的同一側(cè)，光源采用紅光源，反射區(qū)標采用白色，芯片放置于產(chǎn)品測試臺上面，紅光光源照射到芯片斜面上，斜面將紅光反射到反射區(qū)標，通過標準件確定合格品的反射區(qū)域，根據(jù)所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。
【附圖說明】
[0006]通過參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例，本實用新型的以上和其它方面及優(yōu)點將變得更加易于清楚，在附圖中:
[0007]圖1是本實用新型的整體結(jié)構(gòu)圖。
[0008]圖2是本實用新型的原理圖。
【具體實施方式】
[0009]在下文中，現(xiàn)在將參照附圖更充分地描述本實用新型，在附圖中示出了各種實施例。然而，本實用新型可以以許多不同的形式來實施，且不應(yīng)該解釋為局限于在此闡述的實施例。相反，提供這些實施例使得本公開將是徹底和完全的，并將本實用新型的范圍充分地傳達給本領(lǐng)域技術(shù)人員。
[0010]在下文中，將參照附圖更詳細地描述本實用新型的示例性實施例。
[0011]參考附圖1-2，光源和反射區(qū)標位于產(chǎn)品測試臺的同一側(cè)，為了便于檢測人員觀察，光源采用紅光源，反射區(qū)標采用白色，芯片放置于產(chǎn)品測試臺上面，通過紅光光源照射到芯片斜面上，石英材質(zhì)對光反射性較強，斜度面將紅光反射到反射區(qū)標，通過標準件確定合格品的反射區(qū)域，根據(jù)所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。
[0012]以上所述僅為本實用新型的實施例而已，并不用于限制本實用新型。本實用新型可以有各種合適的更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種光分路器用芯片角度檢測裝置，其特征在于: 所述裝置包括光源、反射區(qū)標、產(chǎn)品測試臺； 光源和反射區(qū)標位于產(chǎn)品測試臺的同一側(cè)，光源采用紅光源，反射區(qū)標采用白色，芯片放置于產(chǎn)品測試臺上面，紅光光源照射到芯片斜面上，斜面將紅光反射到反射區(qū)標，通過標準件確定合格品的反射區(qū)域，根據(jù)所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。
【專利摘要】本實用新型涉及一種光分路器用芯片角度檢測裝置，所述裝置包括光源、反射區(qū)標、產(chǎn)品測試臺；光源和反射區(qū)標位于產(chǎn)品測試臺的同一側(cè)，光源采用紅光源，反射區(qū)標采用白色，芯片放置于產(chǎn)品測試臺上面，紅光光源照射到芯片斜面上，斜面將紅光反射到反射區(qū)標，通過標準件確定合格品的反射區(qū)域，根據(jù)所測試芯片的反射點以此判斷是否符合要求的角度。
【IPC分類】G01B11-26
【公開號】CN204359285
【申請?zhí)枴緾N201420596046
【發(fā)明人】樊利平
【申請人】樊利平
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2014年10月15日