探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種探頭固定裝置，尤其是涉及一種探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對光功率計(jì)的探頭計(jì)量時(shí)，有一種類型的探頭是手持式的，受光面無法固定，接受標(biāo)準(zhǔn)光源的照射感應(yīng)光強(qiáng)度時(shí)，人員的操作和抖動(dòng)都會(huì)對測量產(chǎn)生較大的誤差，并且重復(fù)性、再現(xiàn)性也差。因?yàn)闊o法固定探頭，所以光源和探頭的距離，受光點(diǎn)都不是確定，如果使用一個(gè)固定探頭的夾具，可以解決這個(gè)問題。如專利申請CNCN103926326A公開一種超聲波探頭固定裝置，包括外管套、壓縮彈簧、保護(hù)墊塊及用于放置超聲波探頭的保護(hù)管套，壓縮彈簧安裝在外管套與保護(hù)墊塊之間，保護(hù)管套一端安裝在外管套內(nèi)、且套于保護(hù)墊塊，保護(hù)套管與外管套通過鎖緊螺栓固定在一起，保護(hù)套管設(shè)有用于安裝超聲波探頭的凹槽，保護(hù)套管另一端設(shè)有與凹槽相連通的通孔。但該裝置是針對超聲波探頭設(shè)計(jì)的，不能適用于光功率計(jì)的探頭固定。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種有效固定探頭、降低測試誤差、提高測試數(shù)據(jù)的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置。
[0004]本實(shí)用新型的目的可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
[0005]一種探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，包括相連接的下蓋板基座和上蓋板，所述下蓋板基座上設(shè)有用于安裝光功率計(jì)探頭的卡槽，所述下蓋板基座上還設(shè)有光纖輸入接頭，該光纖輸入接頭與光功率計(jì)探頭連接，光信號(hào)通過光纖輸入接頭輸入到光功率探頭中。
[0006]所述下蓋板基座的一端與上蓋板的一端可活動(dòng)式連接。
[0007]所述卡槽為臺(tái)階狀凹槽。
[0008]所述卡槽為三級(jí)臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
[0009]所述下蓋板基座底部還設(shè)有用于定位光功率計(jì)探頭的定位孔。
[0010]所述下蓋板基座和上蓋板均為由不銹鋼材料制成的蓋板。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0012](I)可以完整固定探頭，并且保持光源和探頭的受光面在固定的距離，固定的受光點(diǎn)，測試數(shù)據(jù)會(huì)更加準(zhǔn)確，人員的誤差可以大大減少
[0013](2)使重復(fù)測量的結(jié)果趨向穩(wěn)定，可以降低整個(gè)系統(tǒng)的誤差。
【附圖說明】
[0014]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖2為本實(shí)用新型的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。本實(shí)施例以本實(shí)用新型技術(shù)方案為前提進(jìn)行實(shí)施，給出了詳細(xì)的實(shí)施方式和具體的操作過程，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不限于下述的實(shí)施例。
[0017]如圖1-圖2所示，一種探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，包括相連接的下蓋板基座I和上蓋板2，下蓋板基座I上設(shè)有用于安裝光功率計(jì)探頭的卡槽4，下蓋板基座I上還設(shè)有光纖輸入接頭3，該光纖輸入接頭3與光功率計(jì)探頭連接。下蓋板基座I的一端與上蓋板2的一端可活動(dòng)式連接。下蓋板基座I和上蓋板2均由不銹鋼材料制成，使用壽命長。
[0018]卡槽4為臺(tái)階狀凹槽，本實(shí)施例中，卡槽為三級(jí)臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
[0019]下蓋板基座底部還設(shè)有用于定位光功率計(jì)探頭的定位孔5。
[0020]上述定位裝置連接過程中，將光功率計(jì)探頭放入卡槽中，通過定位孔定位，由光纖輸入接頭固定住，再由下蓋板基座固定。光信號(hào)通過光纖輸入接頭輸入到光功率探頭中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，包括相連接的下蓋板基座(I)和上蓋板(2)，所述下蓋板基座(I)上設(shè)有用于安裝光功率計(jì)探頭的卡槽(4)，所述下蓋板基座(I)上還設(shè)有光纖輸入接頭(3)，該光纖輸入接頭(3)與光功率計(jì)探頭連接，光信號(hào)通過光纖輸入接頭輸入到光功率探頭中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，所述下蓋板基座(I)的一端與上蓋板(2)的一端可活動(dòng)式連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，所述卡槽(4)為臺(tái)階狀凹槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，所述卡槽(4)為三級(jí)臺(tái)階結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，所述下蓋板基座(I)底部還設(shè)有用于定位光功率計(jì)探頭的定位孔(5)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，其特征在于，所述下蓋板基座(I)和上蓋板(2)均為由不銹鋼材料制成的蓋板。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種探頭校準(zhǔn)測試用定位裝置，包括相連接的下蓋板基座(1)和上蓋板(2)，所述下蓋板基座(1)上設(shè)有用于安裝光功率計(jì)探頭的卡槽(4)，所述下蓋板基座(1)上還設(shè)有光纖輸入接頭(3)，該光纖輸入接頭(3)與光功率計(jì)探頭連接，光信號(hào)通過光纖輸入接頭輸入到光功率探頭中。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有能有效固定探頭、降低測試誤差、提高測試數(shù)據(jù)等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01J1-04
【公開號(hào)】CN204359431
【申請?zhí)枴緾N201520013617
【發(fā)明人】施穎君
【申請人】電計(jì)科技研發(fā)（上海）有限公司
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2015年1月8日