馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于印刷電路板制造用設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種能夠通用于馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺的泛用測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，全新方位四倍密機臺與瑪尼亞測試機臺所用的治具除定位孔以外，其他結(jié)構(gòu)都是一樣的，因此，一般共享泛用測試治具，但是目前泛用測試治具只有一排定位孔，而且該排定位孔是適用于馬尼亞測試機臺的，全新方位四倍密機臺在使用泛用測試治具時需旋轉(zhuǎn)后從左邊套用原瑪尼亞機臺的定位孔，但是全新方位四倍密機臺上的定位孔和馬尼亞機臺的定位孔還是有些不同的，如此，全新方位四倍密機臺在架設(shè)治具時從機臺側(cè)面定位不穩(wěn)定且不容易定位。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]為了解決上述問題，本實用新型提供了一種馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具，該馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具具有馬尼亞定位孔和四倍密定位孔，使馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺各取所用，滿足兩種機臺的工作定位需求，無需旋轉(zhuǎn)套用同一排定位孔，提高了工作效率和穩(wěn)定性，且結(jié)構(gòu)簡單、易于實施。
[0004]本實用新型為了解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具，所述泛用測試治具為方形板狀，所述泛用測試治具設(shè)有兩排定位孔，第一排定位孔是與馬尼亞測試機臺上定位孔對應(yīng)的馬尼亞定孔位，第二排定位孔是與全新方位四倍密機臺上定位孔對應(yīng)的四倍密定位孔，所述馬尼亞定位孔和四倍密定位孔分別位于泛用測試治具相鄰的兩條邊。
[0006]本實用新型的有益效果是:本實用新型的泛用測試治具設(shè)有兩排定位孔，第一排定位孔是與馬尼亞測試機臺上定位孔對應(yīng)的馬尼亞定孔位，第二排定位孔是與全新方位四倍密機臺上定位孔對應(yīng)的四倍密定位孔，并且馬尼亞定位孔和四倍密定位孔分別位于泛用測試治具相鄰的兩條邊，由于該泛用測試治具同時具有馬尼亞定位孔和四倍密定位孔，使馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺各取所用，滿足兩種機臺的工作定位需求，無需旋轉(zhuǎn)套用同一排定位孔，提高了工作效率和穩(wěn)定性。
【附圖說明】
[0007]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0008]以下通過特定的具體實例說明本實用新型的【具體實施方式】，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的優(yōu)點及功效。本實用新型也可以其它不同的方式予以實施，即，在不悖離本實用新型所揭示的范疇下，能予不同的修飾與改變。
[0009]實施例:一種馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具，所述泛用測試治具為方形板狀，所述泛用測試治具設(shè)有兩排定位孔，第一排定位孔是與馬尼亞測試機臺上定位孔對應(yīng)的馬尼亞定孔位1，第二排定位孔是與全新方位四倍密機臺上定位孔對應(yīng)的四倍密定位孔2，所述馬尼亞定位孔和四倍密定位孔分別位于泛用測試治具相鄰的兩條邊。
【主權(quán)項】
1.一種馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具，其特征在于:所述泛用測試治具為方形板狀，所述泛用測試治具設(shè)有兩排定位孔，第一排定位孔是與馬尼亞測試機臺上定位孔對應(yīng)的馬尼亞定孔位(I)，第二排定位孔是與全新方位四倍密機臺上定位孔對應(yīng)的四倍密定位孔(2)，所述馬尼亞定位孔和四倍密定位孔分別位于泛用測試治具相鄰的兩條邊。
【專利摘要】本實用新型公開了一種馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺泛用測試治具，所述泛用測試治具為方形板狀，所述泛用測試治具設(shè)有兩排定位孔，第一排定位孔是與馬尼亞測試機臺上定位孔對應(yīng)的馬尼亞定孔位，第二排定位孔是與全新方位四倍密機臺上定位孔對應(yīng)的四倍密定位孔，所述馬尼亞定位孔和四倍密定位孔分別位于泛用測試治具相鄰的兩條邊，由于該泛用測試治具同時具有馬尼亞定位孔和四倍密定位孔，使馬尼亞測試機臺和全新方位四倍密機臺各取所用，滿足兩種機臺的工作定位需求，無需旋轉(zhuǎn)套用同一排定位孔，提高了工作效率和穩(wěn)定性。
【IPC分類】G01R1-02, G01R31-28
【公開號】CN204374374
【申請?zhí)枴緾N201420832571
【發(fā)明人】李澤清
【申請人】競陸電子(昆山)有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2014年12月24日