一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，屬于薄膜電容器生產(chǎn)制造技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中已公知的，用于制造薄膜電容器的金屬化薄膜具有梯度變化或漸進(jìn)變化的鍍層厚度，對(duì)于在以下這些方面具有進(jìn)步意義:降低自愈能耗，減少引出線與電極的接觸電阻，提高承載電流的能力，提高耐壓能力；金屬化薄膜鍍層厚度的變化直接影響金屬化薄膜電阻性能的變化，為了排除材料品質(zhì)、加工工藝等細(xì)微變化對(duì)產(chǎn)品性能的影響，以金屬化薄膜的電阻性能來(lái)限定或判定金屬化薄膜各定義位置處鍍層厚度更符合實(shí)際需要，也更具有實(shí)際操作性。此外，即便是常規(guī)的等鍍層厚度的金屬化薄膜，對(duì)于薄膜鍍層厚度均勻性的監(jiān)控也很有必要。為了檢測(cè)金屬化薄膜在不同方向和不同位置處的鍍層電阻特性，通常需要對(duì)金屬化薄膜的多個(gè)位置進(jìn)行檢測(cè)，通常的檢測(cè)方法需要不斷地改變金屬化薄膜的夾持方式，容易造成金屬化薄膜的破損，或者采用手持的方式檢測(cè)不同位置之間的電阻特性則存在測(cè)試誤差大、檢測(cè)結(jié)果的平行性差的不足。針對(duì)上述問(wèn)題有必要提出可行的技術(shù)方案加以克服。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型正是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，無(wú)需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個(gè)位置之間的電阻特性的檢測(cè)，滿足實(shí)際使用要求。
[0004]為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)方案如下:
[0005]一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，包括:
[0006]一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座；
[0007]用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測(cè)頭，所述檢測(cè)頭為兩個(gè)且分別連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線；
[0008]一固定設(shè)置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片；
[0009]一固定設(shè)置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測(cè)頭的固定夾持片；
[0010]一活動(dòng)設(shè)置于所述支撐底座上用于固定所述檢測(cè)頭的固定片，所述固定片位于所述夾持片和所述固定夾持片之間；
[0011]所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為長(zhǎng)方形且相互平行，所述固定夾持片和所述固定片在長(zhǎng)度方向上都設(shè)置有鏤空的檢測(cè)滑槽，所述檢測(cè)頭位于所述檢測(cè)滑槽內(nèi)。
[0012]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述夾持片、所述固定夾持片的兩端均通過(guò)安裝螺栓固定連接所述支撐底座；所述支撐底座上設(shè)置有垂直于所述固定片的凸起滑道，所述凸起滑道為兩個(gè)且分別位于所述固定片的兩端，所述固定片的兩端底部設(shè)置有配合所述凸起滑道的限位凹槽。
[0013]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為金屬制成，且所述夾持片和所述固定夾持片的底面設(shè)置有第一橡膠墊，所述支撐底座的頂面設(shè)置有第二橡膠墊，且所述夾持片和所述固定夾持片的頂面均設(shè)置有配合所述安裝螺栓的安裝導(dǎo)套。
[0014]上述改進(jìn)采用金屬作為主材料便于加工且剛性好，從而便于控制表面平整度，降低夾持金屬化薄膜時(shí)施力不均的程度，但是金屬表面過(guò)于堅(jiān)硬容易刮傷金屬化薄膜且摩擦力較小，夾持穩(wěn)固效果不佳，因此設(shè)置第一橡膠墊和第二橡膠墊，既能夠大大降低刮傷金屬化薄膜的幾率而且夾持很穩(wěn)固，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確；此外，設(shè)置安裝導(dǎo)套不僅可以在保證螺紋不打滑的前提下減小夾持片和固定夾持片的厚度，而且可以提高夾持的穩(wěn)固性，不會(huì)發(fā)生偏轉(zhuǎn)從而造成施力不均。
[0015]作為上述技術(shù)方案的改進(jìn)，所述檢測(cè)頭包括球形觸頭、導(dǎo)電柱、以及包封所述球形觸頭和所述導(dǎo)電柱的絕緣塊，所述導(dǎo)電柱下端連接所述球形觸頭，所述導(dǎo)電柱上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線。
[0016]用于接觸金屬化薄膜的觸頭為球形觸頭，因此減少了尖端放電的幾率，即降低了設(shè)備擊穿拉火的幾率，同時(shí)采用絕緣塊包封導(dǎo)體，使得檢測(cè)頭之間以及檢測(cè)頭與測(cè)試夾持器具之間的電氣絕緣性能進(jìn)一步提高。
[0017]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型的實(shí)施效果如下:
[0018]本實(shí)用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，可以選擇將兩個(gè)檢測(cè)頭均放置于所述固定夾持片的檢測(cè)滑槽中或所述固定片的檢測(cè)滑槽中，也可以在兩個(gè)檢測(cè)滑槽中各放置一個(gè)檢測(cè)頭，由于所述固定片可以自由滑動(dòng)，而檢測(cè)頭可以在檢測(cè)滑槽中自由滑動(dòng)，因此無(wú)需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個(gè)位置之間的電阻特性的檢測(cè)，滿足實(shí)際使用要求。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1為本實(shí)用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖2為本實(shí)用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架平視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖3為圖1中A— A處的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖4為圖1中B— B處的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖5為圖1中C一C處的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]下面將結(jié)合具體的實(shí)施例來(lái)說(shuō)明本實(shí)用新型的內(nèi)容。
[0025]如圖1至圖5所示，為本實(shí)用新型所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型所述一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，包括:一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座I ;用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測(cè)頭2，所述檢測(cè)頭2為兩個(gè)且分別連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線；一固定設(shè)置于所述支撐底座I上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片3 ;一固定設(shè)置于所述支撐底座I上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測(cè)頭2的固定夾持片4 ;一活動(dòng)設(shè)置于所述支撐底座I上用于固定所述檢測(cè)頭2的固定片5，所述固定片5位于所述夾持片3和所述固定夾持片4之間；所述夾持片3、所述固定夾持片4和所述固定片5均為長(zhǎng)方形且相互平行，所述固定夾持片4和所述固定片5在長(zhǎng)度方向上都設(shè)置有鏤空的檢測(cè)滑槽6，所述檢測(cè)頭2位于所述檢測(cè)滑槽6內(nèi)。
[0026]具體地，所述夾持片3、所述固定夾持片4的兩端均通過(guò)安裝螺栓7固定連接所述支撐底座I ;所述支撐底座I上設(shè)置有垂直于所述固定片5的凸起滑道8，所述凸起滑道8為兩個(gè)且分別位于所述固定片5的兩端，所述固定片5的兩端底部設(shè)置有配合所述凸起滑道8的限位凹槽51。進(jìn)一步地，所述夾持片3、所述固定夾持片4和所述固定片5均為金屬制成，且所述夾持片3和所述固定夾持片4的底面設(shè)置有第一橡膠墊31，所述支撐底座I的頂面設(shè)置有第二橡膠墊11，且所述夾持片3和所述固定夾持片4的頂面均設(shè)置有配合所述安裝螺栓7的安裝導(dǎo)套32。優(yōu)選地，所述檢測(cè)頭2包括球形觸頭21、導(dǎo)電柱22、以及包封所述球形觸頭21和所述導(dǎo)電柱22的絕緣塊23，所述導(dǎo)電柱22下端連接所述球形觸頭21，所述導(dǎo)電柱22上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線。
[0027]工作時(shí)，首先將金屬化薄膜樣品的一端夾持在所述夾持片3下，對(duì)金屬化薄膜樣品施加均勻的拉力使之張緊后，再將金屬化薄膜樣品的另一端夾持在所述固定夾持片4下，然后根據(jù)實(shí)際需要，將兩個(gè)檢測(cè)頭2均放置于所述固定夾持片4的檢測(cè)滑槽6中或所述固定片5的檢測(cè)滑槽6中，也可以在兩個(gè)檢測(cè)滑槽6中各放置一個(gè)檢測(cè)頭2，移動(dòng)所述固定片5再移動(dòng)所述檢測(cè)頭2，當(dāng)檢測(cè)頭2的球形觸頭21接觸到預(yù)定的金屬化薄膜樣品需要檢測(cè)的位置點(diǎn)時(shí)，即可進(jìn)行表面電阻測(cè)定等試驗(yàn)。
[0028]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型所作的詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型具體實(shí)施僅限于這些說(shuō)明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，其特征是，包括: 一用于平托金屬化薄膜樣品的支撐底座(I); 用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測(cè)頭(2)，所述檢測(cè)頭(2)為兩個(gè)且分別連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線； 一固定設(shè)置于所述支撐底座(I)上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片(3); 一固定設(shè)置于所述支撐底座(I)上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測(cè)頭(2)的固定夾持片(4)； 一活動(dòng)設(shè)置于所述支撐底座(I)上用于固定所述檢測(cè)頭(2)的固定片(5)，所述固定片(5)位于所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)之間； 所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)均為長(zhǎng)方形且相互平行，所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)在長(zhǎng)度方向上都設(shè)置有鏤空的檢測(cè)滑槽(6)，所述檢測(cè)頭(2)位于所述檢測(cè)滑槽(6)內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，其特征是，所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)的兩端均通過(guò)安裝螺栓(7)固定連接所述支撐底座(I);所述支撐底座(I)上設(shè)置有垂直于所述固定片(5)的凸起滑道(8)，所述凸起滑道(8)為兩個(gè)且分別位于所述固定片(5)的兩端，所述固定片(5)的兩端底部設(shè)置有配合所述凸起滑道(8)的限位凹槽(51)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，其特征是，所述夾持片(3)、所述固定夾持片(4)和所述固定片(5)均為金屬制成，且所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)的底面設(shè)置有第一橡膠墊(31)，所述支撐底座(I)的頂面設(shè)置有第二橡膠墊(11)，且所述夾持片(3)和所述固定夾持片(4)的頂面均設(shè)置有配合所述安裝螺栓(7)的安裝導(dǎo)套(32)。
4.如權(quán)利要求3所述的一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，其特征是，所述檢測(cè)頭(2)包括球形觸頭(21)、導(dǎo)電柱(22)、以及包封所述球形觸頭(21)和所述導(dǎo)電柱(22)的絕緣塊(23)，所述導(dǎo)電柱(22)下端連接所述球形觸頭(21)，所述導(dǎo)電柱(22)上端連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種金屬化薄膜電阻測(cè)試支架，包括一支撐底座；兩個(gè)分別連接電阻檢測(cè)設(shè)備的正負(fù)極檢測(cè)線并用于接觸金屬化薄膜樣品的檢測(cè)頭；一固定設(shè)置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品的夾持片；一固定設(shè)置于所述支撐底座上用于夾持金屬化薄膜樣品且用于固定所述檢測(cè)頭的固定夾持片；一活動(dòng)設(shè)置于所述支撐底座上用于固定所述檢測(cè)頭的固定片；所述夾持片、所述固定夾持片和所述固定片均為長(zhǎng)方形且相互平行，所述固定夾持片和所述固定片在長(zhǎng)度方向上都設(shè)置有鏤空的檢測(cè)滑槽，所述檢測(cè)頭位于所述檢測(cè)滑槽內(nèi)。本實(shí)用新型無(wú)需多次改變金屬化薄膜的夾持方式，即可完成金屬化薄膜多個(gè)位置之間的電阻特性的檢測(cè)。
【IPC分類】G01R27-02
【公開號(hào)】CN204422655
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520121586
【發(fā)明人】張世鐸
【申請(qǐng)人】黃山申格電子科技有限公司
【公開日】2015年6月24日
【申請(qǐng)日】2015年3月2日