一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的制造方法
【技術(shù)領域】
[0001]本實用新型涉及薄膜力學性能測試裝置技術(shù)領域，具體涉及一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]納米薄膜是指由尺寸為納米數(shù)量級(I?10nm)的組元鑲嵌于基體所形成的薄膜材料，它兼具傳統(tǒng)復合材料和現(xiàn)代納米材料二者的優(yōu)越性，納米薄膜可以改善一些機械零部件的表面性能，以減少振動，降低噪聲，減小摩擦，延長壽命。這些薄膜在刀具、微機械、微電子領域作為耐磨、耐腐蝕涂層及其它功能涂層獲得重要應用，鑒于納米薄膜的優(yōu)點和應用前景，然而，如何測試抗菌的納米薄膜的力學性質(zhì)顯得很重要，如中國申請?zhí)枮镃N101788427 A公開了一種多功能薄膜力學性能測試裝置，提供了一種可以方便、快捷而且準確地對薄膜與涂層的力學性能進行測量，但是，這種技術(shù)的薄膜力學性能測試裝置操作起來比較麻煩，可控程度不高，裝置成本較高。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中導致的上述多項缺陷。
[0004]一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉(zhuǎn)化器和數(shù)據(jù)顯示器，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉(zhuǎn)化器相連，所述信號轉(zhuǎn)化器與數(shù)據(jù)顯示器相連。
[0005]優(yōu)選的，所述薄膜放置工作臺固定設置在陸地上或者操作臺上。
[0006]優(yōu)選的，所述探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個。
[0007]優(yōu)選的，所述壓力傳感器由有機感光材料和無定形娃感光材料制成，剖面為橢圓臺。
[0008]優(yōu)選的，所述信號轉(zhuǎn)化器是在光纖端面或中間加裝其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻。
[0009]本實用新型的優(yōu)點在于:通過探測針尖對抗菌薄膜進行測定，探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個，數(shù)量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖內(nèi)部加裝有其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉(zhuǎn)化器數(shù)據(jù)傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，避免了針尖會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉(zhuǎn)化器，信號轉(zhuǎn)化器再轉(zhuǎn)化成圖像數(shù)據(jù)形式，然后，通過數(shù)據(jù)顯示器呈現(xiàn)出來，方便快捷，準確可靠。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型所述一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]圖2為本實用新型所述一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置的探測針尖的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]其中:1-薄膜放置工作臺，11-凸起，2-探測針尖，21-光敏電阻，3-壓力傳感器，4-信號轉(zhuǎn)化器，5-數(shù)據(jù)顯示器。
【具體實施方式】
[0013]為使本實用新型實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合【具體實施方式】，進一步闡述本實用新型。
[0014]如圖1和圖2所示，一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作，1、探測針尖2、壓力傳感器3、信號轉(zhuǎn)化器4和數(shù)據(jù)顯示器5，所述薄膜放置工作臺I為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，所述凸起11剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺I正上方設有探測針尖2，所述探測針尖2與壓力傳感器3連接，所述壓力傳感器3與信號轉(zhuǎn)化器4相連，所述信號轉(zhuǎn)化器4與數(shù)據(jù)顯示器5相連，通過探測針尖2對抗菌薄膜進行測定，探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個，數(shù)量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖2內(nèi)部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉(zhuǎn)化器數(shù)據(jù)傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，避免了探測針尖2會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器3將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉(zhuǎn)化器4，信號轉(zhuǎn)化器4再轉(zhuǎn)化成圖像數(shù)據(jù)形式，然后，通過數(shù)據(jù)顯示器5呈現(xiàn)出來，方便快捷，準確可靠。
[0015]值得注意的是，所述探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個，數(shù)量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量。
[0016]此外，所述探測針尖2內(nèi)部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉(zhuǎn)化器數(shù)據(jù)傳輸速度快，信號可靠度高。
[0017]基于上述，通過探測針尖2對抗菌薄膜進行測定，探測針尖2由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個，數(shù)量較多的針尖能對尺寸較小的納米材料進行更加精準的測量，探測針尖2內(nèi)部加裝有其它敏感元件21感受被測量的變化，所述敏感元21件為光敏電阻，帶有光敏電阻的信號轉(zhuǎn)化器數(shù)據(jù)傳輸速度快，信號可靠度高，由于，薄膜放置工作臺I上方設有彈性凸起11，避免了探測針尖2會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，然后，通過壓力傳感器3將收集起來的力學性能信號傳輸給信號轉(zhuǎn)化器4，信號轉(zhuǎn)化器4再轉(zhuǎn)化成圖像數(shù)據(jù)形式，然后，通過數(shù)據(jù)顯示器5呈現(xiàn)出來，方便快捷，準確可靠。
[0018]由技術(shù)常識可知，本實用新型可以通過其它的不脫離其精神實質(zhì)或必要特征的實施方案來實現(xiàn)。因此，上述公開的實施方案，就各方面而言，都只是舉例說明，并不是僅有的。所有在本實用新型范圍內(nèi)或在等同于本實用新型的范圍內(nèi)的改變均被本實用新型包含O
【主權(quán)項】
1.一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉(zhuǎn)化器和數(shù)據(jù)顯示器，其特征在于，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉(zhuǎn)化器相連，所述信號轉(zhuǎn)化器與數(shù)據(jù)顯示器相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述薄膜放置工作臺固定設置在陸地上或者操作臺上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述探測針尖由并列的多個針尖連接在一起組成，針尖個數(shù)為100-200個。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述探測針尖內(nèi)部加裝有其它敏感元件感受被測量的變化，所述敏感元件為光敏電阻。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置，其特征在于:所述壓力傳感器由有機感光材料和無定形娃感光材料制成，剖面為橢圓臺。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于測試納米抗菌薄膜力學性能的裝置,涉及薄膜力學性能測試裝置技術(shù)領域，包括薄膜放置工作臺、探測針尖、壓力傳感器、信號轉(zhuǎn)化器和數(shù)據(jù)顯示器，所述薄膜放置工作臺為立方長方體，剖面為矩形，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，所述凸起剖面圓弧，所述薄膜放置工作臺正上方設有探測針尖，所述探測針尖與壓力傳感器連接，所述壓力傳感器與信號轉(zhuǎn)化器相連，所述信號轉(zhuǎn)化器與數(shù)據(jù)顯示器相連，本實用新型的有益效果是：通過探測針尖對抗菌薄膜進行測定，由于，薄膜放置工作臺上方設有彈性凸起，避免了針尖會因為與薄膜接觸過于緊密而刺破抗菌薄膜，通過壓力傳感器將信號出輸給信號轉(zhuǎn)化器，再轉(zhuǎn)化成圖像數(shù)據(jù)形式，準確可靠。
【IPC分類】G01N3-06, G01N3-00
【公開號】CN204439453
【申請?zhí)枴緾N201520120317
【發(fā)明人】焦國平, 齊繼業(yè), 方興旺
【申請人】安徽松泰包裝材料有限公司
【公開日】2015年7月1日
【申請日】2015年2月28日