一種微波收發(fā)組件測試工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及微波組件測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種微波收發(fā)組件測試工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]有源相控陣雷達是近年來發(fā)展迅速的雷達技術(shù)。該技術(shù)能夠滿足雷達的探測距離、數(shù)據(jù)更新率、多目標跟蹤及測量精度等眾多需求。收發(fā)組件是構(gòu)成有源相控陣雷達天線的基礎(chǔ)，是有源相控陣雷達的核心部件，其性能指標直接影響到雷達系統(tǒng)相應(yīng)的整機指標。尤其是用于機載、星載等雷達中的收發(fā)組件，更是對各個電參數(shù)指標和可靠性提出了更苛刻的要求。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型提供了一種微波收發(fā)組件測試工裝，可以輔助完成微波收發(fā)組件電性能的測試，裝配方法簡單，可以大大提高組件測試效率。
[0004]為解決以上技術(shù)問題，本實用新型提供了一種微波收發(fā)組件測試工裝，包括底座、公共口支架、天線口支架、蓋板、第一微波轉(zhuǎn)接器、第二微波轉(zhuǎn)接器、第三微波轉(zhuǎn)接器，其中，所述底座上方設(shè)有凹槽，所述凹槽用于放置待測微波收發(fā)組件，所述蓋板蓋住安裝有待測微波收發(fā)組件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一側(cè)，所述天線口支架固定于所述底座的第二側(cè)，所述第一微波轉(zhuǎn)接器通過所述公共口支架上設(shè)置的孔連接至所述微波收發(fā)組件的公共口，所述第二微波轉(zhuǎn)接器和所述第三微波轉(zhuǎn)接器分別通過所述天線口支架上設(shè)置的兩個孔連接至所述微波收發(fā)組件的第一天線口和第二天線口。
[0005]進一步的，所述底座的第一側(cè)設(shè)有兩個螺紋孔，所述公共口支架上設(shè)置有兩個通孔，兩個螺釘分別穿過所述通孔連接至所述螺紋孔中，從而將所述公共口支架固定于所述底座的第一側(cè)。
[0006]進一步的，本發(fā)明還包括壓塊，其中，所述壓塊上設(shè)置有一個通孔，所述天線口支架上設(shè)置有兩個通孔，所述底座的第二側(cè)設(shè)有三個螺紋孔，一個螺釘穿過所述壓塊的通孔連接至所述底座第二側(cè)的一個螺紋孔中，兩個螺釘分別穿過所述天線口支架的通孔連接至所述底座第二側(cè)的兩個螺紋孔中，從而將所述天線口支架固定于所述底座的第二側(cè)。
[0007]進一步的，所述底座的第三側(cè)和第四側(cè)分別設(shè)置兩個通孔，用于將所述測試工裝安裝于測試臺上。
[0008]進一步的，所述底座的第一側(cè)和所述第二側(cè)為對立面，所述第三側(cè)和所述第四側(cè)為對立面。
[0009]進一步的，所述底座的凹槽上設(shè)置有四個螺紋孔，所述蓋板上設(shè)置有四個通孔，四個螺釘分別穿過所述蓋板上的通孔連接至所述凹槽上的四個螺紋孔中，從而將蓋板固定于所述底座的凹槽之上。
[0010]進一步的，所述第一微波轉(zhuǎn)接器、第二微波轉(zhuǎn)接器和第三微波轉(zhuǎn)接器為SMP/SMA微波連接器。
[0011]進一步的，所述底座為硬鋁制作而成的底座。
[0012]進一步的，所述公共口支架和所述天線口支架為硬鋁制作而成的支架。
[0013]進一步的，所述壓塊為硬鋁制作而成的壓塊。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是:該測試工裝與組件之間的裝配方法簡單，可以大大提高組件測試效率；該測試工裝與組件之間有著很好的匹配，引入插損小，測試準確度高；該測試工裝可輔助進行常溫、高低溫、振動、沖擊等不同環(huán)境條件下的指標測試，通用性強；該測試工裝結(jié)構(gòu)簡單、加工方便、用料廉價。
【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖1是本實用新型實施例提供的沒有蓋板且已安裝待測微波收發(fā)組件的微波收發(fā)組件測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2-1、圖2-2和圖2-3分別是本實用新型實施例提供的帶有蓋板且已安裝待測微波收發(fā)組件的微波收發(fā)組件測試工裝的俯視圖、左視圖和右視圖；
[0018]圖3-1、圖3-2和圖3-3分別是圖1和圖2中底座的俯視圖、左視圖和右視圖；
[0019]圖4是圖1和圖2中公共口支架的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖5是圖1和圖2中天線口支架的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖6是圖2中蓋板的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0022]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0023]本實用新型實施例提供了一種微波收發(fā)組件測試工裝，如圖1、圖2-1、圖2-2和圖
2-3所示，包括底座1、公共口支架2、天線口支架3、蓋板4、第一微波轉(zhuǎn)接器51、第二微波轉(zhuǎn)接器52、第三微波轉(zhuǎn)接器53。
[0024]參照圖1、圖3-1、圖3-2和圖3_3，底座I上方設(shè)有凹槽101，凹槽101用于放置待測微波收發(fā)組件6。參考圖1，圖2-2、圖3-2和圖4，公共口支架2固定于底座I的第一側(cè)，第一微波轉(zhuǎn)接器51通過公共口支架2上設(shè)置的孔201連接至待測微波收發(fā)組件6的公共口 601，具體的，參考圖3-2和圖4，底座I的第一側(cè)設(shè)有兩個螺紋孔102，公共口支架2上設(shè)置有兩個通孔202，兩個螺釘分別穿過通孔202連接至螺紋孔102中，從而將公共口支架2固定于底座I的第一側(cè)。
[0025]參考圖1，圖2-3、圖3-3和圖5，天線口支架3固定于底座I的第二側(cè)，第二微波轉(zhuǎn)接器52和第三微波轉(zhuǎn)接器53分別通過天線口支架3上設(shè)置的兩個孔301連接至待測微波收發(fā)組件6的第一天線口 602和第二天線口 603。其中，參考圖2-3，本工裝還包括壓塊7，其中，壓塊7上設(shè)置有一個通孔，參考圖5，天線口支架3上設(shè)置有兩個通孔302，參考圖
3-3，底座I的第二側(cè)設(shè)有三個螺紋孔103，一個螺釘穿過壓塊7的通孔連接至底座I第二側(cè)的一個螺紋孔103中，兩個螺釘分別穿過天線口支架3的通孔302連接至底座I第二側(cè)的兩個螺紋孔103中，從而將天線口支架3固定于底座I的第二側(cè)。底座I的第一側(cè)和第二側(cè)為對立面。
[0026]參考圖3-1，底座I的第三側(cè)和第四側(cè)分別設(shè)置兩個通孔，用于將測試工裝安裝于測試臺上。其中，第三側(cè)和第四側(cè)為對立面。底座I的凹槽101上設(shè)置有四個螺紋孔105，參考圖6，蓋板4上設(shè)置有四個通，401，四個螺釘分別穿過蓋板4上的通孔401連接至凹槽101上的四個螺紋孔105中，從而將蓋板4固定于底座I的凹槽101之上。
[0027]其中，第一微波轉(zhuǎn)接器51、第二微波轉(zhuǎn)接器52和第三微波轉(zhuǎn)接器53為SMP/SMA微波連接器。底座I為硬鋁制作而成的底座。公共口支架2和天線口支架3為硬鋁制作而成的支架。壓塊7為硬鋁制作而成的壓塊。
[0028]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是:該測試工裝與組件之間的裝配方法簡單，可以大大提高組件測試效率；該測試工裝與組件之間有著很好的匹配，引入插損小，測試準確度高；該測試工裝可輔助進行常溫、高低溫、振動、沖擊等不同環(huán)境條件下的指標測試，通用性強；該測試工裝結(jié)構(gòu)簡單、加工方便、用料廉價。本實用新型適用于微波收發(fā)組件的測試，例如X波段的收發(fā)組件的測試。
[0029]以上所揭露的僅為本實用新型一種較佳實施例而已，當然不能以此來限定本實用新型之權(quán)利范圍，因此依本實用新型權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本實用新型所涵蓋的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，包括底座、公共口支架、天線口支架、蓋板、第一微波轉(zhuǎn)接器、第二微波轉(zhuǎn)接器、第三微波轉(zhuǎn)接器，其中，所述底座上方設(shè)有凹槽，所述凹槽用于放置待測微波收發(fā)組件，所述蓋板蓋住安裝有待測微波收發(fā)組件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一側(cè)，所述天線口支架固定于所述底座的第二側(cè)，所述第一微波轉(zhuǎn)接器通過所述公共口支架上設(shè)置的孔連接至所述微波收發(fā)組件的公共口，所述第二微波轉(zhuǎn)接器和所述第三微波轉(zhuǎn)接器分別通過所述天線口支架上設(shè)置的兩個孔連接至所述微波收發(fā)組件的第一天線口和第二天線口。
2.如權(quán)利要求1所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述底座的第一側(cè)設(shè)有兩個螺紋孔，所述公共口支架上設(shè)置有兩個通孔，兩個螺釘分別穿過所述通孔連接至所述螺紋孔中，從而將所述公共口支架固定于所述底座的第一側(cè)。
3.如權(quán)利要求1所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，還包括壓塊，其中，所述壓塊上設(shè)置有一個通孔，所述天線口支架上設(shè)置有兩個通孔，所述底座的第二側(cè)設(shè)有三個螺紋孔，一個螺釘穿過所述壓塊的通孔連接至所述底座第二側(cè)的一個螺紋孔中，兩個螺釘分別穿過所述天線口支架的通孔連接至所述底座第二側(cè)的兩個螺紋孔中，從而將所述天線口支架固定于所述底座的第二側(cè)。
4.如權(quán)利要求1?3中任意一項所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述底座的第三側(cè)和第四側(cè)分別設(shè)置兩個通孔，用于將所述測試工裝安裝于測試臺上。
5.如權(quán)利要求4所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述底座的第一側(cè)和所述第二側(cè)為對立面，所述第三側(cè)和所述第四側(cè)為對立面。
6.如權(quán)利要求1所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述底座的凹槽上設(shè)置有四個螺紋孔，所述蓋板上設(shè)置有四個通孔，四個螺釘分別穿過所述蓋板上的通孔連接至所述凹槽上的四個螺紋孔中，從而將蓋板固定于所述底座的凹槽之上。
7.如權(quán)利要求1所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述第一微波轉(zhuǎn)接器、第二微波轉(zhuǎn)接器和第三微波轉(zhuǎn)接器為SMP/SMA微波連接器。
8.如權(quán)利要求1?3中任意一項所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述底座為硬鋁制作而成的底座。
9.如權(quán)利要求1?3中任意一項所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述公共口支架和所述天線口支架為硬鋁制作而成的支架。
10.如權(quán)利要求3所述的微波收發(fā)組件測試工裝，其特征在于，所述壓塊為硬鋁制作而成的壓塊。
【專利摘要】本實用新型公開了一種微波收發(fā)組件測試工裝，包括底座、公共口支架、天線口支架、蓋板、第一微波轉(zhuǎn)接器、第二微波轉(zhuǎn)接器、第三微波轉(zhuǎn)接器，其中，所述底座上方設(shè)有凹槽，所述凹槽用于放置待測微波收發(fā)組件，所述蓋板蓋住安裝有待測微波收發(fā)組件的凹槽，所述公共口支架固定于所述底座的第一側(cè)，所述天線口支架固定于所述底座的第二側(cè)，所述第一微波轉(zhuǎn)接器通過所述公共口支架上設(shè)置的孔連接至所述微波收發(fā)組件的公共口，所述第二微波轉(zhuǎn)接器和所述第三微波轉(zhuǎn)接器分別通過所述天線口支架上設(shè)置的兩個孔連接至所述微波收發(fā)組件的第一天線口和第二天線口。本實用新型可以輔助完成微波收發(fā)組件電性能的測試，裝配方法簡單，組件測試效率高。
【IPC分類】G01S7-40
【公開號】CN204462378
【申請?zhí)枴緾N201420814282
【發(fā)明人】竇增昌, 陳吉安, 汪倫源, 蔡慶剛
【申請人】安徽華東光電技術(shù)研究所
【公開日】2015年7月8日
【申請日】2014年12月19日