電磁閥性能參數(shù)臺(tái)式測試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁閥性能參數(shù)臺(tái)式測試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]電磁閥是用電磁控制的工業(yè)設(shè)備，是實(shí)現(xiàn)機(jī)器自動(dòng)化，減少人力，提高工作效率的重要器件，電磁閥的響應(yīng)快慢是直接影響電氣液控制系統(tǒng)精度的一個(gè)重要因素，電磁閥的壽命和可靠性直接影響系統(tǒng)的可靠性和壽命。為了保證電磁閥在生產(chǎn)中的使用順利進(jìn)行，確保電磁閥整體穩(wěn)定性和使用的安全，需通過電磁閥測試設(shè)備對(duì)電磁閥的性能參數(shù)進(jìn)行測試以確認(rèn)電磁閥是否符合指標(biāo)要求。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中的電磁閥測試設(shè)備體積龐大，不適合攜帶。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，其包括:機(jī)箱，用于提供承載；電磁閥性能參數(shù)測試電路，安裝于所述機(jī)箱內(nèi)，用于對(duì)待測試的電磁閥進(jìn)行性能參數(shù)測試；和控制面板，設(shè)置于所述機(jī)箱的側(cè)面上，分別與所述電磁閥性能參數(shù)測試電路和所述電磁閥連接，用于控制所述電磁閥性能參數(shù)測試電路對(duì)所述電磁閥進(jìn)行性能參數(shù)測試；其中，所述電磁閥性能參數(shù)測試電路具有:供電單元，用于提供電源；測控計(jì)算單元，用于提供控制信號(hào)；和信號(hào)調(diào)理單元，與所述測控計(jì)算單元連接，用于為所述待測試的電磁閥提供驅(qū)動(dòng)以在所述控制信號(hào)的控制下給所述待測試的電磁閥提供測試環(huán)境，從而使所述待測試的電磁閥正常工作，并提取所述待測試的電磁閥的性能參數(shù)的測量信號(hào)。
[0005]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，信號(hào)調(diào)理單元包括:依次連接的脈沖信號(hào)放大電路、MOS管驅(qū)動(dòng)線圈電路和第一電流采集電路，所述脈沖信號(hào)放大電路用于放大脈沖控制信號(hào)幅值以控制所述MOS管驅(qū)動(dòng)線圈電路的柵源電壓，從而使所述MOS管驅(qū)動(dòng)線圈電路工作在飽和狀態(tài)為所述電磁閥的閥門線圈提供電流通道，所述MOS管驅(qū)動(dòng)線圈電路與所述電磁閥連接；依次連接的恒流源發(fā)生電路和第二電流采集電路，所述恒流源發(fā)生電路用于在模擬電壓控制信號(hào)的控制下，產(chǎn)生固定電流以測試電磁閥在恒流狀態(tài)下性能，所述恒流源發(fā)生電路與所述電磁閥連接；電源監(jiān)控電路，用于監(jiān)控所述供電單元的電壓和電流信號(hào)，并在電源控制信號(hào)的控制下使所述供電單元供電或斷電；以及放大和衰減電路，與所述第一電流采集電路、所述第二電流采集電路、所述電源監(jiān)控電路連接，用于將所述第一電流采集電路采集的電流信號(hào)、所述第二電流采集電路采集的電流信號(hào)和所述電源監(jiān)控電路采集的電壓和電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電流信號(hào)，并進(jìn)行放大和衰減以利于信號(hào)的傳輸和計(jì)算；其中所述控制信號(hào)包括:所述脈沖控制信號(hào)、所述模擬電壓控制信號(hào)和所述電源控制信號(hào)。
[0006]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，所述測控計(jì)算單元包括:脈沖發(fā)生卡，與所述脈沖信號(hào)放大電路連接，用于提供脈沖控制信號(hào)；DA輸出卡，與所述恒流源發(fā)生電路連接，用于提供模擬電壓控制信號(hào)；AD采集卡，與所述電壓放大和衰減電路連接，用于接收所述電壓放大和衰減電路傳送過來的電磁閥的性能參數(shù)的測量信號(hào)；以及電源信號(hào)生成卡，與所述電源監(jiān)控電路連接，用于根據(jù)所述供電單元的電壓和電流生成電源控制信號(hào)。
[0007]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，所述機(jī)箱呈長方體狀，與設(shè)置有所述控制面板的機(jī)箱的側(cè)面相鄰的側(cè)面的上部設(shè)置有提手，所述機(jī)箱的側(cè)面的下部設(shè)置有通風(fēng)
□ O
[0008]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，所述電磁閥的性能參數(shù)包括:啟動(dòng)電流、啟動(dòng)電壓、啟動(dòng)時(shí)間、釋放電流時(shí)間、釋放電壓時(shí)間、穩(wěn)態(tài)工作電壓、電流貯備系數(shù)、線圈阻值。
[0009]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，所述電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備還具有16路加熱及16路測溫功能、可對(duì)加熱器進(jìn)行通斷電控制。
[0010]根據(jù)如上所述的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，優(yōu)選，所述控制面板包括具有顯示屏、鍵盤、打印機(jī)的人機(jī)界面接口。
[0011]本實(shí)用新型實(shí)施例帶來的有益效果如下:
[0012](I)需要監(jiān)測的特征參數(shù)如下:啟動(dòng)電流/電壓/時(shí)間、釋放電流/電壓/時(shí)間，穩(wěn)態(tài)工作電/電壓、電流貯備系數(shù)、加熱器阻值、熱敏電阻(或熱電偶)阻值、線圈阻值等。
[0013](2)可同時(shí)完成兩個(gè)電磁閥電性能的測試(兩閥門共用同一驅(qū)動(dòng)電路)，也可單獨(dú)完成一個(gè)閥門電性能的測試。
[0014](3)可同時(shí)完成多個(gè)/單個(gè)閥門的加熱與測溫；具備16路加熱及16路測溫功能。
[0015]可以設(shè)置加熱控制(加熱器通斷，加熱時(shí)間)，并采集加熱過程中的熱敏電阻阻值采集，通過軟件將熱敏電阻阻值轉(zhuǎn)化為溫度值，輸出阻值或溫度與加熱時(shí)間的列表和曲線。各路加熱與測溫之間不相互干擾。
[0016](4)上位機(jī)軟件系統(tǒng)可實(shí)時(shí)實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)與顯示。
[0017]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出采用有線連接的方式對(duì)電磁閥電性能各種特征參數(shù)及加熱器、熱敏電阻通斷電控制、動(dòng)態(tài)電阻進(jìn)行監(jiān)測并傳輸存儲(chǔ)到上位機(jī)中的數(shù)據(jù)庫中。在上位機(jī)中采用VC編程構(gòu)成快速響應(yīng)電磁閥電性能特征參數(shù)采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)網(wǎng)絡(luò)采集的數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理和分析。
【附圖說明】
[0018]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種供電控制電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種閥門驅(qū)動(dòng)調(diào)理電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種加熱器、熱敏電阻調(diào)理電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種機(jī)箱的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖6為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備的控制面板示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0025]參見圖1-6，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備，其包括:機(jī)箱1、電磁閥性能參數(shù)測試電路和控制面板。
[0026]機(jī)箱I用于提供承載，其呈長方體狀，與設(shè)置有控制面板的機(jī)箱的側(cè)面相鄰的側(cè)面10的上部設(shè)置有提手11以利于機(jī)箱便攜，機(jī)箱的側(cè)面的下部設(shè)置有通風(fēng)口 12。應(yīng)用時(shí)機(jī)箱主要功能是承載整個(gè)設(shè)備的硬件，使其成為一個(gè)系統(tǒng)，便于用戶應(yīng)用操作。同時(shí)，機(jī)柜應(yīng)結(jié)構(gòu)緊湊、便于運(yùn)輸，具有必要的強(qiáng)度。根據(jù)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求，將整個(gè)測試設(shè)備的硬件系統(tǒng)安裝到一臺(tái)定制機(jī)箱中。
[0027]電磁閥性能參數(shù)測試電路安裝于所述機(jī)箱內(nèi)，用于對(duì)待測試的電磁閥進(jìn)行性能參數(shù)測試，其包括:供電單元，測控計(jì)算單元和信號(hào)調(diào)理單元。
[0028]供電單元用于提供電源。供電單元包括:用于為電磁閥供電的閥門供電電源。電磁閥供電可以選用高性能高品質(zhì)的固瑋程控線性電源PSM-6003(0?60V，0?3.3A)。
[0029]測控計(jì)算單元用于提供控制信號(hào)。測控計(jì)算機(jī)是電磁閥臺(tái)式測試設(shè)備的核心，主要完成電磁閥各項(xiàng)性能參數(shù)的測試，包括控制指令的生成、電壓、電流、電阻及其它信號(hào)的采集，其具有用于輸出脈沖控制信號(hào)的脈沖發(fā)生卡，用于提供模擬電壓控制信號(hào)的DA輸出卡；用于采集電磁閥的性能參數(shù)的測量信號(hào)的AD采集卡，以及用于生成電源控制信號(hào)的電源信號(hào)生產(chǎn)卡，電源控制信號(hào)用于控制供電單元的供電或斷電。實(shí)際中，測試設(shè)備基于CPCI總線結(jié)構(gòu)，因此具有堅(jiān)固、可靠、易于擴(kuò)展、高速等優(yōu)點(diǎn)。從系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖1中可以看出測試設(shè)備結(jié)構(gòu)呈模塊化，并且具備了一定的擴(kuò)展空間，如CP